【高温加熱炉予算申請用カタログ】＼ 開発・研究費などの予算申請に ／

集光加熱方式で約50℃/secの急速昇温、加熱ランプOFFで急冷も可能。各種雰囲気への対応

世界中の様々な研究機関で使用されている、米倉製作所の集光式加熱炉「IR Series（アイアールシリーズ）」は、近赤外線集光加熱を利用したIRイメージ炉です。 クリーンな環境構造で、超高速加熱冷却が行えます。 製品ラインナップとしては、6方向からの急速加熱冷却で従来の加熱炉に比べ、温度分布領域を飛躍的に拡大した「IR-HP（6放物面輻射）」、4方向からの急速加熱冷却で従来の加熱炉に比べ2倍の温度分布領域と急加熱「IR-QP（4楕円共有集光）」、2方向からの急速加熱冷却で従来の加熱炉に比べ顕微鏡観察を可能にした「IR-TP（2楕円共有）」を取り揃えております。 【主な特徴】 ○クリーン・省エネ・高性能 ○真空・ガス置換＋観察 ○低電力で高速加熱（わずか4kwで1500℃/30sec） ○ヒータはタングステンフィラメントで、発熱温度は3400Kと高温 ○ワット密度はニクロムヒータに比べ、10～20倍 ○リアルタイムで温度制御が可能 ○コンパクトサイズ 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。

• 電気炉

最高1800℃の環境下を高解像度で in-situ（その場）観察。セラミックス、二次電池等の研究、材料開発に！

米倉製作所を代表する加熱観察IRイメージ炉に、デジタルバイオレットレーザー顕微鏡を搭載。 最高1800℃の超高温環境下の鮮明なミクロ観察を可能にしました。 従来機と比べ、解像度・明るさが約２倍に向上*し、高倍率、高コントラストでの観察像が得られます。 鉄鋼、非鉄金属、セラミックス、二次電池等の高温下における 微細構造挙動の研究、材料開発にご活用ください。 ＊当社従来型の「VL2000DX-SVF17SP」と比較 ◆ ポイント◆ ・ 高解像度in-situ（その場）観察 　　超高温下の高分解能画像を取得 ・多様な観測条件を実現 　　最高1800℃の急速昇温・急速冷却 ・優れた操作性・制御性 　　温度と正確にリンクした高速画像取得 オプションの負荷機構モジュール「SVF12FTC」を利用することで、 高温下で応力負荷中（最大5kN）の観察が行えます。 詳細はお問い合わせください。

• 鉄鋼

材料表面の状態を観察しながら試験が行える［両振式クロスヘッド採用］試料位置を中央にキープで変化を逃さない！

『CATY-T3H SYSTEM』は、試料表面の状態を“その場観察”しながら熱疲労試験が行える、卓上サイズの高温引張観察装置です。 簡単な操作で使用でき、高温・高速加熱に対応。両振式クロスヘッドの採用により、試料片の伸び縮みがあっても試料の位置を中央に保てるため、観察位置のずれを抑えられます。 オプションのユニットと組み合わせることで曲げ観察といった試験にも対応できます。 【特長】 ■最大1500℃の高温・高速加熱が可能 　＊但しサンプルの形状・熱容量によります。 ■金属材料はもちろん、表面実装部品の複合材の試験が可能 ■ガスフロー中、真空中での応力測定・低サイクル疲労試験・クリープ試験が可能 ■応力下での熱疲労試験と、その場観察の複合試験を実現 ※詳しくは資料をご覧ください。お問い合わせもお気軽にどうぞ。

• 強度試験装置

《加熱・冷却観察装置 MHO-300-2 》お持ちの顕微鏡・マイクロスコープに置くだけ！コンパクトで薄型／雰囲気制御可能

お持ちの顕微鏡やマイクロスコープのステージに置くだけで、マイナス100℃から300℃の変化の様子をリアルタイムで観察。 気密構造の炉では、様々な真空中不活性ガス雰囲気下での昇温冷却が可能です。 【ポイント】 ▮フレキシブルな温度制御性能 専用ソフト「TeCSS（テックス）」上で、温度プログラム・モニタリングが簡単にできます（温調器単体でも操作は可）。また、温度・時間・スケールを表示、動画記録専用ソフト「HiTOS（ハイトス）」で実温度記録と同期させた in-situ 画像撮影・保存も可能です。冷却機構をつけることで-100℃にも対応します。 ▮コンパクトで使いやすいデザイン 小型で薄型に設計された加熱・冷却ステージで、特殊条件を簡単再現できます。顕微鏡やマイクロスコープ下の観察用途の他、レーザー顕微鏡やラマン分光、顕微分光など分析計にも流用可能です。 ▮真空チャンバー構造で雰囲気コントロール 真空チャンバー構造のため、真空中不活性ガス雰囲気下での昇温冷却が可能です。加熱で気化したデガス等の排気も可能で、XYスライド可能なプレパラートホルダも準備サンプルの導入、取出も簡便にできます。

• 分析機器・装置

コンパクトに設計された高温加熱観察装置です。 お持ちの顕微鏡、マイクロスコープに載せて使用可能です。

IR-TPSは、”高機能とローコスト”の相反する事を追求して完成した顕微鏡用高温ステージです。 標準構成はもとより、高品質オプションで高度なシステム機器が構築できます。 精密な温度制御と空気中・不活性ガス中・真空中の雰囲気下で、材料解析等の研究や品質管理等にご利用いただけます。 【特徴】 ○赤外線集光で試料だけの秒速高温均一加熱（1500℃まで60秒以内） ○クリーン加熱で省エネ ○メンテナンスが簡単 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。

• 分析機器・装置

チップ部品等の微小実装部品から基板（□100mm）、固体・粉末の溶融、ろう付け等のその場観察を実現します！

■大型加熱観察装置「IR-HPシリーズ」の特長 チップ部品等の微小実装部品から基板（□100mm）、固体・粉末の溶融、ろう付け等のその場観察を実現します！ ▼特徴▼ ・サンプルだけの赤外線集光で基板などの試料を秒速高温均一加熱 ・クリーン加熱とクリヤーな加熱観察・簡単構造でメンテナンスフリー ■用途 各種材料の上部又は側面から「その場観察」できます。その場観察で保存した動画には経過時間・温度が表示され測長機能も御座います。標準で炉体が密閉構造の為、真空引きから各種ガスの導入急冷も容易に行えます。 ■大型加熱観察装置「IR-HPシリーズ」の基本構成 ステージ炉本体 試料ホルダー（□100mm石英ホルダー・R熱電対1式付き） 温度コントローラ 冷却水循環装置 CCDカメラ及びズームレンズ PC及び画像キャプチャーソフト 顕微鏡ステージについて、ご質問、ご要望等ございましたら、お気軽にお問い合わせください。サンプルの加熱観察テスト、横浜事業所に来社いただいて、ご導入検討の為のデモも行っておりますので、ご希望の場合はご連絡ください。

• 基板設計・製造
• はんだ付け装置
• はんだ

上部・側部の観察窓から加熱中のサンプル状態も観察可能！画像データから接触角や濡れ性の自動計算も可能に！　※デモ受付中

『IR-HP』は、サンプルのみの集光加熱により、1300℃までの加熱が可能な高温観察装置です。 100ｍｍの大型試料ホルダーを標準装備し、上部に加えて側部に観察窓を 設けることにより、色々な角度で加熱中のサンプルの状態が観察可能です。 また、Nick社との共同開発により、高温化での接触角および濡れ性を 画像データから自動計算が可能になりました！ 固体である物質が液体化する高温時の接触角や、 常温時と異なる高温下での接触角の変化を測定します。 ※無料デモを受付中※ （購入予定の方は画像確認のための無料デモを受付いたします。） 【特長】 ■集光加熱により1300℃まで加熱が可能 ■100ｍｍの大型試料ホルダーを標準装備 ■上部・側部に観察窓を設置 →横から（接触角）、上から（濡れ性）加熱中のサンプルの状態が観察可能 ■高温条件を簡単に実現するＩＲ加熱炉を採用 ■大気・不活性・真空等制御した雰囲気下で測定可能 ※詳しくはお問い合わせ、またはPDF資料をダウンロードしてください。

• 加熱装置
• 試験機器・装置
• 分析機器・装置

1700℃まで高速加熱が可能で、保持もできます！

「IR-QP1-4」、「QP2-4」は、サンプルのみの集光加熱により、1700℃までの加熱が可能な高温観察装置です。 ハロゲンヒーターにより、わずか4kW（8kW）の低電力で1000℃/min以上の高速加熱を実現します。観察窓を設ける事により加熱中のサンプルの状態を観察することができます。120W×115H×282（382）Lｍｍ（突起物を除く）のコンパクトサイズで、場所を取らずに加熱が可能です。炉内密閉構造により真空・ガス置換が可能で、ランプ加熱のためクリーンな環境での加熱が可能です。 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。

• 分析機器・装置

●Intel Atom(R) Processor x7835RE / x7433RE 搭載 ●オンボード LPDDR5 8GB/16GB、eMMC 64GB ●USB 3.2 Gen 2 x2、USB 2.0 x6 ●ファン付きヒートシンクを別売でご用意 ●キャリアボードを別売でご用意

●NXP i.MX93 Dual-Core Arm Cortex-A55＋Arm Cortex-M33 Processor搭載 ●LPDDR4 2GBオンボード ●HDMI x1もしくはMIPI-DSI 4 lane x1、LVDS x1 対応 ●USB 2.0 OTG x1、USB 2.0 HOST x4 ●ヒートシンクを別売でご用意 ●キャリアボードを別売でご用意

●NXP ARM i.MX8M Plus Quad-Core Cortex-A53 1.6GHz Processor搭載 ●オンボードLPDDR4 2GB/4GB、eMMC 16GB/32GB ●HDMI 2.0 x1、LVDS x1 ●USB 3.0 Gen1 x2、USB 2.0 x3 (OTG×1対応) ●ヒートシンクを別売でご用意 ●キャリアボードを別売でご用意

今回はIP試験（防じん試験・防水試験）のご紹介です。 是非この機会に各資料をご請求ください。 【１】IP試験（防じん試験・防水試験） 当社ではIP試験だけでなく、防じん試験・防水試験に関するその他の公的規格(以下参照) や、海外規格にも対応しています。IP試験はもちろんのこと、防じん試験・防水試験に 関するお困りごとがありましたらご遠慮なくご相談ください。 【 対応規格例 】 〇JIS C 60068-2-68「環境試験方法 -電気・電子- 砂じん(塵)試験」 〇JIS D 0207　　　 「自動車部品の防じん及び耐じん試験通則」 〇JIS E 4036　　　 「鉄道車両構成部品－ダスト試験通則」 〇NDS C 0110E　　「電子機器の運用条件に対する試験方法　防水試験」 〇JEM 1195　　　　「屋外用コントロールセンタ　防雨試験の検証」 詳細はこちらをご覧ください。 https://www.ipros.jp/product/detail/2001504600

このたび弊社は事業拡大に伴う組織体制の強化および業務効率の向上を目的として、本社を下記の通り移転する運びとなりましたので、謹んでご案内申し上げます。 また、この移転作業に伴い、8 月 8 日は本社業務を下記の通り臨時休業させていただきます。皆様にはご不便をおかけいたしますが、何卒ご了承賜わりますようお願い申し上げます。 １.移転先 ・新所在地 ：〒108-0023 東京都港区芝浦2-14-4 オアーゼネクサス芝浦6F（最寄り駅：JR 田町駅） ・電話番号 ：0570（075）510（代表） ※変更ございません。 ・FAX 番号 ：03（5446）5512 ※変更ございません。 ２．移転日：2025 年8 月12 日（火曜日） ３．臨時休業と営業状況 8 月7 日（木） 午前営業 午前12:00 以降業務停止 8 月8 日（金） 臨時休業 8 月9 日（土） 休業日 8 月10 日（日） 休業日 8 月11 日（月・祝） 休業日 8 月12 日（火） 通常営業 午前9:00 より通常営業 https://www.lemo.com/ja/subsidiary/lemo-japan