受託解析の製品一覧

壊れたネジ穴を再生・補修して強度もアップ！タップ立て不要で、めねじやコイルインサートが破損した箇所にめねじサイズを変えず補修可能

ナット

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【電子・電気部品の収納に】防水・防塵性能完備の高機能ケース

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株式会社ユーバー

BOPLA社製高機能ケースのカスタマイズをケース調達から設計・追加工・印刷・電気部品組込配線まで対応！１台より安定した納期を実現

その他機械要素

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【分析事例】有機EL層の定性分析

雰囲気制御下での測定面出し加工により成分の変質を抑制

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【分析事例】SIMSによるSi酸化膜・ITO膜中の｢水」の評価

｢重水(D2O)処理」を用いた水素の深さ方向分析

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【分析事例】SIMSのa-Si薄膜太陽電池ドーパント濃度分布評価

対象元素に応じて測定条件を選択

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【分析事例】GCIB_Arクラスター有機材料劣化成分深さ方向分析

雰囲気制御下でのGCIBを用いた有機EL層構造および劣化層の成分評価

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【分析事例】ポリイミド成分の深さ方向分析

TOF-SIMSによる高分子・樹脂・フィルムの表面改質層の深さ方向の評価が可能

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【分析事例】成膜成分のウェハ裏面への回り込み評価

ベベル部近傍にて金属成分の定量的な評価が可能

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【分析事例】高温XRDによる熱分解生成物の同定

昇温しながらXRD測定が可能

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【分析事例】高分子材料の結晶化度評価

昇温しながらの結晶化度の変化が評価可能

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【分析事例】微小部XRD分析による結晶構造評価

微小領域のXRD測定が可能

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【分析事例】ソフトマテリアルの断面観察と元素分析

クライオSEM観察-EDX分析で溶液試料の構造を直接評価

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【分析事例】エポキシ樹脂の定性

TOF-SIMS分析による成分の推定が可能

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【分析事例】SiC Planer Power MOSのSCM分析

SiC デバイスの拡散層構造を可視化できます

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【分析事例】リチウムイオン二次電池　正極シート状活物質の組成分析

シート状活物質の主成分定量分析が可能

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【分析事例】リチウムイオン二次電池Si負極の評価

サンプル冷却により充電後のSi負極の構造を評価可能

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【分析事例】リチウムイオン二次電池電極材料の評価

雰囲気制御イオン研磨（IP）加工を用いた断面観察が可能

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【分析事例】SiCダイオードのフォトルミネッセンスマッピング測定

SiC中積層欠陥の検出事例

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【分析事例】金属ワイヤー中の不純物評価

SEMと同等の視野で大気成分などの不純物の面内分布を可視化

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【分析事例】特殊形状試料のSIMS測定

固定方法の工夫により特殊な形状でも分析可能

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【分析事例】SSDP-SIMSによるSi基板Ga、Alの拡散評価

SSDP-SIMSによる高濃度層の影響を避けた測定

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【分析事例】テクスチャ付きGaN系LEDの元素分布評価

凹凸のある構造でも平坦化加工により深さ方向分布評価が可能

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【分析事例】SiC基板の品質評価

結晶方位・面内欠陥分布・表面凹凸・不純物を評価

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【分析事例】パワーデバイスのキャリア濃度分布評価

ドーパントの活性化率に関する評価が可能

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【分析事例】化合物積層構造試料のSIMS分析

前処理により化合物層を選択的に除去してから分析が可能

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【分析事例】有機成分洗浄効果の評価

300mmウェハをそのまま測定できます

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【分析事例】高分子フィルムの多層構造の解析

GCIBを用いた低ダメージスパッタリングで多層フィルムの層構造を明瞭に可視化

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【分析事例】TEM・EDX・EELSのアイシャドウ成分元素分析

ナノオーダーの形態観察・元素分析が可能

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【分析事例】SiN膜中水素の結合状態別の定量

赤外吸収法によりSiN膜中のSi-H、N-Hを定量

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【分析事例】高温XRDによる金属膜の評価

昇温過程での相転移・結晶性変化を追跡評価

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【分析事例】X線によるZn系バッファ層の複合評価

組成・結合状態・構造・密度の評価が可能

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【分析事例】高麗人参　生薬成分のLC/MS/MS分析