受託解析の製品一覧
- 分類：受託解析
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ハンドルから手を離すと、自動で閉止（開放）。閉め忘れや誤作業を確実に防止。危険物を取扱う工場での安全管理にばっちりです！
- バルブ
働き方改革関連法に伴う規制の適用により、物流業界が直面している課題や解決策を掲載。荷役・輸送方法の見直しをしませんか？
- パレット
- パレット
- コンテナ
蛍光プライマーを用いて、研究用DNAマイクロサテライト不安定性試験を受託しています。蛍光プライマーは弊社所有で試料のみでOKです
- 受託解析
- 受託測定
遺伝統計学でお困りではありませんか？マイクロサテライト・SNP解析を基にしたジェノタイプ解析を行っています。
マイクロサテライト、SNP(SNPｓ)などのジェノタイプ解析を行っています。マイクロサテライト解析では蛍光シーエンサーを用いての解析ですので高い精度の結果が得られます。数多くの蛍光プライマーセットを自社にて保有しており安価な価格での解析ができるようになりました。DNA不安定性試験、スピードコンジェニック解析などの解析にも対応しております。 SNP解析はTaqman法の受託解析を行っております。試薬はABIからの購入となります。 長い研究実績から、マイクロサテライト、SNPを中心とするジェノタイプ解析に遺伝統計学の知識を加味した総合的なジェノタイプ解析を行っております。遺伝病の家系に対するLinkage解析、多くのサンプルによるSNPアソシエーションスタディなど豊富な経験を有しております。
様々な波形を再現した振動試験・解析・評価を承ります。試験治具の設計・製作・据付も致しますので、お客様の試験準備負担を軽減します。
- 振動試験
- 衝撃試験
- 受託解析
ファスマックの研究成果が国際誌に掲載されました。
ファスマックと兵庫県立大学 土居先生との環境DNAに関する共同研究成果が国際ジャーナルplos oneにて発表されました。 本研究成果は環境DNA解析の精度向上に寄与するものと考えております。 是非皆様の研究活動にお役立て下さい
光学的フィルター不要！紫外線照射で発光！流れの可視化実験・粒子追跡法に適したトレーサー粒子を用いた流体実験のご提案。コスト削減に
- 受託解析
- プラスチック
内部解析、不良検査など幅広く対応。1点から対応可能。デモ施設も新オープン
- 受託測定
- 受託解析
化学分析 おまかせサービス
当社で取り扱う『化学分析 おまかせサービス』をご紹介いたします。 製品上の異物やシミなどの成分分析を⾏う際、有機分析が適しているのか、 無機分析が適しているのか、また、有機・無機分析の中でもどの分析が好適 なのか、分析手法の選定についてお困りのお客様へ、一括サービスを提供。 分析装置はそれぞれ測定できる対象が異なるため、情報をもとに、 目的に合った手法を選ぶ必要があります。
化学分析 おまかせサービス
当社で取り扱う『化学分析 おまかせサービス』をご紹介いたします。 製品上の異物やシミなどの成分分析を⾏う際、有機分析が適しているのか、 無機分析が適しているのか、また、有機・無機分析の中でもどの分析が好適 なのか、分析手法の選定についてお困りのお客様へ、一括サービスを提供。 分析装置はそれぞれ測定できる対象が異なるため、情報をもとに、 目的に合った手法を選ぶ必要があります。
液晶化合物のNMR分析
株式会社アイテスでは「液晶化合物のNMR分析」を行っております。 NMRは、分子を構成する原子どうしのつながりが分かる分析手法であり、 質量分析や赤外分光法などと共に、化合物の構造決定に用いられます。 ダウンロード資料では、液晶成分として使用される4-ブトキシ-4’- シアノビフェニル(CAS番号52709-87-2)の1H NMR,13C NMR、及び DEPT測定を例として取り上げ、NMRで得られる情報について紹介。 是非、ダウンロードしてご覧ください。
化学分析 おまかせサービス
当社で取り扱う『化学分析 おまかせサービス』をご紹介いたします。 製品上の異物やシミなどの成分分析を⾏う際、有機分析が適しているのか、 無機分析が適しているのか、また、有機・無機分析の中でもどの分析が好適 なのか、分析手法の選定についてお困りのお客様へ、一括サービスを提供。 分析装置はそれぞれ測定できる対象が異なるため、情報をもとに、 目的に合った手法を選ぶ必要があります。
薬液処理による⾦属組織観察
薬液処理による⾦属組織観察についてご紹介します。 ⾦属試料の薬品処理を⾏う事で⾦属組織を明瞭に観察する事が可能。 組織を観察する事で試料の状態や熱、応⼒などの印加履歴などが確認出来る 事があり、組織形状から製品の出来具合や不具合調査の⼿がかりが得られます。 掲載カタログにて、アルミニウム板のマクロ組織や銅端子のロウ付部 などの⾦属組織観察の詳細をご覧いただけます。 また、その他、断⾯観察や各種分析サービスも御座います。 ご要望の際はお気軽にお問い合わせください。
実装基板の各種評価
株式会社アイテスでは、電子部品が搭載された基板(実装基板)の 評価テストについて多角的な技術サービスをご提供いたします。 信頼性試験をはじめ、はんだ接合部観察、ウイスカ観察、断面観察を実施。 IPC-A-610 認証IPCスペシャリストが在籍しており、国際規格に則った 観察のお手伝い、ご相談、様々な観察のお悩みに対応いたします。 その他、X線観察、外観観察、形状測定などのメニューもございますので、 ご用命の際は、お気軽にご相談ください。
測定器も健康診断が必要です。ペリテックの校正サービス
- 校正・修理
- 受託検査
- 受託解析
柔軟かつ現実的な治水対策が可能！調査からサポートまで、一貫して対応可能な専門技術が行います
- 受託解析
- 受託解析
- その他受託サービス
第8回 高機能プラスチック展に出展いたします。
今回の出展では、「高機能素材の早期実用化と安定した生産現場の構築」をテーマに、射出成形の課題解決に役立ち、国内外で安定した生産体制をサポートする器材・サービスをご紹介いたします。 また、最大45mmの厚板仕様が特長の、金属代替で軽量化による生産性アップに貢献する「高精度・精密加工対応 厚板CFRPプレート」も併せてご紹介いたします。 また、当日は各製品の専任技術担当もおります。既に弊社製品を購入された方も、ご使用されている中で何かお困りのことがございましたら、お気軽にお声かけください。 ぜひこの機会にご来場いただき、弊社ブースにお立ち寄りいただきますよう、心よりお待ち申しあげております。
パワーデバイス故障箇所・Slice＆View 三次元再構築
FIB-SEMのSlice＆View機能を用いた、故障箇所の三次元再構築について ご紹介いたします。 構造物の連続SEM画像を取得し、得られた像を三次元構築ソフト(Avizo)で、 SEM画像間のパターンの位置ズレを補正し立体的に可視化。 故障箇所に対して断面出しをする位置特定技術とSlice＆View機能を 組み合わせることで不良状態を保持して異常部前後の情報を含めた 連続SEM画像を取得することができます。
SiCパワーデバイスでも、特定箇所の断面作製、拡散層の形状観察、さらに配線構造、結晶構造解析まで一貫対応が可能です！
- 解析サービス
- 受託解析
ICP発光分析によるLIB正極材活物質の組成分析
ICP発光分析による正極材活物質の組成分析についてご紹介します。 リチウムイオン電池(LIB)の正極材は電池の電圧やエネルギー密度に 関与する重要な構成要素の一つであり、正極材の組成は電池の性能に 大きく関与します。 ICP発光分析では金属元素を主とする約70種類の元素の定性・定量分析が可能。 LIB正極材等の組成分析だけでなく、試料に含まれる添加剤や不純物の 定性・定量分析、RoHs指令物質等の定量分析など、様々な分析に適用できます。
光学フィルムの光透過特性
株式会社アイテスでは「光学フィルムの解析」を行っております。 スマートフォン等に使用される光学フィルムはその構造と材質によって 様々な機能を有しています。 のぞき見防止フィルムの角度による光透過性を測定し、断面の観察と ラマンによる分析を組合わせて、機能発現のメカニズムを調べました。 角度可変分光光度測定にてのぞき見防止フィルムの透過特性を調査し、 断面観察及びラマン分析によって機能発現の仕組みを解析することが 出来ました。 アイテスでは材料物性からその機能発現メカニズムまで一貫して 評価・分析に対応いたします。
ライフサイクルを通して運転制御/エネルギー利用/ 更新判断を好適にします！
- その他計測・記録・測定器
- 受託解析
- その他受託サービス
SACはんだとNiパッド界⾯の化合物の解析例
Sn-Ag-Cu系はんだとNiPパッド界⾯に形成される化合物の解析例をご紹介 いたします。 NiPパッドとSn-Ag-Cu系はんだの界面には(Ni,Cu)3Sn4や(Cu,Ni)6Sn5等 の化合物が成⻑しており、EDXによる面分析では化合物中にNiやCu、Snの 分布が⾒られます。 EBSD法は試料の持つ結晶構造の情報を基に解析する手法です。 EDXによる元素分析と合わせて解析することで組成を推定することができ、 Ni3Sn4やCu6Sn5の結晶データを代用して解析することが可能な場合があります。
パワーデバイスの逆バイアス試験（最大2000V）
株式会社アイテスでは、パワーデバイスの酸化膜及び接合部評価の 高温逆バイアス試験（HTRB）が最大2000Vまで印加できます。 試験中のリーク電流のモニタリングにより､リアルタイムでデバイスの 劣化状況が把握可能｡電源が独立しているために試験中に一つのデバイスが 故障した場合でも他のデバイスに影響を及ぼしません。 また、不良基準（電流値）の設定が可能で不良判定デバイスの電源を 不良判定時に遮断することができます。 【仕様・サービス内容】 ■試験電圧：最大DC2000Vまで印加可能 ■印加電流：最大14mA ■試験数量：最大8個（電源独立） ■対応モジュール：TO-247､TO-220 等（その他のパッケージは接続方法など要相談） ■測定内容：リーク電流のモニタリング ■温度範囲：最大200℃（高温高湿の場合85℃/85％）
最大8インチＭＥＭＳラインを有するオムロン野洲事業所にてウェハ工程の試作から量産までお客様の様々なご要望にお応えいたします！
- 解析サービス
- 受託解析