更新日： 集計期間:2026年02月18日～2026年03月17日
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測定時間が短く、最大1000秒！酸化膜を種類別に測定が可能なSERA法をご紹介
当社の分析・故障解析、「酸化膜厚測定(SERA法)」についてご紹介します。 SERA法は、薄膜酸化膜厚、薄膜金属膜厚、金属間化合物層が容易かつ 正確に測定可能。Cu2OとCuOのように、酸化膜を種類別に測定する ことができます。 また、ランドの酸化膜厚とはんだ付け性を試験したところ、 加熱処理により酸化膜厚が増し、はんだの広がり面積が減少、 熱処理を繰り返すことで、SnO2の増加が顕著に認められました。 【SERA法での測定可能金属】 ■酸化膜厚：Sn, Ag, Cu, SnAgCu ■金属膜厚：Au, Cu, Ni, Ag, Sn ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
基板やコネクタ端子の表面処理などの膜厚測定を、スピーディに行うことが出来ます
当社で行っている「蛍光X線膜厚測定」についてご紹介いたします。 膜厚が既知の標準試料(2種類以上)を測定して、その特性X線の強度から 検量線を作成し、未知試料の膜厚を測定。 基板表面処理(Ni/Au めっき、はんだレベラ)の膜厚測定や、部品電極、 コネクタ端子表面処理の膜厚測定、簡便な定性分析などの用途に好適です。 【設備紹介】 ＜蛍光X線膜厚測定装置＞ ■SFT9550X (日立ハイテクサイエンス製) ・X線管を用いた上面垂直照射方式 ・最大管電圧：50 kV ・最大管電流：1000 µA ・ビームサイズ：φ30 µm ・実測分解能：0.01 µm ・最小測定幅：70 µm ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
水銀透過法の概要及び既存手法との比較事例を通じて、水銀透過法が機能層のナノ貫通孔径を選択的に評価可能な手法であることを紹介する。
技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品質管理等のお役に立つ分析技術の最新情報です。 【要旨】 サステナブルな社会の実現において、優れた透過性能を持つ膜による省エネで低コストな分離・精製技術の開発がエネルギー、半導体、医療など様々な分野で期待されている。膜の透過性能は細孔構造に支配されるため、高度化した細孔構造を評価するための技術が重要となる。ここでは、東レリサーチセンターが独自に開発した水銀透過法の概要、及び既存手法との比較事例を通じて、水銀透過法が機能層のナノ貫通孔径を選択的に評価可能な手法であることを紹介する。 【目次】 １. はじめに ２. 水銀透過法の概要 ３. 水銀透過法を適用した事例 ４. まとめ
橋梁・建築・造船の塗装品質・規格管理に不可欠な塗膜および下地処理の検査測定方法を詳説
膜厚(鉄や非鉄金属、コンクリートや木材上の塗膜)・表面粗さ・付着性・結露・表面付着塩類・塗料粘度の測定検査方法を解説 月間『塗装技術』編集デスクの協力を得て、どなたでもご覧いただけるように連載を1つの冊子にまとめました。 機器の案内と合わせて、品質管理にお役立てください。
表面張力計を用いた新たな液体膜(泡膜)持続性評価方法 ～コーティングの塗膜品質評価への応用の可能性～
ラメラ長測定に代わる新たな液体膜の評価方法を考案！ 〇表面張力計DyneMasterシリーズ用 オプションとして販売。 〇官能評価では明瞭な差異がある試料でも、表面張力やラメラ長測定で差異が見えづらく、定量的な評価ができない事象に対し、有効な手立てとなる評価方法です。 ●その他機能や詳細については、カタログをダウンロードもしくはお問い合わせ下さい。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
膜厚測定に関するアプリケーション情報を詳しく解説します
オーシャンオプティクスは、半導体、産業、医療および消費者市場の アプリケーション向けに光学的および非光学的膜厚特性を測定するための モジュラー式および完全統合型システムの両方を提供しています。 顧客は、シリコンウェーハの厚さを測定し、マスク用のフォトレジスト層を判断し、 コーティングの硬度および摩耗を試験するためのシステムを構成しています。 数量の多いOEMアプリケーション向けコンポーネントも利用できます。 これらのデバイスは、真空紫外から赤外までをカバーし、分光技術を 幅広いアプリケーションに役立てるレベルの精度と再現性を実現します。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
高温環境での平坦度測定や製造工程中の異物検査、ボタン電池のエッジ形状検査、セパレーター厚みやコーティング厚みの測定等の実績豊富！
当社は色収差共焦点・干渉を原理とした非接触タイプの測定器を取り扱っています。 膜厚測定、形状測定、粗さ測定、変位測定、外観検査に適用でき、加工中のインプロセス測定やインラインでの高速検査、オフライン測定が可能です。 各種インターフェースを用意しており、組み込み用途にも対応。 高分解能（最小XY分解能1μm～、最小Z分解能0.02μm～）で測定が行え、製品品質の向上、製造プロセスの時間・コスト削減に貢献します。 シングルポイントセンサでは、低価格向けの製品（CHRcodile C, CHRocodile Mini)も２種類用意しています 【特長】 ■幅広いセンサラインナップ 各種センサプローブの中から検査要件、材質に応じて選択可能 ■測定範囲に応じたセンサ シングルポイントセンサ、ラインセンサ型、エリアスキャン型をご用意 ■用途 PCBフレキの検査、ワイヤループ検査、ウエハバンプ検査などに活用可能 ※詳しくは資料をご覧ください。お問い合わせもお気軽にどうぞ。
研究者の水素透過研究の合理化に役立つ専用μStat-i MultiXソフトウェアツール
ASTM G148に準拠した単一器具による水素脆化技術の紹介
寸法測定、表面粗さ測定、膜厚測定を行い検査・品質管理を行っております
株式会社スタンダードテストピースでは『試験片の測定』を承っております。 安定的で確実な検査を実現する「二次元非接触型の画像寸法測定」を はじめ「アルマイト、めっき、コーティングなどの被膜測定」や 「接触型表面粗さ測定」などを受託。 詳しくは、お問い合わせください。 【受託内容】 ■寸法測定 二次元非接触型の画像寸法測定 ■表面粗さ測定 接触型表面粗さ測定 ■膜厚測定 アルマイト、めっき、コーティングなどの被膜測定 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
赤外線式 非接触 厚み計 「簡易操作とメンテナンスフリー！」 多層膜内の特定層限定厚み計測
＜小型軽量・カスタマイズ可能＞ 既存ラインの狭い設置場所などへ導入可能 ＜すぐに使える操作性＞ 基準片から検量線を自動作成します すぐに計測開始可能です ＜メンテナンスフリー＞ 光源・線源等、短期交換部品はありません ＜操作・表示用パソコン付属＞ 付属パソコンのみでシステムが完了（データ出力可）
化合物半導体サンプルを試料に、深さ分解能を測定した結果を紹介。
SIMS(二次イオン質量分析法)は数 kV の 1次イオンビーム(O2+, Cs+)を試料 表面に照射し、スパッタされた二次イオンを質量分析して試料中の微量 不純物を分析する事ができる装置です。 Q-pole SIMS(アルバックファイ：ADEPT-1010)によっては、Al0.28Ga0.72As/GaAs を 50nm ずつ分子線エピタキシー(MBE)で成膜した化合物半導体サンプルを 試料として用い、深さ分解能を求めました。 1次イオンビームを最適化したところ、Al0.28Ga0.72As 膜と GaAs 膜の界面での 27Al のプロファイルの傾きから深さ方向分解能を5nmまで高める事が出来ました。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
フィッシャーの製品ラインは、幅広い領域の測定・分析装置に及んでいます。
フィッシャーの製品ラインは、極めて様々なアプリケーションと様々な業界を対象とした、幅広い領域の測定・分析装置に及んでいます。最適の精度で正しい結果を得るために、それぞれにふさわしい測定方法を使用します。電磁式または渦電流式、ベータ線後方散乱式、電解式、微小硬さ法（インデンテーション）、あるいは蛍光X線式など、いずれの方式でもフィッシャーは適正な技術を持ちベストなソリューションをご提供いたします。
耐圧性能試験、水撃限界性能試験、逆流防止性能試験、耐久性能試験、浸出性能試験も実施いたしております。
2010年のJIS S 3201（家庭用浄水器試験法）の改正にも対応し、ろ過流量試験、除去性能試験、ろ過能力試験を行います。また、RO浄水器試験、浄水シャワー試験を浄水器協会規格（JWPAS)や日本水道協会規格（JWWA)に基づき計画から分析まで実施いたしております。試験水にRO膜透過水を用いており、安定した水質で試験を行うことができます。
外光・ノイズをキャンセルでき、暗室不要なためインラインで測定可能。透過率だけでなく暗い反射率も測定。【無料デモ測定可能】
『DD8-N』は、吸光度(OD)、透過率を暗室不用で評価することができ、 リアルタイム表示も可能な吸光度測定システムです。 リファレンスに対するサンプルの透過率から光学濃度を計算します。 複数ポイント測定をはじめ、偏光プリズムとの偏光度測定や 反射率測定など、各種オプションやカスタム仕様に対応可能です。 【特長】 ■超微弱光の8OD-12ODまで暗室不要で測定 ■外光・ノイズをキャンセルできる ■リファレンスに対するサンプルの透過率から光学濃度を計算 ■任意間隔で連続測定が可能 ■各種オプションやカスタム仕様に対応 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
最大±45°の傾斜でも正確かつ安定測定！全ての表面に対応します
『CHRocodile C』は、白色光を通した、色収差による変位もしくは 厚み測定を行う色収差共焦点センサーです。 440g以下のコンパクトサイズ。 "粗面"をはじめ、"鏡面"や"色付き材料"など全ての表面に対応します。 プローブヘッドは200um～10mmまでご用意しております。 【特長】 ■コンパクト ■表面依存無 ■最大±45°の傾斜でも正確かつ安定測定 ■形状に依存無 ■プローブヘッドは200um～10mmまで用意 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
XPS：X線光電子分光法など
高純度不活性ガス雰囲気下で試料前処理、搬送、測定を行うことで表面酸化、水分吸着を抑えた評価が可能です。 ■適用例 ・半導体電極材料 剥離面の評価等には二次汚染、酸化の影響を抑えて評価ができます。 ・有機EL材料 開封から不活性ガス雰囲気下で作業を行うことで、材料の劣化を防ぎます。 ・Li等電池材料 Li等N2雰囲気不可の場合はAr雰囲気で処理を行う等の対応も可能です。
フィラー、セラミックス、絶縁薄膜、半導体薄膜等、薄膜・微小領域の熱伝導評価に！！
この装置は、世界最小クラスの分解能を誇る、革新的な熱物性測定装置です。 サンプルの熱物性を点、線、面の各レベルで詳細に測定することが可能で、従来の装置では難しかったミクロンオーダーの熱物性値分布も正確に捉えます。 さらに、この装置は非接触測定でありながら、高分解能を実現しており、従来技術では不可能だった領域を新たに開拓しました。世界初の技術を搭載し、熱浸透率の測定に加え、好条件下では熱伝導率も直接測定可能です。 この装置は、研究開発において精密な熱物性解析を必要とする場面で、他に類を見ない性能を発揮します。 〇測定原理について〇 この装置の測定原理はサーモリフレクタンス法と言う手法になります。 材料の表面温度を高精度で測定する手法の一つで、特に微小領域や薄膜材料の熱特性を調べるために使われます。 この方法は、材料の表面温度変化に伴う反射率の変化を検出し、その変化から温度を測定する技術です。 得られる結果は熱浸透率と言うパラメーターです。 熱浸透率とは物質と物質が接しているときに熱をどれだけ奪い取るかを示す物理量です。 比熱と密度により、熱伝導率や熱拡散率と相互に変換できます。
USP<1087> Intrinsic Dissolution法による固有溶解度測定
Intrinsic法による溶出試験は一定のpHの試験液、温度、表面積から溶解速度を求めて原薬における重要な情報を提供します。生物薬剤学分類システム(BCS)は薬剤の溶解度と膜透過性の特性を分類しますが、Intrinsic法は溶解度を特徴づけることが可能です。
当社では動的接触角を測定することができ、より広範囲のはっ水性を知ることができます。
当社にある「自動接触角計」について紹介致します。 従来の接触角計では測定出来なかった、濡れ広がるときの接触角や、水滴が滑り落ちるときの滑落角までが測定可能になりました。 ふっ素樹脂コーティング膜の機能の一つとして、撥水性があります。 このような接触角計での測定結果を塗膜選定の判断基準の一つとして使用できます。 【従来と異なる主な測定機能】 1.液滴法(従来の接触角測定法)の経年変化 2.滑落法(水滴が滑り落ちるときの接触角測定法) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
前処理温度100℃でのCOパルス測定を実験！測定終了後試料の変化の写真画像を掲載！
カーボン担体に白金族(Pt、Ru等)を大量に担持した触媒は燃料電池MEA (膜/電極接合体)を構成する燃料極(負極)と空気極(正極)に使用され、 高効率化とCO被毒耐性向上の研究が盛んに行われています。 これらのカーボン担体貴金属担持触媒の分散度評価は一般的なCOパルスによって 行うことができますが、担体のカーボンが燃焼することを避けるため 酸素前処理を行わないことが選択される場合があり、測定の条件は 研究者によって異なっているのが現状です。 当資料では、触媒分析装置「BELCAT」を用いたパルス金属分散度測定における 酸素処理有無の影響と推奨される測定条件に関して詳しく述べています。 【掲載内容】 ■概要 ■実験 ■まとめ ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
比較的低分子量の環状、鎖状シロキサンを含む気体を測定し分離、検出が可能か確認！
低分子シロキサンはシリコーン製品の原料やドライクリーニング用溶媒、 化粧品の添加剤等で広く使用されています。 沸点が高いにもかかわらず揮発性が高い特長を持ち室温においても容易に 気中に拡散し、揮発後の再付着により半導体製造装置のレンズ曇りや 絶縁膜の耐圧低下、接点不良などの悪影響を及ぼすことが知られています。 今回は低分子シロキサンのうち比較的低分子量の環状、鎖状シロキサンを 含む気体を測定し分離、検出が可能か確認しました。詳細は、PDF資料より ご確認いただけます。是非、ご覧ください。 【概要】 ■Sylphによる分析 ・低分子シロキサンのうち環状シロキサン(D3,D4,D5,D6)と鎖状のシロキサン (M2,M3,M4,M5)をアセトン溶媒で希釈し、窒素を封入したガスバッグに注入後、 ガスをSylphに導入し測定 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
「CHRocodile 2 DPS色収差共焦点センサー」は、独立した2つの測定チャネルを搭載しております
研削作業では、加工中にウエハーの厚さを調整する必要があります。 非接触・非破壊の光学測定法であれば、ワークにストレスを加えたり ワークを破壊したりすることなく加工中のウエハーの厚みがモニター されるため、ソリューションとして好適です。 当社の「CHRocodile 2 DPS色収差共焦点センサー」は、独立した2つの 測定チャネルを搭載しています。 センサーは2つの色収差プローブを処理し、測定値と出力をリアルタイム に同期。ウエハーの最終的な高さや厚さを出力します。 【特長】 ■10年以上に及ぶCMPおよび研削の干渉測定から得たノウハウにより、 過酷な環境向けの色収差プローブの開発を実現 ■過酷な環境におけるウエハー厚の非接触式測定 ■プローブごとに10 kHzのデータ取得レート ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
水/水溶液専用4‐ラジアルピストンタイプ流量計（21MPa耐圧）！高分解能・高速応答で安定した流量測定及び制御が可能です！
『234MZ』は、水及び水溶性液（腐食性ケミカル溶液含む）対応高精度微小流量計です。 MAX社独特の計量及び検出技術によるシンクロナイズリンクされたベアリングレス、精密4-ラジアルピストンの回転計量により1cc/minから2000cc/minの広域流量範囲を低圧損で流量測定が出来ます。 検出はホールセンサCPU演算ソフト技術により高精度、高分解能、高速応答で安定した5V電圧パルス、±10VDC/±4-20mAアナログ出力されます。 また、各種吐出ポンプ固有の脈動減衰機能を装備しており安定した流量測定及びPLC制御等及び信号後処理対応が容易になります。 【特長】 ■広域流量レンジを低圧損・高精度流量測定 ■高分解能・高速応答で安定した流量測定及び制御が可能 ■使用液温度：5 ～ 90 ℃ / 雰囲気温度：5 ～ 80 ℃ など ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
高い柔軟性と効率性！測定点は最大12.5 mmの長さを持つライン上に広がっています
容器ガラスのびんを生産する際、生産速度が速いにもかかわらず、 びん1本1本の肉厚を検査する必要があります。 そして、容器の重要部分を測定する場合や、黒色ガラスや非球形容器を 測定する場合既存のポイントプローブセンサーでは難しい現状です。 当社の「CHRocodile MPS 2Lセンサー」は、測定点最大12.5 mmの長さを 持つライン上に広がっています。 高い柔軟性と効率性で、各チャネルを個別に処理できるため、1本の ラインプローブと最大12個の追加のポイントプローブを使用した 構成なども可能です。 【特長】 ■ラインプローブごとのデータ収集レートは4.5 kHz ■CHRocodile MPS 2Lによる毎秒108,000点の測定 ■移動速度の速いサンプルでもインライン検査が可能 ■使用するチャネル数を減らすことでサンプリングレートが増大 ■CHRocodile MPS 2Lは最大24個の独立したチャネルの測定、プローブの ラインに沿った測定点の選択機能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
多CHでの前後の測定が可能な、多ポイント膜厚測定。複数の受光ヘッドを使用し、複数ポイントの膜厚値を一括測定します。
『FF8』は、サンプルの反射率（干渉波形）を測定し、 膜厚演算方法の中のFFT（フ－リエ変換膜厚計）や、 カーブフィット膜厚計等によって 膜厚値の解析を行う非接触多ポイント膜厚測定が可能です。 膜厚測定の他にフィルム、硝子の厚さ、屈折率の測定も行うことができ、 オプションにより、多層膜・カーブフィット法・顕微鏡・マッピング測定・ 色測定・成分濃度解析も可能です。 オプションにて膜の厚みの差やムラ等の測定・解析を 効率的に行えるように、自動XYステージを使用して 自動マッピング測定が可能です。（マッピング膜測定） 【特長】 ■サンプルの反射率を測定し、FFT等によって膜厚値の解析を行う ■膜厚測定の他にフィルム、硝子の厚さ、屈折率の測定も行える ■測定データはファイル保存ができ、あとから再解析も可能 ■インライン膜厚測定としてもご使用頂ける ■カスタム仕様等の対応も可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
反射分光膜厚計『OPTM』を用いた絶縁膜の膜厚測定
半導体トランジスタは電流の通電状態を制御することで信号を伝達していますが、電流が漏れたり別のトランジスタの電流が勝手な通路を通り回り込むことを防止するために、トランジスタ間を絶縁するための絶縁膜が埋め込まれています。 絶縁膜にはSiO2（二酸化シリコン）やSiN（窒化シリコン）が用いられます。 SiO2は絶縁膜として、SiNはSiO2より誘電率の高い絶縁膜として、または不必要なSiO2をCMPで除去する際のストッパーとして使用され、その後にSiNも除去されます。 このように絶縁膜としての性能、正確なプロセス管理のため、これらの膜厚を測定する必要があります。
ハードコートの膜厚測定
近年、様々な機能を持つ高機能フィルムを用いた製品が一般に普及しており、用途によってはフィルム表面に耐摩擦、耐衝撃、耐熱、耐薬品などの性能を持つ保護フィルムが必要になることもあります。保護フィルム層としてハードコート(HC)膜を製膜することが一般的ですが、HC膜の厚みによって保護フィルムとして機能しなかったり、フィルムにそりが生まれたり、見た目のムラや歪みの原因になるため、HC層の膜厚値を管理する必要があります。
半導体製造における薄膜の膜厚測定をサポート
半導体業界では、製品の品質管理において、薄膜の正確な膜厚測定が不可欠です。薄膜の厚さは、デバイスの性能に直接影響するため、正確な測定と管理が求められます。膜厚のばらつきは、歩留まりの低下や製品の不良につながる可能性があります。クイントソニックTは、非破壊で最大8層までの膜厚を測定し、半導体製造における品質管理を支援します。 【活用シーン】 ・半導体ウェーハ上の薄膜測定 ・コーティング膜厚の測定 ・薄膜デバイスの品質管理 【導入の効果】 ・非破壊測定による検査時間の短縮 ・最大8層までの膜厚測定による多層膜の管理 ・EXCEL形式でのデータ出力とPDFレポート作成によるデータ管理の効率化
電子機器のコーティング厚を非破壊で測定
電子機器業界では、製品の品質と信頼性を確保するために、コーティングの正確な膜厚測定が不可欠です。特に、基板や筐体などのコーティングは、製品の性能や耐久性に大きく影響します。膜厚が不適切だと、絶縁不良や腐食、性能劣化を引き起こす可能性があります。クイントソニックTは、非破壊で最大8層までの膜厚を測定し、電子機器の品質管理をサポートします。 【活用シーン】 ・電子部品のコーティング厚測定 ・基板の絶縁膜厚測定 ・筐体の塗装膜厚測定 【導入の効果】 ・非破壊測定による検査時間の短縮 ・多層膜厚の同時測定による効率化 ・測定データのEXCEL出力とレポート作成による記録管理の簡素化
金属・非金属素地上の皮膜厚を非破壊で測定
石油化学業界の配管では、腐食や劣化を防ぐための適切なコーティングが不可欠です。配管の安全性を確保するためには、コーティングの膜厚を正確に測定し、適切なメンテナンスを行うことが重要です。膜厚が不十分な場合、腐食が進行し、配管の破損や漏洩につながる可能性があります。クイントソニックTは、配管のコーティング膜厚を非破壊で測定し、安全管理をサポートします。 【活用シーン】 ・配管のコーティング膜厚測定 ・プラント設備のメンテナンス ・腐食診断 【導入の効果】 ・非破壊測定による迅速な検査 ・データのEXCEL出力とレポート作成による記録管理 ・最大8層までの膜厚測定による多層コーティングの評価
