Webセミナー：【高付加価値な機能性フィルムに不可欠な評価法と測定例（2025年10月21日）

ラインスキャン方式の採用で「抜け」のない全面フィルム検査を実現！

「ラインスキャン膜厚計(インラインタイプ)」は、インラインでの フィルム生産現場においてフィルムの膜厚を全幅・全長測定できる装置です。 独自の分光干渉法に新たに開発した高精度膜厚演算処理技術を組み合わせる ことで、最短0.001秒毎の測定間隔で500mm幅(1台使用時)のフィルムの 膜厚測定が可能。 また、膜厚測定の専門メーカーだからできる充実サポートや、バタつきに 強い光学系を採用しているなどといった特長が備わっています。 【特長】 ■ラインスキャン方式の採用で「抜け」のない全面フィルム検査を実現 ■膜厚測定の専門メーカーだからできる充実サポート ■高速・高精度に測定が可能 ■バタつきに強い光学系を採用 ■幅広のサンプル(TD方向に最大10m測定可能) ■ハード・ソフト共にオリジナル設計 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

• 膜厚計

光干渉法の採用により、非接触・非破壊膜厚で膜厚測定が可能

測定可能膜厚範囲は　65nm～92μmと薄膜から厚膜まで対応しております。（屈折率1.5の場合） 測定原理は分光干渉方式のため、高い測定再現性を実現しつつ多層厚み測定にも対応しております。独自アルゴリズムの採用により高速でリアルタイムにモニタリングが可能なため、インラインフィルムモニターとして最適なシステムをご提案いたします。 【特長】 ■プロセス中の薄膜高速測定に最適 ■最短露光時間1ms～　※仕様による ■リモート測定に対応 ■膜厚測定範囲65nm～92μm（SiO2換算） ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

• 分光分析装置

インラインフィルム評価システムは、光学式のため非接触・非破壊で反射率、色などの測定が可能

各種フィルム上コート膜などの反射率測定および膜厚などの測定が可能。 測定可能膜厚範囲は　65nm～92μmと薄膜から厚膜まで対応しております。（屈折率1.5の場合） 測定原理は分光干渉方式のため、高い測定再現性を実現しつつ多層厚み測定にも対応しております。独自アルゴリズムの採用により高速でリアルタイムにモニタリングが可能なため、インラインフィルムモニターとして最適なシステムをご提案いたします。 【特長】 ■プロセス中の薄膜高速測定に最適 ■最短露光時間1ms～　※仕様による ■リモート測定に対応 ■膜厚測定範囲65nm～92μm（SiO2換算） ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

• 分光分析装置

インラインフィルム評価システムは、光学式のため非接触・非破壊で透過率、吸光度、色などの測定が可能

各種フィルム上コート膜などの透過率測定および吸光度、色などの測定が可能です。 仕様により膜厚測定も可能であり、測定可能膜厚範囲は　65nm～92μmと薄膜から厚膜まで対応しております。（屈折率1.5の場合） 測定原理は分光干渉方式のため、高い測定再現性を実現しつつ多層厚み測定にも対応しております。独自アルゴリズムの採用により高速でリアルタイムにモニタリングが可能なため、インラインフィルムモニターとして最適なシステムをご提案いたします。 【特長】 ■プロセス中の薄膜高速測定に最適 ■最短露光時間1ms～　※仕様による ■リモート測定に対応 ■膜厚測定範囲65nm～92μm（SiO2換算） ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

• 分光分析装置

1ポイント1秒測定＆測定エリア最小3μｍ！高性能で使いやすい顕微分光膜厚計

顕微分光を用いた微小領域での絶対反射率測定により、高精度な膜厚測定と光学定数解析が可能な装置です。 各種フィルムやウェーハ、光学材料などのコーティング膜の厚みや多層膜を非破壊・非接触で測定できます。 測定時間は1秒/pointの高速測定が可能で初めての方でも簡単に光学定数の解析ができるソフトウェアを搭載しています。 膜厚計のお悩みを「OPTMシリーズ」1台で完全解決します！ 【特長】 ■膜厚測定に必要な機能をヘッド部に集約 ■顕微分光で高精度な絶対反射率測定（多層膜厚、光学定数） ■1ポイント1秒以内の高速測定 ■顕微下で広い測定波長範囲を実現する光学系（紫外～近赤外） ■エリアセンサーによる安全機構 ■初めての方でも光学定数解析が可能な楽々解析ウイザード ■測定シーケンスをカスタマイズ可能なマクロ機能搭載 ■複雑な光学定数も解析可能（複数点解析法） ■300mmステージ対応可能 ■各種カスタマイズに対応　など

• 膜厚計

約1.1kgの持ち運べる膜厚計。最薄0.1μmから最大100μmまで、検量線不要で操作簡単　＜デモ機を無料貸し出し中＞

『SM-100 series』は高精度かつ簡単に持ち運び・操作ができる膜厚計です。　 現場での抜き取り検査や成膜条件の検討にも柔軟に対応が可能。 基材(ガラス・プラスチック)を選ばず、形状のあるサンプルも非破壊で測ることができます。 ■持ち運び可能なハンディタイプ ■高精度測定＆簡単測定 ■多層膜も対応 ■非破壊・非接触測定 ■様々なサンプルを測定 ※詳しくは＜PDFダウンロード＞より資料をご覧ください。 　デモ機を無料貸し出し中！＜お問い合わせ＞よりお申し込みいただけます。

• 膜厚計

超複屈折フィルムを高速・高精度に測定できる

超複屈折フィルムなど、従来方式では10,000nｍ程度までしか測定できなかったが、高精度多波長測定および独自のアルゴリズムにより60,000nmまで測定可能。また、多波長をワンショットで測定できるため約１秒で測定可能。

• その他 計測・測定機器

nmオーダーの透明な異物・欠陥の評価が可能！フォーカス不要で高速測定　目視では見えないフィルム表面を可視化・定量化

『MINUK』は、目視では見えない透明フィルム表面を可視化・定量化できる 光波動場三次元顕微鏡です。　 nmオーダーの形状情報を非接触・非破壊・非侵襲で取得可能。ワンショットで 深さ方向の情報も併せて取得することにより、目視では見えない透明フィルム 表面の傷や欠陥の断面形状や三次元形状を可視化し数値化することが可能です。 高速で広範囲をマッピングし情報を得ることができるスティッチング機能に より、観察したい場所を素早く見つけ、詳細情報を取得することが可能です。 【特長】 ■nmオーダーの透明な異物・欠陥の評価が可能 ■1ショットで瞬時に深さ方向の情報を取得 ■フォーカス不要で高速測定が可能 ■非破壊・非接触・非侵襲で測定が可能 ■任意の面を高速でスキャンし測定位置の決定が容易 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

• 光学顕微鏡

全面を高速かつ高精度に膜厚測定可能！

「ラインスキャン膜厚計(オフライン)」は、フィルムなどの研究開発や 品質管理の抜き取り検査に、オフラインで簡単に面内膜厚ムラ検査が可能な 装置です。 フィルムなどの面内膜厚ムラを検査することができ、全面を高速かつ高精度 に測定可能。 また、測定範囲は0.1～300μmで、測定幅は250mm。ハード・ソフト共に オリジナル設計となっております。 【特長】 ■フィルムなどの面内膜厚ムラを検査可能 ■全面を高速かつ高精度に測定可能 ■膜厚測定の専門メーカーだからできる充実サポート ■分光測定による高精度な膜厚測定 ■ハード・ソフト共にオリジナル設計 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

• 膜厚計

広ダイナミックレンジ！高速・高再現性、軽量・コンパクトが特長的　

MCPD seriesは、紫外から近赤外領域対応の多機能マルチチャンネル 分光検出器です。 最短5msで分光スペクトル測定ができ、標準装置のオプティカルファイバー により、サンプル種を特定することなく、さまざまな測定系に対応。 また、顕微分光、光源発光、透過・反射測定をはじめ、ソフトウェアとの 組み合わせにより、物体色評価、膜厚測定などにも対応可能です。 【特長】 ■広いダイナミックレンジを有し、全光測定に好適 ■低迷光機能搭載により、UV評価に好適 ■最短5msecから65secまでの露光時間、微弱光測定、高速測定、 　インライン測定など、幅広い測定に好適 ■スクランブルファイバーの採用により、高再現性を実現 ■軽量・コンパクトな縦置きタイプ ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

• 分光分析装置

使いやすさにこだわった粒径・粒度分布測定装置

『nanoSAQLA(ナノサクラ)』は、光散乱を利用して粒子径を測定する "動的光散乱法"を採用した、粒子径測定（粒子径0.6nm～10μm）装置です。 オートサンプラーなしで、最大5検体の連続測定を実現。各検体の条件を 変えて測定することも可能です。 また、濃厚系から希薄系サンプルまで約1分の高速測定を実現しました。 各セルは独立しているため、コンタミの心配もありません。 【特長】 ■動的光散乱法を採用 ■最大5検体連続測定が可能 ■高速測定 ■コンパクトボディ(装置幅24cm) ■コンタミレス ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• その他理化学機器
• その他検査機器・装置

”電源IC（LDO / DCDC）の熱設計"と題して電源ブロックを設計するにあたり重要となる、ICの熱設計について説明いたします。基礎的な内容から基板レイアウトなど基板設計の内容にまで踏み込んだ説明を行います。 現在基板設計や製品設計に携わっている方々におすすめのウェビナーとなっております。 ●参加対象 ・各種電気製品や電源ブロックの設計、技術、製造、品質管理に携わっている方 ・電源ICについてお困りごと・解決したい課題を抱えている方 ●タイトル 電源IC（LDO / DCDC）の熱設計 ●アジェンダ １.ICの発熱の影響　～　熱抵抗の定義など ２.LDO, DCDCの熱設計 ～ Tjの求め方 ３.LDOの損失、発熱とサーマルシャットダウン ４.DCDCの損失 ５.事例紹介 ６.基板設計 ７.熱設計サポート ８.質疑応答 皆様のご参加お待ちしております。

切粉除去のあたりまえを変える 方法が変われば、未来が変わるポンプ圧は0.3MPaのままで、十分に切粉除去が可能になるとしたら…切粉を除去するために“高圧ポンプに変える“これまでのその常識が今日、ここで変わる!上げるのはポンプ圧じゃない、付加価値だー。 Aeroforceが実現したのは、“低圧ポンプのままで、しっかり届く”という、新しいクーラント供給の“あり方”。 高圧に頼らずとも、 “スマートなクーラント技術”で、新たな工作機械の可能性を引き出すことができるのです。真に対策すべきは、圧力ではなく、クーラント力の改善。ポンプ圧を上げるのではなく、価値を上げる、それが、Aeroforceの答えです。 Aeroforce × FXコーティングエンドミル Aeroforce × NCヘリックスドリル ************************** MECT2025来場者限定特定プレゼント詳細はこちらをご覧ください。 https://mono.ipros.com/product/detail/2001548815/ **************************

[講　師] Go2Marketing（同） 代表社員／VSI AVポータル主宰 永井 達 氏 [講演項目] １．自律型ロボタクシー ２．監視型ロボタクシー ３．遠隔操作ロボタクシー ４．自動運転のグローバル法規の進展 ５．自動運転におけるAIテクノロジーの進化 ６．まとめ ７．質疑応答

[重点講義内容] 1．国際標準化の意義とそれを利用したグローバル戦略 （国研）産業技術総合研究所 物理計測標準研究部門 主任研究員 IEC TC85 国内委員会 委員長 山田 達司 氏 今年6月に内閣府の知的財産戦略本部により「新たな国際標準戦略」が決定された。それは国内外の重要課題に対し、国際標準を通じて解決を主導し、新たな市場を創出することを目指すものである。ここでは、国際標準化の意義を再確認し、それを利用したグローバル戦略の事例紹介を行うとともに、NILM国際標準化についても併せて紹介する。 2．ベンチャー企業による国際標準化を活かしたグローバル戦略 ～インフォメティスのケース インフォメティス（株） 代表取締役社長 只野 太郎 氏 グローバル市場での新事業創出において、国際標準化は日本発ベンチャーにとっての有効な戦略手段となり得ます。本講演では、インフォメティスが大企業で培った国際標準化活用の知見と実例を紹介し、その可能性と実践的意義を考察します。

[重点講義内容] 1．CDRを取り巻く国内外の動向 株式会社三菱総合研究所 エネルギー・サステナビリティ事業部門 GX本部 脱炭素イノベーショングループ 主任研究員 田中 昌子 氏 １．CDRの概要 ２．海外動向 ３．国内動向 ４．普及に向けた課題 ５．今後の展望と提言 ６．質疑応答／名刺交換 2．カーボンクレジット分野のリスクの類型と対応策 東京海上日動火災保険株式会社 マーケット戦略部 GX室 ユニットリーダ 柴田 智文 氏 １．カーボンクレジットにかかる機会とリスク ２．各工程で考えられるリスクの分類と考えられる対処策 ３．質疑応答／名刺交換 3．CDR分野における三菱商事の取り組みと得られた示唆 三菱商事株式会社 地球環境エネルギーグループ 次世代エネルギー本部 カーボンマネジメント部 マネージャー 遠藤 圭 氏 １．弊社のCDR分野における取組 ２．これまでの活動から得られた示唆 ３．日本CDR協議会のご紹介 ４．質疑応答／名刺交換