デバイス帯電モデル（Charged Device Model）のESDに対する耐性を評価する試験サービスを提供いたします。
■ 各規格波形 JEDEC、JEITA（EIAJ)、AEC に対し ユニット交換で対応します。 ■ 直接チャージ法（Direct CDM）、電界誘導法（Field Induced CDM） の両方に対応します。 ■印加ピンの接触状態の確認機能により確実に印加します。 ■ダイオード特性判定法による破壊判定対応も可能です。（要相談）
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基本情報
■印加電圧0Vから±4000Vまで、5Vステップ ■最大 1024ピン まで対応します。 ■プローブ移動精度：0.1mm ■印加ユニット：JEDEC（JESD22-C101F）、JEITA、EIAJ、AEC ■チャージ法 FI-CDM：電界誘導法（JEDEC・AEC） D-CDM：直接チャージ法（JEITA・EIAJ・AEC） ☆車載向け電子部品規格：AEC-Q100-011の試験サービスを開始 AEC規格のField Induced CDM（FI-CDM）試験対応が可能です。 AEC規格のDirect CDM(D-CDM)試験対応が可能です。
価格情報
試験条件により御見積致します。
納期
※試験条件・数量により変動いたします。
用途／実績例
JEDEC JEITA EIAJ AEC 各種規格試験
カタログ（17）
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企業情報
アイテスは、日本アイ・ビー・エム野洲事業所の品質保証部門を母体として１９９３年に設立されました。 日本アイ・ビー・エム野洲事業所での最先端電子部品の不良解析・信頼性保証で培った技術力を基盤にして、半導体、ディスプレイ、有機EL、太陽電池、電子部品の開発・製造を支える様々な商品、サービスを国内、海外のお客様へ提供してまいりました。
