各種材料の表面積や細孔容量などを求めることが可能な手法のご紹介です!
当資料は、t-plot法による各種材料評価(基礎編)について、グラフや表を 用いてご紹介しています。 Lippensとde Boerにより考え出されたt-plot法は、各種材料の表面積や 細孔容量などを求めることが可能な手法です。 無孔性材料の石英砂(a)、マイクロ孔をもつハイシリカゼオライト(b)、 メソ孔をもつポーラスシリカDevelosil(c)のN2@77.4K吸脱着等温線の吸着枝 を無孔性シリカ(SiO2)の基準t曲線を用いて変換したt-plotから、それぞれ の表面積、細孔容量を検討します。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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マイクロトラック・ベル株式会社は、以下、3つの卓越したコア技術を保有しています。 1.ガス/蒸気吸着・比表面積・細孔分布・真密度・触媒評価 ガス吸着法により粉粒体(多孔性・無孔性材料)のガス/蒸気吸着量、BET比表面積、細孔分布、真密度、触媒を評価するBELSORP・BELPYCNO・BELCATシリーズと水銀圧入法にて粉粒体の細孔構造を評価するBELPOREシリーズをラインナップ 2.粒子径分布&粒子形状評価 動的画像解析技術を用いたCAMSIZERシリーズは粒子個々の粒子径と形状を迅速に測定可能です。また、レーザ回折・散乱は、粒子の光散乱情報を元に粒子径分布を測定する技術でMICROTRACはこの原理を用いた装置のパイオニアです。 3.分散安定性評価 動的光散乱法(DLS)を用いた粒子径測定装置、流動電位法(SPM)により粒子界面の静電反発力を評価する装置、静的多重光散乱法(SMLS)により分散安定性を評価する装置をラインナップ これらの製品群は、世界中の研究開発や品質管理・品質保証の分野で使用されており、当社はワンストップソリューションプロバイダーとして日々前進しています。





