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測定(正確) - メーカー・企業と製品の一覧

更新日: 集計期間:2025年10月08日~2025年11月04日
※当サイトの各ページの閲覧回数を元に算出したランキングです。

測定の製品一覧

61~73 件を表示 / 全 73 件

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顕微分光膜厚計 nk 未知の極薄膜の測定

複数点同一解析を用いた nk 未知の極薄膜の測定

従来法では困難であった極薄膜領域下(100nm以下)でのnk解析ですが、複数点解析機能により、精度良くnk解析が可能です。(特許取得済 第5721586号) 最小二乗法でフィッティングをして膜厚値(d)を解析するには材料のnkが必要です。nkが未知の場合、d とnkの両方を可変パラメータとして解析します。 しかしながら、d が100nm以下の極薄膜の場合、d とnkとを分離することができず、そのため精度が低下して正確な d が求められないことがあります。  このような場合、d の異なるサンプルを複数測定し、nkが同一であると仮定して同時解析(複数点同一解析)をします。これにより精度よくnkを求め、正確な d を求めることが可能です。

  • 複数点同一解析を用いた nk 未知の極薄膜の測定.jpg
  • 分析機器・装置

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トロリー線の高さをレーザー距離センサーで自動測定

レーザー距離センサーで自動で計測/測定が可能です。読違い、記入間違いを無くし、短時間で正確な計測が可能になります。

測定スピード250Hzが実現できることにより、トロリー線を自動でとらえて計測することが可能になりました。 短時間で、正確な高さ測定が実現します。 測定精度 1mm、測定繰り返し精度 0.3mm、測定スピード 250Hz(最速)、動作温度 -40℃~ となっており、手動での計測を上回る計測システムを実現している方々がいらっしゃいます。 当社では、使用方法、導入、コントロールソフトの開発、設置後のサポート等、技術サポートも万全です。 ご心配な点等御座いましたら、お気軽にお問い合わせ下さい。 【特長】 ■高速測定 250Hzを実現 ■100m測定(専用反射板使用時500m) ■350gの小型軽量(140x78x48mm) ■測定温度使用 -40℃~+60℃ ■各種インターフェースに対応(PROFINET/EtherNet/EtherCAT) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • Dシリーズ 単体画像(2台).jpg
  • Dシリーズカタログ一部.JPG
  • 距離関連測定器

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圧力計測における高速な測定とは?

圧力センサの動的特性

今日の多くのアプリケーションでは、正確な測定だけでなく、高速な測定も必要とされます。これには測定精度に加え、センサの動的挙動が特に重要になります。決定的な要因は電子回路の限界周波数、サンプリングレート、あるいはそれに類似したパラメータであると認識されがちですが、これは実際には一側面に過ぎず、センサシステム全体を考慮する必要があります。センサにはどれほどの速度が必要なのか?センサの動的特性に真に影響を与える要素とは何か?電子回路だけでなくセンサ設計全体が重要である理由を解説します。ミリ秒単位の速度が求められる典型的なアプリケーション例を紹介し、テスト結果から得られた発見を提供するとともに、ご要望に沿った最適なセンサ選定をお手伝いします。 詳細は下記関連リンクから!

  • 圧力計

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[フィルム/プラスチック業界向け機器]酸素透過率測定 8100e

包装フィルムなどの酸素透過率測定に最適な8100eシリーズ。

温度/相対湿度を完全自動制御 広い測定範囲でDry/Wetの試験を一台で行う事ができ、且つスピーディーな切替が可能です。 拡張モジュールを増設する事で最大36チャンネルの同時測定も可能です。

  • 分析機器・装置
  • その他計測・記録・測定器
  • その他理化学機器

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顕微分光膜厚計による透明基板上の高精度膜厚測定

反射対物レンズが実現する透明基板の高精度測定

フィルムやガラス等の透明な基板サンプルの場合、基板の裏面からの反射の影響を受けると正確な測定ができません。 OPTMシリーズの反射対物レンズを使用すると、物理的に裏面反射を除去することができ、透明基板でも高精度に測定ができます。 また、フィルムやSiC等の光学異方性をもつサンプルに対してもその影響を受けること無く上面の膜のみの測定を行うことが可能です。 (特許取得済 第5172203号)

  • 反射対物レンズが実現する透明基板の高精度測定.jpg
  • 分析機器・装置

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【遠赤の話】分光放射率の測定について

分光放射率の測定方法や、装置についてご紹介!

有限会社AMKは、工業用遠赤外線ヒーターと加熱装置・乾燥装置を取り扱って いる会社です。 遠赤外線ヒーターの効果を確認する方法の一つに波長毎の放射率を測定する ことが可能です。分光放射率といい測定方法はJIS R 1801に規定。 測定器はフーリエ変換赤外分光装置で略してFTIR装置といいます。 原理は光の干渉波形を空間や時間の関数として計測し、フーリエ変換すること によりスペクトルを得る装置です。現在ではFTIRでの分光放射率測定が主流。 得られるグラフは横軸が振動数(波長)で縦軸は1(黒体)から0となっていて、 各波長で1に近ければ近いほど黒体並みの放射率ということになります。 ただこれは各波長毎の黒体との比率であることに注意してください。 測定で難しいのは 光源である黒体炉の温度と試料の表面温度を正確に測定 すること。かなりの技術と慣れが必要で測定する人や、測定機関により 違った結果が出ることも多々あります。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他ヒータ
  • 加熱装置
  • 乾燥機器

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複合オレフイン樹脂射出成型品の 帯電防止効果測定

「ビオミセルBN-77」複合オレフイン樹脂射出成型品の帯電防止効果測定

新規内部練り込み型帯電防止剤「ビオミセルBN-77」を2%、PE 及びPPマトリックス中に安定存在させた、オーケー化成株式会社製造マスターペレットを、それぞれ3種類の試験濃度に原体樹脂で稀釈した後、射出成型を行った試料について、信頼できる方法で簡便、かつ正確に帯電防止効果の有無を観察するべく実施したものです。 【測定装置】 40年余りの帯電防止剤の研究から、別途研究発表論文1)及びオレフイン樹脂に対する「ビオミセルBN-77」の実用具体例報告2)で測定値 の整合性をたしかめている、米国EST社製873型表面抵抗測定器、(株)三菱化学アナリテック製ハイレスターUP-MCP-HT450型抵抗率計、並びにシムコジャパン(株)製ST-4型表面抵抗計のうち、今回の測定では操作性の良い、シムコジャパン(株)製ST-4 型表面抵抗計を使用しました。 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。

  • 静電気除去装置

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【測定サービス】金型・成形品​を1000分の1ミリ単位で測定可能

自動車部品から携帯ゲームまでの測定の実績あり!金型成形品に留まらずだけでなく、熱硬化性樹脂成形品も測定可能。※測定報告書を作成

当社は高精度な測定器を使用し、製品や部品の寸法を計測いたします。対象の製品は樹脂成型品~ダイカストやエラストマーなどの種類や形状、素材等と取り扱っています。 ▼下記のような測定に関するお悩みや不安ありませんか? ・急に金型や製品の寸法測定のレポートの提出が必要? ・第三者による製品の測定データが必要になった。 ・高精度(1/1,000単位など)の測定ができる会社を探している。 上記にお困りの方はぜひご連絡くださいませ。測定受託専門の知識や経験を生かし、御社に適している測定機器や測定方法をご提案し、お客様にとって価値のある測定データによって、報告書を作成させていただきます。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • 三次元測定器
  • その他受託サービス
  • 受託測定

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【ねじり試験にトルクメーター】負荷トルク計

ボールねじの回転トルクむら測定に!位置制御機能で正確な位置決めトルク測定が可能です。

プロテックの『負荷トルク測定器』では、駆動内蔵トルクセンサと多機能コントローラにより構成され、機械要素部品をはじめとする様々な製品のねじり応力が測定可能です。 ボールねじ、ベアリング、ヒンジ、ダンパー、歯車、ネジ、その他多数の機械要素部品の製品性能試験に採用されています。 バリエーション豊富で、多種多様な被試験部品に合った制御方式・応答性・検出処理をご用意しております。ぜひ、荷重試験や耐久試験など、各種トルク測定にお役立てください。

  • トルク計

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顕微分光膜厚計を用いたSiO2 SiNの膜厚測定

反射分光膜厚計『OPTM』を用いた絶縁膜の膜厚測定

半導体トランジスタは電流の通電状態を制御することで信号を伝達していますが、電流が漏れたり別のトランジスタの電流が勝手な通路を通り回り込むことを防止するために、トランジスタ間を絶縁するための絶縁膜が埋め込まれています。 絶縁膜にはSiO2(二酸化シリコン)やSiN(窒化シリコン)が用いられます。 SiO2は絶縁膜として、SiNはSiO2より誘電率の高い絶縁膜として、または不必要なSiO2をCMPで除去する際のストッパーとして使用され、その後にSiNも除去されます。 このように絶縁膜としての性能、正確なプロセス管理のため、これらの膜厚を測定する必要があります。

  • SiO2 SiNの膜厚測定.jpg
  • 分析機器・装置

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石油製品色分光測色計『LCS IV』APHA/ガードナー色数測定

光学的に透明な液体の全色調を高精度に分光測定する測色計

『LCS IV』は、光学的に透明な液体の全色調を高精度に分光測定する 測色計です。 従来の目視によるカラー値(Gardner、lodine、Hazen〔APHA〕等)とは別に、 LCSはC光源(昼光)、2°標準観察の条件におけるCIE Lab、XYZ、Yxyのような 反対色を測定することが可能。 タッチスクリーンディスプレイ付きスタンドアローンユニットのため、 パソコンを要せず使用できます。 【特長】 ■自動容器識別により誤ったデータ測定を回避 ■使い捨て可能なプラスチック容器、高精度光学ガラス容器、  11mmφテストチューブが使用可能 ■重要なすべてのカラースケールおよび係数付き ■デュアルビームによる正確で信頼できる測定結果 ■操作性が容易な開放的サンプル空間 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他計測・記録・測定器

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圧力測定、水位計測のスペシャリスト ケラー社!

スイスならではの品質と正確さで知られているケラー社!ソリューションの提案に自信があります!

ケラー社は、設立以来、スイスのヴィンタートゥールにある本社・工場ですべての製品を開発し、その生産も行っている圧力トランスデューサおよび圧力トランスミッタのトップメーカーです。 年間130万個を超える圧力測定セルを製造・販売しており、低圧(0~500Pa)から高圧(0~200MPa)までカバーしています。培ってきた豊富な経験により当社のソリューションは様々な用途に対応できます。 【例:低温~超高温(-50~1000℃)、高精度(±0.01%FS~)、軽量・コンパクト・ミニチュアタイプ、超高速応答性(帯域幅50kHz)、材質選択(ステンレス、ハステロイ、チタン、インコネル等)、短納期】 高精度の圧力センサメーカーとして高い評価を得ており、豊富な標準品ラインナップからOEM・カスタム製品にも対応。多数のお客様から喜びの声をいただいております。 既にケラー社製品お使い頂いている方も、新たにケラー社製品ご検討頂いている方も、お気軽に弊社までご相談・お問合せ下さい!

  • 圧力トランスデューサ.png
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  • スクリーンショット 2025-07-24 160306.png
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  • 圧力計

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高精度(≦±2mm)2次元レーザースキャナーで水平/垂直測定

水平/垂直方向計測が可能な高精度2次元レーザースキャナーが今までになかった変位、ひずみ、沈下、削れなどの計測を実現します。

高精度のレーザー距離センサーに角度制御を施し、X/Y座標の計測、表示が可能になりました。 3次元測定では十分ではなかった精度の実現が可能になりました。 200,000ポイント/revの分解能を実現し、測れなかった変位も自動で測定が可能になります。 作業の効率化、省人化、短時間化、自動化が実現します。 今まで人がマニュアルで計測していたことを、スキャナーで正確に、短時間で計測し、仕事の効率アップにご利用ください。 デモ機をご用意いたしております。実際にお使いいただき、現状との違いを実感してください。 【用途】 -トンネル断面計測 -シールドトンネルでの手計置き換え -建築限界測定 -トロリー線の高さ/変位計測 -耐火煉瓦変位測定 -地盤沈下変位測定 -建造物ひずみ変位測定 -大円筒/円柱構造物の内径計測    など。 【特長】 ■高精度(≦±2mm) ■高測定分解能(200,000/rev) ■高測定スピード(250Hz) ■小型(270X200X125mm) ※詳しくはPDFダウンロードまたはお問い合わせください

  • 距離関連測定器

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