熊本事業所にて承っております
ESD・ラッチアップ試験 【適合規格】 ◇JEDEC/JEITA/AEC/ESDA/MIL 【装置仕様】 ◇最大使用可能ピン：256ピン ◇ESD（MM・HBM）：±4000Ｖ ◇LU 用電源：４電源仕様(各±30Ｖ) ◇恒温槽 ： MAX125℃ デバイス帯電モデル試験 【適合規格】 ◇JEITA/EIAJ/JEDEC/EOS/AEC 【装置仕様】 ◇最大使用可能ピン数：1024ピン ◇印加電圧 ： 0～±4000V （5Vステップ) ゲートリーク試験 【適合規格】 ◇AEC-Q100-006 【試験内容】 高温下でICに高電圧を加えることが でき、表面実装型のICのゲートリーク （電気的、熱的誘導による寄生ゲート 漏洩）をテスト、高温下に置かれた ICに電界をかけ、ゲートリーク発生 の有無を調べます。
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