受託サービスの製品一覧

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サンプルプレゼント!260℃までOK!500回以上繰り返して使える高耐久性!

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最大1200℃まで耐熱。作業環境の安全を守る高性能な保温カバーを、オーダーメイドで製作いたします!

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真空加熱/昇温により発生したガスを温度毎にモニターできる質量分析法。水素や水も感度よく確認

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PL分析(フォトルミネッセンス法)を追加しました

取り扱い製品一覧に、PL分析(フォトルミネッセンス法)を追加しました。 PL分析は物質に光を照射し、励起された電子が基底状態に遷移する際に発生する光を観測する方法です。 詳しい情報はカタログをご覧ください。

イオンクロマトグラフ法は液体試料中のイオン成分を検出する手法です

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特定の質量イオンを解離・フラグメント化させ、質量分析計で検出

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EDXは、分析対象領域に電子線照射した際に発生する特性X線の、エネルギーと発生回数を計測し、元素分析や組成分析を行う手法です。

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EDは、電子線を試料に照射することで得られた回折パターンから結晶構造を調べる手法です

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TOC計は、試料中の全炭素量 、全有機体炭素量、無機体炭素量(IC:を評価することができる装置です

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UV-Visは波長ごとに分けた光を測定試料に照射し、試料を透過した光の強度を測定することで、試料の吸光度や透過率を求める手法です

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絶対PL量子収率測定は、材料の発光効率を求める手法です。

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C-SAMは、試料の内部にある剥離などの欠陥を非破壊で観察する手法です。

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TDS(昇温脱離ガス分析法)で金属中水素の脱離量の評価が可能です

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SiCデバイスの拡散層構造を可視化できます(拡散層構造の高感度評価)

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シミュレーションによってアモルファス膜のミクロな構造解析が可能です

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真空中での有機物からの脱ガス挙動を調査可能です

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官能基の変化を捉えることで樹脂のイミド化率を評価することが可能です

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培養ヒト皮膚の様々な評価(形態観察、成分の分布評価、定量分析)が可能です

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クリームはんだ中のロジン、チキソ剤、活性剤などを網羅的に定性します。

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NMR測定と計算の組み合わせにより分子構造の詳細な解析が可能です

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ナノシミュレーションは物理・化学法則に基づいて原子・分子を取り扱う計算科学手法であり、多様な 現象を理解するために活用できます。

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TEMの電子回折を利用して、結晶性試料の方位分布解析を行う手法です。

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物質の蛍光寿命を測定することにより発光過渡現象をよりダイナミックに把握できます

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遺伝子解析とは、DNAの塩基配列を読み取り、遺伝子の変異や働きを調べる方法です。

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電子部品、電子機器、その他製品が使用中または輸送中に受ける振動の影響や耐久性を評価します。

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はんだ槽平衡法、はんだ小球平衡法、ソルダーペースト法の試験が行えます。

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中空構造内の微小な異物が壁面に衝突する際に発生する音を検出することで、ショート等のトラブルを未然に防ぐことが可能です。

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半導体や電子部品が静電気によるストレスを受けた際の影響、破壊耐量を評価します。

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ゴム製品中の加硫促進剤、老化防止剤、滑剤等を網羅的に定性評価します。

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高倍率観察(30万倍程度まで)が可能

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応用物理 2012年5月号執筆記事掲載のお知らせ

公益社団法人応用物理学会より発刊の月刊誌「応用物理」2012年5月号へ、MST一般財団法人材料科学技術振興財団が走査電子顕微鏡(SEM)について記事執筆を行いました。 ●雑誌概要 ・発行元:公益社団法人応用物理学会 ・掲載誌:2012年5月発行 応用物理 ・企画名:基礎講座 <ホップ・ステップ・ジャンプ>シリーズ「走査電子顕微鏡」 ●MST寄稿概要 ・執筆者: 一般財団法人材料科学技術振興財団 分析評価部TMG リーダー 米光恭子 ・執筆内容: 走査電子顕微鏡の研究開発への応用-解析事例、こんなことに使われる ぜひご覧ください。

イオンを検出器で検出し、定性・定量をおこなう分析手法です

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二次イオンを検出し、各質量における検出量を測定することで、試料中に含まれる成分の定性・定量を行う手法です

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電子線照射により放出されるオージェ電子の運動エネルギー分布を測定し、試料表面に存在する元素の種類・存在量に関する知見を得られます

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電子線照射により発生する特性X線を検出し、エネルギーで分光することによって、元素分析や組成分析を行う手法です

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ナノスケールの凹凸形状を三次元的に計測

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ナノメートルレベルでの局所抵抗測定が可能

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