フラッシュメモリテスト機能が強化された高性能のパッケージバーンインテスト
『DM1400』は、フラッシュテストファンクションが強化された 高性能のパッケージバーンインテストとして、ハイスピード動作と 幅広いテスト条件を提供するシステムです。 ご要望の際はお気軽にお問い合わせください。 【DM1400C 概要】 ■対象製品：Flash(NAND、トグルNAND等)、eMCP、DDR、LPDDR等 ■特長：100MHz(200Mbps)、144I/O、48Slot、DualDate Generator、 Flexible Zone機能(オプション) ■運転温度：RT～150℃ ※詳しくはPDF(英語版)をダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
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当社の親会社であるDI Corporationの研究所では、半導体関連装置の専門的な 研究プロジェクトを基盤とし、次世代半導体検査装置の開発を成功させました。 品質ISO9001・環境ISO14001・情報セキュリティISO27001・労働安全衛生 OHSAS18001の管理システムの国際認証を取得した製品の開発・製造環境を 維持管理しています。 また、お客様に安心して当社製品をご使用いただけるよう、グローバル ネットワークを活かした販売及び保守メンテナンスサービスのご提供を させていただきます。
