更新日： 集計期間:2025年10月08日～2025年11月04日
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真空紫外域の透過・吸光測定を行うことが可能な真空紫外域用システムをご用意
一般的に200～300nmの波長帯域は深紫外(Deep Ultra Violet: DUV)域と 分類されますが、さらに短波長側の200nm以下の波長は 真空紫外(Vacuum Ultra Violet: VUV)域と分類されます。 真空紫外域は酸素分子・窒素分子による吸収がある波長帯域のため、 大気中での測定は困難です。 そこで、当社では真空紫外(VUV)域用にシステムをご用意。 お持ちの真空チャンバーやグローブボックス内にシステムを設置し、 真空紫外域の透過・吸光測定を行うことが可能です。 分光器のみ使用し真空紫外光の発光測定を行うこともできます。 【紹介製品】 ■真空紫外域(VUV域)用透過・吸光測定システム「OP-VUV-TR」 ※詳しくは外部リンクページをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
標準作業組合せ票・工程別能力表が即座に作成でき、作業画像も同時に保存
事前に作業画像をＰＣに取込んで頂く必要はありますが、ソフト上で再生しマウスをクリックすれば各要素作業に対する時間値が取得出来ます。サンプリング機能を使用すれば各要素作業の平均値もこのソフト上で求めます。ここまで完了すればあとは標準作業組合せ票・工程別能力表等の帳票はソフトが書いてくれます。画像も一緒にＰＣ上に保存しておけばいつでも作業指導・改善検討や改善前後の確認が実施出来ます。２画面機能を使って改善事例発表会に臨んで下さい。
供試品より放射される不要輻射のノイズ強度を測定・評価するシステム！
●CISPR、EN、VCCI、FCC規格など各種規格に準拠したシステムのご提案ができます。 ●測定を行う際のオプション（アンテナ昇降機、ターンテーブル、測定用木製テーブル、ＧＮＤプレーン等）を豊富に取り揃えています。 ●安価な簡易測定システムのご提案ができます。 ●測定環境から機器・冶具・校正まで一貫したサービスのご提案ができます。
供試品に接続されたケーブルからの妨害電力の強度を測定・評価するシステム！
●ＣＩＳＰＲ， ＥＮ規格など各種規格に準拠したシステムのご提案ができます。 ●安価な簡易測定システムのご提案ができます。 ●測定環境から機器・冶具・校正まで一貫したサービスのご提供ができます。
車載電子機器用のEMCシステム
● CISPR12､ CISPR25､ R10、SAE J1113-41、JASO D002-1、JASO D008、各社メーカー規格に対応したシステム
安価なスペクトラムアナライザを使用する事でリーズナブルにシステムを導入可能！
本システムは雑音端子電圧測定システムで使用するEMIレシーバーを スペクトラムアナライザにすることで、簡易的に雑音端子電圧の 測定ができるシステムです。 シールドルーム内に設置された供試品からの伝導性ノイズを擬似電源回路網で 検出し、スペクトラムアナライザで周波数および強度を測定します。 【特長】 ■CISPR、VCCI規格など各種規格の雑音端子電圧測定が簡易的に可能 ■簡易での雑音端子電圧測定がローコストでできる ■ソフトウェア制御で操作が簡単 ■初心者の方でも簡単にセットアップから測定までできる手順書つき ■グラウンドプレーン、測定テーブルなどオプションも用意 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
従来手間のかかっていた悪臭分析が、誰にでも簡単に行える ようになり、作業効率が数段あがります
悪臭防止法に基づく悪臭物質の測定を自動で行うシステムです。 トラップ管への濃縮・加熱脱着からGCへの導入、データ処理に至るまでの行程を 全自動で行います
メタネーション、合成燃料、FT合成等、様々な触媒評価のオンライン分析に対応します。
・サンプラーは高温対応可能(～300℃)で、沸点が数100度の高沸点炭化水素もオンラインで測定可能。 ・保温サンプラー＋自動ガスクロの組み合わせで数10％等高濃度の水分（H2O）もオンラインで測定可能。 ・触媒反応装置、分析装置が同一メーカーで対応可能。 ・カラム径の細い高速TCDを用いる(AG-2)ためキャリアガスの消費が少ない。 ・炎光光度型検出器（FPD）を搭載すると微量のS化合物等の測定も可能。
主に半導体ウェハーメーカー、半導体ウェハー再生メーカー、半導体デバイスメーカー様にご採用いただいております
当社では、E+H metrology GmbH製の「ウェハーフラットネス測定システム」を 取り扱っております。 測定項目は、ウェハー厚み(Thickness)Waviness, Saw markで、 ウェハー表面粗さ,Nano topographyです。 主に半導体ウェハーメーカーや、半導体ウェハー再生メーカー、 半導体デバイスメーカー様にご採用いただいております。 【測定項目】 ■Wafer形状 ・ウェハー厚み(Thickness) Waviness, Saw mark ・ウェハー表面粗さ,Nano topography ■電気特性(ウェハー抵抗値、シート抵抗、P/N判定) ※詳しくはPDF(英語版)をダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
SEA、FEMで計算を行う各種CAEソフトウェア等で必要となるヤング率、せん断弾性率を測定
弾性率測定システムは、多孔質弾性体の音響特性を特徴付けるBiot(ビオ)モデルの材料パラメータのうち、弾性に関するパラメータである「ヤング率」、「せん断弾性率」を測定するシステムです。
1本の音響管で主要な周波数帯域の吸音率・透過損失を測定！
主要な周波数帯域(100Hz～5000Hz)の吸音率・透過損失を、単一の音響管を用いて一度に測定することができます。異なるサイズの音響管とサンプルによる複数回の測定の必要がないため、データの不整合が起こらず、サンプルの用意(切り出し)や測定にかかる工数も大幅に削減できます。
分光器からソフトウェア、顕微鏡まで組合せ自由な膜厚測定システム。
オプトシリウスがご提案する膜厚測定システムは、オーシャンオプティクス社の分光器、光源、反射プローブ等に、協業メーカーの分光干渉膜厚測定ソフトウェアを組み合わせたオリジナルシステムです。
薄膜プロセス中の製品の温度測定用に専用設計された温度測定システム
フルーク・プロセス・インスツルメンツ社（旧社名Datapaq、データパック）の成膜プロセス・真空プロセス専用の温度測定システムは、温度データロガーを熱から守る専用設計耐熱ケースを使用することで成膜装置内に投入することが可能です。真空での使用に特化することで耐熱ケースの小型化に成功し、既存品の耐熱ケースでは寸法的な制約から使用することができなかった様々な成膜装置での製品温度測定を実現します。データロガーDP5シリーズはユーザーによる電池交換が可能になり、TCOの削減・ダウンタイムの最小化を実現しました。
LED測定システム
分光分析は食品、飲み物、製薬、織物、化学、石油化学、生物化学、宇宙科学など多様な産業分野で使われています。これらは、ほんの一例です。アヴァンテス社はお客様のご要望に応じた測定の提供を常に心掛けております。このような広範な産業分野のお客様を助けるため、色測定、分光放射測定、吸光度測定、透過率測定、反射率測定、膜厚測定、プロセスコントロール、ラマン分光などの測定技術を開発しました。 アヴァンテス社では、マルチチャンネル分光器を中心に多くのアクセサリー、OEM用部品などお客様のトータルサポートを提供いたします。また、新しいアプリケーションなどによりシステム、ソフトウェアのカスタマイズも可能です。アヴァンテス社のアプリケーションと機械工学の知識が、優れた顧客満足の提供をし続けることを可能にしました。
分光放射照度測定をはじめ、多様なアプリケーションにお応え致します
■ 物質、屈折率、消衰係数を入力するだけで、簡単に膜厚測定が可能 ■ 膜厚範囲：10nm〜 ■ 真空チャンバー中でのモニタリングも可能 ■ 測定項目の径時変化測定により、コーティング過程モニタリングが可能
