※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• 光学測定器

【仕様（抜粋）】 ■光源：375nm 半導体レーザ ■最小線幅：15μm（目標5μm） ■使用対物レンズ：X2 長作動対物レンズ（x10 レンズによる対物レンズについても開発中） ■最大ワークサイズ：一辺が100mm以下の立方体 ■装置寸法：W1000×H1800×D900 ■オートフォーカス 　・露光時：赤色レーザによる三角測量法 　・アライメント時：カメラ画像によるコントラスト法 ■機能：位置・角度アライメント、観察機構 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• その他光学部品

【掲載製品（抜粋）】 ■レーザ光源 　・光周波数コム 　・安定化レーザ 　・ヘリウムネオンレーザ ■フォトリソグラフィ 　・マスクレス露光装置PALET ■磁性材料測定・観察 　・磁気光学効果装置 　・ハードディスク・ウェハ用測定装置 　・磁区観察装置 ■振動・面内速度測定・観察 　・GHz振動観察装置 　・レーザドップラー振動計 　・面内速度センサ ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• レーザ部品

【評価例】 ■ハンダ付け検査 ■加工部品形状検査 ■欠陥検査 ■段差、傷、摩擦の確認 ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問合せください。

• 外観検査装置

【仕様】 ■中心波長：1560 nm±20 nm ■出力：≧3 mW、≧50 mW (ファイバアンプオプション) ■スペクトル帯域：≧15 nm ■パルス幅：≦200 fs （チャープ補正時） ■基準周波数源：マイクロ波周波数、または光周波数 ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問合せください。

• 時間・周波数測定

【仕様】 ■検出速度範囲：0.03～3.5 m/s ■速度最小分解能：検出速度中心値の5% ■作動距離(W.D.)：16±1.3 mm ■検出エリア：10 µm×500 µm(TYP) ■センサヘッド寸法：W30 mm×D80 mm×H35 mm ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問合せください。

• その他電子計測器

【特長】 ■光周波数コム 　・国家標準と同等のフェムト秒レーザ 　・必要な機能を選択できるモジュールタイプのコントローラ ■よう素安定化He-Neレーザ 　・長さの特定2次標準器と同等 　・計測分野での長さ基準として使用可能 ■アセチレン安定化半導体レーザ 　・長さの特定2次標準器と同等 　・波長計や光計測器の波長校正に好適 ■モードバランス型He-Neレーザ 　・実用型周波数安定化He-Neレーザ 　・製造工程で使用できるお手頃価格 ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問合せください。

• レーザ部品

【ラインアップ】 ■一般He-Neレーザーシリーズ ■外部鏡型He-Neレーザーシリーズ ■周波数安定化He-Neレーザーシリーズ　など ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問合せください。

• レーザ部品

【ラインアップ】 ■様々な条件に対応可能な汎用タイプ ■機能特化によるコンパクトな卓上小型タイプ ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問合せください。

• 振動監視

【機能】 ■リピートモード(条件出し) ■重ね合わせ(アライメント) ■パターン生成機能 ■キャンバスモード ■ステージレイアウト　など ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問合せください。

• その他半導体製造装置

【仕様】 ■光源 　・種類：白色LED 　・寿命：1万時間以上 ※保証は製品購入後1年間となります。 ■磁場 　・方向：面内方向 　・最大発生磁場：±1kOe ■カメラ 　・解像度：1280×960ピクセル 　・フレームレート最大60fps 　・ビット階調：12ビット ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問合せください。

• 光学顕微鏡

【仕様】 ■パターン：直線（ライン） ■光源波長：赤色（650nm 帯）※他⾊はご相談ください。 ■レーザ線⻑：1.9m@距離2m ■レーザ出⼒：1〜4mW ■ファイバ⻑：3m ※他のファイバ⻑はご相談ください。 ■使⽤電圧：D ■消費電⼒：15W以下 ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問合せください。

• レーザーマーカー