アルファクスの製品・サービス一覧

本装置は長波長(光通信用)レーザーダイオードのベアチップ状態での電気特性、光学特性を高速に自動に測定・選別するLDテストシステムです。 ＜特長＞ ■ ブルーシートに貼りつけたLDチップをグリップリング状態のまま供給か　 　ら測定・分類級までを高速で全自動搬送します。 ■ 測定項目(フロント/バック LIV、λ特性)を2温度環境下で標準項目として測 　定可能。 ■ -40°C~+95°Cまでの任意の温度で測定選別が可能。 ■ FRONT光、BACK光の同時にIL測定が可能。 ■ チップの位置決め方法としてSHゲージング方式を採用。 ■ 集光レンズ方式の採用で波長測定の調心時間をゼロにしました。 ■ 最大13台のカメラで各ポジションでのLDチップの有無、状態をモニタリング。 運転状況の把握、各部の調整が容易に可能。 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

• 分析機器・装置

本装置はVCSELレーザーダイオードのWAFER状態で常温(20℃)～高温(95℃)環境下での電気特性、光学特性を自動で測定するＬＤテストウエハープローバです。 ＜特長＞ ■ウェハー状態でマルチビームVCSELの特性を自動測定します。 ■ ALPHAXの測定技術とMPIのVCSEL WAFER PROBERをドッキング。 ■ MPIは代表的な台湾のLEDプローバメーカーです。 ■ 測定項目は I-L, I-V, λ, NFP (OPTION), FFP (OPTION). 1台で各項目毎に連続測定を行います。 ■ 高速、高精度の計測を実現しました。 詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

• 分析機器・装置

長波長レーザーダイオードのベアチップ状態での電気特性、光学特性を高速に自動に測定・選別するＬＤテストシステムです。 ＜特長＞ ■ 供給から測定・分類などを全自動搬送できます ■ 最大13台のカメラにより運転状況の把握が容易です ■ +２０℃～-１００℃まで任意の温度で測定可能です ■FRONT光、BACK光のIL測定を同時に行います。 詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

• 分析機器・装置

本装置は長波長(光通信用)レーザーダイオードのベアチップ状態での電気特性、光学特性を高速に自動に測定・選別するＬＤテストシステムです。 ＜特長＞ ■ ブルーシートに貼りつけたLDチップをグリップリング状態で供給、収納　 　可能。 　供給から測定・分類級までを高速で全自動搬送。 ■ 測定項目(フロント/バック LIV、λ特性)を1温度環境下で標準項目として測　 　定可能。 ■ -40°C~+95°Cまでの任意の温度で測定選別が可能。 ■ FRONT光、BACK光のIL同時測定が可能。 ■ チップの位置決め方法としてSHゲージング方式を採用。 ■ 集光レンズ方式の採用で波長測定の調心時間をゼロにしました。 ■ 最大9台のカメラで各ポジションでのLDチップの有無、状態をモニタ 　リング。 　運転状況の把握、各部の調整が容易に可能。

• 分析機器・装置

研究用のデスクトップタイプのLDテストシステムです。 ＜特長＞ ■ LDの形状によって専用治具を用意可能です。 ■ 測定項目(フロントLIV、λ特性、FFP H,V)を指定温度環境下で1素子を自動　　 　測定可能です。 ■ 長波長(1200-1650nm)向けLD342Lと短波長(400-980nm)向けLD342Sがあ 　ります。 ■ 低温(-40°C~+100°C)までのLTと常温(20°C~+100°C)までのNTの選択肢が 　可能です。 ■ 集光レンズ方式の採用で波長測定の調芯を不要にしました。

• 分析機器・装置

アルファクスが取り扱う、レーザーダイオード検査装置『LD4200E』を ご紹介します。 当製品は、各種パッケージのLDを手作業で専用治具にセットし、 スタートボタンを押せば自動で全項目を連続して測定します。 当社では、長年の豊富な実績より各種ラインアップを揃えています。 素子の仕様（波長、出力 etc）、形状（チップ、各種パッケージ）測定項目、 測定条件（温度など）用途、搬送形態によって好適なシステムをお選び下さい。 【特長】 ■各種パッケージのLDを手作業で専用治具にセット ■スタートボタンを押せば自動で全項目を連続して測定 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• その他検査機器・装置
• 半導体検査/試験装置

『LD1220TB』は、パッケージ状態のLDの量産用測定分類機です。 LDはトレイに分類して収納。LDをトレイ収納状態で供給し、 自動でピックアップ、計測を連続して行います。 当社では、長年の豊富な実績より各種ラインアップを揃えています。 素子の仕様（波長、出力 etc）、形状（チップ、各種パッケージ）測定項目、 測定条件（温度など）用途、搬送形態によって好適なシステムをお選び下さい。 【特長】 ■LDをトレイ収納状態で供給 ■自動でピックアップ、計測を連続して行う ■LDはトレイに分類して収納される ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• その他検査機器・装置
• 半導体検査/試験装置

『LD3600F』は、UPHが従来型に比べ3倍になったLD温度特性検査機です。 旧ベルコア(現テレコルディア)規格を満足する-40℃～+85℃の特性検査を 効率よく行います。 通信用LD(1000nm〜1650nm)だけでなく記録用LD(350nm～900nm)も 可能で、ワークホルダを変更することにより各種素子形状に対応できます。 【特長】 ■納入実績豊富な標準機LD3600Dを更にBrush up ■UPHが従来型に比べ3倍(当社比) ■-40℃～+85℃の特性検査を効率よく行う ■ワークホルダを変更することにより各種素子形状に対応可能 ■温度コントロール方式は水冷ぺルチェ制御を採用 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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