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ボンビングによる充填、圧力変化確認によるグロスリーク、質量分析によるファインリーク、これらが１台で完結する複合気密検査装置です。
『 MSX-0101 series 』はMEMS、水晶デバイス、SMD等の電子部品の気密検査に最適な小型電子部品専用気密検査装置です。 ヘリウム充填、グロスリークテスト、ファインリークテストを1台のシステムに完全装備。 充填時間、放置時間を管理することで、適正なグロス、ファインリークを実施することができます。 【特長】 ■MEMS、SMD等の電子部品の漏れ検査に好適 ■充填時間、放置時間を管理しながらグロス、ファインリーク量を数値化 ■グロスリークテスト、ファインリークテストを1台で対応できる ■ボンビング条件とグロスリーク条件を適切に設定することにより、高い精度のファインリーク測定が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
小型電子部品の高感度リーク試験！ウルトラファインリークまでご提案【特許技術】
『MUH-0100シリーズ』は、「カプセル蓄積法」を採用した超微小漏れ測定専用の気密検査装置です。 当社では、超微小漏れの測定技術として、高感度のヘリウムリーク検出技術「カプセル蓄積法」を開発。 角速度センサや赤外線イメージセンサなどのMEMS部品や小型電子部品は、長い年月にわたって製品内部の密封性を保持する必要があり、高い気密性が求められています。 【カプセル蓄積法 特長】 ■4×10⁻¹⁵Pa・m³/s (He) まで計測可能 ■バックグラウンドを大幅に低減 ■超微小のヘリウムリークの検出が可能 ■誤差要因となるヘリウム以外のガスの影響を低減 ■ヒーターや極低温ポンプが不要になり、起動時間のメンテナンスが通常のヘリウムリークディテクタと同等 ■ヘリウムの蓄積量の校正には、市販の標準リークが使用可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
PFASフリー！ フッ素系不活性液を使用する液没検査をやめて、圧力漏れ試験法による気密検査に移行しませんか？
有機フッ素化合物（ＰＦＡＳ）による液没検査（漏れ検査・リークテスト）の代替検査として、 株式会社フクダは以前から圧力変化漏れ試験法による気密検査装置を提供してきました。 この『 MSA-0101 series 』は、グロスリークを確認する最新の密封品用気密検査装置です。 デバイス開発時の試験、抜取り気密検査などの少量向けに開発した気密検査装置となります。 （※ 量産検査やライン投入用には全自動検査装置の『 MS sereis 』をご用意しています） 検査対象の製品サイズは、小型デバイスとなる数ミリ角から最大は 80 × 70 mm 以下の中大型デバイスまで、計測治具（中子）の製作により対応可能です。
平均250μ秒の高速動作！高信頼性のピカリング社製リード・リレー
『PXI 低密度 汎用スイッチ モジュール』は リレーの数をあまり必要しない用途に向いた製品です。 96ピンのオスコネクタでテストシステムに接続できます。 モジュールの接続に必要なコネクタやケーブルの組配も承ります。 低負荷・中負荷用のスイッチは、スパッタリングされた ルテニウム・リード・リレーを使用することにより、 微少負荷に対する特性の依存性を抑えます。 【特長】 ■モジュールあたり16、24または32個のリレー ■SPST、DPSTとSPDT構成 ■スイッチの定格は最大1500V、1.2Aで最大20W ■96ピンのフロント パネル コネクタ ■LXIやPXIスイッチシステム上のリレーの異常を単純・迅速に発見できる 詳しくはお問い合わせください。
さまざまなサージパルスを生成するように設計！効率的なセットアップと操作が可能
『PSURGE 30.2』は、高エネルギーサージ試験を実行するように 設計されているモジュラーサージテストシステムです。 同梱されている4つのインパルスモジュールはすぐに交換できるため、 当製品をさまざまなアプリケーションに使用可能。パルスモジュールの タイプはシステムソフトウェアによって認識されます。 また、内蔵のマイクロプロセッサ制御ユニットはユーザーインターフェイス として機能し、すべての内部機能を制御します。 【特長】 ■最大4つのパルス形式に対応するモジュール式システム ■最大30kVのパルス電圧、最大30kAのパルス電流 ■自動極性切り替え ■ピーク電圧とピーク電流の監視 ■統合された大型テストキャビン ■リモコンオプション ※ドイツ語版カタログをダウンロードいただけます。 ※詳しくは、お気軽にお問い合わせください。
運転中の模擬信号による計器の自主検査（インターロック新保安検査基準）のために設計された安全システム用製品
緊急遮断弁のパイロット電磁弁、独自開発バイパスバルブ、作動確認用圧力計で構成され、オンラインでの電磁弁の作動確認や、電磁弁の交換が可能です。専用キーにより、第三者の誤操作を防止できます。また、ポジション切り替え時の誤作動を防止するためのロック機能がついています。スプリングリターン方式で確実に復帰します。電磁弁には安全計装システム(SIS)に最適な直動形3方向電磁弁327シリーズを採用しています。
AR/VR/MRグラス 性能テストシステム
仮想世界の位置がロボットの位置によってどのように変化するかを、非接触で測定。トラッキングとレイテンシの一貫した検査が可能。
シリコンフォトニクスの量産スクリーニングに最適化されたスマートテストシステム
SemightのsCT9002は、ハードウェアおよびソフトウェアの両面で最適化・統合されており、 光アライメント性能とカップリングスピードの大幅な向上を実現したSiPhウェハーテストシステムです。 本システムはモジュール式構造を採用し、単芯ファイバまたはファイバアレイによる光カップリングに対応。 垂直カップリングおよびエッジカップリングの両方式をサポートし、並列テスト構成により測定時間を大幅に短縮し、 試験効率を飛躍的に向上させます。 sCT9002の高精度かつ高信頼性の測定性能は、シリコンフォトニクスウェハーの研究開発および量産検証において、 確かなデータ品質と再現性を提供します。
