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自動テストシステム構築ツール「LabVIEW」「TestStand」の専門書
中堅エンジニア向けに、ものづくりの現場で役立つプログラミングの実践書をお届けします。 今回は、生産ラインで稼働する検査プログラムの作り方です。 TestStandというソフトウェアをご存知でしょうか？ 工場の生産ラインでは、何種類もの試験を組み合わせて検査が行われます。不合格後のジャンプ先、くり返しの回数といった試験内容が変わるたびにプログラマが駆けつけて直す……そんな面倒を解決するソフトウェアです。 このテキストでは、LabVIEWでつくった試験プログラムとTestStandを組み合わせて、本格的な検査装置をつくる方法をお伝えします。 車載機器、半導体、電機・電子機器などの生産ラインに関わる方は要チェックです！
光学分解能「1.8μｍ」で、非常に高精細な検査が可能です。 寸法測定にも対応でき、二次元の打ち抜き加工品などの検査もできます。
高解像度カメラと高精度X-Yステージを用いた二次元の検査装置です。 光学フィルム、シートやタッチパネルなどの表面キズ、異物の検査や欠陥検査に適しています。 光学分解能「1.8μｍ」で、非常に高精細な検査が可能です。 寸法測定にも対応でき、二次元の打ち抜き加工品などの検査もできます。 【特長】 ■検査データと画像を自動で保存 ■カメラ画素数：900万画素 ■高い光学分解能(1.8μm)で微細な検査箇所も綺麗に見える ■タッチパネルの周辺電極、プリント基板の微細配線の断線、短絡の検査に最適 ※詳しくは資料をダウンロード、もしくはお問合せください。
「お客様の専門知識」×「当社の技術力」で「求めていた1台！」を実現！
アヤハエンジニアリングでは『共同企画型製品シリーズ』として、 欠陥検出に関する多種多様なご要望にお答えするために、お客様の 専門知識と当社の技術力で新たな商品開発を行っております。 フィルム・シート・ウェブ検査から、不織布・電極シート・銅板・鋼板・ 金属箔検査まで、お客様の製品サイズや加工ライン、検出欠陥に合わせた さまざまな欠陥検査装置・表面検査装置・マーキング装置をご提案いたします。 特殊なワークや、これまでにない検査方法にも全力で取り組み、 皆様の「こんな1台が欲しかった！」を実現します。 【こんなご要望にお答えします！】 ■繊維検査機や織物検査機がほしい ■カラー検査がしたい ■独自の検査ノウハウをシステム化したい ■複雑な装置は使いづらい ■多様なアルゴリズムを使った研究をしたい ※詳しくはお問い合わせ下さい。
小型軽量タイプをはじめ、クリーン対応など、豊富にラインアップ！
アヤハエンジニアリングは、フィルム検査・シート検査・ウェブ検査から、 不織布検査・電極シート検査・銅板検査・鋼板検査・金属箔検査まで、 製品サイズや加工ライン、検出欠陥に合わせたさまざまな『マーキング装置』をご提案いたします。 「AMK-Mini」は、コントロールBOXを本体から分離し、超小型化・超軽量化を実現。 従来、取付けが困難な場所への設置が可能となりました。 他にも、クリーン環境で設置が可能な「AMK-クリーン」や、 コントローラ一体型タイプの「AMK-S1」などをラインアップしています。 【特長（AMK-Mini）】 ■コントロールBOXを本体から分離し、超小型化・超軽量化を実現 ■従来、取付けが困難な場所への設置が可能 ■ラベル残数監視機能を標準装備 ■カウントダウン方式によりラベルがなくなったことを信号出力 ※詳しくはお問い合わせ下さい。
コントラストの低い画像を見やすくする処理を使用して見つけにくい欠陥部を検出
『IR-MEMS100』は、ロボットにより自動的に貼り合わせウエハーを 搬送してウエハーの内部状態を特殊赤外線光学系で画像を撮影し、欠陥検出 アルゴリズムを使用して各種欠陥を検出するMEMS全自動欠陥検査装置です。 赤外線顕微鏡にセットした高感度赤外線カメラで画像を撮影し独自の 欠陥検出ソフトウエアにて見えにくい欠陥部を検出します。 【特長】 ■赤外線顕微鏡にセットした高感度赤外線カメラで画像を撮影し独自の 欠陥検出ソフトウエアにて見えにくい欠陥部を検出する ■コントラストの低い画像を見やすくする処理（エフェクト処理）を 使用して見つけにくい欠陥部を検出する ■対応ウエハーサイズは4インチ、6インチ、8インチ ■欠陥検出能力は約10μm ■検査時間は30分/ウエハー ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
■低パルスエネルギーのレーザーで動作してスーパーコンティニアム光を発生させます。
多種多様な用途のあるスーパーコンティニアム光をより簡単に出力するために開発されました。 簡単に使用するためにファイバーカップリングモジュールとしての販売です。 OCTAVE photonics社はナノフォトニクスチップを開発し、そのチップを利用したファイバカップリングデバイスを製造・販売している会社です。OCTAVE photonics社は非線形ナノフォトニックウェブガイドを用いてパルスレーザーによるスーパーコンティニアム光の発生デバイスを提供しております。
非破壊/非接触！nmスケールのウェハー内部の拡張欠陥の検出とモニタリングが可能
『En-Vison』は、転位欠陥、酸素析出物、積層欠陥などのウェハー内部の 結晶欠陥を非接触・非破壊で測定・評価ができる結晶欠陥検査装置です。 欠陥サイズ（15nm～サブミクロン）と密度（E6～E10/cm3）の両方で ハイダイナミックレンジを提供。 ウェハー深さ方向の検出感度を大幅に向上させ、幅広い密度とアプリケーションを カバーすることで、表面近傍では確認ができない深さ方向の応力起因転位欠陥の 検出感度を、従来の手法よりも大幅に向上させています。 【特長】 ■非破壊/非接触 ■従来の検査装置では確認できない欠陥を可視化 ■対象領域：活性デバイス領域（表面近傍） ■生シリコンと活性デバイス深さでの検出 ■専門知識は不要 ※詳しくは関連リンクページをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
水平FFU搭載！高速クリーン検査可能！コンパクト設計のAR膜欠陥検査装置
アローズエンジニアリングでは、アイティ・テック社製の AR膜欠陥検査装置を取扱っています。 『EX2001S』は、ガラス基板の反射防止膜の欠陥検査機です。 透明基板の表面や裏面を倒立顕微鏡とラインカメラで 高速スキャン検査して欠陥検査をします。 【特長および機能】 ■対象基板は最大400mm、透明基板にオートフォーカスで検査 ■検出欠陥：AR膜基盤の白異物(抜け)や黒異物 ■最小検出分解能2.8μm(1.4μm) ■レビュー検査をリモート制御(カメラ/照明/対物変倍/ステージおよびフォーカス) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
品質管理をスピーディに！金属製ワイヤーやコイル等のわずかな欠陥を正確に検出。※総合検査機器展にてデモ実演を行います！
ローランド社『ECT40』はワイヤー・ケーブル、チューブ、コイルなどの金属製部材（半完成品）の欠陥検出専用装置です。 クラック等の欠陥によって生じる電流の変化をとらえて、 「溶接継目の表面」「溶接量」などを検出。品質管理の効率化に役立ちます。 【特長】 ■顧客のPCで操作可能（Win7/Win8対応） ■広い試験周波数レンジ（1‐12,000kHz) ■ライン速度に自動追従するオートフィルター付 ■多様な評価モード ■検査ログソフトウェア付 ＜本製品を展示会へ出展！デモ実演を行います！＞ 「第7回 総合検査機器展」 日程： 2014年9月17日(水)～19(金) 会場： 東京ビッグサイト（ブース：東6 J-43） ＨＰ： http://www.jima-show.jp/index.html ※製品の詳細はカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
専用のコントローラおよび駆動機と組み合わせてウェブの蛇行修正を行います
『PSM-46Wシリーズ』は、ウェブのエッジを検出するための 超音波エッジセンサです。 スイッチパネル付きの「46WS」はセンサの本体でモード切換えや ティーチング操作を行えるため、便利です。 また、スイッチパネル付のものは「PEM型」のコントローラを使用しない シンプルなシステム（駆動機とセンサのみ）にすることも可能です。 【特長】 ■ウェブのエッジを検出する ■専用のコントローラおよび駆動機と組み合わせてウェブの蛇行修正を行う ■「W」、「WX」二つのタイプの形状から選択可能 ■超音波の透過量の変化でウェブのエッジ位置を検出する ■色や柄、透明度に影響される事なく正確に検出することができる ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
約1/2の体積まで小型化！狭いスペースでも使用することができる超音波エッジセンサ
『PS-45』は、超音波透過型のウェブエッジ検出器です。 Q-seriesの制御盤、駆動機と組み合わせてウェブの蛇行制御に使用。 ウェブの透過度や色、柄に影響されないため、透明体の検出に適しています。 また、「PS-400」に比べてコンパクトなので、狭いスペースでも 使用することができます。 【特長】 ■コンパクトなボディ ■超音波式により安定検出 ■取付けスペースの関係でこれまで諦めていた場所にも設置可能 ■各種ウェブの色や柄、透明度に影響される事なく確実に検出できる ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
ハードディスク表面のスクラッチ、ピットなどの微細な表面欠陥を検出
ハードディスク表面に高出力レーザーを照射することで、スクラッチ、ピットなどの微細な表面欠陥を検出し、欠陥種類ごとに分類、結果表示します。 複数レーザーの同時照射によりスクラッチを高感度で検出するだけでなく、欠陥の凹凸形状を判定します。 特長 ・高出力レーザーによる微小欠陥の検出 ・高いスクラッチ検出能力 ・欠陥の凹凸を弁別 ・全数オートフォーカス ・優れたコストパフォーマンス ・カスタマイズ対応 ・1カセット自動検査対応 ・透明ガラス基板対応
透明ウェーハも高速検査！高出力レーザーが微小な傷・パーティクルを検出！
『Laser Explorer』は、透明ウェーハにも対応した、 最新型のウェーハ表面欠陥検査装置です。 高出力レーザーが、スクラッチ・ピット・パーティクルなどの微小欠陥を検出！ ウェーハの出荷・受入検査や、エピタキシャル工程の品質管理に活用いただけます！ 【その他の特長】 ■高スループット（1カセット25枚を、約40分で検査） ■欠陥の凹凸を弁別 ■全数オートフォーカス ■カスタマイズ対応 ■1カセット自動検査対応 ■欠陥に対する高精度マーキング（オプション） ■レーザー顕微鏡による欠陥レビュー（オプション）
研磨加工、ウェハ検査に対応可能！新しいテープやお客様のご要望に合わせて開発
D&Xは、主に半導体の消耗材を取り扱っております。 成膜加工をはじめ、Size Down加工、再生加工、研磨加工、ウェハ検査に 対応可能。取り扱い製品は、半導体関連テープ・ウエハ・UVランプ・ 産業用機械などがございます。 新しいテープやお客様のご要望に合わせて開発することを目標とし、 随時テープテストや研究を続けております。 【事業内容】 ■半導体消耗品の企画販売 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
