試験機器・装置の製品一覧
- 分類：試験機器・装置
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用途はアイデア次第！ 重い物が 楽に 軽く 回せる 小型旋回ベアリング「楽っかる(らっかる)」！
- 金属軸受・ベアリング
手作業の計測、テスト作業の自動化をサポートします！
- 試験機器・装置
Ｘ線検査では困難なハンダ不良やパターン不良の検出を可能にし、工数の削減や製造品質の向上を実現しました！
- 試験機器・装置
お客様のテスト、検証作業の自動化をスイッチの切り替えにより実現します(事例あり)
- 試験機器・装置
様々なハードウェアシミュレータ・モジュールを提供しております！
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高い安全性が要求される車載機器の検査をJTAGテストで実現！
- 試験機器・装置
高性能・高品質な計測を支える JTAGバウンダリスキャンテスト！
- 試験機器・装置
開発初期の信頼性を向上させたJTAGバウンダリスキャンテスト！
- 試験機器・装置
![[BGA対応！実装基板テスト] JTAGテスト](https://image.mono.ipros.com/public/product/image/9c7/2001167049/IPROS16571686840134820493.png?w=280&h=280){kind=small}
JPCA Show 2024 / 2024 マイクロエレクトロニクスショーに出展します
アンドールシステムサポートは、東京ビッグサイトで2024/6/12(水)～6/14(金)まで開催される「JPCA Show 2024 / 2024マイクロエレクトロニクスショー」に出展します。 【展示内容】 ・BGA実装基板、QFP実装基板用のJTAGテスト/バウンダリスキャンテスト ・半導体テスト、IoT機器のテスト用のPXI、LXI自動テストソリューション ともに実機デモを実施いたしましますので、是非お立ち寄りください。 【出展ブース】 ・展示会名：2024 マイクロエレクトロニクスショー ・開催日時：2024年6月12日(水)～6/14日(金) 10:00～17:00 ・展示会場：東京ビッグサイト 東展示棟 ・小間番号：3B-35
![[BGA対応！実装基板テスト] JTAGボードテストツール](https://image.mono.ipros.com/public/product/image/b69/303096003/IPROS_16903476509175706000.jpg?w=280&h=280){kind=small}
JTAGテスト入門セミナー - 第238回 2016年12月 7日 水曜日
最近、組込み製品の基板が複雑化、高度化しており、改めて注目されている JTAGバウンダリスキャン・テストを分かり易く解説します！ 【セミナー内容】 1. JTAGバウンダリスキャンテスト概要 JTAGバウンダリスキャンアーキテクチャ紹介と活用される分野 2. JTAGバウンダリスキャンテストが登場した背景 LSIのパッケージの高密度実装にともなう変遷 BGAの実装不良と小型化・高密度化による課題 部品内蔵基板やTSV技術による3D LSI/2.5 LSIの概要 3. 実装基板の検査手法と特徴 各テスト手法が検出可能な故障タイプ インサーキットテスト / ファンクションテスト / X線検査 / 自動外観検査（AOI）との補完 4. JTAG ProVisionデモンストレーション 基板の実装検査を行う手順を実機のデモを交えて紹介します。 5. JTAGテストの国内導入企業と課題解決事例 開発現場での活用と開発期間短縮 製造現場での活用と検査コスト削減 サービス現場での活用と修理コスト削減
見えない・触れないピンのハンダ不良を検出！部品内蔵基板、TSV技術にも対応！
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JTAGテストで未検査領域を減らし、お客様へ"安心”をご提供！
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JTAGテストで高密度実装における一貫した先進の検査体制を確立！
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BGA不具合箇所の統計データを製造にフィードバック！
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試作モジュールの実証実験に！PV屋外暴露試験システム～I-Vカーブ・日射・温度・風向・雨量等も計測可能～
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