半導体製造における超純水システムの品質管理に最適
半導体業界では、製造プロセスにおける超純水（UPW）の品質管理が、製品の歩留まりと品質を左右する重要な要素です。特に、微量のTOC（全有機炭素）やホウ素の混入は、半導体デバイスの性能に悪影響を及ぼす可能性があります。当社の水質監視装置は、これらの微量成分を高精度で連続的に監視し、UPWシステムの品質を維持します。 【活用シーン】 ・半導体製造工場のUPWシステム ・原水、RO水、回収水、UF/EDI、ユースポイントなど、各工程 【導入の効果】 ・UPWの品質を安定化し、歩留まり向上に貢献 ・TOCやホウ素による製品不良のリスクを低減 ・製造プロセスの効率化とコスト削減
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基本情報
【特長】 ・TOCとホウ素の微量濃度を高精度で連続監視 ・用途に応じたラインアップ（原水、RO水、回収水、UF/EDI、ユースポイントなど） ・ガス透過膜式導電率測定方式と直接導電率測定方式を採用 ・迅速な測定時間（最短4秒） ・幅広い測定範囲 【当社の強み】 1967年の創立以来、水質測定器の専門メーカーとして、お客様のニーズに応じた最適なソリューションを提供しています。自社開発製品に加え、海外の優れた機器も取り扱い、幅広い選択肢をご用意しています。
価格帯
納期
用途／実績例
半導体製造におけるUPWシステムの品質管理 原水・RO水・回収水のTOC/ホウ素濃度監視 イオン交換樹脂の劣化検知 トラブルシューティング・定期診断
ラインアップ（4）
| 型番 | 概要 |
|---|---|
| TOC計 Sievers M9e | アプリケーション：原水/RO水/回収水 |
| オンラインTOC計 Sievers M500e | アプリケーション：UPW/二次純水システム |
| TOCセンサー Sievers CheckPointe | アプリケーション：診断/トラブルシューティング |
| オンラインUPWホウ素計 Sievers Boron Ultra | アプリケーション：イオン交換樹脂・EDIにおける樹脂再生・交換時期の最適化 |
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企業情報
弊社は、1967年（昭和42年）の創立以来、誰でも迅速、簡単、高精度に測定できる水質測定器の開発、普及に努めてまいりました。 地球の環境保全とともに、限られた資源である水の有効活用が求められている現在、弊社は水質測定器、技術、サービスを駆使してあらゆる水環境に対応する、トータルソリューションプロバイダーを目指しています。 また、最新の技術と長年のノウハウを生かし、使い安く、信頼できる水質測定器をより安く、より速く、より広くお届けすることをモットーとして努力してゆく所存でございます。
