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顕微鏡(表面分析) - メーカー・企業と製品の一覧

更新日: 集計期間:2025年10月08日~2025年11月04日
※当サイトの各ページの閲覧回数を元に算出したランキングです。

顕微鏡の製品一覧

31~42 件を表示 / 全 42 件

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【分析事例】ABF-STEM観察によるGaNの極性評価

Csコレクタ付STEMにより原子レベルでの観察が可能です

パワーデバイス・光デバイスとして実用化されているGaNは六方晶ウルツ鉱構造をとり、c軸方向に結晶学的な非対称性(Ga極性とN極性)が存在します。Ga極性とN極性ではエピタキシャル膜の成長プロセスが異なるほか、結晶の表面物性・化学反応性も異なります。 本資料では、GaNの極性を環状明視野(ABF)-STEM観察により評価しました。その結果、Gaサイト・Nサイトの位置を特定することができ、視覚的にGa極性、N極性の様子を明らかにすることができました。 測定法:TEM 製品分野:パワーデバイス・光デバイス 分析目的:形状評価・構造評価・膜厚評価 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。

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【技術資料】表面汚染のハイスループットスクリーニング

分析作業効率の飛躍的な向上はもちろん、新たなアプリケーションも期待されます!

赤外顕微鏡「HYPERION II」は、従来の顕微FT-IR測定に加え、QCLによる 赤外レーザーイメージングに対応します。 当資料では、「FT-IRを用いた精密機械のQA/QCについて」をはじめ、 「関心領域(ROI:Regions Of Interest)の迅速な検出」や「赤外レーザー イメージングを使用したROIの検出」などを掲載。 QCLとFT-IRとのコンビネーションは、ROIの速やかな検出と、それらの情報に 基づくより正確な定性分析を実現します。 【掲載内容】 ■FT-IRを用いた精密機械のQA/QCについて ■関心領域(ROI:Regions Of Interest)の迅速な検出 ■FT-IRとQCLのコンビネーションによるメリット ■赤外レーザーイメージングを使用したROIの検出 ■FT-IRによる分析の信頼性の向上 ■FT-IRとレーザーイメージング:強力なコンビネーション ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • レーザー顕微鏡

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【分析事例】SEMによる極低加速電圧条件での微細構造観察

極低加速SEM観察によるセパレータ構造評価

リチウムイオン二次電池に使われているセパレータに代表されるように、材料の多孔性や形状といった微細構造は製品の特性や機能を左右します。材料が樹脂やポリプロピレン(PP)など軟化点が低い場合、観察時の電子線照射により試料が損傷を受け、本来の構造が変化してしまうことがあります。 加速電圧0.1kVという極低加速SEM観察により、変質を抑えて試料最表面の形状を詳細に評価した事例をご紹介します。

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【分析事例】AFM-MAによる食品(ロースハム)の機械特性評価

食感を機械特性パラメータで定量化

食感を決める因子には、硬さ、凝着力など様々な要素があります。一般的に、食品の食感はテクスチャーアナライザー等による応力の評価で行いますが、微小領域の測定や薄い試料の測定は困難です。 AFM-MAは表面の凹凸の形状の評価に加え、機械特性の硬さを表すヤング率、質感のパラメータの凝着力、および、エネルギー散逸のデータを微小領域で計測することが可能です。このため、食感等に関係する物理特性を極微小な領域で評価するために有効です。

  • AFM像.png
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  • エネルギー散逸像.png
  • 受託測定

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原子間力顕微鏡『LiteScope 2.0』

SEMとAFMを組み合わせた相関分析!材料表面の理解がより深化

『LiteScope 2.0』は、走査電子顕微鏡に容易に統合可能な 原子間力顕微鏡です。 SEMへの搭載は容易ですぐに使用可能、かつスタンドアロンAFM としても利用可能。 FIB、GIS、EDSやその他一般的なSEMアクセサリにも互換性が あります。 【特長】 ■SEMの機能拡張 ■非常に精密な相関イメージング ■迅速かつ容易な関心領域への位置合わせ ■サンプル汚染のリスクを排除 ■2DSEM像を3Dに拡張 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • 電子顕微鏡
  • その他顕微鏡・マイクロスコープ
  • その他検査機器・装置

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AFMデータ集

AFM :原子間力顕微鏡法

AFMは微細な探針で試料表面を走査し、ナノスケールの凹凸形状を三次元的に計測する手法です。 金属・半導体・酸化物などの材料評価だけでなく、毛髪やコンタクトレンズなどのソフトマテリアルまで幅広い材料を測定可能です。 本資料では、様々な材質のAFM像をご紹介します。

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高分子材料研究、医薬品や電子・化学分野の異物分析や品質管理等に!

化学結合状態分析、バイオロジーからナノテクノロジー・ポリマー・最先端材料分野、電機・電子・自動車・機械・化学・薬品分野の研究等

様々な分野で活躍できる、日本電子株式会社の商品を3つご紹介いたします。 ご興味のある方はお気軽にお問い合わせください。 〇JPS-9030 光電子分光装置(XPS)  「誰もが、簡単に、直ぐに使えること」を実現した汎用型XPSです。カウフマン型エッチングイオンソースやツインアノードを標準装備の上、汎用XPSでありながら高温加熱システムやガスクラスターイオンソース等幅広い拡張性も備えています。 〇JEM-1400Flash 電子顕微鏡  高感度sCMOSカメラを標準搭載し超広視野モンタージュシステムや光学顕微鏡画像リンク機能などの強力な新機能を組み込んだ透過電子顕微鏡です。 〇JCM-7000 NeoScope ネオスコープ 卓上走査電子顕微鏡  誰でも観察・分析ができることを目指した卓上走査電子顕微鏡です。前処理不要な低真空モード、視野探しのためのステージナビゲーションシステムを備え簡単に使えます。光学像からSEM像にそのまま移行できるZeromag、観察しながら元素分析できるLive Analysis、SEM観察中に三次元観察が可能なLive 3D等の機能を搭載しました。

  • JPS-9030.png
  • JEM-1400.png
  • JCM-7000.png
  • その他理化学機器

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[SEM]走査電子顕微鏡法

高倍率観察(30万倍程度まで)が可能

SEMは、電子線を試料に当てた際に試料から出てくる電子の情報を基に、試料の凹凸や組成の違いによるコントラストを得ることができる手法です。 ・簡単な操作で高倍率観察(50万倍程度まで)が可能 ・二次電子(Secondary Electron;SE)像、反射電子(BackScattered Electron;BSE)像、透過電子(Transmitted Electron;TE)像の観察が可能 ・加速電圧0.1~30kVの範囲で観察が可能 ・最大6インチまで装置に搬入可能(装置による) ・SEMにオプションを組み合わせることにより、様々な情報を得ることが可能  EDX検出器による元素分析が可能  電子線誘起電流(EBIC)を測定し、半導体の接合位置・形状を評価  電子後方散乱回折(EBSD)法により、結晶情報を取得可能  FIB加工とSEM観察の繰り返しにより、立体的な構造情報を取得可能(Slice & View)  冷却観察・雰囲気制御観察

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  • 受託測定
  • 受託検査

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FT-IRおよびQCL顕微鏡『HYPERION IIシリーズ』

柔軟な拡張性を備える研究開発用FT-IR顕微鏡。QCL 赤外レーザーによるイメージング機能を1つの装置に組み込むことが可能です。

HYPERION II は、赤外顕微鏡における技術革新です。赤外イメージングを回折限界に到達させ、顕微 ATR における基準を作りました。さらには透過・反射・ATR のすべての測定モードにおいて FT-IR 顕微鏡と赤外レーザーイメージング顕微鏡機能 (ILIM) の両方を 1 台で実現する、世界初のシステムです。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • 分光分析装置

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【調査資料】表面測定機器&ツールの世界市場

表面測定機器&ツールの世界市場:原子間力顕微鏡(AFM)、スタイラスプロフィロメーター、3D光学顕微鏡、機械テスター、光 ...

本調査レポート(Global Surface Measurement Equipment and Tools Market)は、表面測定機器&ツールのグローバル市場の現状と今後5年間の展望について調査・分析しました。世界の表面測定機器&ツール市場概要、主要企業の動向(売上、販売価格、市場シェア)、セグメント別市場規模、主要地域別市場規模、流通チャネル分析などの情報を収録しています。 表面測定機器&ツール市場の種類別(By Type)のセグメントは、原子間力顕微鏡(AFM)、スタイラスプロフィロメーター、3D光学顕微鏡、機械テスター、光学座標測定機を対象にしており、用途別(By Application)のセグメントは、光学、自動車、電気・電子、その他を対象にしています。地域別セグメントは、北米、アメリカ、ヨーロッパ、アジア太平洋、日本、中国、インド、韓国、東南アジア、南米、中東、アフリカなどに区分して、表面測定機器&ツールの市場規模を算出しました。 主要企業の表面測定機器&ツール市場シェア、製品・事業概要、販売実績なども掲載しています。

  • その他の各種サービス

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電池の中の「見える化」で開発を加速

電池開発における不確定現象、未知現象などを解明!KRIの二次電池ワンストップサービス

当社では、電池・システム技術者、材料技術者、そして分析技術者が 各々の観点から一緒に考え、事象・メカニズムを解明していきます。 Operando CTと画像解析の融合技術(セル厚み・変位解析)では、 充放電を断続的、継続的に行いながら3次元像を取得して画像を 解析し、変化を評価。 電池開発における不確定現象、未知現象などワンストップで解明します。 【超高分解SEM・NMR(一部)】 ■組成分析では区別が難しい材料を導電性の違いで見分ける電位コントラスト観察 ■蒸着膜による「着ぶくれ」なくシャープ繊維形状を観察 ■基材表面に化学結合したシランカップリング剤の結合状態把握 ■Phosphine oxideと基材の分子間相互作用を観察 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

  • 技術開発
  • その他 分析・評価受託

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高機能材料の解析に『Materials Studio』

高機能材料などの解析シミュレーション はじめ、さまざまなタイプの材料に対応した材料開発シミュレーションソフトウェア

『Materials Studio』 量子力学(密度汎関数法)、古典力学(分子動力学計算)、 メソスケール(散逸粒子動力学計算など)、統計、分析/結晶化ツールを備えた 次世代材料開発向け分子モデリング/シミュレーションツール群。 【特長】 ■材料開発を効率化するシュミレーションソフト   業界・分野を問わず、研究、開発、設計、製造に従事される方にご利用いただけます ■さまざまなタイプの材料に対応 ■一つのGUI画面上で、結晶構造の作成、計算条件設定、計算結果表示の  全てを行うことが可能 【事例】  トライボケミカル(潤滑)反応 CFRP(炭素系素材)などの解析  結晶成長や薄膜形成、燃料電池、潤滑剤などの研究開発  触媒、ポリマーや混合物、金属や合金、電池や燃料電池など ※詳しくはお気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他
  • 画像解析ソフト

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