更新日： 集計期間:2025年10月01日～2025年10月28日
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極小領域の膜厚測定が可能に！電子線照射時に発生する特性X線の強度から膜厚を算出
当社ではEPMAによる薄膜の膜厚分布測定を行っております。 薄膜の膜厚測定は主に蛍光X線法やX線反射率法で行われており、X線を入射源と しているためある程度の広い測定領域の平均的な膜厚しか測定できませんでした。 それに対して電子線を活用することにより、極小領域（約1μm2）の膜厚測定、 さらに膜厚分布（マッピング）が可能となりましたので、ご活用ください。 【特長】 ■測定原理：電子線照射時に発生する特性X線の強度から膜厚を算出 ■使用装置：EPMA ■面分解能：約1μm ■最大測定膜厚：約1μm ■最小マッピング領域：約80×80μm ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
測定時間が短く、最大1000秒！酸化膜を種類別に測定が可能なSERA法をご紹介
当社の分析・故障解析、「酸化膜厚測定(SERA法)」についてご紹介します。 SERA法は、薄膜酸化膜厚、薄膜金属膜厚、金属間化合物層が容易かつ 正確に測定可能。Cu2OとCuOのように、酸化膜を種類別に測定する ことができます。 また、ランドの酸化膜厚とはんだ付け性を試験したところ、 加熱処理により酸化膜厚が増し、はんだの広がり面積が減少、 熱処理を繰り返すことで、SnO2の増加が顕著に認められました。 【SERA法での測定可能金属】 ■酸化膜厚：Sn, Ag, Cu, SnAgCu ■金属膜厚：Au, Cu, Ni, Ag, Sn ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
基板やコネクタ端子の表面処理などの膜厚測定を、スピーディに行うことが出来ます
当社で行っている「蛍光X線膜厚測定」についてご紹介いたします。 膜厚が既知の標準試料(2種類以上)を測定して、その特性X線の強度から 検量線を作成し、未知試料の膜厚を測定。 基板表面処理(Ni/Au めっき、はんだレベラ)の膜厚測定や、部品電極、 コネクタ端子表面処理の膜厚測定、簡便な定性分析などの用途に好適です。 【設備紹介】 ＜蛍光X線膜厚測定装置＞ ■SFT9550X (日立ハイテクサイエンス製) ・X線管を用いた上面垂直照射方式 ・最大管電圧：50 kV ・最大管電流：1000 µA ・ビームサイズ：φ30 µm ・実測分解能：0.01 µm ・最小測定幅：70 µm ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
水銀透過法の概要及び既存手法との比較事例を通じて、水銀透過法が機能層のナノ貫通孔径を選択的に評価可能な手法であることを紹介する。
技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品質管理等のお役に立つ分析技術の最新情報です。 【要旨】 サステナブルな社会の実現において、優れた透過性能を持つ膜による省エネで低コストな分離・精製技術の開発がエネルギー、半導体、医療など様々な分野で期待されている。膜の透過性能は細孔構造に支配されるため、高度化した細孔構造を評価するための技術が重要となる。ここでは、東レリサーチセンターが独自に開発した水銀透過法の概要、及び既存手法との比較事例を通じて、水銀透過法が機能層のナノ貫通孔径を選択的に評価可能な手法であることを紹介する。 【目次】 １. はじめに ２. 水銀透過法の概要 ３. 水銀透過法を適用した事例 ４. まとめ
橋梁・建築・造船の塗装品質・規格管理に不可欠な塗膜および下地処理の検査測定方法を詳説
膜厚(鉄や非鉄金属、コンクリートや木材上の塗膜)・表面粗さ・付着性・結露・表面付着塩類・塗料粘度の測定検査方法を解説 月間『塗装技術』編集デスクの協力を得て、どなたでもご覧いただけるように連載を1つの冊子にまとめました。 機器の案内と合わせて、品質管理にお役立てください。
表面張力計を用いた新たな液体膜(泡膜)持続性評価方法 ～コーティングの塗膜品質評価への応用の可能性～
ラメラ長測定に代わる新たな液体膜の評価方法を考案！ 〇表面張力計DyneMasterシリーズ用 オプションとして販売。 〇官能評価では明瞭な差異がある試料でも、表面張力やラメラ長測定で差異が見えづらく、定量的な評価ができない事象に対し、有効な手立てとなる評価方法です。 ●その他機能や詳細については、カタログをダウンロードもしくはお問い合わせ下さい。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
膜厚測定に関するアプリケーション情報を詳しく解説します
オーシャンオプティクスは、半導体、産業、医療および消費者市場の アプリケーション向けに光学的および非光学的膜厚特性を測定するための モジュラー式および完全統合型システムの両方を提供しています。 顧客は、シリコンウェーハの厚さを測定し、マスク用のフォトレジスト層を判断し、 コーティングの硬度および摩耗を試験するためのシステムを構成しています。 数量の多いOEMアプリケーション向けコンポーネントも利用できます。 これらのデバイスは、真空紫外から赤外までをカバーし、分光技術を 幅広いアプリケーションに役立てるレベルの精度と再現性を実現します。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
高温環境での平坦度測定や製造工程中の異物検査、ボタン電池のエッジ形状検査、セパレーター厚みやコーティング厚みの測定等の実績豊富！
当社は色収差共焦点・干渉を原理とした非接触タイプの測定器を取り扱っています。 膜厚測定、形状測定、粗さ測定、変位測定、外観検査に適用でき、加工中のインプロセス測定やインラインでの高速検査、オフライン測定が可能です。 各種インターフェースを用意しており、組み込み用途にも対応。 高分解能（最小XY分解能1μm～、最小Z分解能0.02μm～）で測定が行え、製品品質の向上、製造プロセスの時間・コスト削減に貢献します。 シングルポイントセンサでは、低価格向けの製品（CHRcodile C, CHRocodile Mini)も２種類用意しています 【特長】 ■幅広いセンサラインナップ 各種センサプローブの中から検査要件、材質に応じて選択可能 ■測定範囲に応じたセンサ シングルポイントセンサ、ラインセンサ型、エリアスキャン型をご用意 ■用途 PCBフレキの検査、ワイヤループ検査、ウエハバンプ検査などに活用可能 ※詳しくは資料をご覧ください。お問い合わせもお気軽にどうぞ。
赤外線式 非接触 厚み計 「簡易操作とメンテナンスフリー！」 多層膜内の特定層限定厚み計測
＜小型軽量・カスタマイズ可能＞ 既存ラインの狭い設置場所などへ導入可能 ＜すぐに使える操作性＞ 基準片から検量線を自動作成します すぐに計測開始可能です ＜メンテナンスフリー＞ 光源・線源等、短期交換部品はありません ＜操作・表示用パソコン付属＞ 付属パソコンのみでシステムが完了（データ出力可）
寸法測定、表面粗さ測定、膜厚測定を行い検査・品質管理を行っております
株式会社スタンダードテストピースでは『試験片の測定』を承っております。 安定的で確実な検査を実現する「二次元非接触型の画像寸法測定」を はじめ「アルマイト、めっき、コーティングなどの被膜測定」や 「接触型表面粗さ測定」などを受託。 詳しくは、お問い合わせください。 【受託内容】 ■寸法測定 二次元非接触型の画像寸法測定 ■表面粗さ測定 接触型表面粗さ測定 ■膜厚測定 アルマイト、めっき、コーティングなどの被膜測定 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
化合物半導体サンプルを試料に、深さ分解能を測定した結果を紹介。
SIMS(二次イオン質量分析法)は数 kV の 1次イオンビーム(O2+, Cs+)を試料 表面に照射し、スパッタされた二次イオンを質量分析して試料中の微量 不純物を分析する事ができる装置です。 Q-pole SIMS(アルバックファイ：ADEPT-1010)によっては、Al0.28Ga0.72As/GaAs を 50nm ずつ分子線エピタキシー(MBE)で成膜した化合物半導体サンプルを 試料として用い、深さ分解能を求めました。 1次イオンビームを最適化したところ、Al0.28Ga0.72As 膜と GaAs 膜の界面での 27Al のプロファイルの傾きから深さ方向分解能を5nmまで高める事が出来ました。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
フィッシャーの製品ラインは、幅広い領域の測定・分析装置に及んでいます。
フィッシャーの製品ラインは、極めて様々なアプリケーションと様々な業界を対象とした、幅広い領域の測定・分析装置に及んでいます。最適の精度で正しい結果を得るために、それぞれにふさわしい測定方法を使用します。電磁式または渦電流式、ベータ線後方散乱式、電解式、微小硬さ法（インデンテーション）、あるいは蛍光X線式など、いずれの方式でもフィッシャーは適正な技術を持ちベストなソリューションをご提供いたします。
耐圧性能試験、水撃限界性能試験、逆流防止性能試験、耐久性能試験、浸出性能試験も実施いたしております。
2010年のJIS S 3201（家庭用浄水器試験法）の改正にも対応し、ろ過流量試験、除去性能試験、ろ過能力試験を行います。また、RO浄水器試験、浄水シャワー試験を浄水器協会規格（JWPAS)や日本水道協会規格（JWWA)に基づき計画から分析まで実施いたしております。試験水にRO膜透過水を用いており、安定した水質で試験を行うことができます。
外光・ノイズをキャンセルでき、暗室不要なためインラインで測定可能。透過率だけでなく暗い反射率も測定。【無料デモ測定可能】
『DD8-N』は、吸光度(OD)、透過率を暗室不用で評価することができ、 リアルタイム表示も可能な吸光度測定システムです。 リファレンスに対するサンプルの透過率から光学濃度を計算します。 複数ポイント測定をはじめ、偏光プリズムとの偏光度測定や 反射率測定など、各種オプションやカスタム仕様に対応可能です。 【特長】 ■超微弱光の8OD-12ODまで暗室不要で測定 ■外光・ノイズをキャンセルできる ■リファレンスに対するサンプルの透過率から光学濃度を計算 ■任意間隔で連続測定が可能 ■各種オプションやカスタム仕様に対応 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
最大±45°の傾斜でも正確かつ安定測定！全ての表面に対応します
『CHRocodile C』は、白色光を通した、色収差による変位もしくは 厚み測定を行う色収差共焦点センサーです。 440g以下のコンパクトサイズ。 "粗面"をはじめ、"鏡面"や"色付き材料"など全ての表面に対応します。 プローブヘッドは200um～10mmまでご用意しております。 【特長】 ■コンパクト ■表面依存無 ■最大±45°の傾斜でも正確かつ安定測定 ■形状に依存無 ■プローブヘッドは200um～10mmまで用意 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
