ワイヤーボンディング画像検査（ＡＯＩ：Ｓ６０５３ＢＯ−Ｖ）
ボンド検査用の自動光学検査システム
ダイボンド、ボール・ウエッジ、ウエッジ、セキュリティーボンドの欠陥を確実に検出する高精度検査
- 企業：イーグローバレッジ株式会社 ＭＩ本部
- 価格：応相談
検査 - メーカー・企業45社の製品一覧とランキング
更新日： 集計期間:2025年06月25日～2025年07月22日
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検査のメーカー・企業ランキング
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- 株式会社つくば食品評価センター 茨城県/試験・分析・測定 プリマハムグループ
- ビジョンバイオ株式会社 福岡県/試験・分析・測定
- フォス･ジャパン株式会社 東京都/試験・分析・測定
- 4 JNC株式会社 東京都/その他
- 5 株式会社ＨＡＣＡＲＵＳ 京都府/その他
検査の製品ランキング
更新日： 集計期間:2025年06月25日～2025年07月22日
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- アレルゲンのふき取り検査に！『アレルゲンアイクイック』 株式会社つくば食品評価センター プリマハムグループ
- 食品のアレルゲン検査に！『アレルゲンアイ イムノクロマト加熱用』 株式会社つくば食品評価センター プリマハムグループ
- 乳中残留抗生物質簡易スクリーニング検査『チャームDIPテスト』 フォス･ジャパン株式会社
- 4 噛み込み検査装置・外観検査装置 ※AIを使った高精度検査を実現 三友工業株式会社
- 5 NIR錠剤検査装置 透過型・全数内部検査 アンリツ株式会社 インフィビスカンパニー 医薬品事業本部
検査の製品一覧
31～45 件を表示 ／ 全 583 件
表示件数
コンパクトＸ線検査（ＭＸＩ＋ＣＴ：Ｘ８０１１）
多くの検査課題に対応するインライン化可能なX線検査システム
新規で複雑なテクノロジーは、隠れた微小構造の視覚化に適した検査方法を必要とします。 ＜動画で確認頂けます：Ｘ８０６０＞ http://www.youtube.com/watch?v=nMBK5ZLg8c4
- 企業：イーグローバレッジ株式会社 ＭＩ本部
- 価格：応相談
汎用画像検査（ＡＯＩ：Ｓ３０８８−ｆｌｅｘ）
フレキシブルなAOI(自動光学式検査)
Viscom S3088-flex は小・中規模の電子生産において自動光学画像検査に対する市場要求を満たしています。 Viscom S3088システムはペースト印刷や実装、ハンダ結合部の欠陥を安全且つ確実に検出します。 S3088-flex は厳しいサイクルタイム要求を満たす高性能 Viscom 8M センサーテクノロジーを採用しています。オンデマンドＨＲ (ハイレゾリューション)機能を使って、 23.4 あるいは11.7 um/ピクセルに解像度を切り替えることができるため、将来的にもあらゆる要求に対応します。しかもフル画像サイズで高解像度を実現します。この検査システムでは更に、カラー評価も可能です。
- 企業：イーグローバレッジ株式会社 ＭＩ本部
- 価格：応相談
高速３Ｄ画像検査（ＡＯＩ：Ｓ３０８８−ｕｌｔｒａ）
高速 3D-AOI(自動光学式検査)
近年エレクトロニクス製品の生産は目覚ましい発展を遂げています。回路基板設計は一段と複雑化し、コンポーネントの小型化が進んでいます。人間の視覚に頼る目視検査では確実な品質検査はもはやほぼ不可能です。安全性に関わる製品の製造においては特に、ゼロ欠陥戦略と呼ばれる要求を満たさなければなりません。 Viscom検査システムは、高性能カメラモジュールを採用し、その大半は自社製造品です。多色照明に加えて、テストサンプルを異なる角度から観察することが可能なため、三次元特徴も確実に識別できます。Viscom検査システムは優れた搬送コンセプトやインテリジェントなイメージ処理と相まって、微細なハンダ結合部、実装あるいはハンダペーストの検査等、ごく短時間のサイクルタイムで最高レベルの検査精度を確保します。ワイヤーボンディングや透明タイプの保護コーティングに関しても、多様な欠陥特性を確実に検査します。
- 企業：イーグローバレッジ株式会社 ＭＩ本部
- 価格：応相談
LED検査装置 発光チップの外観検査 DTLED－３５０
まぶしくて見えないチップ欠損及び低輝度チップを高速センサーカメラで検出
DTLED－３５０は、目視ではまぶしくて見えない、マルチダイスLEDモジュールのチップ欠損及び低輝度チップを高速ラインセンサーカメラにて検出できる発光チップの外観検査です。LEDモジュールを検査台に載せてスタートボタンを押すだけで簡単に高精度な検査が可能です。UVLEDにも対応しています。 詳しくはお問い合わせください。
- 企業：ディスク・テック株式会社 本社
- 価格：応相談
【コラム】タップ未加工品検査の重要性について
「タップ未加工品」の発生を防ぐことの重要性を理解できていますか？※解説資料を進呈中
タップ加工の現場においては、「タップ未加工品」の発生を防ぐことがとても重要です。 未加工品がお客様先に納入され、エンドユーザーの手に渡ってしまう事で、 取り返しのつかないトラブル・事故に繋がる危険性があるからです。 しかし、タップ未加工の検査を重要視している会社は、まだまだ少ないのが現状です。 タップ穴の加工漏れは、プログラングミスや刃具等の不具合で発生することが大半で・・・（続きは資料の中でご紹介！） ※この続きは、「タップ未加工流出の根本解決書」をダウンロードしてご覧ください。
- 企業：株式会社マイクロフィックス
- 価格：応相談
デジプロ検査
大量の紙検査成績表はもういらない！品質記録をデジタル化へ！
○品質情報のデジタル化により、記録、保管、参照の効率アップ↑ ○品質記録のペーパーレス化 ○検査ポイントのマスタ登録により、品質の均一化へ ○Webカメラで、検査対象をらくらく撮影
- 企業：株式会社アドレック
- 価格：応相談
品質検査、組み立て、梱包から配送まで。トータルサポート致します！
精密部品や検査機器の品質検査、組み立て、梱包から配送まで請け負います！
精密部品の外観検査や海外生産品を国内基準での検査、各種機器の組み立てだけではなく製品のトレイ詰め、箱詰め作業員数確認など細かい工程で貴社のお手伝いを致します。また、３０年の経験を生かし低価格・高品質を提供している「製造工程のアウトソーシング」も承ります！
- 企業：株式会社田所製作所
- 価格：応相談
加工部品の検査・測定1個から対応！【評価・測定/検査サービス】
お困りの案件について、画像測定器や三次元測定機を用いり、正確に測定致します。
あらゆる試作部品は、お客様の要求する規定寸法内に収め、細部に渡る検証を経てはじめて製品としての価値が生まれると言えます。 弊社では、製作プロセスにおいて随時、汎用検査用具（ノギス、ゲージなど）によって検査を実施することはもちろん、 社内の独立した検査部門にて、精密測定機を用いた測定を実施。精度保証や検査データの提供を行っています。 また社内工程へのフィードバックにも活用し不具合情報の把握、発生原因の究明等に用いるなど、つねに品質の改善や向上に結びつくよう努めています。 こうした不適合品をつくらない活動、流出を未然に防止する活動、双方の取り組みを通じて、今後ともサービス全体のクオリティ向上に取組んで参ります。 【特徴】 ■検査データを納品時にお渡しする品質保証 ■３次元測定機による測定 ■寸法測定のみのサービス ■リバースエンジニアリング ※詳しくはダウンロード、もしくはお問い合わせください。
- 企業：株式会社アートウインズ
- 価格：応相談
放射線検査＜鋼構造物＞
放射線の進行方向に奥行きのある内部欠陥を検出！平面位置の特定が可能です
『放射線検査（Radiographic testing）』は、金属材料及び非金属材料に 適用できる検査方法です。 鋼溶接部などの試験体に放射線（X線）を照射すると、溶接内部のきずのある 部分は、健全部よりも多く透過。そのX線をフィルム等の感光材料で受けて 現像処理すれば、きずは健全部よりもフィルム上では黒く写ります。 この濃度差できずの有無を判断します。 装置は携帯式のため、様々な現場作業に対応可能です。 【特長】 ■濃度差できずの有無を判断 ■放射線の進行方向に奥行きのある内部欠陥を検出しやすい ■平面位置の特定ができる ■装置は携帯式のため、様々な現場作業に対応可能 ■放射線に対する安全管理が必要 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：計測検査株式会社
- 価格：応相談
磁粉探傷検査
きず部分に磁粉が吸着しきずが拡大！強磁性体に適応できる検査方法をご紹介
『磁粉探傷検査（Magnetic Particle Testing）』は、強磁性材料の 表面近傍のきず検出に適した検査方法です。 表面及び表面直下の比較的浅い部分に割れなどのきずがある試験体を磁化した 場合、そのきずから磁束が漏洩し磁極が生じます。 そこへ、試験体表面に磁粉を散布すると、きず部分に磁粉が吸着しきずが 拡大され、検出を容易にします。 【特長】 ■強磁性体のみに適応できる ■表面きずに有効 ■割れ状きずに対して有効的な検査方法 ■屋外や暗所に出来ないような場所では、ブラックライトを使用しない 色磁粉（白、黒等）を使用 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：計測検査株式会社
- 価格：応相談
超音波探傷検査『垂直探傷法』
探傷面に垂直に進行する超音波を用いて探傷！試験体の片側だけからの検査が可能
『垂直探傷法』は、素材、製品などを破壊せずに、きずの有無、位置、大きさ、 形状、分布状態などを調べる超音波探傷試験における探傷方法の一つで、 探傷面に垂直に進行する超音波を用いて探傷する方法です。 きずの厚さ方向の位置を正確に求めることが可能。また反射法を利用している ので、試験体の片側だけからの検査が行えます。 検査可能な厚さの上限が大きく、鋼では3～5mの範囲でも検査でき、炭素鋼、 ステンレス鋼など様々な材質を対象としています。 【特長】 ■素材や製品を破壊せずに、きずの有無や大きさなどを調べる ■探傷面に垂直に進行する超音波を用いて探傷する ■面状きずの検出能力が高い ■きずの厚さ方向の位置を正確に求めることができる ■検査可能な厚さの上限が大きく、鋼では3～5mの範囲でも検査可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：計測検査株式会社
- 価格：応相談
検査装置 塗装色むら等欠点自動検査
多種多様な欠点検査を自動で行えます
回避することが難しい検査員毎の検査結果のバラツキを極力無くし、安定した検査が行えます。少ない人員でも全数検査及び、最大12000ピクセルの解像度を利用して、広視野かつ高分解能の検査が可能です。 液晶パネル用部材やガラスの塗布ムラの検査を自動的に行うシステムです。 生産ラインにおいて、多種多様な欠点検査を自動で行います。 液晶用カラーフィルター、着色ガラス等の塗布ムラ検査を自動的に行うシステムです。
- 企業：パシフィックシステム株式会社
- 価格：応相談
非破壊解析・非破壊検査（ロックインサーモグラフィ、超音波探傷）
ロックイン赤外線発熱解析、3D-X線透視解析、超音波探査（SAT）等から最適な非破壊解析を選択し、異常箇所を絞込みます。
非破壊解析では故障発生状況を把握し、外観観察と電気特性から故障メカニズムを推測します。 ロックイン赤外線発熱解析 非破壊にて難しい位置特定が求められた際、発熱に注目し良品と比較する方法が有効です。 ・実装基板など、異常現象に関連する部品が複数ある ・ショート箇所が部品の内部なのか、半田接続部など外部なのか不明 【事例】 ■チップコンデンサ ■電源IC ■プリント基板 超音波探傷（SAT） IC内部の剥離を見ることは知られていますが、複数材料で構成された物の状態確認にも適しています。 【事例】 ■化粧パネルの貼り合わせ部 ■アルミヒートシンク接合部 ■ダイカスト製品の内部 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：ユーロフィンFQL株式会社
- 価格：応相談
人事改善向け適性検査 CUBIC
CUBICは、日本人の人事改善向けに作成された適性検査です。
CUBICとは、 ・ 過去20年にわたるノウハウ ・ 3,000社以上の導入実績 ・ 日本人の人事改善向けに作成 ・ 検査時間は最短20分 ができる、人事の特効薬です。
- 企業：株式会社フォイス
- 価格：応相談
