透明ウェーハも高速検査!高出力レーザーが微小な傷・パーティクルを検出!
『Laser Explorer』は、透明ウェーハにも対応した、 最新型のウェーハ表面欠陥検査装置です。 高出力レーザーが、スクラッチ・ピット・パーティクルなどの微小欠陥を検出! ウェーハの出荷・受入検査や、エピタキシャル工程の品質管理に活用いただけます! 【その他の特長】 ■高スループット(1カセット25枚を、約40分で検査) ■欠陥の凹凸を弁別 ■全数オートフォーカス ■カスタマイズ対応 ■1カセット自動検査対応 ■欠陥に対する高精度マーキング(オプション) ■レーザー顕微鏡による欠陥レビュー(オプション)
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基本情報
【主な仕様】(型式:LE-W1) 検出方式 :レーザー散乱方式、反射方式、位相シフト方式 検出欠陥 :パーティクル、スクラッチ、ピット、ヒロック、ステイン等 対象素材 :Si、SiC、GaN、LT、サファイア等 対象サイズ :2、4、6、8インチ (その他、別途ご相談) 検査時間 :約90秒/枚(4インチ、10μmピッチ、搬送時間含む) レーザー波長:405nm 検査ピッチ :5~30μm 結果出力 :マップ、種類別グラフ、リスト、サイズ分類 機器寸法 :W 1800×D 990×H 1490(mm) ※詳しくはカタログをご覧下さい。お問い合わせもお気軽にどうぞ。
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納期
用途/実績例
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