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「お客様の専門知識」×「当社の技術力」で「求めていた1台！」を実現！
アヤハエンジニアリングでは『共同企画型製品シリーズ』として、 欠陥検出に関する多種多様なご要望にお答えするために、お客様の 専門知識と当社の技術力で新たな商品開発を行っております。 フィルム・シート・ウェブ検査から、不織布・電極シート・銅板・鋼板・ 金属箔検査まで、お客様の製品サイズや加工ライン、検出欠陥に合わせた さまざまな欠陥検査装置・表面検査装置・マーキング装置をご提案いたします。 特殊なワークや、これまでにない検査方法にも全力で取り組み、 皆様の「こんな1台が欲しかった！」を実現します。 【こんなご要望にお答えします！】 ■繊維検査機や織物検査機がほしい ■カラー検査がしたい ■独自の検査ノウハウをシステム化したい ■複雑な装置は使いづらい ■多様なアルゴリズムを使った研究をしたい ※詳しくはお問い合わせ下さい。
小型軽量タイプをはじめ、クリーン対応など、豊富にラインアップ！
アヤハエンジニアリングは、フィルム検査・シート検査・ウェブ検査から、 不織布検査・電極シート検査・銅板検査・鋼板検査・金属箔検査まで、 製品サイズや加工ライン、検出欠陥に合わせたさまざまな『マーキング装置』をご提案いたします。 「AMK-Mini」は、コントロールBOXを本体から分離し、超小型化・超軽量化を実現。 従来、取付けが困難な場所への設置が可能となりました。 他にも、クリーン環境で設置が可能な「AMK-クリーン」や、 コントローラ一体型タイプの「AMK-S1」などをラインアップしています。 【特長（AMK-Mini）】 ■コントロールBOXを本体から分離し、超小型化・超軽量化を実現 ■従来、取付けが困難な場所への設置が可能 ■ラベル残数監視機能を標準装備 ■カウントダウン方式によりラベルがなくなったことを信号出力 ※詳しくはお問い合わせ下さい。
ハードディスク表面のスクラッチ、ピットなどの微細な表面欠陥を検出
ハードディスク表面に高出力レーザーを照射することで、スクラッチ、ピットなどの微細な表面欠陥を検出し、欠陥種類ごとに分類、結果表示します。 複数レーザーの同時照射によりスクラッチを高感度で検出するだけでなく、欠陥の凹凸形状を判定します。 特長 ・高出力レーザーによる微小欠陥の検出 ・高いスクラッチ検出能力 ・欠陥の凹凸を弁別 ・全数オートフォーカス ・優れたコストパフォーマンス ・カスタマイズ対応 ・1カセット自動検査対応 ・透明ガラス基板対応
透明ウェーハも高速検査！高出力レーザーが微小な傷・パーティクルを検出！
『Laser Explorer』は、透明ウェーハにも対応した、 最新型のウェーハ表面欠陥検査装置です。 高出力レーザーが、スクラッチ・ピット・パーティクルなどの微小欠陥を検出！ ウェーハの出荷・受入検査や、エピタキシャル工程の品質管理に活用いただけます！ 【その他の特長】 ■高スループット（1カセット25枚を、約40分で検査） ■欠陥の凹凸を弁別 ■全数オートフォーカス ■カスタマイズ対応 ■1カセット自動検査対応 ■欠陥に対する高精度マーキング（オプション） ■レーザー顕微鏡による欠陥レビュー（オプション）
高速ラインでも欠点を見逃さない！特に三品業界の生産ラインに携わる方は必見の製品です！
『Mujiken-Ex』は、あらゆる生産・加工現場にて高速搬送されるフィルム、紙、金属といった無地素材の表面欠陥（キズ、汚れ、異物など)を検査するシステムです。 化粧品や医薬品に使われる容器、パッケージ、ラベルの素材などの検査にも好適な装置で ウェブ（シート）状であれば被測定物、基材を選ばず 多様な製品の素材表面検査が可能です。 自社開発の検査専用高速処理回路をハードウェア(ボード)化することにより 外観検査の精度は高水準のまま標準機の約2倍の画像処理を実現。 【特長】 ■画像処理：高速化した画像処置機能、豊富なアルゴリズム ■光学系：対応カメラの高速化。長距離・高速通信対応 ■多彩なシステム構成 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
レビュー用顕微鏡搭載！検出した欠陥を顕微鏡でリアルタイムに観察可能です
高出力レーザーを回転ステージ上のウェハに照射することで、 高速に全面を検査し、微小欠陥を検出します。 散乱、反射、位相シフトなど複数チャンネルの組合せによって 用途に適した欠陥検出ができ、凹凸など欠陥種ごとに弁別します。 ■装置の特長 ・高速検査（約181秒/12inch） ・レビュー用顕微鏡を搭載 ・顕微鏡はレーザー顕微鏡/微分干渉顕微鏡のどちらか選択可能 ・SEM等での分析用に顕微鏡を利用した高精度なケガキが可能 ・オプションでエッジ検査機能の搭載が可能
透明素材にも対応する高精度検査装置
微分干渉顕微鏡を搭載した表面欠陥検査装置で 透明体材料にも適用しております。 全面検査による欠陥マップ出力や検出した欠陥の 顕微鏡観察が可能な装置です。 ■装置の特長 ・独自の画像処理技術による欠陥抽出・弁別機能 ・欠陥を観察しながら高精度なケガキが可能 ・他装置で検査したウェハに対し、欠陥座標を元に 観察、欠陥アルバムの作成が可能。 ・結晶欠陥の検出機能を開発中
