SiCの両面研削を実現!両面研削加工
今後の市場拡大が予想されるSiC(シリコンカーバイド)、 GaN(ガリウムナイトラ)などのパワーデバイスにおいて、コスト削減は 重要な課題です。 その中でも、従来の加工プロセスと異る方法でコスト 削減を実現した加工事例をご紹介いたします。 【研磨結果】 ■表面粗さ<0.5nm (後工程CMP) ■TTV<2μm/Warp<10μm ■高速圧研磨装置『EJD-6BY』と 固定砥石 『MAD Plate』を使用することで SiCの両面研削加工を実現 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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基本情報
【採用装置仕様】 ■材質/寸法:SiC(シリコンカーバイド/2inch) ■用途:パワーデバイス、高周波デバイス、光デバイス ■要求精度:表面粗さ<1nm TTV<2μm/Warp<10μm ■装置型式:EJD-6BY ■装置仕様:両面ラップ機 ■研磨方法:固定砥石 MAD Plate 超微粒子ダイヤモンド砥石 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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