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『PPT8200』は、テスト効率を最適化するために設計された 「Per-Pin」アーキテクチャを採用した高性能パラレル・ パラメトリック・テストシステムです。 各ピンにSMUとPGUを搭載し、従来のシリアルテスタと比較して 50％以上高いスループットを実現。先進のソフトウェア環境により、 テストプログラムの開発を簡素化します。 量産立ち上げを加速させ、アレイテストにも対応し、高い信頼性と コスト効率を両立したソリューションを提供します。 【主要仕様(一部)】 ■アーキテクチャ：Per-Pin アーキテクチャ ■ピン数：48ピン ■構成：Per-Pin SMU、Per-Pin PGU ■電圧範囲：±200V ■電流範囲：±1A ■スループット：シリアルテスタ比 ＞50％向上 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
『SWT5100』は、シリコンフォトニクスウェーハの自動テストを 行うための高性能なウェーハレベルテストシステムです。 ウェーハのローディングから光アライメントまで、完全に自動化された テストプロセスを提供。25℃から150℃までの温度制御が可能なチャックを 搭載し、光、DC、RFテストをサポートします。 GC結合およびEC結合の両方に対応し、単一ファイバーから ファイバーアレイまで柔軟に構成可能です。 【主要仕様(一部)】 ■対応ウェーハサイズ：8～12インチ ■対応ウェーハ厚：200～2000 um ■チャック温度範囲：25℃～150℃ ■対応テスト：光、DC、RF ■結合方式：グレーティング結合およびエッジ結合 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
『B2031＆B3031』は、電圧と電流を同時に出力・測定する能力を持つ 高精度ベンチトップSMUです。 最大±30V、±500mA(DC/パルス)の出力が可能で、優れたカラー LCDグラフィカルユーザーインターフェース(GUI)を搭載。従来の SMU SCPIコマンドもサポートしています。 既存のテストコードからの移行が迅速かつ容易に行えます。 【主要仕様(一部)】 ■モデル：B2031 (4チャネル)/B3031 (8チャネル) ■最大出力：電圧 ±30V、電流 ±500mA (DC/Pulse) ■最小測定分解能：電圧/Voltage 60uV、電流/Current 100pA ■最大サンプリングレート：500 kS/s ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
『B0201＆B1201』は、電圧と電流を同時に出力・測定することができる 高精度ベンチトップSMUです。 高分解能と高精度を必要とする様々なIV測定タスクに理想的な選択肢と なります。広い電圧源(±200V)と電流源(±1A DC、±3Aパルス)機能、 優れた精度、6.5桁の表示(最小1fA/100nVの表示分解能)を提供。 そして卓越したカラーLCDグラフィカルユーザーインターフェースを 備えています。 【主要仕様(一部)】 ■最大出力電圧：±200V ■最大出力電流：±1A (DC), ±3A (Pulse) ■最大出力電力 (ch毎)：20W ■最小測定分解能：1fA/100nV ■最大サンプリングレート：1MS/s ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
『B6064C』は、PCIe 6.0およびそれ以前の規格に準拠した 高速ケーブルのビットエラーレート(BER)試験に対応する、 高密度で汎用性の高いソリューションです。 自動リンクトレーニング、最大40dBの挿入損失補償機能を備え、 高速PCIeケーブルの研究開発、検証、製造試験に好適。 データセンターのインターコネクトにおける包括的なシステムレベルの シグナルインテグリティ検証を可能にし、ケーブルメーカーやシステム インテグレーターに不可欠な品質保証を提供します。 【主要仕様(一部)】 ■テストユニット：2 x 64 ペア TRx ■ターミナル：AC 結合 ■対応レート：64GT/s, 32GT/s, 16GT/s, 8GT/s, 5GT/s, 2.5GT/s ■プロトコル準拠：PCIe 6.0/5.0/4.0/3.0/2.0/1.0 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
『B3224』は、物理層の特性評価と一貫性試験のための 高性能ビットエラーレートテスタ(BERT)です。 優れた信号品質、豊富な機能、柔軟な試験モード (統合MCBまたはリモートヘッド)により、高速シリアル 回路製品の研究開発から製造試験まで、強力な性能と 柔軟性を提供します。 データレートは24.33～120 Gbaudに対応。テストパターンは PRBS各種、SSPRQ、JP03A/B、Square Wave、カスタム定義パターンを サポートしています。 【主要仕様(一部)】 ■出力信号：差動PAM4/NRZ (AC結合) ■出力振幅：800 mVp-p (差動) ■立上り/立下り時間：＜ 4.5 ps ■入力信号：差動PAM4/NRZ (AC結合) ■クロックモード：内蔵クロックリカバリ ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
『DCA6065』は、高性能な65 GHzサンプリングオシロスコープです。 65 GHzの光ポート帯域幅を持ち、1/2/4チャネル構成が選択可能。 最大64タップのTDECQフィードフォワードイコライザ(FFE)を 内蔵しています。 柔軟なネットワーク構成をサポートし、120 GBaudのクロックデータ リカバリ(CDR)を内蔵、または独立したCDRモジュールをオプションで 追加できます。 【主要仕様(一部)】 ■光帯域幅：65 GHz ■波長範囲：1250～1600 nm ■対応規格レート：106.25/112 GBaud PAM4, 53.125/56 GBaud PAM4 ■ADC分解能：14 Bit ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
Yonata Electronics株式会社は、2026年4月22日（水）～24日（金）にパシフィコ横浜で開催される「OPIE ’26」に出展いたします。PXIe／ベンチトップSMU、1.6T対応DCA/BERTの実機デモをはじめ、LDテスト、CPO、PCIe高速ケーブルBER、WAT/WLRなど、光通信・シリコンフォトニクス・半導体向けの各種テストソリューションをご紹介いたします。皆様のご来場を心よりお待ちしております。 見るポイント ・1.6T光トランシーバー評価ソリューション実機DEMO ・PCIe高速ケーブルBERテスター 初公開 ・高精度SMU 実機デモ ・AIデータセンター向けCPOソリューションおよびLD評価提案を展示
