インクスの製品・サービス一覧

「積層プローブ」はコイルスプリングを使用せず、板バネ特長を利用して コンタクトしますので、熱によるバネ性の劣化に強いです。 絶縁フィルム(ポリイミド)も300℃クラスの常用耐熱性及び 長期耐熱性を有します。 高温下の測定環境においても対応できるため、 SIC含むパワー半導体へのコンタクトが可能です。 【特長】 ■板バネ特長を利用 ■熱によるバネ性の劣化に強い ■高温下の測定環境においても対応 ■SIC含むパワー半導体へのコンタクトが可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• その他計測・記録・測定器

「積層プローブ」は、構造が1ピースの板バネであるため、 複数パーツが故の部品干渉等もなく、非常に耐久性に優れています。 コンタクト対象物がスズ(Sn)の場合、プローブの先端に導電性を付与した コーティングを行うことで、スズの転写を抑制し安定した検査が可能。 また摺動性が高く、非常に硬い膜のため、耐摩耗性、耐久性にも優れます。 その結果、プローブの長寿命化などの効果が期待できる。 【期待できる効果】 ■プローブの長寿命化 ■テスト歩留の向上 ■再検査の低減 ■クリーニング、メンテナンス作業の低減 ■評価装置の稼働率向上 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• その他計測・記録・測定器

当資料では、インクス株式会社が取り扱うプローブ事業の 「積層プローブ」へのご質問についてご紹介します。 Q：非磁性対応は可能ですか？ A：可能です。プローブは非磁性のベリリウム銅であり、プローブを保持する ホルダーもアルミや樹脂などの非磁性材で対応可能です。 また、磁気センサーパッケージへのコンタクト実績もあります。 など、5つのご質問にお応えしています。 【掲載内容例】 ■非磁性対応は可能ですか ■前工程（ウエーハ検査）でも対応可能でしょうか ■現在使用している機械に取り付けたいのですが可能でしょうか ■メンテナンスはどのように行えばよろしいでしょうか ■納品までの概算スケジュールはどのようになりますでしょうか ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• その他計測・記録・測定器

当社が取り扱う「積層プローブ」の既存設備に合わせた プローブ設計(狭スペース)についてご紹介します。 今事例はLED検査用プローブを使用しました。 既存設備の限られたスペースに納まるようプローブ設計できますので、 新規設備を購入する必要がなくなり、経費削減に貢献致しました。 【積層型プローブの特長】 ■接触抵抗値が安定している ■精密な測定に威力を発揮 ■大電流、高電圧に対応できる ■狭ピッチに対応できる ■コンタクトする荷重を調整できる ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• その他計測・記録・測定器

当社が取り扱う「積層プローブ」の狭ピッチ且つ多点での コンタクトについてご紹介します。 板厚0.1mmのプローブを0.2mmピッチで扇状に50枚積層し、 50箇所同時のコンタクトを実現。 検査時間の短縮につながり、生産性向上に貢献致しました。 【積層型プローブの特長】 ■接触抵抗値が安定している ■精密な測定に威力を発揮 ■大電流、高電圧に対応できる ■狭ピッチに対応できる ■コンタクトする荷重を調整できる ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• その他計測・記録・測定器

「積層プローブ」のワイピング効果により酸化膜を除去しながら コンタクトすることで、安定したコンタクトを実現。 また、スズ転写を抑制するコーティングもプローブ先端に施し 高寿命化も実現しました。 磁気センサーパッケージであれば、プローブユニットを非磁性材のみで 構成することも可能。 今事例では200万回ノーメンテナンスで安定したコンタクトを達成しました。 【積層型プローブの特長】 ■接触抵抗値が安定している ■精密な測定に威力を発揮 ■大電流、高電圧に対応できる ■狭ピッチに対応できる ■コンタクトする荷重を調整できる ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• その他計測・記録・測定器

当社で取り扱う「積層プローブ」のBGAに対して、安定した コンタクトについてご紹介します。 球状のBGA（ハンダ）に対し、スプリングプローブ含めた ニードルタイプでのコンタクトでは横滑りが発生し、 安定したコンタクトをすることが困難でした。 そこで、積層プローブでケルビンコンタクトすることにより安定した コンタクトを実現。 また、BGAはスズが主成分のため、スズ転写を抑制するコーティングを プローブ先端に施すことで、高寿命化も実現できます。 【積層型プローブの特長】 ■接触抵抗値が安定している ■精密な測定に威力を発揮 ■大電流、高電圧に対応できる ■狭ピッチに対応できる ■コンタクトする荷重を調整できる ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• その他計測・記録・測定器

当社が取り扱う「積層プローブ」の狭ピッチへの対応についてご紹介します。 「積層プローブ」は、抵抗値の安定、高電圧、電流などへの対応が可能。 さらに、狭ピッチに配列された接点や半導体リード部、コネクターの接点等、 最小0.05mmピッチでのコンタクトができ、従来のスプリングプローブ等で 実現できなかった狭ピッチ対応が可能です。 【特長】 ■抵抗値の安定、高電圧、電流に対応 ■最小0.05mmピッチでのコンタクトが可能 ■ケルビン測定にも対応 ■測定箇所につき2端子で測定 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• その他計測・記録・測定器

「積層型プローブ」は、独創技術で開発された、優れた特長を持っています。 従来のスプリングプローブのように複数のパーツ構成ではなく 一枚の金属板でのコンタクトであるため、構造的に安定した接触抵抗値を実現。 検査対象物が平滑でない場合でも各プローブのバネ性により、 対象物の形状に追従し安定した接触抵抗値を実現することも可能です。 【特長】 ■構造からワイピング作用が働く ■コンタクト位置が変位 ■対象物の酸化膜や異物等の除去を行いながらコンタクト可能 ■安定した接触を行える ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• その他計測・記録・測定器

『積層プローブ小冊子』では、積層プローブの優れた特長を一般的なスプリングプローブと比較しながらご紹介。 「接触抵抗値が安定しない」「狭ピッチ対応のプローブを探している」「大電流・高温下で測定をしたい」「耐久性の優れたプローブはないか」等の問題はございませんでしょうか？ インクスの『積層プローブ』では、これらの問題が解決可能です！ 【掲載内容】 ■積層プローブの構造 ■積層プローブの特長 ■積層プローブQ&A　　など ※詳しくはPDFダウンロード、またはお問い合わせください。

• プローブ

近年、製品が小型化するに伴い、使用される部品も年々小型化されております。 しかし、小型化した部品の測定や分析は、既存のプローブでは難しくなっていませんか？ 『積層プローブ』は従来のプローブでは対応出来なかった最小ピッチ0.05ｍｍに対応可能で、かつ大電流を印加するパワー半導体のプローブとしても性能を発揮するため、今まで測定できなかった小型の半導体も測定可能です。 【特長】 ■接触抵抗値の安定により精密な測定を実現 ■大電流、高電圧に対応可能 ■最大0.05ピッチの狭ピッチに対応可能　など ※詳しくはPDFダウンロード、またはお問い合わせください。

• プローブ

小型化が進む現代、今までのプローブでは測定が難しい…このようなお困り事はありませんか？ インクスの『積層型プローブ』では、一枚の金属板でコンタクトするので、最小ピッチ0.05ｍｍにも対応可能です。 本ページでは、実際に弊社の『積層プローブ』が動いている動画をご紹介。是非ご覧ください。 【特長】 ■接触抵抗値が安定 ■大電流、高電圧に対応 ■狭ピッチに対応 ■コンタクトする荷重を調整可能　など ※詳しくはPDFダウンロード、またはお問い合わせください。

• プローブ

インクスのIP130B-2Cプローブと他社製プローブ接触抵抗値比較試験について 紹介します。 試験条件はIPプローブ・他社(海外製)プローブともに、JCM社製 接触抵抗値測定器 GP035-50Rを使用し、印加電流は5A、印加時間は0.1秒。 また、押し込み量はIPプローブは5.2mm、他社(海外製)プローブは4.3mmで実施。 結果、IPプローブのほうが接触抵抗値が狭い範囲で納まり安定しています。 Aveも低い数値が出ており、非常に良好です。 【試験結果(一部)】 ■接触抵抗値(mΩ) ※測定回数3000回 　・IPプローブ(サンプル1) 　　　Max：11.6 　　　Min：8.6 　　　Ave：9.4 　・他社製プローブ(サンプル1) 　　　Max：200.4 　　　Min：15.7 　　　Ave：92.7 ※詳しくは外部リンクページをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• プローブ

インクスの積層型プローブの特長についてご紹介します。 半積層型プローブは、一枚の金属板でコンタクトするので、構造的に 安定した接触抵抗で測定できます。 また、熱によるバネ性の劣化に強く、大電流、高電圧を印加する パワー半導体の測定に適しています。 狭ピッチに配列された接点や、半導体のリード部、コネクターの接点などに、 最大0.05ピッチまでコンタクトする事ができます。 さらに、プローブ本体の形状と、補助用のV字型板バネの厚みを変化させる事で、 高荷重から低荷重まで無段階に調整する事が可能です。 【特長】 ■接触抵抗値が安定（精密な測定に威力を発揮） ■大電流、高電圧に対応（パワー半導体への印加、測定に貢献） ■狭ピッチに対応（最大0.05ピッチまで可能） ■コンタクトする荷重を調整可能（測定物の個性に合わせたコンタクト） ※詳しくは外部リンクページをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• プローブ

インクスの高精度測定に対応するセンシティブプローブのユニークな構造 についてご紹介します。 インクスでは、レジスタンススタビライザー(金属ポール)を採用した 独自の内部構造を開発し、低く安定した抵抗値を得ています。 さらに、導電性に優れた金メッキをプランジャーに施すことにより、 抵抗値をいっそう低く安定して理想的な状態を得ることができます。 【特長】 ■コイルスプリング 　・安定した荷重と優れた耐久性 　・バレル内壁とプランジャー間に必要な接触力を与るよう設計 　・耐熱性にも優れ、高温下でも安定したバネ圧を維持　 ■レジスタンススタビライザー 　・安定した接触抵抗が得られる 　・コイルスプリングによるインダクタンスの影響を最小限にする ■プランジャー 　・内部接触抵抗が安定するよう設計 　・先端形状は各種用意 ■バレル 　・導電性に優れた材質を使用 　・腐食などによる材質の変化を防ぐ ※詳しくは外部リンクページをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• プローブ

インクス株式会社は、精密プローブ、精密部品、精密モデル(desktopZERO など)を提供しております。　 プローブ事業では、スプリングプローブ、高周波プローブ、積層型プローブ など、独創技術で高性能を実現。高性能を追求するため、自動機は使用せず ハンドメイドで製作しています。 また製品事業では、基盤となるプレス技術に、コンシューマ事業で培った 経験・知識・ノウハウを組み入れ、お客様の困ったを解決致します。 【事業内容】 ■プローブ事業：精密プローブの設計・試作・量産・販売 ■製品事業：精密部品の設計・試作・量産・販売 ■コンシューマ事業：民生商品の企画・設計・製作・販売 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• プローブ

「IBシリーズ」は、10ｍΩ以下タイプから50ｍΩ以下タイプまでの低接触抵抗を実現したソケット不要の一体型コンタクトプローブです。 「IFシリーズ」は、狭ピッチでのプローピングを可能とします。 フレキシブルに動くガイドチューブ内をタングステンワイヤーが可動する構造を利用し、胴体部を扇状に広げて固定、先端部を狭ピッチに配列することができます。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• 製造受託
• プローブ

高精度測定対応！センシティブプローブを豊富にラインアップ！ 当カタログは、高精度測定に対応するユニークな構造の『センシティブプローブシリーズ』を掲載した製品カタログです。 コイルスプリングは、ピアノ線に金メッキが施されており、安定した荷重と優れた耐久性を持ち、プランジャーの先端に適度な力を与え、 バレル内壁とプランジャー間に必要な接触力を与えるよう設計されています。 また、レジスタンス スタビライザー(金属ボール)はスチールに金メッキを施したもので、プランジャーに圧力が加わった時これがバレル内壁に密着し電流はコイルスプリングを通らずバレルを流れるため、安定した接触抵抗が得られます。 【掲載内容】 ■16シリーズ ■20シリーズ ■30シリーズ ■48シリーズ ■48Aシリーズ　他 ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• 製造受託
• プローブ

高周波測定における条件を考慮した設計で、高精度に測定できるプローブをご提供します。 本プローブは高周波領域測定用として、従来にない微少ピッチ間の検査を容易にした開発製品です。 高周波のロス及び直流抵抗値を小さくすることが出来、インピーダンスも必要に応じ設定することも可能です。 ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お問い合わせください

• プローブ

高周波測定における条件を考慮した設計で、高精度に測定できるプローブをご提供します。 測定可能帯域は7GHz、高周波基板50Ωライン装着用です。 ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お問い合わせください

• プローブ

高周波測定における条件を考慮した設計で、高精度に測定できるプローブをご提供します。 半導体デバイス等の回路高密度化に伴い、高周波MHz帯域測定に、特に需要が拡大されています。 プローブカード等の部分的電極対応には適しているとされ、幅広く使用され、現在では、医療をはじめ各分野にも注文されています。 ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お問い合わせください

• プローブ

独創技術で開発された、優れた特徴を持つプローブです。 積層型プローブの特徴である、金属の板（プローブ）と、絶縁体の積層方式を応用し、パワー半導体専用の多点式積層プローブを開発しました。 【特長】 ■プローブ先端を波型にし、多点で半導体に接触。これにより電流、電圧を印加する量を分散でき、半導体への負担を軽減 ■垂直に1ミリ程度可動しますので、コンタクト痕を最小限に抑えることが可能 ■コンパクトな設計で、取り付けスペースの確保が容易 ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お問い合わせください

• プローブ

独創技術を駆使した、オリジナルなプローブです。 電子デバイス信号容量の増大に伴い、従来の方法では測定が困難でした。 この限界に挑戦し研究を重ねた結果、製品化に成功しました。 これまでは検査治具が劣化・破損した場合、治具を解体し修理をしていましたが、ゼブラ型プローブはフィクスチャ―などを解体することなくプローブを簡単に引き出して交換することができ、しかも信号の高容量デバイス20GHz測定を可能にした画期的なシンプルプローブです。 ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お問い合わせください

• プローブ

独創技術を駆使した、オリジナルなプローブです。 従来の一般ストレートプローブは、プローブ内部が単純な構造のためプリント基板の回路測定の際、抵抗値のバラツキが多く、また時には瞬断さえおこることもあり、数万回、数十万回のテストにて屡々トラブルを起こす原因の一つと言われています。 シュアーターンプローブは、この欠点を解決するために開発した製品です。 ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お問い合わせください

• プローブ

積層プローブは、プローブが１つのパーツである為、構造的に導電ロスがなく、電流値をダイレクトに測定する事ができ、安定した接触抵抗値が実現できます。 また、最小ピッチ0.05ｍｍに対応可能なため、狭ピッチを利用したケルビン測定も可能で安定した測定が出来ます。 積層プローブの優れた特性は、狭ピッチにプローブを配置するだけでなく大電流を印加するパワー半導体のプローブとしても性能を発揮します。 【特徴】 ■接触抵抗値が安定しているため精密な測定に威力を発揮 ■大電流、高電圧に対応できるのでパワー半導体への印加、測定に貢献 ■狭ピッチに対応できる　※最大0.05ピッチまで可能 ■コンタクトする荷重を調整できる 【事例】 ◎狭ピッチかつ多点でコンタクトする ◎BGAに確実にコンタクトができケルビン測定で安定した測定ができる ◎半田メッキのリードフレームに安定してコンタクトできる ◎狭スペースに対応出来る（LED検査装置向け） ※ＰＤＦからは、事例のご紹介をご覧いただけます。 　詳しくはお気軽にお問合せください。

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