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パワー半導体の前工程の検査として、ウエハー面に均一に多点で印加することで、半導体への負担を軽減します。
独創技術で開発された、優れた特徴を持つプローブです。 積層型プローブの特徴である、金属の板（プローブ）と、絶縁体の積層方式を応用し、パワー半導体専用の多点式積層プローブを開発しました。 【特長】 ■プローブ先端を波型にし、多点で半導体に接触。これにより電流、電圧を印加する量を分散でき、半導体への負担を軽減 ■垂直に1ミリ程度可動しますので、コンタクト痕を最小限に抑えることが可能 ■コンパクトな設計で、取り付けスペースの確保が容易 ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お問い合わせください
対象物の形状にあわせ、安定した接触抵抗値を実現することが可能なプローブ
「積層型プローブ」は、独創技術で開発された、優れた特長を持っています。 従来のスプリングプローブのように複数のパーツ構成ではなく 一枚の金属板でのコンタクトであるため、構造的に安定した接触抵抗値を実現。 検査対象物が平滑でない場合でも各プローブのバネ性により、 対象物の形状に追従し安定した接触抵抗値を実現することも可能です。 【特長】 ■構造からワイピング作用が働く ■コンタクト位置が変位 ■対象物の酸化膜や異物等の除去を行いながらコンタクト可能 ■安定した接触を行える ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
半導体への負担を軽減し、全数測定のリスクを軽減！様々なピッチへの対応を可能に
インクスの積層型プローブの特長についてご紹介します。 半積層型プローブは、一枚の金属板でコンタクトするので、構造的に 安定した接触抵抗で測定できます。 また、熱によるバネ性の劣化に強く、大電流、高電圧を印加する パワー半導体の測定に適しています。 狭ピッチに配列された接点や、半導体のリード部、コネクターの接点などに、 最大0.05ピッチまでコンタクトする事ができます。 さらに、プローブ本体の形状と、補助用のV字型板バネの厚みを変化させる事で、 高荷重から低荷重まで無段階に調整する事が可能です。 【特長】 ■接触抵抗値が安定（精密な測定に威力を発揮） ■大電流、高電圧に対応（パワー半導体への印加、測定に貢献） ■狭ピッチに対応（最大0.05ピッチまで可能） ■コンタクトする荷重を調整可能（測定物の個性に合わせたコンタクト） ※詳しくは外部リンクページをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
最小ピッチ0.05ｍｍに対応可能な積層プローブ。通常のプローブで検査できない小さな半導体にも対応可能。動画で動きを解説中！
小型化が進む現代、今までのプローブでは測定が難しい…このようなお困り事はありませんか？ インクスの『積層型プローブ』では、一枚の金属板でコンタクトするので、最小ピッチ0.05ｍｍにも対応可能です。 本ページでは、実際に弊社の『積層プローブ』が動いている動画をご紹介。是非ご覧ください。 【特長】 ■接触抵抗値が安定 ■大電流、高電圧に対応 ■狭ピッチに対応 ■コンタクトする荷重を調整可能 など ※詳しくはPDFダウンロード、またはお問い合わせください。
パッケージのリードに対しての安定したコンタクトについてご紹介
「積層プローブ」のワイピング効果により酸化膜を除去しながら コンタクトすることで、安定したコンタクトを実現。 また、スズ転写を抑制するコーティングもプローブ先端に施し 高寿命化も実現しました。 磁気センサーパッケージであれば、プローブユニットを非磁性材のみで 構成することも可能。 今事例では200万回ノーメンテナンスで安定したコンタクトを達成しました。 【積層型プローブの特長】 ■接触抵抗値が安定している ■精密な測定に威力を発揮 ■大電流、高電圧に対応できる ■狭ピッチに対応できる ■コンタクトする荷重を調整できる ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
限られたスペースに納まるようプローブ設計ができ、経費削減に貢献
当社が取り扱う「積層プローブ」の既存設備に合わせた プローブ設計(狭スペース)についてご紹介します。 今事例はLED検査用プローブを使用しました。 既存設備の限られたスペースに納まるようプローブ設計できますので、 新規設備を購入する必要がなくなり、経費削減に貢献致しました。 【積層型プローブの特長】 ■接触抵抗値が安定している ■精密な測定に威力を発揮 ■大電流、高電圧に対応できる ■狭ピッチに対応できる ■コンタクトする荷重を調整できる ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
