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X線焦点寸法0.25μmの高解像度を持った解析用X線観察装置
『IX-1610』は、世界最高クラスのX線解像度を持った 不良解析機能付きX線観察装置です。 世界最小クラスのX線焦点寸法0.25μmのX線管を 採用することで、高解像度を実現。 6軸制御により高機能観察、自動検査が可能です。 【特長】 ■160kV、0.2ｍA、0.25μm開放型マイクロフォーカスX線管採用 ■X線幾何学倍率：1,200倍 ■透過型ターゲットを採用 ■280万画素X線デジタルI.I管採用 ■透過型ターゲットを採用 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
世界最小クラスのX線焦点寸法！6軸制御により高機能観察や自動検査が可能です
当製品は、X線焦点寸法0.25μmの高解像度を持つ解析用X線観察装置です。 160kV、0.2mA、0.25μm開放型マイクロフォーカスX線管や 透過型ターゲットを採用。 6軸制御により高機能観察や自動検査が可能となっております。 【特長】 ■160kV、0.2mA、0.25μm開放型 ■マイクロフォーカスX線管採用 ■世界最小クラスのX線焦点寸法（0.25μm） ■X線機何学倍率：2,000倍 ■透過型ターゲットを採用 ■280万画素X線デジタルI.I管採用 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
幾何学倍率1,000倍を達成！基板サイズ600×600mmまで対応可能なX線観察装置です
当製品は、大型基板対応の3次元X線観察装置です。検査対象の 見えない部分をX線透過しリアルタイムでX線観察が可能になります。 大型プリント配線板、大型実装基板などの観察に好適です。 基板サイズ600×600mmの全面をカバーし、幾何学倍率1,000倍を達成。 X線ステレオ方式で、裏面の実装部品を除去して観察可能です。 【特長】 ■基板サイズ600×600mmの全面をカバー ■幾何学倍率1,000倍を達成 ■X線カメラは0～60°まで任意角度に傾斜可能 ■タッチパネルとJOYスティックで操作性向上 ■スライドドアーで大きなサンプルも楽々セット ■ターンテーブルは口400×400mmの基板まで対応可能（オプション） ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
コンパクトでありながら、幾何学倍率900倍を達成！コストパフォーマンスが高いX線観察装置
『FX-300tR2』は、良品画像を登録しておいて、現画像と比較観察が可能な X線観察装置です。 コンパクトな小型X線装置でありながら、幾何学倍率900倍を達成。 フラットパネルが60°傾斜して観察でき、斜めからの観察には 観察位置を自動追従します。 実解像度5μmを達成しており、Lサイズ装置は、600×600の基板に対応できます。 【特長】 ■幾何学倍率：900倍 ■モニター倍率：5,400倍 ■X線出力：90kV ■X線焦点径：5μ、15μ（切替） ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
大型基板600×600mm対応も可能！コンパクトな密閉管型X線装置で、幾何学倍率1,000倍を達成
『FX-300 tRX2/LL with CT』は、X線ステレオ方式を採用した3次元X線観察装置です。 BGA、LGA、QFN等の裏面に実装されたチップ部品をキャンセルすることが可能。 また、便利なチップカウンター機能(リール状態で個数カウント可能)が 標準で搭載されました。 【特長】 ■X線ステレオ方式採用(アイビット独自技術) ■幾何学倍率：1,000倍を達成 ■チップカウンター機能を搭載 ■X線広角照射で高倍率斜め撮影が可能 ■大型基板600×600mm対応のLL機もご用意 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
密閉型X線装置でありながら高解像度2μmを達成！3D-X線ステレオ方式のX線観察装置。
『FX-400tRX/LL』は、高解像度2μm、幾何学倍率500倍によって、 鮮明なX線画像の取得が可能なX線観察装置です。 ICワイヤーボンディングの接続部、銅ワイヤーについても検査でき、 プリント基板の内部のスルーホールなども観察できます。 また、高出力110kV、200μAによって、3mm厚の銅板などの透過も可能になりました。 【特長】 ■1110kV,2004Aの高出力X線源により銅板(3mm)なども透過 ■高解像度2μmの画像分解能により微細な部分の画像取得 ■幾何学倍率500倍によって高倍率撮影 ■X線ステレオ方式によって実装基板の表面、裏一面の分離(約4秒) ■X線ステレオCT方式によって実装基板の水平断面300層を取得(約50秒) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
1,000倍の高倍率Ｘ線検査機と、便利なチップカウンターを標準搭載。電子部品の数量を約30秒でカウントできます。
『FX-300 tRX2 with CT』は、独自の“X線ステレオ方式”により、 基板裏面のチップ部品をキャンセルして検査できる3次元X線観察装置です。 チップカウンター機能も標準搭載し、リール状態で角チップやIC、LEDなど 電子部品の数量を約20～30秒でカウントできます。 リーズナブルな価格で「BGA、LGA、QFNなどの検査」と 「チップ部品の個数カウント」の1台2役に対応した製品です。 【特長】 ■幾何学倍率は1,000倍 ■コンパクトな密閉管型 ■高倍率での斜め撮影が可能 ■LL機は、600×600mmの大型基板に対応 ■BGA自動検査や垂直CT、斜めCTなどオプション機能も搭載可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
FX-tRXシリーズの全ての機能を継承し、大型化に成功！
『FX-500tRX2-LL』は、大型基板700×600mmに対応するX線ステレオ方式 3次元X線観察装置です。 独自の「X線ステレオ方式」で実装基板の裏面キャンセル。さらに進化した 「X線ステレオCT方式」では、実装基板を500層にスライス断面取得。 600×600mm基板の「どこでもCT」で、CT撮影エリアの制限がありません。 X線出力/X線解像度は130kV、300μA、39W/4μmです。 【特長】 ■2D透過、斜め60度観察：700×600mm ■3D X線ステレオCT観察：600×600mm ■幾何学倍率：最低1.4倍～最大2000倍 ■3D X線V-CT対応(垂直CT) ■3D X線P-CT対応(ななめCT) ■スルーホールはんだ充填率測定 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
【コンパクトな卓上型】加熱中のろう材、はんだの挙動をマルチアングルで観察・撮影可能！
『IR-HP-SP2』は、加熱中のろう材の挙動を観察・撮影ができる大型加熱観察装置です。 マルチカメラ仕様にすると複数の方向からの同時観察、温度とリンクさせた ろう材・はんだの挙動解析が可能となります。 炉体は卓上型で実験台に設置できるサイズです。 また真空チャンバー構造なので、各種真空ガス置換、ガスフローでの実験が可能で フラックスガスが外部へ漏れない構造になっておりますので安心してどこでも使用頂けます。 【特長】 ■気密構造で雰囲気制御が自在に可能 ■コンパクトな卓上型でクリーンな加熱、設置環境は選ばない ■フリーアングルで加熱中のその場観察 ■フレキシブルな温度制御性能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
《加熱・冷却観察装置 MHO-300-2 》お持ちの顕微鏡・マイクロスコープに置くだけ！コンパクトで薄型／雰囲気制御可能
お持ちの顕微鏡やマイクロスコープのステージに置くだけで、マイナス100℃から300℃の変化の様子をリアルタイムで観察。 気密構造の炉では、様々な真空中不活性ガス雰囲気下での昇温冷却が可能です。 【ポイント】 ▮フレキシブルな温度制御性能 専用ソフト「TeCSS（テックス）」上で、温度プログラム・モニタリングが簡単にできます（温調器単体でも操作は可）。また、温度・時間・スケールを表示、動画記録専用ソフト「HiTOS（ハイトス）」で実温度記録と同期させた in-situ 画像撮影・保存も可能です。冷却機構をつけることで-100℃にも対応します。 ▮コンパクトで使いやすいデザイン 小型で薄型に設計された加熱・冷却ステージで、特殊条件を簡単再現できます。顕微鏡やマイクロスコープ下の観察用途の他、レーザー顕微鏡やラマン分光、顕微分光など分析計にも流用可能です。 ▮真空チャンバー構造で雰囲気コントロール 真空チャンバー構造のため、真空中不活性ガス雰囲気下での昇温冷却が可能です。加熱で気化したデガス等の排気も可能で、XYスライド可能なプレパラートホルダも準備サンプルの導入、取出も簡便にできます。
インクの飛翔と着滴をリアルタイムに観察！！
インク評価用インクジェット装置「InkjetLabo」は従来の装置からパワーアップして新登場！！シンプル＆多機能な装置です 「インクジェットグレードのインクを開発中だけど、そもそもインクジェットに求められるインクの性能ってなに？」弊社の装置でお試しください！！ 弊社のインク評価用インクジェット装置は自動ステージを標準装備することで、実際にインクを使ったライン描画、ドット配置、またBMP画像を使用した複雑な描画に対応します 【特徴】 ◆手間や時間のかかるインク評価を、誰でも簡単にはじめられるオールインワンセット ◆簡素化されたパラメータで多種の液体吐出に対応（水・各種有機溶剤） ◆実験用に特化したインク導入法により、微量な試料で研究を開始 ◆液滴観察用カメラを標準装備することで、インクの飛翔状態と着滴の状態がリアルタイムに観察可能 ◆インクの吐出評価用に画像計測ソフトを同梱！！液滴サイズや飛翔速度を計測。画像・動画形式での保存が可能
二段階の整流構造！乱れの少ない状態での観察が可能な観察装置
『乱流・層流観察装置』は、二段階の整流構造により、 乱れを相対的に小さくすることで乱れの少ない状態での観察が可能です。 教育用や展示用にご使用頂けます。 お客様の用途に合わせた仕様変更やカスタマイズが可能です。 【特長】 ■二段階の整流構造 ■サイズや仕様が豊富 ■仕様変更やカスタマイズ可能 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
FIB加工をリアルタイムで観察しながら断面観察が可能です。
半導体デバイス、MEMS、TFTなどナノスケールの精度で製造される エレクトロニクス製品の構造解析を行うための新たな手法： クロスビームFIBにより断面観察をご提案いたします。
破断部の断面観察や、破断部の元素マップなど掲載しています！
当資料は、太陽電池モジュールの断面観察についてご紹介しています。 冷熱衝撃試験を行なった太陽電池モジュールを検査し、異常が特定された 箇所の断面観察を行なったところ、インタコネクタ半田付け部が破断している ことが確認されました。 【掲載内容】 ■破断部の断面観察 ■破断部の元素マップ ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
装置による見え方の違いやサンプル角度による見え方の違いや光源などをご紹介！
ウィスカは、はんだ付け部や部品リード部に発生するものと思われがちですが、 平面部品のめっき表面からもウィスカは発生します。 観察するにはちょっとしたコツが必要なのです。 当資料では、装置による見え方の違いをはじめ、サンプル角度による 見え方の違いや光源やレンズ角度による見え方の違いについて掲載しています。 【掲載内容】 ■装置による見え方の違い ■サンプル角度による見え方の違い ■光源やレンズ角度による見え方の違い ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
