小型基板・ＩＣの耐衝撃性を評価 〜規定質量の落下プローブを一定の高さから落下させます〜
落下プローブの二度打ちがないよう、『リバウンド防止装置』が付いておりますので安定したシングルインパクトによる評価試験が可能です。落下プローブは、任意の質量で製作可能ですので幅広い用途に対応可能です。測定サンプル下方にレーザ変位計を搭載しており、衝撃によるサンプルのたわみ量を直接測定できます。操作は、規定質量のプローブを選定し、落下高さ・繰り返し回数を入力するだけで全自動繰り返し運転ができます。落下高さはエンコーダにてパルス管理されていますので正確です。
この製品へのお問い合わせ
基本情報
小型基板・ＩＣなどの耐衝撃性を試験するため、規定質量のプローブを一定の高さから落下させます。落下高さ・繰り返し回数を入力するだけで全自動繰り返し運転で試験ができます。
価格情報
-
納期
~ 1ヶ月
用途／実績例
半導体関連メーカなどでは、耐衝撃性を評価するために使用されています。また、小型基板・ＩＣ以外にもいろいろな小型製品の耐衝撃性評価など幅広い用途にご使用いただけます。
カタログ（1）
カタログをまとめてダウンロード
企業情報
日立の技術をベースに機械技術・自動制御技術を駆使した各種ＦＡ設備・メカトロ装置をはじめ、生産設備および実験・試験装置、各種生産設備の合理化・改造等、広範囲なお客様のニーズにお応え致します。