テストシステム - メーカー・企業39社の製品一覧とランキング

更新日：2025年11月05日集計期間:2025年10月08日～2025年11月04日
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テストシステムのメーカー・企業ランキング

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株式会社フクダ東京都/試験・分析・測定
アンドールシステムサポート株式会社自動テストソリューション事業部東京都/産業用電気機器
株式会社ヒューマネティクス・イノベーティブ・ソリューションズ・ジャパン東京都/自動車・輸送機器
4 日本ベーカーヒューズ株式会社＆ベーカーヒューズ・エナジージャパン株式会社　（旧）GEセンシング＆インスペクション・テクノロジーズ株式会社　＆　GEエナジー・ジャパン株式会社東京都/試験・分析・測定
5 株式会社シバソク埼玉県/産業用電気機器

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テストシステムの製品ランキング

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卓上式グロスリークテストシステムMSA-0101 PFASフリー株式会社フクダ
Druck 『ADTS 405 MkII』日本ベーカーヒューズ株式会社＆ベーカーヒューズ・エナジージャパン株式会社　（旧）GEセンシング＆インスペクション・テクノロジーズ株式会社　＆　GEエナジー・ジャパン株式会社
Test Burn-In Tester ディ・アイジャパン株式会社
4 ヘッドインパクトテストシステム「E-Liner FMH NG」株式会社ヒューマネティクス・イノベーティブ・ソリューションズ・ジャパン
4 sCT9002 シリコンフォトニクス・ウェハーテストシステム Semi Next株式会社本社、三重事業所

テストシステムの製品一覧

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NI（ナショナルインスツルメンツ）の『5Gテストソリューション』

5G向けデバイスのテストを高速化。ミリ波帯周波数のテストや、OTAテストなど、高信頼のテスト環境を構築可能

5Gを活用した通信サービスが本格的に始まるのに伴い 5G向けデバイスの開発には、短時間で多くのテストを行う必要があります。当社は、NI社の『5G テストソリューション』を提供しており高効率・高信頼のテスト環境の構築に貢献いたします。【ソリューション例】 ■「5G mmWave Test System」ミリ波に対応した信号の送受信モジュールとスイッチ等を組み合わせニーズに応じたテストシステムを構築。高速で5Gの信号生成・解析が可能です。 ■「OTA Validation Reference System」 PXIの高速バスを活かしたテストシステムで、OTAテストを高速化。従来より約6倍速くテストを完了した実績があります。 ■開発済みソフトウェアの活用開発済みの計測・制御ソフトや取得したデータの解析ソフトなどを多数ご用意。テスト環境の開発期間を大幅に短縮できます。 ■ハードウェアカスタマイズ可能なプラットフォームベース、PXIシリーズのテストソリューションを提供。複数のテスト機器環境をスムーズに連動し、複雑な5Gの環境を容易にテストできます。

企業：株式会社理経
価格：応相談

その他

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NAVI協調制御テスト用システム　NAVI Turn Table

NAVIシステム内に搭載されたジャイロセンサからの出力データが取得できます！

『NAVI Turn Table』は、燃費改善のために採用が広がっているナビゲーション情報を活用した協調制御のテスト用システムです。お客様のシミュレーションによるNAVI搭載位置のヨー角、ピッチ角計算値を入力することで、実走行時のNAVIシステムのヨーイング・ピッチング挙動をリアルタイムに模擬することが可能。 NAVIシステム内に搭載されたジャイロセンサからの出力データが取得でき、 NAVI協調制御の仮想テスト環境を構築することができます。【特長】 ■NAVI協調制御の開発における仮想テスト環境を構築できる ■走行中のNAVI本体のヨーイング・ピッチング挙動を再現し、　NAVI内のジャイロセンサ出力データをリアルタイムに取得 ■Yaw 可動範囲（標準）＝±360 [deg], 最高角速度＝ 30 [deg/s] ■Pitch 可動範囲（標準）＝±15 [deg], 最高角速度＝ 30 [deg/s] ■1DIN/2DIN インダッシュタイプのNAVIを搭載可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

企業：AZAPA株式会社
価格：応相談

計装制御システム
その他情報システム

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レーザーダイオードテストシステム

I-L/I-V測定やFFP(Far Field Pattern)測定、偏光比測定などを行えます

福興システムの取り扱う『レーザーダイオードテストシステム』についてご紹介します。当製品は、I-L/I-V測定をはじめ、Spectrum測定や FFP(Far Field Pattern)測定、偏光比測定などを行うことが可能。操作はメニュー方式による対話型となります。また、表示部は5.6インチLCDとなっております。【以下の測定が可能】 (1) I-L/I-V測定 (2) FFP (Far Field Pattern)測定 (3) Spectrum測定 ※光スペクトラムアナライザが必要 (4) 偏光比測定 (5) (1)～(4)の温度依存性評価 (6) (2)、(3)、(4)の光出力/駆動電流依存性評価 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。

企業：福興システム株式会社
価格：応相談

その他計測・記録・測定器

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レーザーダイオードバーテストシステム

I-L/I-V 測定や波長測定などに！簡単な位置決め操作によりバー上のLD チップを自動的に測定します

福興システムの取り扱う『レーザーダイオードバーテストシステム』についてご紹介します。簡単な位置決め操作によりバー上のLD チップを自動的に測定することが可能。表示部は、7セグメントLEDおよびLCDとなっており、操作はメニュー方式による対話型です。その他詳細は、お問い合わせください。【レーザーダイオード(LD)の特性評価に必要な以下の測定が可能】 (1) I-L/I-V 測定 (2) 波長測定 ※光スペクトラムアナライザまたは分光器が必要 (3) (1)～(2)の温度依存性評価 (4) (2)の光出力/駆動電流依存性評価 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。

企業：福興システム株式会社
価格：応相談

その他計測・記録・測定器

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HTOLシステム

様々なレベルの統合をサポート可能！効率的なソリューションでお客様のコスト、時間を節約

効果よくHTOL テストを行うには、多数のユニットを同時にテストすることが望まれ、これには、重要なスプリッター損失を克服するために使用される高出力信号ソースを使用して、多数のチャネルにテスト信号を配信できるシステムが必要です。当社は、多数のハイパワーアンプを所有しお客様へ『HTOL システム』をご提供可能。コンポーネントから完全な統合ラックシステムまで、様々なレベルの統合をサポートでき、効率的なソリューションを提案することでお客様のコスト、時間を節約します。【特長】 ■コンポーネントから完全な統合ラックシステムまで、様々なレベルの　統合をサポート可能 ■既製の製品で対応できる製品をラインアップ ■効率的なソリューションを提案することでコスト、時間を節約 ■強力なサポートを提供 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

企業：ミニサーキットヨコハマ株式会社
価格：応相談

その他電子部品

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ヘリウムリークテストシステム｜HES-2000 series

高精度・高圧測定に最適な「ヘリウムリークテストシステム」真空チャンバ法と大気圧チャンバ法の２種類の計測方式 / ガスリーク

専用機として製作するヘリウム検査装置を、自由度の高い標準システムとしてご提供することで、価格を抑えています。計測方式は真空チャンバ法と大気圧チャンバ法の２種類からお選び頂けます。本体ユニットの標準化により、フルオーダー製品よりも仕様の選択が簡単です。ヘリウムガスの消費量を抑制し、制御するガス回収ユニットをご提案しています。またガス回収ユニットに希釈したヘリウムガスでの検査を可能とするブレンダや高圧測定用の増圧ユニットを組合わせることも可能です。ヘリウムリークテストシステムにエアリークテストを組合わせることで、ヘリウムディテクタに負担がかかりライン停止の原因のひとつとなる大漏れ確認工程の精度を大きく上げることもできます。【特長】 ■様々なワーク、スペックに対応 ■ワーク形状のチャンバにより高精度・高速測定 ■希釈ヘリウムガスも対応可 ■ヘリウムガス回収増圧ユニットあり（オプション） ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

企業：株式会社フクダ
価格：応相談

リーク試験装置
ガス回収/処理装置
ガス検知センサー

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ボンビンググロスファインリークテストシステム｜MSX-7000

超小型パッケージ 1.0 × 0.8 mm、1.2 × 1.0 mm に対応した気密検査装置です

「 MSX-7000 series 」は小型電子部品、水晶振動子、MEMS・光デバイス、各種センサなど、密封パッケージ品の気密検査装置です。新しい機構により、初めて 1.0 × 0.8 mmサイズの検査を実現し、画像処理を用いた位置補正で搬送精度が向上しました。ボンビング、グロス／ファインリークテストを一台で完結できます。【特長】 ■新しい機構により、初めて 1.0 × 0.8 mmサイズの検査を実現 ■画像処理を用いた位置補正で搬送精度向上 ■グロスリーク感度を 8.5×10⁻⁸Pa・m³/s まで高精度化 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

企業：株式会社フクダ
価格：応相談

リーク試験装置
その他計測・記録・測定器
その他検査機器・装置

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ボンビンググロスファインリークテストシステム｜MSX-7003

LED, 光デバイス, 高周波デバイス, パワー半導体, IRセンサなどの比較的大きな電子デバイス品が対象の全自動気密検査装置

【MSX-7003 series】は中型～大型の比較的大きい電子デバイス品を対象とした気密検査装置です。 LED, 光デバイス, 高周波デバイス, パワー半導体, IRセンサ, ジャイロセンサ, 角速度センサ, 電解コンデンサなどの10 mm角以下の電子デバイス品の気密検査が可能です。【MSX-7003 series】はシリーズの最上位機種で、・ヘリウムボンビング・グロスリークテスト・ファインリークテストの３工程を全自動で行う複合型気密検査装置です。インラインにも対応しています（パスラインの高さは 940 mm）他にも、・グロスリークテストのみを目的とした【MSZ-7003 series】・ボンビングとファインリークテストを行う【MHX-7003 series】・ボンビング装置を持たない【MSH-7003 series】など、お客様の用途に合わせたラインナップをご用意しております。実際の装置の動画を、下記のYouTube動画でご覧ください。

企業：株式会社フクダ
価格：応相談

リーク試験装置
その他計測・記録・測定器
その他検査機器・装置

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ASCO オンライン電磁弁テストシステム

運転中の模擬信号による計器の自主検査（インターロック新保安検査基準）のために設計された安全システム用製品

緊急遮断弁のパイロット電磁弁、独自開発バイパスバルブ、作動確認用圧力計で構成され、オンラインでの電磁弁の作動確認や、電磁弁の交換が可能です。専用キーにより、第三者の誤操作を防止できます。また、ポジション切り替え時の誤作動を防止するためのロック機能がついています。スプリングリターン方式で確実に復帰します。電磁弁には安全計装システム(SIS)に最適な直動形3方向電磁弁327シリーズを採用しています。

企業：日本エマソン株式会社 Emersonグループ
価格：応相談

その他

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[開発事例] RFIDテストシステム　-UHF帯ヌル点を解決-

[開発事例] NI アプリケーションコンテスト2007優秀賞 LabVIEWを顧客と共有することで進化し続けるRFIDテスト

乗車カード、電子マネーなどの IC カードのみならず、流通、トレーサビリティなどの用途にも飛躍的に普及している RFID 技術。しかし、この RFID を開発、測定するシステムがなかなか見つからないという課題をT株式会社の担当者様から伺った。

企業：株式会社ペリテック神奈川エンジニアリングセンター、東京営業所、ベトナム事業所
価格：応相談

ＩＣタグ
分析機器・装置
試験機器・装置

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AR/VR/MRグラス性能テストシステム

仮想世界の位置がロボットの位置によってどのように変化するかを、非接触で測定。トラッキングとレイテンシの一貫した検査が可能。

企業：株式会社日本レーザー
価格：応相談

光学測定器

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ファンクションテストシステム

パソコンまたはマイコンを使用して、顧客仕様のファンクションテスタを開発・製造いたします。システムは、制御（電源供給制御、ワーク状態制御）、計測（電圧、電流、周波数等の測定および判定）、通信（コマンド送信、応答チェック）の３つの機能から成り立ちます。また、編集機能により仕様変更・設計変更にも素早く対応します。標準ソフトによって、デバッグも容易になっています。

企業：株式会社ニューリー・土山
価格：応相談

試験機器・装置

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フォギングテストシステム

自動車業界各種メソッドに適合　Horizon Fog Testing Sysytem

ThermoFisherScientific社「Horizon Fog Tesingt System」は、高温環境下において自動車内装材（ゴム・プラスチック・繊維）および建築内装材の添加剤や接着剤等から発生する揮発成分が温度差によりガラス面に付着し、視界を妨げる現象を再現します。揮発物質の物質量およびガラスに付着することによる反射角度を測定することにより、内装材料の評価を行うことが可能です。

企業：エムエス機器株式会社
価格：応相談

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高速パルスI-Lテストシステム　SEC-PL4000-800

高再現安定性

レーザーダイオードを高速パルス駆動してI-L 及びI-Vf 特性を測定する装置です

企業：システム技研株式会社
価格：応相談

その他計測・記録・測定器

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オプティマイズドDCテストシステム

シバソクは、1974年に国内初のリニアテスターを発売以来、常に時代のニーズに合ったICテスターを国内外半導体メーカに納入してきている。今やリニアIC、車載用などの高電圧・大電流デバイスやミックスドシグナル用として国内のトップシェアを誇るWL25/WL27、世界No.1シェアのPDPドライバーICテスターS230など豊富な製品ラインアップを有している。 2007年4月発売のWL05VZは、シバソクが長年培ったこのハードウエア、ソフトウエアの最新技術を投入し開発した革新的なオプティマイズドDCテストシステムである。シバソクは、ボリュームゾーンIC市場にWL05VZで新規参入し、世界ナンバーワンのシェア獲得を目標に掲げている。

企業：株式会社シバソク
価格：応相談

テスタ
半導体検査/試験装置
電圧計

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