設置型放射照度センサー
WPLP-RAD-01】はVIS-NIRスペクトル範囲（400～1050nm）において、面に入射する放射フラックス（W）と、単位面積（m2）の比として定義される放射照度（W/m2）を測定します。 これらの特長は可視および近赤外領域の測定に適した測定器に適用されます。 プローブの校正は、スペクトル干渉フィルターを通した、Xe-Hg（キセノン-水銀）ランプの577/579nmラインを使用しています。 屋外設置タイプはMC8P-PHOT3Sシリーズになります。
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基本情報
■mV信号出力 VIS-NIR、UVA、UVB、UVCのスペクトル領域において、光および放射量を、照度（lux）または放射照度（W/m2）として測定します。また、400～700nmの光合成有効放射（PAR）波長域において、単位時間、単位面積当たりの光量子数の測定も可能です。WPLPシリーズは外部電源供給を必要としません。 mVによる出力信号がフォトダイオード端末の分流抵抗を介して得られます。フォトダイオードが受光したときに発生する光電流が電位差に変換され、電圧計で読み取られます。PD（電位差）が読み取られると、校正係数（出力係数）によって測定値が計算されます。
価格帯
納期
※都度、御確認ください。
用途／実績例
各プローブは出荷前に工場で校正され、それぞれ固有の校正係数（出力係数）を持っています。この係数は個々のプローブおよび付属の取扱説明書に表記されています。WPLPシリーズのプローブは余弦則補正ディフューザを備えています。UV測定用のプローブではディフューザは研磨水晶製、ほかのプローブはアクリル材またはテフロン製（WPLP-PHOTO-01）です。WPLPシリーズのプローブは上記の光、放射量が絶え間なくモニターできる屋内あるいは屋外（UV測定機種を除く）での測定を目的に設計されています。
企業情報
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