東洋電子技研の製品・サービス一覧

東洋電子技研株式会社で取り扱う、『ファンクションテスター用治具』を ご紹介いたします。 機器の駆動装置は、エアーシリンダ―やサーボモーターの制御にPLCや 電子回路を使用し、好適な検査環境を実現。 基板の機能検査に使用する治具で、お客様の仕様に合わせ製作致します。 詳細については、ぜひ関連リンクをご覧ください。 【特長】 ■機器の駆動装置はエアーシリンダ―やサーボモーターの制御にPLCや 　電子回路を使用し、好適な検査環境を実現 ■それぞれ検査機種に合わせ設計されたオリジナル品もご用意 ■適切な接触子を選んでプローブユニットを確実な物に製品化 ■電気検査の要と言われる検査ユニットを含め検査装置（機器）と 　合わせてご提供 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• その他計測・記録・測定器
• 基板検査装置
• 検査治具

『デバイス検査用ユニット治具』は、ファインピッチデバイス、コネクタ、 測定器付きモジュール、信号リレー等様々な検査用途に対応致します。 中でも「ファインピッチデバイス」は、当社のベア基板検査治具のノウハウ、 独自のコンタクト技術、オリジナルプローブピン搭載から生まれたユニット。 幅広い設計自由度、メンテナンス性に優れ、自動機の試験ユニットとして 多くのお客様から評判をいただいております。 【特長】 ＜ファインピッチデバイス検査ユニット＞ ■デバイス実装ピッチ0.3mmやルビン四端子測定、コネクタ製品の 　耐圧試験等に幅広く対応 ＜コネクタ検査用ハンドラー取付治具＞ ■0.3mmピッチなどのファインピッチで、精度の高い安定した 　コンタクトが得られる ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• その他計測・記録・測定器
• 基板検査装置
• 検査治具

東洋電子技研株式会社で取り扱っている『デバイス検査用ICソケット』を ご紹介します。 BGA、LGA、QFNなどの様々なICチップに対応する「カスタムソケット」や MPUとメモリを分離した状態で収納して評価テストを可能とする「POP用 ソケット」などをラインアップ。 テストターゲットの機器により、ケルビン測定用から映像用まで各種 ご用意しております。詳細については、ぜひ関連リンクをご覧ください。 【ラインアップ（一部）】 ■ケルビン測定ソケット ■カスタムソケット 　・カクラムシェル・シリーズ 　・ワンタッチ・シリーズ ■インターポーザ（ピッチ変換アダプター） ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• その他計測・記録・測定器
• 基板検査装置
• ソケット

東洋電子技研株式会社で取り扱う、『実機基板上IC検査用ユニット治具』 をご紹介します。 「実装基板上でのIC検査治具」は、ICの性能評価を行う際、他の部品を 全て実装状態で評価試験が可能。 「高機能基板検査用治具」は、基板上のICソケットのプローブの信号を 2分岐することにより、実動作での検査および解析を行えます。 詳細については、ぜひ関連リンクをご覧ください。 【特長】 ■実装基板上でのIC検査治具 　ICの性能評価を行う際、他の部品を全て実装状態で評価試験が可能となる ■高機能基板検査用治具 　基板上のICソケットのプローブの信号を2分岐し、実動作での検査および 　解析を可能にする ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• その他計測・記録・測定器
• 基板検査装置
• 評価ボード

東洋電子技研株式会社で取り扱っている『プリント基板検査用治具』を ご紹介いたします。 接触接点技術、5層ハウジング構成、自社オリジナルプローブピンにより、 安定した電気接続、優れたメンテナンス性、耐久性を実現。 高密度基板検査用治具の「V-500シリーズ」や「V-600シリーズ（セパレート方式）」、 高機能基板検査用治具の「V-4000FB」をラインアップしています。 詳細については、ぜひ関連リンクをご覧ください。 【特長】 ＜V-500シリーズ＞ ■先端部の振れを抑える構造で、コンタクト位置精度が極めて高精度 ■接触接点技術及び、5層ハウジング構成によりプローブピンの 　交換メンテナンスを容易にし、製作時の短納期化も実現 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• その他計測・記録・測定器
• 基板検査装置
• プリント基板

東洋電子技研が取り扱う『プローブピン』をご紹介します。 ケルビン測定が可能な同軸型4端子型、0.15～0.2mm対応可能な スーパーファインピッチなど、オリジナルプローブが充実。 当社は、特許技術を応用した独創的な製品群でお客様のご要望に お応えしています。 ご用命の際はお気軽にお問い合わせください。 【ラインアップ】 ■同軸型4端子型 ■ペンシル型 ■大電流 ■スーパーファイン ■両端コンタクト ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• プローブ
• その他計測・記録・測定器

『W-CSP』は、ウエハよりチップをダイシング後、同軸型4端子コンタク トプローブ(PATENT)を利用して手動測定が可能な検査用ソケットです。 チップの開発や抜取り検査・不良解析などに使用可能。 ソケットの蓋は、着脱可能で、自動機(ハンドラ式)検査にも使用できます。 【特長】 ■BGA、LGA、ベアチップなどの動作確認検査が可能 ■MOS-FETのオン抵抗値測定が可能 ■端子間の電圧測定が可能 ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• ソケット