拡張欠陥も測定可能！スペクトル線分析ができるSemiScope
『SemiScope PLIS-TEC』は、PLによる結晶欠陥の研究において 画期的な測定装置です。 PLイメージング画像で選択した線分において、その線分を1000点に分割した 各スペクトルを同時に測定することができます。 また、線分をスペクトル化するため、基底面転移のような 位置の特定が難しい欠陥でも、正確にスペクトルを測定することができます。 【特長】 ■スペクトル線分析対応 ■結晶欠陥の研究に ■励起光の密度も、通常のPLスペクトル測定に比べ3桁程度低い ■拡張欠陥においても測定可能 ■位置の特定が難しい欠陥でも、正確にスペクトルを測定 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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【用途】 ■結晶欠陥の研究 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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企業情報
株式会社フォトンデザインは、フォトルミネッセンス装置、ラマン装置をはじめとする分光計測装置メーカとして、常に新しい技術を取り入れ、最高の性能を目指し、装置開発に取り組んでいます。経営の効率ばかりが優先される最近の傾向は、研究装置の分野にも及んでいます。市場性の高い研究装置が次々に製品化されるなかで、販売台数の少ないトップクオリティな研究装置では生産中止が目立ちます。しかし、未知の世界に挑む最先端の科学研究にとって重要な役割を果たす研究装置では、性能に妥協は許されないとフォトンデザインは考えます。分光計測装置メーカの使命として、常に最高の性能を求め、装置の開発を続けて参ります。
