更新日： 集計期間:2025年03月26日～2025年04月22日
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コギングがなく測定したい、高速回転数で測定したい、中空軸で測定したい。そんな特殊な測定にぴったりのモータです。＃測定
【コアレスモータ総合カタログ】 ＊モータ取扱い品目＊ ●ブラシレスモータ 回転子側に永久磁石を使用したコアレスブラシレスモータ ●ギヤードモータ コアレスモータの最大の特徴である、【高速回転】を最大限に生かせるアプリケーション。 ●DCファンモータ ５V 12V駆動の小型DCファンモータ 【各種カタログ】 ◇ブラシレスモータカタログ ◇ギヤードモータカタログ ◇DCファンモータカタログ DCファンモータは、以下の測定器で使用されるケースがあるようです。 （使用しない場合もございます） 三次元測定器 分布測定器 自動測定器 粘弾性測定器 熱伝導率測定器 配光測定器 物質測定器 粒子測定器 融点測定器 誘電率測定器 スペクトル測定器 水分活性測定器 摩耗測定器 間接熱量測定器 デジタル比色測定器 流動性測定器
【動画公開】非破壊で樹脂・アルミダイカスト等製品の内部形状観察や内部寸法を計測可能。ご要望に応じ各種測定データをご提供します。
『XDimensus 300』は、非破壊で内部形状の可視化に加え、計測が可能な 計測用X線CTシステムです。 測定最大サイズは、φ300mm×H210mm。3次元測定機で測定が難しい内部形状 測定の際に有効で、内部構造、内部欠陥の観察・解析などの計測が行なえます。 また、関連リンクより動画をご覧いただけます。こんなモノ・コトでも 対応できるの？などご不明点が有りましたら、是非お問合せ下さい。 【特長】 ■非破壊で内部形状の可視化に加え、計測が可能 ■3次元測定機で測定が難しい内部形状測定の際に有効(例：アンダー形状) ■内部構造、内部欠陥の観察・解析などの計測が可能 (例：ASSY品の不具合発生時の内部解析等) ■測定最大サイズ：φ300mm×H210mm ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 お問い合わせの際は下記、関連リンク(お問い合わせフォーム)からご連絡をお願いいたします。
精密な測定データをご提供致します。寸法測定・3Dデータ化・図面化・リバースエンジニアリングを当社一貫して対応しております。
部品が古く『図面が無い』『図面が古くデータが無い』といった お悩みはありませんか？？ 当社が設備する『計測用X線CT』と『レーザースキャン』システムを活用し、3Dデータ化・図面化を対応いたします。 また寸法測定では、お客様からお預かりした製品を当社にて測定⇒精密な 測定データをご提供致します。 『測定が難しい案件』『部品はあるけど、データが無い』といった際など、なんでもご相談下さい。 【解決事例】 ■寸法測定 ・成形品の測定 ＜三次元測定機使用＞ ・ASSY品(金属+樹脂)の測定＜X線CT使用＞ ・検査キャパのフォロー ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 お問い合わせの際は下記、関連リンク(お問い合わせフォーム)からご連絡をお願いいたします。
最短半日見積り／プラスチック、ゴムなどの柔らかい製品測定には非接触型測定機で変形させずに計測が可能です。
樹脂、プラスチック、ゴム等の柔らかい製品は ノギス等で挟んで測定しようとしても変形したりして ‟測定が難しい” です。 測定者によっても誤差が生じます。特にゴム製のOリングはその代表例です。 当社では、そういった際、非接触型の測定器を使用しています。 画像寸法測定器（キーエンス）／IM-8000は、 画像を用いて測定を行なう非接触式の測定機なので、 対象物を変形させることなく、ゴムなどの柔らかい加工部品 の精密計測する事が可能です。 伸びたり縮んだり、変形しやすい製品の寸法測定でお悩みの方は 当社の「計測サービス」をご活用下さい。 その他、金型部品、樹脂成型品の測定を得意としており、 デジタル機器を使用した、幾何公差の測定・評価だけに 留まらず曲面、表面粗さ、真円度もお受けしております。 30年以上にわたり、様々な取引先企業様へ加工部品を提供して参りました。 そこで得た検査の技術を元に計測サービスを実施しております。 半導体、自動車、電子機器、医療、食品など 幅広い業界との実績がございます。 詳しくはお問い合わせ、またはホームページをご覧ください。
＊計測用X線CTシステム設備…ASSY品などの内部構造や内部欠陥の観察・解析・リバースエンジニアリングなどにも対応しております。
ユーコーポレーションでは、樹脂・金属・難削材の高精度切削加工だけでなく、各種受託測定やリバースエンジニアリングにも対応しております。 お預かりした部品を当社測定設備にて測定する事で、3DCADデータや図面等をご提供！ もちろん、御希望が御座いましたら、加工まで当社で対応可能です。 また、当社では計測用X線CTシステムを設備しており、3次元測定器では測定が出来ない、アンダー形状などの計測が対応可能です！ 難しい測定など、何かお困りな事が御座いましたら、 是非お気軽にご相談下さい！！ ★特長 ■受託測定が可能⇒部品をお預かりします。 ■計測用X線CTシステムよる内部測定が可能 ■CADデータ作成、図面作成が可能 ■加工まで対応可能 ※リバースエンジニアリング ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 お問い合わせの際は下記、関連リンク(お問い合わせフォーム)からご連絡をお願いいたします。
光干渉法による膜厚測定の原理
光干渉法と自社製高精度分光光度計により、非接触・非破壊かつ高速高精度での膜厚測定を可能にしました。 光干渉法は、分光光度計を利用した光学系によって得られた反射率を用いて光学的膜厚を求める方法です。 図１のように金属基板上にコーティングされた膜を例にとると対象サンプル上方から入射した光は膜の表面で反射します（R1）。さらに膜を透過した光が基板（金属）や膜境界面で反射します（R2）。この時の光路差による位相のずれによっておこる光干渉現象を測定し、得られた反射スペクトルと屈折率から膜厚を演算する方法が光干渉法です。
Transient Thermal Resistance Measurement
・JESD51-14に基づいてパワーデバイス、放熱基板などの過渡熱抵抗値(Rthjc)を測定します。 ・パワーデバイスであれば実機のまま試験可能です。放熱基板等を試験する場合には発熱源として 各種半導体チップを実装する必要があります。 ・試験用デバイスの試作も対応しており、部材単体のご提供でも評価が可能です。
フィラー、セラミックス、絶縁薄膜、半導体薄膜等、薄膜・微小領域の熱伝導評価に！！
この装置は、世界最小クラスの分解能を誇る、革新的な熱物性測定装置です。 サンプルの熱物性を点、線、面の各レベルで詳細に測定することが可能で、従来の装置では難しかったミクロンオーダーの熱物性値分布も正確に捉えます。 さらに、この装置は非接触測定でありながら、高分解能を実現しており、従来技術では不可能だった領域を新たに開拓しました。世界初の技術を搭載し、熱浸透率の測定に加え、好条件下では熱伝導率も直接測定可能です。 この装置は、研究開発において精密な熱物性解析を必要とする場面で、他に類を見ない性能を発揮します。 〇測定原理について〇 この装置の測定原理はサーモリフレクタンス法と言う手法になります。 材料の表面温度を高精度で測定する手法の一つで、特に微小領域や薄膜材料の熱特性を調べるために使われます。 この方法は、材料の表面温度変化に伴う反射率の変化を検出し、その変化から温度を測定する技術です。 得られる結果は熱浸透率と言うパラメーターです。 熱浸透率とは物質と物質が接しているときに熱をどれだけ奪い取るかを示す物理量です。 比熱と密度により、熱伝導率や熱拡散率と相互に変換できます。
加工のみならず、検査まで可能！高精度加工や測定の課題を解決いたします
株式会社林田技研では、「三次元座標測定」を承っております。 東京精密製の三次元座標測定器を保有しており、加工のみならず、 検査まで可能。 金属加工、半導体、航空宇宙業界などで高精度加工や測定にお困りの方、 思うように精度が出ずお困りの方や外注先がなかなか見つからない方の 課題を解決いたします。 【製品概要】 ■加工対応サイズ：概ねφ500程度まで ■数量：単品小ロット(1個～100個程度まで) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
ウェハーの品質と収率の向上！超純水の比抵抗とTOC測定
当資料では、マイクロエレクトロニクス産業向けTOC測定について ご紹介しております。 オンライン比抵抗とTOC分析の重要性やリアルタイムの連続的な比抵抗と TOCのモニタリングなどについて図や画像を用いて詳しくご紹介。 参考になる一冊ですので、ぜひご一読ください。 【掲載内容】 ■オンライン比抵抗とTOC分析の重要性 ■半導体製造における超純水 ■リアルタイムの連続的な比抵抗とTOCのモニタリング ■高度なセンサ技術がプロセスを簡素化 ■まとめ ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
アルミナフィラーや、半導体レーザの電極部といった薄膜微小領域の熱浸透率・熱伝導率が測定できる！
当カタログは、「サーマルマイクロスコープTM3B」の製品カタログです。 マイクロメーターサイズの熱浸透率測定が可能で、フィラーや薄膜の 熱浸透率測定・熱伝導率測定に好適な製品。 特長や測定原理、装置構成なども掲載しております。 ぜひ、ダウンロードしてご覧ください。 【掲載内容】 ■特長 ■測定原理 ■装置構成 ■測定事例 ■仕様 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
