【資料】しるとくレポNo.53#アバランシェ試験(2)

当レポートは、しるとくレポNo.52でお話ししたMOSFETのアバランシェ
耐量試験の続きとなります。
デバイスの過渡熱抵抗やアバランシェ動作時の損失と時間の関係について
図やグラフを用いて解説。
デバイス選定の際に、異なる条件で測定されたデバイスを比較しても
あまり意味はありません。データシート値のみを参考にするだけではなく、
できるだけ実動作に近い環境で実測することをお勧めします。
詳細は下記関連製品・カタログよりご覧いただけます。

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