巴川コーポレーションの製品ラインアップ

製品・開発の「モノづくり」には、「分析力」のサポートが重要になります。 巴川分析センターはお客様のコスト・スピード感を理解し、問題解決型の分析提案をする様努めています。 分析の必要性を感じているが　どうしたらよいかお困りな場合には是非ご相談下さい。

様々な断面加工技術により、柔らかな新聞紙や、紙中の異物、表面コート状態も観察する事が可能です。 光学顕微鏡で観察する事により、色彩も確認可能な為、多層で定着しているカラートナーの観察も可能です。

　FIB（集束イオンビーム） は細く集束したGaイオンビームを試料表面に照射し走査することで試料表面の加工を行います。 　FIBは狙いたい所の微細加工が可能で、数ミクロン程の微小な領域でも狙って断面化できます。 　

樹脂や金属の部品に破壊（亀裂や破断）が発生した時、 なぜ破壊が発生したのか？ 原因を特定したい時に破面解析が有効です。 破壊された部品に残された形状に潜む特徴を観察することにより、 「どの場所から」起点 「どの方向に」進行方向 「どの様な力が」働いて 破壊したのかを推定します。 例として、ネジの破断面の解析を紹介いたします 破断面の起点、進行方向の解析を行いました これらの解析により破壊原因が究明できます