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大塚電子株式会社

設立1970年
住所大阪府枚方市招提田近3丁目26-3
電話072-855-8554
  • 特設サイト
  • 公式サイト
最終更新日:2025/07/14
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粒子径・粒子径分布 粒子径・粒子径分布
分子量 分子量
キャピラリー電気泳動 キャピラリー電気泳動
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蛍光評価装置 蛍光評価装置
分光関連機器 分光関連機器
膜厚計・厚み計 膜厚計・厚み計
インプロセス用評価機器 インプロセス用評価機器
光波動場三次元顕微鏡 光波動場三次元顕微鏡
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半導体評価機器 半導体評価機器
光源照明評価機器 光源照明評価機器
FPD関連評価機器 FPD関連評価機器
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マルチチャンネル分光器 MCPD series 

広ダイナミックレンジ!高速・高再現性、軽量・コンパクトが特長的 

MCPD seriesは、紫外から近赤外領域対応の多機能マルチチャンネル 分光検出器です。 最短5msで分光スペクトル測定ができ、標準装置のオプティカルファイバー により、サンプル種を特定することなく、さまざまな測定系に対応。 また、顕微分光、光源発光、透過・反射測定をはじめ、ソフトウェアとの 組み合わせにより、物体色評価、膜厚測定などにも対応可能です。 【特長】 ■広いダイナミックレンジを有し、全光測定に好適 ■低迷光機能搭載により、UV評価に好適 ■最短5msecから65secまでの露光時間、微弱光測定、高速測定、  インライン測定など、幅広い測定に好適 ■スクランブルファイバーの採用により、高再現性を実現 ■軽量・コンパクトな縦置きタイプ ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

  • 分光分析装置

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ラインスキャン膜厚計 インラインタイプ

ラインスキャン方式の採用で「抜け」のない全面フィルム検査を実現!

「ラインスキャン膜厚計(インラインタイプ)」は、インラインでの フィルム生産現場においてフィルムの膜厚を全幅・全長測定できる装置です。 独自の分光干渉法に新たに開発した高精度膜厚演算処理技術を組み合わせる ことで、最短0.001秒毎の測定間隔で500mm幅(1台使用時)のフィルムの 膜厚測定が可能。 また、膜厚測定の専門メーカーだからできる充実サポートや、バタつきに 強い光学系を採用しているなどといった特長が備わっています。 【特長】 ■ラインスキャン方式の採用で「抜け」のない全面フィルム検査を実現 ■膜厚測定の専門メーカーだからできる充実サポート ■高速・高精度に測定が可能 ■バタつきに強い光学系を採用 ■幅広のサンプル(TD方向に最大10m測定可能) ■ハード・ソフト共にオリジナル設計 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

  • 膜厚計

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膜厚測定装置 スマート膜厚計 SM-100 series 

持ち運び可能なハンディタイプの膜厚測定装置!サンプルを傷つけることもなく測定可能

『SM-100 series』は、1.1kgと軽く、持ち運びも簡単な膜厚計です。  膜厚を測定するときの「測りたい“その場”ですぐに測れない」「人によって バラつく測定結果」「測定精度が悪い」といったお困りごとを解決。 最薄0.1μmまで検量線不要で測定可能で、基材(ガラス・プラスチック)を 選ばず、形状のあるサンプルも非破壊で測ることができます。 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

  • 膜厚計

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ゼータ電位・粒子径・分子量測定システム ELSZneo

希薄系から濃厚系の高精度な粒子径・ゼータ電位測定 さらに固体表面、分子量の評価まで

『ELSZneo』は、ELSZseriesの最上位機種で希薄溶液から濃厚溶液での粒子径・ゼータ電位測定に加え、 分子量測定を可能にした装置です。また、粒度分布の分離能を向上させるため多角度測定を採用し、 粒子濃度測定やマイクロレオロジー測定、ゲルの網目構造解析も可能にしました。 平板のゼータ電位測定が可能な平板セルユニットは、新開発した高塩濃度対応 コーティングにより、生理食塩水などの生体模擬環境下での測定が可能です。 【特長】 ■希薄から濃厚溶液(~40%)まで幅広い濃度範囲の粒子径・ゼータ電位測定が可能 ■標準フローセルで粒子径とゼータ電位を連続して測定が可能 ■多角度測定により、分離能の高い粒子径分布の測定が可能 ■平板状サンプルのゼータ電位を講演濃度環境下で測定が可能 ■静的光散乱法を用いて粒子濃度の測定が可能 ■動的光散乱法によりマイクロレオロジー測定が可能 ■ゲル試料を複数点測定することによりゲルの網目構造や不均一性の評価が可能 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

  • その他計測・記録・測定器

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光波動場三次元顕微鏡 MINUK 

nmオーダーの透明な異物・欠陥の評価が可能!フォーカス不要で高速測定 目視では見えないフィルム表面を可視化・定量化

『MINUK』は、目視では見えない透明フィルム表面を可視化・定量化できる 光波動場三次元顕微鏡です。  nmオーダーの形状情報を非接触・非破壊・非侵襲で取得可能。ワンショットで 深さ方向の情報も併せて取得することにより、目視では見えない透明フィルム 表面の傷や欠陥の断面形状や三次元形状を可視化し数値化することが可能です。 高速で広範囲をマッピングし情報を得ることができるスティッチング機能に より、観察したい場所を素早く見つけ、詳細情報を取得することが可能です。 【特長】 ■nmオーダーの透明な異物・欠陥の評価が可能 ■1ショットで瞬時に深さ方向の情報を取得 ■フォーカス不要で高速測定が可能 ■非破壊・非接触・非侵襲で測定が可能 ■任意の面を高速でスキャンし測定位置の決定が容易 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

  • 光学顕微鏡

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粒子径・粒子径分布測定装置 多検体ナノ粒子径測定システム

使いやすさにこだわった粒径・粒度分布測定装置

『nanoSAQLA(ナノサクラ)』は、光散乱を利用して粒子径を測定する "動的光散乱法"を採用した、粒子径測定(粒子径0.6nm~10μm)装置です。 オートサンプラーなしで、最大5検体の連続測定を実現。各検体の条件を 変えて測定することも可能です。 また、濃厚系から希薄系サンプルまで約1分の高速測定を実現しました。 各セルは独立しているため、コンタミの心配もありません。 【特長】 ■動的光散乱法を採用 ■最大5検体連続測定が可能 ■高速測定 ■コンパクトボディ(装置幅24cm) ■コンタミレス ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他理化学機器
  • その他検査機器・装置

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キャピラリ電気泳動システム Agilent 7100 

簡単な前処理で定性・定量分析!  陽イオン・陰イオン・有機酸・アミノ酸・金属・糖類などを一台の装置で分析可能

キャピラリ電気泳動システム「Agilent 7100」は、 陽イオンや陰イオンなど異なる成分を一台の装置で分析が可能な製品です。 また、微量サンプルで短時間・高分解能な分析が可能です。 【特徴】 ・シンプルな前処理で短時間分析 ・1台で、陽イオン・陰イオン・有機酸、アミノ酸、タンパク質、糖の分析可能  (金属イオンの価数による分離も可能) ・高価なカラムは使用せず、試薬量も少量なのでランニングコスト削減 ・バッファマニュアルなど豊富なアプリケーションによる優れた技術サポート ・微量サンプルで短時間・高分解能な分析が可能 ・バブルセルキャピラリにより分離能を損なわず3~5倍の高感度化を実現 ・対イオンや夾雑物の影響を受けにくく前処理がほとんど不要 ・高価なカラムや溶剤を使用しないため経済的で環境にも優しい ・Open LAB CDS ChemStation により、日本語対応 ※詳細はお問い合わせ、もしくはPDFをダウンロードしてください。

  • 分離装置
  • その他理化学機器

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顕微分光膜厚計 OPTM series 

1ポイント1秒測定&測定エリア最小3μm!高性能で使いやすい顕微分光膜厚計

顕微分光を用いた微小領域での絶対反射率測定により、高精度な膜厚測定と光学定数解析が可能な装置です。 各種フィルムやウェーハ、光学材料などのコーティング膜の厚みや多層膜を非破壊・非接触で測定できます。 測定時間は1秒/pointの高速測定が可能で初めての方でも簡単に光学定数の解析ができるソフトウェアを搭載しています。 膜厚計のお悩みを「OPTMシリーズ」1台で完全解決します! 【特長】 ■膜厚測定に必要な機能をヘッド部に集約 ■顕微分光で高精度な絶対反射率測定(多層膜厚、光学定数) ■1ポイント1秒以内の高速測定 ■顕微下で広い測定波長範囲を実現する光学系(紫外~近赤外) ■エリアセンサーによる安全機構 ■初めての方でも光学定数解析が可能な楽々解析ウイザード ■測定シーケンスをカスタマイズ可能なマクロ機能搭載 ■複雑な光学定数も解析可能(複数点解析法) ■300mmステージ対応可能 ■各種カスタマイズに対応 など

  • 膜厚計

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