更新日： 集計期間:2026年01月28日～2026年02月24日
※当サイトの各ページの閲覧回数を元に算出したランキングです。
更新日： 集計期間:2026年01月28日～2026年02月24日
※当サイトの各ページの閲覧回数を元に算出したランキングです。
更新日： 集計期間:2026年01月28日～2026年02月24日
※当サイトの各ページの閲覧回数を元に算出したランキングです。
1～30 件を表示 ／ 全 72 件
自動テストシステム構築ツール「LabVIEW」「TestStand」の専門書
中堅エンジニア向けに、ものづくりの現場で役立つプログラミングの実践書をお届けします。 今回は、生産ラインで稼働する検査プログラムの作り方です。 TestStandというソフトウェアをご存知でしょうか？ 工場の生産ラインでは、何種類もの試験を組み合わせて検査が行われます。不合格後のジャンプ先、くり返しの回数といった試験内容が変わるたびにプログラマが駆けつけて直す……そんな面倒を解決するソフトウェアです。 このテキストでは、LabVIEWでつくった試験プログラムとTestStandを組み合わせて、本格的な検査装置をつくる方法をお伝えします。 車載機器、半導体、電機・電子機器などの生産ラインに関わる方は要チェックです！
光学分解能「1.8μｍ」で、非常に高精細な検査が可能です。 寸法測定にも対応でき、二次元の打ち抜き加工品などの検査もできます。
高解像度カメラと高精度X-Yステージを用いた二次元の検査装置です。 光学フィルム、シートやタッチパネルなどの表面キズ、異物の検査や欠陥検査に適しています。 光学分解能「1.8μｍ」で、非常に高精細な検査が可能です。 寸法測定にも対応でき、二次元の打ち抜き加工品などの検査もできます。 【特長】 ■検査データと画像を自動で保存 ■カメラ画素数：900万画素 ■高い光学分解能(1.8μm)で微細な検査箇所も綺麗に見える ■タッチパネルの周辺電極、プリント基板の微細配線の断線、短絡の検査に最適 ※詳しくは資料をダウンロード、もしくはお問合せください。
ゴムのバンク量測定やパッキンの切欠き位置検出などの用途についてご紹介！
当資料では、樹脂・紙業界における画像センサの用途について まとめてご紹介しております。 シートの欠陥検査や樹脂塗装品の傷・欠け検査、樹脂キャップのズレ検出、 汚れ・ゴミ・ピンホール検出、樹脂キャップのコゲ検出、携帯電話の 2度塗り防止、成型品の型残り検出など、多数の情報を掲載。 また、検査を成功に導くトータルラインアップや、画像処理用の 周辺機器についても掲載されております。ぜひご活用ください。 【掲載内容(一部)】 ■シートの欠陥検査 ■樹脂塗装品の傷・欠け検査 ■樹脂キャップのズレ検出 ■汚れ・ゴミ・ピンホール検出 ■樹脂キャップのコゲ検出 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
「お客様の専門知識」×「当社の技術力」で「求めていた1台！」を実現！
アヤハエンジニアリングでは『共同企画型製品シリーズ』として、 欠陥検出に関する多種多様なご要望にお答えするために、お客様の 専門知識と当社の技術力で新たな商品開発を行っております。 フィルム・シート・ウェブ検査から、不織布・電極シート・銅板・鋼板・ 金属箔検査まで、お客様の製品サイズや加工ライン、検出欠陥に合わせた さまざまな欠陥検査装置・表面検査装置・マーキング装置をご提案いたします。 特殊なワークや、これまでにない検査方法にも全力で取り組み、 皆様の「こんな1台が欲しかった！」を実現します。 【こんなご要望にお答えします！】 ■繊維検査機や織物検査機がほしい ■カラー検査がしたい ■独自の検査ノウハウをシステム化したい ■複雑な装置は使いづらい ■多様なアルゴリズムを使った研究をしたい ※詳しくはお問い合わせ下さい。
スリット位置に自動でマスク設定！検査の手間を削減する接写型表面欠陥検査装置！
『CONTACT ACEシリーズ』は、反射光学系/透過光学系対応の インライン検査装置です。 同シリーズ製品「CONTACT FILM」は、接写型の表面欠陥検査装置で、 専用ソフトによりスリットの位置に自動でマスク設定（最大48ヶ所）が可能。 検査の手間を大幅に削減できます。 CIS（Contact Image Sensor）の採用により、光学レンズを使用しないため、 視野端と中央でレンズ収差の影響がありません。 【特長（CONTACT FILM）】 ■フィルム・コーティング業界向け ■至近距離から撮像するため、従来のカメラよりも省スペース ■巻き取り直前での検査や、セパレート後の狭小スペースに最適 ■レンズ収差の影響を受けず、視野全域で安定した検査が可能 ■カメラ1台で約2000mmの幅を検査可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
使いやすさと拡張性を重視！ニーズに合わせて変幻自在の表面欠陥検査装置！
『AIRIS ACEシリーズ』は、それぞれの業界の個性に合わせて設計された インラインの表面欠陥検査装置です。 5年先、10年先に求められるニーズに考慮し、ハード面、ソフト面共に 拡張性を重視。使いやすさでお客様をバックアップいたします。 同シリーズのベースモデル「AIRIS-UC」と、欠陥種の判定基準などを 追加し、より多くのニーズに対応できる「AIRIS-SP」を取り揃えています。 【特長】 ■高い拡張性/カメラ・系列に追加 ■同一プラットフォームで多言語対応 ■CoaXPressインターフェース採用 ■処理能力が4倍向上 ■消費電力43％削減 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
最大4系列、カメラ16台まで拡張可能！高分解能化により難しい欠陥検出も可能！
『FITSシリーズ』は、カメラ・系列の追加が可能な表面欠陥装置です。 高分解能化により、地合との差別が難しい欠陥検出が可能に。 特に強い地合中のムラ欠陥や、淡いスジ欠陥に有効なアルゴリズムが 搭載可能になりました。 また、弁別機能により、欠陥をタイプ別に分類することが可能です。 【特長】 ■カメラ・系列の追加ができる（最大4系列、カメラ16台まで） ■圧縮処理ができる ■欠陥の種類を自動判別できる ■ニーズに合わせて選べるラインアップ ※詳しくはお問い合わせ下さい。
小型軽量タイプをはじめ、クリーン対応など、豊富にラインアップ！
アヤハエンジニアリングは、フィルム検査・シート検査・ウェブ検査から、 不織布検査・電極シート検査・銅板検査・鋼板検査・金属箔検査まで、 製品サイズや加工ライン、検出欠陥に合わせたさまざまな『マーキング装置』をご提案いたします。 「AMK-Mini」は、コントロールBOXを本体から分離し、超小型化・超軽量化を実現。 従来、取付けが困難な場所への設置が可能となりました。 他にも、クリーン環境で設置が可能な「AMK-クリーン」や、 コントローラ一体型タイプの「AMK-S1」などをラインアップしています。 【特長（AMK-Mini）】 ■コントロールBOXを本体から分離し、超小型化・超軽量化を実現 ■従来、取付けが困難な場所への設置が可能 ■ラベル残数監視機能を標準装備 ■カウントダウン方式によりラベルがなくなったことを信号出力 ※詳しくはお問い合わせ下さい。
ガラス、石英、水晶など！透明体の内部欠陥を可視化する内部欠陥検査装置
『内部欠陥検査装置』は、透明な素材や液体の内部欠陥をレーザ光と 特殊光学系で観察、専用画像処理ソフトで欠陥を検出します。 最大サイズは2000×2000×500(高さ)mm、欠陥検出能力は1μm (専用レンズ)～数mmまで可能。 また、透明な素材を切断後精密処理をしたパーツの欠陥検査も超広視野の レーザ走査イメージャで可能です。 【特長】 ■レーザシート光線を用いて専用光学レンズ装置で欠陥を検出 ■最大サイズは2000×2000×500(高さ)mm ■欠陥検出能力は1μm(専用レンズ)～数mmまで可能 ■形は円筒、四角形などがあり、大きなものから小さなものまで対応可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
コントラストの低い画像を見やすくする処理を使用して見つけにくい欠陥部を検出
『IR-MEMS100』は、ロボットにより自動的に貼り合わせウエハーを 搬送してウエハーの内部状態を特殊赤外線光学系で画像を撮影し、欠陥検出 アルゴリズムを使用して各種欠陥を検出するMEMS全自動欠陥検査装置です。 赤外線顕微鏡にセットした高感度赤外線カメラで画像を撮影し独自の 欠陥検出ソフトウエアにて見えにくい欠陥部を検出します。 【特長】 ■赤外線顕微鏡にセットした高感度赤外線カメラで画像を撮影し独自の 欠陥検出ソフトウエアにて見えにくい欠陥部を検出する ■コントラストの低い画像を見やすくする処理（エフェクト処理）を 使用して見つけにくい欠陥部を検出する ■対応ウエハーサイズは4インチ、6インチ、8インチ ■欠陥検出能力は約10μm ■検査時間は30分/ウエハー ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
■低パルスエネルギーのレーザーで動作してスーパーコンティニアム光を発生させます。
多種多様な用途のあるスーパーコンティニアム光をより簡単に出力するために開発されました。 簡単に使用するためにファイバーカップリングモジュールとしての販売です。 OCTAVE photonics社はナノフォトニクスチップを開発し、そのチップを利用したファイバカップリングデバイスを製造・販売している会社です。OCTAVE photonics社は非線形ナノフォトニックウェブガイドを用いてパルスレーザーによるスーパーコンティニアム光の発生デバイスを提供しております。
非破壊/非接触！nmスケールのウェハー内部の拡張欠陥の検出とモニタリングが可能
『En-Vison』は、転位欠陥、酸素析出物、積層欠陥などのウェハー内部の 結晶欠陥を非接触・非破壊で測定・評価ができる結晶欠陥検査装置です。 欠陥サイズ（15nm～サブミクロン）と密度（E6～E10/cm3）の両方で ハイダイナミックレンジを提供。 ウェハー深さ方向の検出感度を大幅に向上させ、幅広い密度とアプリケーションを カバーすることで、表面近傍では確認ができない深さ方向の応力起因転位欠陥の 検出感度を、従来の手法よりも大幅に向上させています。 【特長】 ■非破壊/非接触 ■従来の検査装置では確認できない欠陥を可視化 ■対象領域：活性デバイス領域（表面近傍） ■生シリコンと活性デバイス深さでの検出 ■専門知識は不要 ※詳しくは関連リンクページをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
水平FFU搭載！高速クリーン検査可能！コンパクト設計のAR膜欠陥検査装置
アローズエンジニアリングでは、アイティ・テック社製の AR膜欠陥検査装置を取扱っています。 『EX2001S』は、ガラス基板の反射防止膜の欠陥検査機です。 透明基板の表面や裏面を倒立顕微鏡とラインカメラで 高速スキャン検査して欠陥検査をします。 【特長および機能】 ■対象基板は最大400mm、透明基板にオートフォーカスで検査 ■検出欠陥：AR膜基盤の白異物(抜け)や黒異物 ■最小検出分解能2.8μm(1.4μm) ■レビュー検査をリモート制御(カメラ/照明/対物変倍/ステージおよびフォーカス) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
品質管理をスピーディに！金属製ワイヤーやコイル等のわずかな欠陥を正確に検出。※総合検査機器展にてデモ実演を行います！
ローランド社『ECT40』はワイヤー・ケーブル、チューブ、コイルなどの金属製部材（半完成品）の欠陥検出専用装置です。 クラック等の欠陥によって生じる電流の変化をとらえて、 「溶接継目の表面」「溶接量」などを検出。品質管理の効率化に役立ちます。 【特長】 ■顧客のPCで操作可能（Win7/Win8対応） ■広い試験周波数レンジ（1‐12,000kHz) ■ライン速度に自動追従するオートフィルター付 ■多様な評価モード ■検査ログソフトウェア付 ＜本製品を展示会へ出展！デモ実演を行います！＞ 「第7回 総合検査機器展」 日程： 2014年9月17日(水)～19(金) 会場： 東京ビッグサイト（ブース：東6 J-43） ＨＰ： http://www.jima-show.jp/index.html ※製品の詳細はカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
専用のコントローラおよび駆動機と組み合わせてウェブの蛇行修正を行います
『PSM-46Wシリーズ』は、ウェブのエッジを検出するための 超音波エッジセンサです。 スイッチパネル付きの「46WS」はセンサの本体でモード切換えや ティーチング操作を行えるため、便利です。 また、スイッチパネル付のものは「PEM型」のコントローラを使用しない シンプルなシステム（駆動機とセンサのみ）にすることも可能です。 【特長】 ■ウェブのエッジを検出する ■専用のコントローラおよび駆動機と組み合わせてウェブの蛇行修正を行う ■「W」、「WX」二つのタイプの形状から選択可能 ■超音波の透過量の変化でウェブのエッジ位置を検出する ■色や柄、透明度に影響される事なく正確に検出することができる ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
約1/2の体積まで小型化！狭いスペースでも使用することができる超音波エッジセンサ
『PS-45』は、超音波透過型のウェブエッジ検出器です。 Q-seriesの制御盤、駆動機と組み合わせてウェブの蛇行制御に使用。 ウェブの透過度や色、柄に影響されないため、透明体の検出に適しています。 また、「PS-400」に比べてコンパクトなので、狭いスペースでも 使用することができます。 【特長】 ■コンパクトなボディ ■超音波式により安定検出 ■取付けスペースの関係でこれまで諦めていた場所にも設置可能 ■各種ウェブの色や柄、透明度に影響される事なく確実に検出できる ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
ハードディスク表面のスクラッチ、ピットなどの微細な表面欠陥を検出
ハードディスク表面に高出力レーザーを照射することで、スクラッチ、ピットなどの微細な表面欠陥を検出し、欠陥種類ごとに分類、結果表示します。 複数レーザーの同時照射によりスクラッチを高感度で検出するだけでなく、欠陥の凹凸形状を判定します。 特長 ・高出力レーザーによる微小欠陥の検出 ・高いスクラッチ検出能力 ・欠陥の凹凸を弁別 ・全数オートフォーカス ・優れたコストパフォーマンス ・カスタマイズ対応 ・1カセット自動検査対応 ・透明ガラス基板対応
透明ウェーハも高速検査！高出力レーザーが微小な傷・パーティクルを検出！
『Laser Explorer』は、透明ウェーハにも対応した、 最新型のウェーハ表面欠陥検査装置です。 高出力レーザーが、スクラッチ・ピット・パーティクルなどの微小欠陥を検出！ ウェーハの出荷・受入検査や、エピタキシャル工程の品質管理に活用いただけます！ 【その他の特長】 ■高スループット（1カセット25枚を、約40分で検査） ■欠陥の凹凸を弁別 ■全数オートフォーカス ■カスタマイズ対応 ■1カセット自動検査対応 ■欠陥に対する高精度マーキング（オプション） ■レーザー顕微鏡による欠陥レビュー（オプション）
研磨加工、ウェハ検査に対応可能！新しいテープやお客様のご要望に合わせて開発
D&Xは、主に半導体の消耗材を取り扱っております。 成膜加工をはじめ、Size Down加工、再生加工、研磨加工、ウェハ検査に 対応可能。取り扱い製品は、半導体関連テープ・ウエハ・UVランプ・ 産業用機械などがございます。 新しいテープやお客様のご要望に合わせて開発することを目標とし、 随時テープテストや研究を続けております。 【事業内容】 ■半導体消耗品の企画販売 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
ノンパターン透明・半透明ウェーハ表面パーティクル装置の標準機！
シリコンウェーハだけでなく、ダブルポリッシュの透明ウェーハ、シングルサイドポリッシュの半透明ウェーハ（裏面梨地ウェーハ）も測定可能。 自動搬送仕様とマニュアル搬送仕様が選択できます。 顕微鏡観察オプションで測定後レビューができます。
次世代パワー半導体ウェーハSiC/GaN用パーティクル検査装置
ノンパターンSiCバルクウェーハ 0.1μm検出。 微小スクラッチ検出。 SiCやGaNウェーハの洗浄確認に最適です。 自動搬送とマニュアル搬送が選択できます。 顕微鏡観察機能で測定後のレビューができます。
省スペース・高速高精度・ローコスト！小径パイプ等に適した傷欠陥検査装置
『New Wire Inspector』は、超高速で小径カテーテル等の表面も 対象とした外観検査・傷欠陥検査装置です。 φ0.1の線材の表面のキズ検出や、φ2線材のV溝深さ10μmキズ検出が できるなど、今までの技術では不可能だった傷の検出が可能。 "脱・目視検査"をお考えの方にお勧めする検査装置です。 【特長】 ■φ0.1の線材の表面のキズ検出が可能 ■φ2線材のV溝深さ10μmキズが検出可能 ■材料が振れても検出できる ■1台で全周（360度）の検査が可能 ■材質を問わない ■最速（全周）20m/min 検査速度 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
プレス加工ワークを高精度欠陥検査で自動選別！金型交換サイクルを数値で管理！
『PK2800』は、複雑な加工形状ワークに沿った高精度欠陥検査を実現した プレス加工品欠陥検査機です。 レーザセンサによる3D計測・ラインセンサによる2D計測を組み合わせた 計測ユニットにより、プレス打ち抜き時に発生する傷、破断を高精度に 計測し、OK/NG判定します。 カスタマイズ対応で、検査プラス"バリ除去・油洗浄・箱への整列収納"等 ユニット接続で一貫処理も実現します。 【特長】 ■複雑な加工形状ワークに沿った検査も可能 ■法線制御計測（X,Y,θ 3軸制御） ■金型交換サイクルを数値で管理 ■カスタマイズも対応 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
作業効率化！ワッシャー組み込みCAPボルトのご紹介です
『WAソケット』は、ワッシャー組み込みCAPボルトです。 ワッシャーの付け忘れを防止し、作業効率化を実現します。 車・建設・設備・半導体・ロボット等、多種業界にて採用されています。 是非当社までお問い合わせください。 【問題解決 例】 ■製造現場でワッシャーを手で組み込んでいる →WAソケットなら組み込み作業を省略できた(時間短縮) ■ワッシャーが付いていないまま締め付けてしまった →組み込み式で作業漏れが無くなった ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
松本電子工業にお任せください！ラインスピード1200m/分で15μmの欠陥を検出可能
精密機器の製造では、高い精度の部品が求められます。そのような 部品の場合、人の目では検品ができません。 しかし、当社の検出器ならラインスピード1200m/分で15μmの 欠陥を検出。ラインのスピードを保ったまま、非常に高い精度で 欠陥が検出できます。 「検出精度」に関するお悩みは、松本電子工業にお任せください。 【こんなお悩みありませんか？】 ■欠陥の検出精度を高めたい ■不良品を納品してクレームを受けてしまった ■新しい仕事を受けたいのに、今の検査体制では要求品質を満たせない ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
オートローダによる完全自動計測！ウェーハ表層欠陥検査装置
『MO-601HS』は、ウェーハ全面の計測を可能とし、Siウェーハのデバイス 活性層である表層近傍の結晶欠陥を表面上の異物及び表面の荒さ、傷と識別 して検査できるウェーハ表層欠陥検査装置です。 ビュアー機能による欠陥の実画像による確認、並びにレーザマーキング機能 によるTEM観察での欠陥解析が可能。 酸化膜の耐圧と信頼性を非破壊で評価する方法として、アニールウェーハ などの品質維持に活用されています。 【特長】 ■オートローダによる完全自動計測 ■200mm,300mmウェーハ対応 ■高感度：200nmΦの欠陥を検出可能 ■欠陥・異物・ヘイズの全面マップ計測機能 ■計測条件を一定としたラスタースキャン方式 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせください。
高速ラインでも欠点を見逃さない！特に三品業界の生産ラインに携わる方は必見の製品です！
『Mujiken-Ex』は、あらゆる生産・加工現場にて高速搬送されるフィルム、紙、金属といった無地素材の表面欠陥（キズ、汚れ、異物など)を検査するシステムです。 化粧品や医薬品に使われる容器、パッケージ、ラベルの素材などの検査にも好適な装置で ウェブ（シート）状であれば被測定物、基材を選ばず 多様な製品の素材表面検査が可能です。 自社開発の検査専用高速処理回路をハードウェア(ボード)化することにより 外観検査の精度は高水準のまま標準機の約2倍の画像処理を実現。 【特長】 ■画像処理：高速化した画像処置機能、豊富なアルゴリズム ■光学系：対応カメラの高速化。長距離・高速通信対応 ■多彩なシステム構成 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
L1800カラー汎用機-八面機やE3000カラー専用タイプなど！豊富なラインアップでご紹介
当社で取り扱う、「外観欠陥検査機」をご紹介いたします。 固定形状の検査対象物に特化した専用ソフトウェアが書かれており、 材料変更の設定も簡単かつ迅速に行える「E3000カラー専用タイプ」や クイックチェンジガラスの設計により、平坦度補正なしで3分で変換可能な 「E8000カラー小型専用タイプ」などをラインアップ。 ご要望の際は、当社までお気軽にお問い合わせください。 【ラインアップ】 ■E3000カラー専用タイプ ■L1800カラー汎用機-八面機 ■E8000カラー小型専用タイプ ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
より簡単に素早くそして確実に緩みを防ぐ！M5～M12(鉄製)サイズをラインアップ
『ノルトロックワッシャー組込みボルト』は、強度区分4.8相当の 六角ボルトにボルト緩み止めノルトロックワッシャーを組み込んだ 一体型の製品です。 ボルトとワッシャーが一体型のため、取り付け忘れといった人為的ミスをなくし、 作業者の熟練度に関わらず、迅速かつ確実に取り付けを行うことが可能。 また、メンテナンス時の分解・再取付作業が容易になることで、生産維持に 必要な時間を短縮、生産性向上によりコスト削減に貢献します。 【特長】 ■ボルト・ワッシャーが一体型のため、取り付け忘れがない ■作業時間の短縮、コスト削減に貢献 ■耐食性に優れた表面加工により長期間の使用が可能 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
