受託サービスの製品一覧

【アールエスコンポーネンツ】計測器、工具、受動部品など豊富な産業用製品のご購入は今がチャンス！※セール対象品カタログを無料進呈中

オシロスコープ

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揺動・振動式バタフライ弁『タッチレスバルブフィーダ』

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赤武エンジニアリング株式会社本社／工場

洗浄可能な、タッチレス(非接触)構造のバルブフィーダー！異物混入リスクを低減しました

フィーダー

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垂直入射法による深さ方向分解能の向上

SIMS：二次イオン質量分析法

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ウルトラミクロトーム加工

ダイヤモンドナイフを用いてバルク試料を切削し、厚さ100nm以下の透過電子顕微鏡用の超薄切片を作製する加工法です

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受託測定
受託検査

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透過EBSD法による30nm以下の結晶粒解析

EBSD：電子後方散乱回折法

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定量計算における妨害ピーク除去処理

XPS：Ｘ線光電子分光法

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液体中の陰イオン濃度分析

IC：イオンクロマトグラフィー

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SRAの深さ換算について

SRA：広がり抵抗測定法

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SRAの濃度換算について

SRA：広がり抵抗測定法

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AESの異物分析における注意点

AES：オージェ電子分光法

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ハートカットEGA法による発生ガス分析

GC/MS：ガスクロマトグラフィー質量分析法

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タンパク質のショットガン解析

LC/MS/MS：液体クロマトグラフィー質量分析法

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界面および深さ方向分解能について

SIMS：二次イオン質量分析法

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クリーンルーム内有機化合物の評価方法

GC/MS：ガスクロマトグラフィー質量分析法

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メモリ

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HPLCによる有機酸の分析

HPLC：高速液体クロマトグラフ法

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AFMデータ集

AFM :原子間力顕微鏡法

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ウエハー

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超低温プローブによる高感度NMR分析