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完全なRF環境シミュレーション！MIMO OVER-THE-AIR (OTA) テストシステムをご紹介！
『Model AMS-8700』は、ワイヤレス・デバイスの放射性能測定を、 再現性の高いシミュレート（模擬）されたマルチパス環境にて行うための ワイヤレステストシステムです。 デュアル偏波アンテナアレイが使用され、ある特定のテクノロジーの コミュニケーションテスト機器から空間チャンネルエミュレータを介して 電波暗室内で接続。 電波暗室は、現実世界の環境において存在する妨害や反射からの隔離を 実現し、試験環境における不要な反射を取り除きます。 【特長】 ■LTE及び802.11n MIMO試験対応 ■レシーブダイバーシティ評価 ■完全なRF環境シミュレーション ■シングルクラスター、マルチクラスター、ユニフォームモデルをサポート ■様々なAoA、ドップラー、ディレイ・スプレッドをサポート ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
試験時間の高速化！リバブレーションチャンバー OVER-THE-AIR (OTA) テストシステムのご紹介
『MODEL AMS-7000』は、正確で、かつ再現性の高いSISO TRP、TIS、 スループット測定を行うワイヤレステストシステムです。 自社で長年培ってきたSMARTシリーズ、リバブレーションチャンバー 技術をベースに、アンテナ測定自動化ソフトウェアであるEMQuestによって 制御されます。 リバブレーションチャンバーのオーバーモード環境は、再現性と正確な 測定のために、DUTの精密な配置などが必要ではないことを意味し、 結果としてセットアップ時間の短縮になります。 【特長】 ■SISO TRP、TIS及びスループット測定に対応 ■MIMOスループット測定に対応 ■CATLラボとのダイレクトな相関性 ■試験時間の高速化 ■EMQuestアンテナ測定ソフトウェアに対応 ■自立式で、カートによる可搬型 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
半導体、電子部品への静電気パルス試験に最適なPXI/PCI試験器。
58154は、半導体デバイス、電子デバイスのテスト中に静電気放電パルスをシミュレートするPXI/PCI制御モジュールです。ESD STM5.1-2001ヒューマンボディモデル（HBM）およびESD STM5.2-1999マシンモデル（MM）に準拠し、JEDEC、JEITA ED-4701といった国内規格にも応用することができます。ソフトウェアを介してシステムをプログラム制御可能で、検査に必要な様々な機能を提供します。例えばウェーハのサンプリングテスト、ESDモデル、ESDパルス極性、シーケンス内のESDパルス間隔、自動テスト機能など、プログラマブルで柔軟な機能を提供します。 58154は、制御モジュールとパルス出力外部ボックスで構成されます。高電圧電源装置（PSU）とパルス生成回路はESD STMに準拠したパルス波形を生成します。 その他のテスタおよびプローバとともに使用することで、トータルなLED・レーザーダイオードテストソリューションとして、生産ラインに最適なシステムです。
コストパフォーマンスに優れたSoC/アナログテストシステム。
3650-EXは、ファブレス、IDM、テストハウスの方々に対して費 用効果の高いソリューションを提供するために、高いスループットと多数マルチサイトテスト能力に対して特別設計されたテスターです。 高機能、高精度、パワフルなソフトウェアツール、及び高信頼性を持つ3650-EXは、コンシューマデバイス、高性能マイクロコントローラ、SoCデバイ スのテストに対して理想的なテスターです。
高機能SoC/Analogテストシステム 優れたマルチメディアオーディオ/ ビデオチップテストを実現
デジタル測定及びアナログ測定基板を24枚実装可能(組合せ自由) 最大データレート150 Mbps 最大512パラレルテスト対応 最大2048デジタルI/Oピン 最大256 MWパターンメモリ(512MWオプション) 最大64チャンネルPMU(高精度DC測定) タイミング測定/DC測定(PPMU)/周波数測定を全ピン装備 最大8G/スキャン (16Gオプション) タイミングエッジ精度 (EPA) : ±150ps 最大128チャンネル DPS(デバイス電源) HDADDA2(デジタイザ/任意波形発生)オプション 高電力HCDPSアナログオプション 高周波測定HDAVOオプション 多チャンネルHDVI、HDRFアナログオプション* ダイレクトプロービングシステム* OS : Microsoft Windows10 プログラム言語 : C#.NET and GUI オペレーションシステム : CRISPro, 他社テスタからのプログラムサポート 他社テスタのテストボードサポート 標準仕様STDFサポート 全機能をテストヘッドに実装 省スペース、空冷システム
タッチパネルを自動操作、スマートフォンのテストにも対応した、組込みソフトテスト自動化システム Quality Commander
Quality Commander は従来人手で行っていた携帯電話・カーナビ・タッチパネル・デジタル家電などの組込みソフトウェアのテストを自動化するシステムです。 ロボットによる確実な操作とカメラを使った正確な画像判定で、人手で行う操作をそのまま自動化します。 Quality Commanderはテスト担当者の視点に立ったやさしい操作性で、 プログラミング経験のない方でもカンタンにテストシナリオが作成できます。 自動評価でテスト作業のムダをなくし、テスト漏れを防ぐことで、「品質向上」「コスト削減」「時間短縮」を実現いたします。
さまざまなサージパルスを生成するように設計！効率的なセットアップと操作が可能
『PSURGE 30.2』は、高エネルギーサージ試験を実行するように 設計されているモジュラーサージテストシステムです。 同梱されている4つのインパルスモジュールはすぐに交換できるため、 当製品をさまざまなアプリケーションに使用可能。パルスモジュールの タイプはシステムソフトウェアによって認識されます。 また、内蔵のマイクロプロセッサ制御ユニットはユーザーインターフェイス として機能し、すべての内部機能を制御します。 【特長】 ■最大4つのパルス形式に対応するモジュール式システム ■最大30kVのパルス電圧、最大30kAのパルス電流 ■自動極性切り替え ■ピーク電圧とピーク電流の監視 ■統合された大型テストキャビン ■リモコンオプション ※ドイツ語版カタログをダウンロードいただけます。 ※詳しくは、お気軽にお問い合わせください。
デジタル・デバイスのテストを低価格で簡単に行えます。
Agilent Medalist i1000D インサーキット･テスタ（ICT）を使用すれば、デジタル・デバイスのテストを低価格で簡単に行え、画期的なデジタル・テストが実現します。 【特徴】 ○Test DeveloperのGUIは使いやすく、経験の浅いユーザでも、 ほんの数日でフィクスチャやプログラムを作成できる ○グラフィカル・インタフェースでは、デジタル･デバッグが簡単 ○VTEP v2.0 Poweredテスト・スイートを付属 ○バウンダリ・スキャン・テスト機能を完備 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
レーザーダイオードの特性を半自動で測定可能な、研究開発用途のデスクトップ型のLDテストシステムです。
研究用のデスクトップタイプのLDテストシステムです。 ＜特長＞ ■ LDの形状によって専用治具を用意可能です。 ■ 測定項目(フロントLIV、λ特性、FFP H,V)を指定温度環境下で1素子を自動 測定可能です。 ■ 長波長(1200-1650nm)向けLD342Lと短波長(400-980nm)向けLD342Sがあ ります。 ■ 低温(-40°C~+100°C)までのLTと常温(20°C~+100°C)までのNTの選択肢が 可能です。 ■ 集光レンズ方式の採用で波長測定の調芯を不要にしました。
通信用LDをターゲットに効率的な構成を実現！LDチップをグリッピング状態で収納でき高速に自動で測定可能。
本装置は長波長(光通信用)レーザーダイオードのベアチップ状態での電気特性、光学特性を高速に自動に測定・選別するLDテストシステムです。 ＜特長＞ ■ ブルーシートに貼りつけたLDチップをグリップリング状態のまま供給か ら測定・分類級までを高速で全自動搬送します。 ■ 測定項目(フロント/バック LIV、λ特性)を2温度環境下で標準項目として測 定可能。 ■ -40°C~+95°Cまでの任意の温度で測定選別が可能。 ■ FRONT光、BACK光の同時にIL測定が可能。 ■ チップの位置決め方法としてSHゲージング方式を採用。 ■ 集光レンズ方式の採用で波長測定の調心時間をゼロにしました。 ■ 最大13台のカメラで各ポジションでのLDチップの有無、状態をモニタリング。 運転状況の把握、各部の調整が容易に可能。 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
予備試験なしで正確度+/-0.1km/hのスピードを満たすことができます！
FronToneのE-Liner FMH NGは電子駆動車両インテリア用ヘッドインパクトシステムです。 ＜特長＞ ■24.5km/hの試験スピードまで継続的に調整可能 ■力の加わらない加速により、正確な目標定め ■試験マトリックス不要 ■予備試験不要 ■床上の接続不要 ■6軸産業ロボットを使って便利で正確なポジショニング ■1日で試用準備可能（レンタルの場合） ■摩擦なしのドライブユニットのおかげで基本的にメンテンナンスフリー ■圧力容器なし ■リバウンドはヘッド加速バーの素早いプルバックによって安全 詳細はお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
予備試験なしで正確度+/-0.1km/hのスピード条件を満たすことができます
FronToneのE-Liner PED HEADはモバイル車両安全テスト性能用の電子駆動テストシステムです。 予備試験なしで正確度+/-0.1km/hのテストスピード条件を満たすことができます。 ＜特長＞ ■試験マトリックス不要 ■予備試験不要 ■快適な試験法 ■簡単で使いやすい操作インターフェース ■摩擦なしのドライブユニットのおかげで基本的にメンテンナンスフリー ■移動可能 ■室内での取付に最適です（0℃～+60℃） ■1～42.0km/hの試験スピードまで継続的に調整可能 ■動的な歩行者保護テスト中に最高の精度（エアバック試験、アクティブなボンネット試験） ■トリガーの正確度<1ms ■圧力容器なし 詳細はお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
E-Liner世界初のモバイル車両テスト性能用の電子駆動テストシステム
FrontoneのE-Linerシステムのみが予備試験なしで 正確度+/-0.1km/ｈのテストスピード条件を満たすことができます。
半導体テスト アーキテクツ
Semicondcutor Reliability Test, Advanced Device Reliability, Power Device Reliability
ITU-T P.1140、緊急通報（eCall）デバイス（狭帯域）の音声品質テストシステムです。
自動車事故が発生した場合、緊急通報システムはハンズフリーで緊急通報センターに自動発呼します。クルマと応答サービス間の最適な通話品質を確保する為に、ITU-TはITU-T 勧告P.1140で、クルマからの発信されるハンズフリー緊急通報を包括的にテストする方法を規定しています。HEAD acousticsは、ACQUA標準規格P.1140-NBとして狭帯域（NB）通話の為のテストを製品化しました。 ACQUA標準は、CEN EN 17240:2024（CTP 1.1.15.1）で参照されているITU-T 勧告P.1140（07/2022）の狭帯域パートに基づいた評価ツールを提供します。 さらに、ITU-T 勧告P.1140（06/2015）を参照している国連規則第144号（ECE/TRANS/WP.29/2017/132）に基づいた評価ツールを提供します。
5G向けデバイスのテストを高速化。ミリ波帯周波数のテストや、OTAテストなど、高信頼のテスト環境を構築可能
5Gを活用した通信サービスが本格的に始まるのに伴い 5G向けデバイスの開発には、短時間で多くのテストを行う必要があります。 当社は、NI社の『5G テストソリューション』を提供しており 高効率・高信頼のテスト環境の構築に貢献いたします。 【ソリューション例】 ■「5G mmWave Test System」 ミリ波に対応した信号の送受信モジュールとスイッチ等を組み合わせ ニーズに応じたテストシステムを構築。高速で5Gの信号生成・解析が可能です。 ■「OTA Validation Reference System」 PXIの高速バスを活かしたテストシステムで、OTAテストを高速化。 従来より約6倍速くテストを完了した実績があります。 ■開発済みソフトウェアの活用 開発済みの計測・制御ソフトや取得したデータの解析ソフトなどを多数ご用意。 テスト環境の開発期間を大幅に短縮できます。 ■ハードウェア カスタマイズ可能なプラットフォームベース、PXIシリーズのテストソリューションを提供。 複数のテスト機器環境をスムーズに連動し、複雑な5Gの環境を容易にテストできます。
NAVIシステム内に搭載されたジャイロセンサからの出力データが取得できます！
『NAVI Turn Table』は、燃費改善のために採用が広がっている ナビゲーション情報を活用した協調制御のテスト用システムです。 お客様のシミュレーションによるNAVI搭載位置のヨー角、ピッチ角計算値を 入力することで、実走行時のNAVIシステムのヨーイング・ピッチング挙動を リアルタイムに模擬することが可能。 NAVIシステム内に搭載されたジャイロセンサからの出力データが取得でき、 NAVI協調制御の仮想テスト環境を構築することができます。 【特長】 ■NAVI協調制御の開発における仮想テスト環境を構築できる ■走行中のNAVI本体のヨーイング・ピッチング挙動を再現し、 NAVI内のジャイロセンサ出力データをリアルタイムに取得 ■Yaw 可動範囲（標準）＝±360 [deg], 最高角速度＝ 30 [deg/s] ■Pitch 可動範囲（標準）＝±15 [deg], 最高角速度＝ 30 [deg/s] ■1DIN/2DIN インダッシュタイプのNAVIを搭載可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
I-L/I-V測定やFFP(Far Field Pattern)測定、偏光比測定などを行えます
福興システムの取り扱う『レーザーダイオードテストシステム』について ご紹介します。 当製品は、I-L/I-V測定をはじめ、Spectrum測定や FFP(Far Field Pattern)測定、偏光比測定などを行うことが可能。 操作はメニュー方式による対話型となります。 また、表示部は5.6インチLCDとなっております。 【以下の測定が可能】 (1) I-L/I-V測定 (2) FFP (Far Field Pattern)測定 (3) Spectrum測定 ※光スペクトラムアナライザが必要 (4) 偏光比測定 (5) (1)～(4)の温度依存性評価 (6) (2)、(3)、(4)の光出力/駆動電流依存性評価 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
I-L/I-V 測定や波長測定などに！簡単な位置決め操作によりバー上のLD チップを自動的に測定します
福興システムの取り扱う『レーザーダイオードバーテストシステム』について ご紹介します。 簡単な位置決め操作によりバー上のLD チップを自動的に測定することが 可能。表示部は、7セグメントLEDおよびLCDとなっており、操作は メニュー方式による対話型です。 その他詳細は、お問い合わせください。 【レーザーダイオード(LD)の特性評価に必要な以下の測定が可能】 (1) I-L/I-V 測定 (2) 波長測定 ※光スペクトラムアナライザまたは分光器が必要 (3) (1)～(2)の温度依存性評価 (4) (2)の光出力/駆動電流依存性評価 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
様々なレベルの統合をサポート可能！効率的なソリューションでお客様のコスト、時間を節約
効果よくHTOL テストを行うには、多数のユニットを同時にテストする ことが望まれ、これには、重要なスプリッター損失を克服するために使用 される高出力信号ソースを使用して、多数のチャネルにテスト信号を配信 できるシステムが必要です。 当社は、多数のハイパワーアンプを所有しお客様へ『HTOL システム』を ご提供可能。 コンポーネントから完全な統合ラックシステムまで、様々なレベルの統合を サポートでき、効率的なソリューションを提案することでお客様のコスト、 時間を節約します。 【特長】 ■コンポーネントから完全な統合ラックシステムまで、様々なレベルの 統合をサポート可能 ■既製の製品で対応できる製品をラインアップ ■効率的なソリューションを提案することでコスト、時間を節約 ■強力なサポートを提供 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
高精度・高圧測定に最適な「ヘリウムリークテストシステム」 真空チャンバ法と大気圧チャンバ法の２種類の計測方式 / ガスリーク
専用機として製作するヘリウム検査装置を、自由度の高い標準システムとしてご提供することで、価格を抑えています。 計測方式は真空チャンバ法と大気圧チャンバ法の２種類からお選び頂けます。 本体ユニットの標準化により、フルオーダー製品よりも仕様の選択が簡単です。 ヘリウムガスの消費量を抑制し、制御するガス回収ユニットをご提案しています。またガス回収ユニットに希釈したヘリウムガスでの検査を可能とするブレンダや高圧測定用の増圧ユニットを組合わせることも可能です。 ヘリウムリークテストシステムにエアリークテストを組合わせることで、ヘリウムディテクタに負担がかかりライン停止の原因のひとつとなる大漏れ確認工程の精度を大きく上げることもできます。 【特長】 ■様々なワーク、スペックに対応 ■ワーク形状のチャンバにより高精度・高速測定 ■希釈ヘリウムガスも対応可 ■ヘリウムガス回収増圧ユニットあり（オプション） ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
超小型パッケージ 1.0 × 0.8 mm、1.2 × 1.0 mm に対応した気密検査装置です
「 MSX-7000 series 」は小型電子部品、水晶振動子、MEMS・光デバイス、各種センサなど、密封パッケージ品の気密検査装置です。 新しい機構により、初めて 1.0 × 0.8 mmサイズの検査を実現し、画像処理を用いた位置補正で搬送精度が向上しました。 ボンビング、グロス／ファインリークテストを一台で完結できます。 【特長】 ■新しい機構により、初めて 1.0 × 0.8 mmサイズの検査を実現 ■画像処理を用いた位置補正で搬送精度向上 ■グロスリーク感度を 8.5×10⁻⁸Pa・m³/s まで高精度化 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
LED, 光デバイス, 高周波デバイス, パワー半導体, IRセンサ などの比較的大きな電子デバイス品が対象の全自動気密検査装置
【MSX-7003 series】は中型～大型の比較的大きい電子デバイス品を対象とした気密検査装置です。 LED, 光デバイス, 高周波デバイス, パワー半導体, IRセンサ, ジャイロセンサ, 角速度センサ, 電解コンデンサ などの10 mm角以下の電子デバイス品の気密検査が可能です。 【MSX-7003 series】はシリーズの最上位機種で、 ・ヘリウムボンビング ・グロスリークテスト ・ファインリークテスト の３工程を全自動で行う複合型気密検査装置です。 インラインにも対応しています（パスラインの高さは 940 mm） 他にも、 ・グロスリークテストのみを目的とした【MSZ-7003 series】 ・ボンビングとファインリークテストを行う【MHX-7003 series】 ・ボンビング装置を持たない【MSH-7003 series】 など、お客様の用途に合わせたラインナップをご用意しております。 実際の装置の動画を、下記のYouTube動画でご覧ください。
運転中の模擬信号による計器の自主検査（インターロック新保安検査基準）のために設計された安全システム用製品
緊急遮断弁のパイロット電磁弁、独自開発バイパスバルブ、作動確認用圧力計で構成され、オンラインでの電磁弁の作動確認や、電磁弁の交換が可能です。専用キーにより、第三者の誤操作を防止できます。また、ポジション切り替え時の誤作動を防止するためのロック機能がついています。スプリングリターン方式で確実に復帰します。電磁弁には安全計装システム(SIS)に最適な直動形3方向電磁弁327シリーズを採用しています。
![[開発事例] RFIDテストシステム -UHF帯ヌル点を解決-](https://image.mono.ipros.com/public/product/image/fd7/260049/IPROS_17446819669983183000.jpg?w=280&h=280)
[開発事例] NI アプリケーションコンテスト2007優秀賞 LabVIEWを顧客と共有することで進化し続けるRFIDテスト
乗車カード、電子マネーなどの IC カードのみならず、流通、トレーサビリティなどの用途にも飛躍的に普及している RFID 技術。しかし、この RFID を開発、測定するシステムがなかなか見つからないという課題をT株式会社の担当者様から伺った。
AR/VR/MRグラス 性能テストシステム
仮想世界の位置がロボットの位置によってどのように変化するかを、非接触で測定。トラッキングとレイテンシの一貫した検査が可能。
ファンクションテストシステム
パソコンまたはマイコンを使用して、顧客仕様のファンクションテスタを開発・製造いたします。システムは、制御（電源供給制御、ワーク状態制御）、計測（電圧、電流、周波数等の測定および判定）、通信（コマンド送信、応答チェック）の３つの機能から成り立ちます。また、編集機能により仕様変更・設計変更にも素早く対応します。標準ソフトによって、デバッグも容易になっています。
自動車業界各種メソッドに適合 Horizon Fog Testing Sysytem
ThermoFisherScientific社「Horizon Fog Tesingt System」は、高温環境下において自動車内装材（ゴム・プラスチック・繊維）および建築内装材の添加剤や接着剤等から発生する揮発成分が温度差によりガラス面に付着し、視界を妨げる現象を再現します。 揮発物質の物質量およびガラスに付着することによる反射角度を測定することにより、内装材料の評価を行うことが可能です。
高再現安定性
レーザーダイオードを高速パルス駆動してI-L 及びI-Vf 特性を測定する装置です
オプティマイズドDCテストシステム
シバソクは、1974年に国内初のリニアテスターを発売以来、常に時代のニーズに合ったICテスターを国内外半導体メーカに納入してきている。今やリニアIC、車載用などの高電圧・大電流デバイスやミックスドシグナル用として国内のトップシェアを誇るWL25/WL27、世界No.1シェアのPDPドライバーICテスターS230など豊富な製品ラインアップを有している。 2007年4月発売のWL05VZは、シバソクが長年培ったこのハードウエア、ソフトウエアの最新技術を投入し開発した革新的なオプティマイズドDCテストシステムである。シバソクは、ボリュームゾーンIC市場にWL05VZで新規参入し、世界ナンバーワンのシェア獲得を目標に掲げている。
