落下衝撃試験
梱包・包装貨物の落下衝撃試験はJBLへお任せください。 試験台サイズは国内最大級の1.2m x 1.2mです。
輸送中に発生する落下衝撃に対して、包装貨物がどの程度耐えられるのかを評価します。この受託試験サービスでは、衝撃試験機を用いて輸送中の荷扱いによる落下衝撃を再現します。 ▼ 詳しくはPDF資料をダウンロードしてください(推奨)。 ▼ お急ぎのお客様は、下記の『お問い合わせ』よりご連絡ください。
- 企業:日本ビジネスロジスティクス(JBL)株式会社 藤沢北事業所
- 価格:応相談
更新日: 集計期間:2025年11月05日~2025年12月02日
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梱包・包装貨物の落下衝撃試験はJBLへお任せください。 試験台サイズは国内最大級の1.2m x 1.2mです。
輸送中に発生する落下衝撃に対して、包装貨物がどの程度耐えられるのかを評価します。この受託試験サービスでは、衝撃試験機を用いて輸送中の荷扱いによる落下衝撃を再現します。 ▼ 詳しくはPDF資料をダウンロードしてください(推奨)。 ▼ お急ぎのお客様は、下記の『お問い合わせ』よりご連絡ください。
製品の衝撃試験はJBLへお任せください。 大型試験台+台形波+SRS解析 = 幅広い試験条件に対応致します。
製品の設計開発においては、流通過程や使用環境で発生する落下や衝突などを考慮して、製品単体の耐衝撃性能が定められています。この受託試験サービスでは、衝撃試験機を用いて製品単体の耐衝撃性(易損性、脆弱性)を評価します。 ▼ 詳しくはPDF資料をダウンロードしてください(推奨)。 ▼ お急ぎのお客様は、下記の『お問い合わせ』よりご連絡ください。
水平および傾斜衝撃試験のASTM D4003/D880試験を実施可能です。
ASTM D4003/ASTM D880 試験の概要: 包装された製品および包装容器が流通過程で受ける水平方向の衝撃に対して、緩衝材が緩衝設計通りに機能しているかを確認する為に実施する試験です。主に貨車の連結時やトラックの急ブレーキ、急発進等を想定した試験です。ASTM D4169やISTA-1~3シリーズに幅広く規定されています。 ▼ 詳しくはPDF資料をダウンロードしてください(推奨)。 ▼ お急ぎのお客様は、下記の『お問い合わせ』よりご連絡ください。
電子部品の接合部だけではなく、ネジ等による固定部位の評価にも!
株式会社アイテスでは、『冷熱衝撃試験』を行っております。 試料に高温と低温を繰り返し晒す事により、高温・低温の熱による ストレスだけではなく、各部位の伸縮により応力が発生。 繰り返し応力によってもストレスが加えられます。 電子部品の接合部だけではなく、ネジ等による固定部位の評価としても 当試験が行われます。 【冷熱衝撃試験装置の主なスペック】 ■内法:W650×H460×D370mm 温度範囲:-65~0/+60~200℃ ■内法:W650×H460×D670mm 温度範囲:-65~0/+60~200℃ ■内法:W970×H460×D670mm 温度範囲:-65~0/+60~200℃ ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
電子部品やデバイスなどが高温/低温に繰り返しさらされることに対する耐久性を評価します
試料への電圧印加、槽内温度プロファイル、指定サイクルにおける抜取り評価なども実施可能です。
試験片の片端を固定し、反対側をノッチの付いている方向からハンマで打撃し、破壊させたときの衝撃値を評価する方法。
衝撃試験とは、物体に高速で負荷を加えたときの抵抗を測定する試験である。衝撃試験には、振子式のアイゾット衝撃試験、シャルピー衝撃試験、引張衝撃試験と落球式の落球(落錘)衝撃試験、デュポン衝撃試験、ダートインパクト試験がある。 アイゾッド衝撃試験、シャルピー衝撃試験は、通常、試験片にノッチ(切り欠き)を付けて試験を行う。ノッチを付けることにより応力が集中するため、ノッチ形状、ノッチ加工方法の影響を受ける。
コンパクトで省スペースでの設置が可能!ヒートショック試験もできる
お客様のワークに合わせた、当社オリジナル製品「インライン型 高・低温試験機」を納入させていただきました。 低温炉の試験温度条件は-30℃~-35℃の可変、高温炉は+75℃~+80℃の 可変で設定温度に対する炉内温度精度は±1℃です。 炉内ワーク個数180個で25秒タクト搬送できます。 低温炉は内部にWコイルを組み込んである為、除霜の為のタイムロスは無く 連続自動運転を可能にしてあります。 【導入効果】 ■タクト搬送 ■タイムロスが無い ■省スペースで設置 ■ヒートショック試験 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
『IEC 60068-2-14』に準拠した試験の実施が可能!電子部品・装置が周辺温度にどれくらい耐性があるか検査を行います。
電子部品の製造工程において重要となる、温度・湿度などによる”環境変化”への耐性。 その検査工程においてこんなお悩みはございませんか。 ・設備がなく対応できない ・製品・部品の要求事項で評価試験を実施しなければいけない ・設備は保有しているが時間がなく外部委託をしたい アストムでは、高温と低温の温度差を繰り返し与えることにより、温度変化に対する耐性を短時間で評価することができます。 異なる素材からなる部品は、互いの膨張係数の違いから、 温度変化により応力がかかり、クラック(ヒビ)や破損してしまう可能性があります。 熱衝撃試験はこの温度変化を繰り返すことにより、 室内⇒屋外の移動など急激な温度差にさらされる製品の評価を行い、 品質の高い供給を行っています。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
試験温度も極低温から高温までの広い範囲での衝撃試験に対応し、多数の実績あり
当社では、-269℃(4K)といった極めて低温でも試験可能な衝撃試験技術を 有しています。 一般に、金属材料の特性評価には、静的強度(引張、圧縮、曲げ)や疲労強度、 材料の硬さや、金属組織の確認などが一般的に行われますが、材料の粘り強さ、 あるいはもろさを評価する手法として規定されているのが衝撃試験です。 また当社では、材料の各規格に適合した試験片形状の選定、加工から、 試験温度も極低温(液体ヘリウム温度)から高温までの広い範囲での 衝撃試験に対応し、多数の実績を有しています。 【測定条件(抜粋)】 ■試験温度と温度調整 ・800℃~200℃:電気炉 ・200℃~常温:シリコンオイルとオイルバス ・0℃~-70℃:エタノールとドライアイス ・-70℃~-150℃:イソペンタンと液体窒素 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
MIL-STD-883Kに規定されている集積回路 衝撃試験を実施致します。
1.MIL-STD-883Kの概要: ●MIL-STD-883Kは、集積回路(マイクロエレクトロニクスの装置)の試験方法と手順の規定であり、米軍調達品としての一般要求事項、機械的、環境、耐久性試験、電気的試験方法及び品質保証の方法と手順を規定しています。試験集積回路は、半導体部品ならびにモノリシック、マルチチップ、フィルムと複合型超小型回路のようなアイテムも含まれます。 ●弊社ではMIL-STD-883KのMETHOD 2002.5 MECANICAL SHOCK の g level(peak) 10,000G – Duration of pulse 0.2msec が許容範囲±0.1msecにて、0.1msecで対応可能です。 ▼ 詳しくはPDF資料をダウンロードしてください(推奨)。 ▼ お急ぎのお客様は、下記の『お問い合わせ』よりご連絡ください。
高度な分析と”考察力”でお客様の問題解決!冷熱衝撃試験のご紹介
環境系信頼性試験の1つである「冷熱衝撃試験」は、熱ストレスによる劣化を加速させる試験です。 試験体に高温や低温の急激な温度勾配を繰り返し加え、製品・部材の信頼性、耐久性を評価します。 冷熱衝撃試験機には、冷・熱を何で試験体にさらすかによって、気槽型と液槽型の2つのタイプがあります。また、気槽型では試料を載せるカゴが冷⇔熱を移動するタイプと、試料カゴは固定でダンパー切替により冷⇔熱を切替えるタイプに分けられます。 どの装置タイプを選択するかは、JISなどの試験規格に対応した装置を選択する場合や、加えたい熱衝撃の程度、試料サイズ、個数、重量を満たす好適な装置を選定します。 【特長】 ■熱ストレスによる劣化を加速させる試験 ■製品・部材の信頼性、耐久性を評価 ■熱衝撃の程度、試料サイズ、個数、重量を満たす好適な装置を選定 ■試験条件が明確でない場合でも、経験ある技術者が条件設定をサポート ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。