【電子機器向け】ウルトラファインリークテストシステム|MUH
小型電子部品の品質管理に貢献!高感度リーク試験で信頼性向上
電子機器業界では、製品の長期的な信頼性を確保するため、部品の気密性が非常に重要です。特に、MEMS部品や小型電子部品においては、微小な漏れが製品の性能劣化や故障につながる可能性があります。MUH-0100シリーズは、これらの課題に対し、高感度のヘリウムリーク検出技術「カプセル蓄積法」を採用し、超微小漏れを測定することで、製品の品質管理を支援します。 【活用シーン】 ・角速度センサ、赤外線イメージセンサなどのMEMS部品の気密検査 ・スマートフォン、キーレススイッチなどの小型電子部品の品質管理 ・製品の長期的な信頼性確保のためのリーク試験 【導入の効果】 ・4×10⁻¹⁵Pa・m³/s (He) までの超微小漏れを検出 ・製品の品質向上と信頼性向上 ・不良品の流出防止によるコスト削減
- 企業:株式会社フクダ
- 価格:応相談