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JPV法により、非接触で、PNジャンクションのジャンクション・リーク、空乏層の容量評価、PN接合試料のシート抵抗を高速に測定！
JPV法（ジャンクション・フォト・ボルテッジ法）を用いているため、高速で再現性の良いマッピング測定が可能です。 【特徴】 - 非接触、非破壊測定 - プローブの調整は不要 - 測定のための特別な試料準備は不必要 - 表面に酸化膜やコーティングが存在しても測定可能 - 空間分解能の高い分布測定（マッピング）が高速で可能 - 再現性の高い測定が可能 - セミラボ社のベンチトッププラットフォームWT-2000、WT-2500、WT-3000やインラインのウェハーテスト装置に組みつけが可能
サンプルへの物理的損傷を与えず、幅広い測定レンジにて高精度な測定を実現！
『DELCOM』は、DC渦電流方式の非接触型シート抵抗測定システムです。 半導体/液晶基板、太陽電池セル、フレキシブル材料、各種導電性フィルム等の 研究開発・検査工程・製造ラインにおいて、サンプルへの物理的損傷を与えず、 幅広い測定レンジにて高精度な測定を実現。 測定アプリケーションは、半導体、ITO膜、グラフェン＆カーボン、 容量性メタルホイール、電波吸収材料などです。 【特長】 ■DC渦電流方式の非接触型シート抵抗測定システム ■研究開発・検査工程・製造ラインにおいて、サンプルへの物理的損傷を与えない ■幅広い測定レンジにて高精度な測定を実現 ■測定レンジは抵抗範囲に応じて4つのレンジから選択可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
Bluetoothを経由してPCでデータ管理が可能！使いやすく効率的なテストソリューション
『EddyCus(R) TF portable』は、導電性フィルムのシート抵抗を 正確なシングルポイントで測定するポータブル接触式シート抵抗測定器です。 リアルタイム測定が可能な使いやすいソフトウェア。 データセンサーで複数台からの測定結果を管理、可視化します。 さらに、Bluetooth経由でのワイヤレスデータ転送が可能です。 【特長】 ■ポータブル ■非破壊接触測定 ■リアルタイム＆使いやすい ■データ記録機能 ■正確＆信頼性 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
金属層の厚み、光透過性、密度、電気的異方性の測定に好適なソリューション
『EddyCus(R) TF inline series』は、薄膜のシート抵抗測定や、 金属フィルム層の厚さ測定が可能な 非接触インラインシート抵抗測定ソリューションです。 高度な可変性と柔軟性を持ち、真空中内及び大気環境に対応。 使いやすいGUIと総合ソフトウェア、SQLデータベース、 統計及びエクスポートを備えております。 【特長】 ■非接触&リアルタイム測定 ■正確な測定 ■高度な可変性と柔軟性 ■真空中内及び大気環境に対応 ■シングルレーン、および複数レーンに対応 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
使いやすいソフトウエアによるシート抵抗のマニュアルマッピング測定が可能
『EddyCus(R)TF lab 2020 series』は、非接触式シート抵抗測定器です。 導電性フィルムのシート抵抗を正確なシングルポイントで測定。 その他、金属フィルム層の厚さ測定や、薄膜、基板の 厚さモニタリングも可能です。 御希望によりマルチレイヤーシステムの特性を評価します。 【特長】 ■非接触式 ■リアルタイム測定 ■導電性フィルムのシート抵抗を正確なシングルポイントで測定(Ohm/sq) ■金属フィルム層の厚さ測定(nm) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
