詳細につきまして：「【ISO/IEC 17025】内部監査員養成セミナー（２日コース）のホームページへ」より確認ください。 開催場所：神奈川県川崎市 講師：JFEテクノリサーチ（株）所属講師

• ISO関連コンサルタント
• マネジメントセミナー
• 受託測定

• 流体解析 受託

■装置仕様の一例 　・搬送幅： 200mm 　・搬送速度： 3000mm／秒 　・異物サイズ： φ1mm以上 　・異物種類： プラスチック、紙片、梱包ひも、段ボール、ゴムなど

• その他 外観・画像検査装置
• その他 分析・検査機器
• その他 計測・測定機器

■機能 　●鮮明化領域選択 　　・鮮明化ON/OFF・・・切替ボタンで切替え（OFFにすることにより元画像のスルー出力可能） 　　・映像内の部分鮮明化機能設定つまみで４モド選択可 　●処理時間 　　　リアルタイム処理（遅延１フレーム以下） 　●パラメータ設定 　　・鮮明化強度・・・設定つまみで調整可能（0～255） 　　・鮮明化パラメータ（ノイズ除去、色補正など）・・・設定つまみで調整可能（通常は設定変更不要） 　●設定表示 　　　小型表示パネル搭載 　●外部制御 　　　Ethernet経由でPCから設定コントロール可能

• その他計測・記録・測定器
• その他検査機器・装置
• その他画像関連機器

■機能 　・同期モード設定（内部/外部）が可能 　・水平ビニング機能を搭載 　・スキャンコンバータによる映像スキャン方向の選択が可能 　・テストパターン発生機能によりカメラの動作検証、検査装置の接続検証が可能 　・自己診断機能を搭載 　・ゲインおよびオフセット設定機能を搭載 　・画素補正（FPN、PRNU、シェーディング）が可能 　・電源電圧、内部温度及びカメラステータスのモニタリング機能を搭載

• その他計測・記録・測定器
• その他検査機器・装置
• その他画像関連機器

■測定原理 　ゆず肌は表面の極微小なひずみが、光てこの原理により映りこむ対象を大きく歪んで見せることによって観察されます。 　これを定量的に評価するために、スクリーン上に投影した縞のパターンが、鏡面性の対象の表面に映り込んだ様子をテレビカメラで撮像し、表面のひずみに応じた縞のゆがみを解析します（ゼブラパタン観察）。 　このゆがみ量はひずみ形状のgradient（面の傾き量）に関係します。 　対象表面のあらゆる点でスクリーン上の対応点の座標を求めて縞のゆがみ量を定量化し、表面の傾斜角分布、曲率分布として評価いたします。

• 画像処理機器
• その他計測・記録・測定器
• その他検査機器・装置

■仕様 　型式：FDC-1000L 　膜厚：レンジ0.05μm～30μm 　分光器：イメージング分光器ImSpector（インスペクター） V10H 　測定視野幅：140mm 　測定点数：1320点 　空間分解能：106μm／画素 　測定時間：約1～10秒（測定条件により異なります） 　膜厚分解能：1nm（対象物の膜厚ムラの状況によっては1Åも可） 　膜厚測定精度：±1％または±5ｎｍの大きい方 　測定再現性：0.5％以下 　寸法：使用時：W200×D200×H300mm 　　　　分解時：W200×D100×H300mm

• その他計測・記録・測定器
• その他検査機器・装置

■装置仕様 　膜厚レンジ：50nm～1000nm 100nm～5000nm 1000nm～100000nm 　測定サイズ：視野幅：50mmから2000mmまでで任意に設定可能 　　　　　　　測定長：ラボ機600mmまで、インラインでは制限無（※） 　測定点数：幅方向：1920点（最大） × 長手方向：1920点（任意) 　空間分解能：幅方向：約26μm～約1.04mm 　　　　　　　長手方向：測定条件による 　測定時間：標準で約10000点／秒 　　　　　　 （例）1920点×1920点で約6分 　膜厚分解能：1nm 　測定精度：±1%または±3nmの大きい方 　測定再現性：0.5%以下 　分光カメラ寸法：W60xD350xH90mm（ケーブルを除く）

• 画像処理機器
• その他計測・記録・測定器
• その他検査機器・装置

■基本仕様（波長範囲・分解能・光源等カスタマイズ対応可能） 　分光器： イメージング分光器ImSpector V8 　波長範囲： 380～800nm 　波長分解能： 2nm （スリット30μm使用時） 　空間分解能： 0.71μm （対物レンズ20倍使用時） 　検出器： サイエンス用高感度sCMOSカメラ 　光源： 測定対象サンプルによりカスタマイズ 　ステージ移動方式： 2軸マイクロスキャニングステージ 　ステージ移動量： 各軸±75mm 　顕微鏡撮像用カメラポート： Cマウントカメラポート 　観察用カメラ（オプション）： エリアカラーセンサカメラ

• その他検査機器・装置
• その他計測・記録・測定器

■仕様 　型式： CMS050-V2 　色彩測定方式： イメージング分光器ImSpector（インスペクター） による平面分光測定 　測定波長範囲： 380nm～780nm または400nm～1000nm 　解析機能： RGB変換による測定画像表示 　　　　　　 任意の点、矩形領域の色彩値・色差解析 　　　　　　 特定波長強度画像表示 　　　　　　 色彩計算（XYZ，RGB，L＊a＊b＊、Lab、CMYKなど） 　測定時間： 全面プレスキャン約1分、狭エリアプレスキャン約20秒、本スキャン約10秒 　測定サイズ： 全面プレスキャン：A4、狭エリアスキャン：約40mm×60mm、本スキャン：11mm×11mm 　空間分解能： 全面プレスキャン：1mm、狭エリアスキャン：0.1mm、本スキャン：0.04mm 　波長分解能： 2nm 　再現性： ΔE＜0.05（標準白色板10回測定） 　装置寸法： W705mm×D515mm×H260mm

• その他検査機器・装置
• その他計測・記録・測定器

■ハイパースペクトルカメラ ・標準モデル 　◎FXシリーズ 　　可視・近赤外（VNIR）、近赤外（SWIR） 　◎mSpectorシリーズ 　　可視・近赤外（VNIR）、近赤外（SWIR）、遠赤外（LWIR） ・カスタマイズモデル 　イメージング分光器（ImSpector）と最適機能を備えたカメラとの組み合わせでお選びください。 ■イメージング分光システム ・標準モデル 　◎ポータブルハイパースペクトルカメラ（HSC–800/1000） 　◎膜厚分布測定装置（FiDiCa） 　　 面測定仕様／ラインプロフィル仕様 　◎フラッドベッド型画像色彩計（CMS050–V2） 　◎高感度イメージング分光顕微鏡（PSAM–800HS） ・カスタマイズモデル 　◎ハードウェア 　　ハイパースペクトルカメラ、スキャン機構、その他ハードを自由に選択可能です。 　◎ソフトウェア 　　研究開発用途からインライン検査用途まで、カスタム対応いたします。 　　幅広い業界・分野へ数百システムの納入実績があります。

• その他検査機器・装置
• その他計測・記録・測定器

■メッシュレス流体解析手法（MPS粒子法）とは 従来の流体解析では、流体を小領域（メッシュ）に分割し、領域内の速度、圧力などを順次計算していました。 これに対し、MPS粒子法は、流体を粒子の集合体として表現し、個々の粒子の運動を計算することで流動を評価するものです。 このためメッシュ作成の手間を省略でき、また、装置部品の複雑な動きにも追随して計算することが可能です。

• 流体解析 受託

• 流体解析 受託

極低加速電圧SEM装置と特徴 ＜装置＞ ZEISS社製ULV-SEM ULTRA55 ＜特徴＞ ■極表面構造観察絶縁物の無処理観察 ■極表面組成コントラスト・状態コントラスト ■極低加速電圧における超高分解能（4.0nm:100V,1.7nm:1kV） ■超高分解能EDX分析（最小31nm) ■超高分解能粒子解析

• 成分分析

LA-ICP-MSの特徴 ■ 高感度・迅速分析が可能 ■ 前処理が不要で、非破壊に近い分析が可能 ■ 溶解困難な固体試料も直接分析が可能 ■ 局所的な分析が可能 ■ 深さ方向分析・線分析・面分析（元素マッピング分析） ■ 微量（数ppm）から高濃度(数％)まで対応可能 ■ 多元素同時分析が可能

• 物理分析

微量溶出成分の分析 ●高分解能型ICP質量分析装置 　　ppbレベルの極微量成分 ●イオンクロマトグラフィー 　　ハロゲン、硫酸塩等の陰イオン ・クリーンルーム内での前処理・測定いたします。 ・四重極型ICP質量分析装置を用いた60元素以上の半定量分析いたします。 ・ICP発光分光分析、原子吸光分析等、濃度に応じて各種機器を用いた精確な分析値をご提供いたします。

• 成分分析

ラボの特長 ●GMP（Good Manufacturing Practice）対応試験室 ●試験室管理システム（LIMS: Laboratory Information Management System）導入 ●金属分析の専門家によるトータルサポート ●クリーンルーム内に灰化装置、マイクロ波分解装置、ICP-MSを配備（クリーンルーム清浄度；100～10000/ft3）

• 成分分析

この赤外線長距離監視カメラT-iVは、遠隔監視の要求をすべて満足させる、あらゆる特徴を持った斬新な赤外線カメラです。最新技術を駆使して小型かつ非常に軽量に設計され、１個の電池で８時間以上の動作が可能です。また、自動車バッテリーの12VDC、24VDCからも電源供給できます。 【特長】 ●1,000m先の人を観察可能 ●三脚マウント付き ●8〜10時間動作可能 ●リモートコントロール機能あり ●電子フォーカス＆ズーム ●接眼レンズアジャストメント不要 ●スタンバイ／秘匿モード リモート監視をサポートするために5ｍまで離れてのリモコン操作が可能で、リモコンユニットには小型ディスプレーが付いています。

• 監視カメラ

日本鉄鋼認証標準物質（JSS）の販売を行っています。 JSS(Japanese Iron and Steel Certified Reference Materials)の販売

• その他

当社では鉄鋼生産や新素材開発で培った高度の専門技術力を駆使して、機器分析のための校正試料を作製しております。一般的に鋳鉄や各種合金類を製造している工場では成分管理用として発光分光分析装置や蛍光Ｘ線分析装置が広く使用されています。これらの装置を使用するには、検量線作成あるいは機器校正（標準化）のための試料が必要となります。当社では、長年にわたる実験・研究の結果、試料内の偏析が非常に少なく、金属組織が均一化された校正試料の製法を確立しました。

• その他

鉄系標準物質、非鉄系標準物質　機器分析用 鉄鋼生産や新素材開発で培った高度の専門技術力を駆使して、固体発光分光分析装置や蛍光X線分析装置などの機器分析のための標準試料を作製しております。当社オリジナルの標準試料は、試料内の偏析が非常に少なく、均質です。 プラスチック標準物質 鉄鋼関連の標準物質作製での技術力をいかして、プラスチック中に各種成分を添加した試料を販売しております。 各種規制に対応した有害成分の分析にご利用いただけます。 素材：ポリエチレン

• その他

■測定原理 　鏡面性の対象の表面に映り込んだスクリーン上の縞の鏡像を観察すると、表面の歪みに応じて縞がゆがんで見えます（ゼブラパタン観察）。 　ゆがみ量は歪み形状のgradient（面の傾き量）に関係します。対象表面のあらゆる点でスクリーン上の対応点の座標を求めて縞のゆがみ量を定量化し、歪みパタンを測定します。 ■測定方式 　スクリーン上に「周期の異なるストライプパタン」と「移動するマルチスリットパタン」とを順に投影し、測定対象面に映った鏡像をTVカメラで観察します。 　これらの画像をSurfTRiDY法で解析し、傾き量（gradient）のパタンに変換します。 　さらにこれを微分して曲率のパタンを求めます。

• 画像処理機器
• その他計測・記録・測定器
• その他検査機器・装置

【特長】 ○赤外線カメラによるMEMSの非接触応力解析装置 ○応力分布および応力集中部の検出による破壊原因の解明 ○応力集中部に発生する疲労破壊の予測と強度設計データの構築 ○各種振動モード搭載 ○１MPaオーダーの応力測定(ロックイン解析時） ●その他機能や詳細については、カタログをご覧下さい。

• 応力解析

評価項目 ■機械的安全性試験 ■故障解析 ■物理解析 ■化学分析 ■耐食性評価 ■有限要素解析（FEM） ■非破壊検査

• 受託測定