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測定(膜) - 企業と製品の一覧

更新日: 集計期間:2025年03月26日~2025年04月22日
※当サイトの各ページの閲覧回数を元に算出したランキングです。

製品一覧

1~15 件を表示 / 全 28 件

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1ライン3CH設置や、工程前後に測定が可能!多ポイント膜厚測定

多CHでの前後の測定が可能な、多ポイント膜厚測定。複数の受光ヘッドを使用し、複数ポイントの膜厚値を一括測定します。

『FF8』は、サンプルの反射率(干渉波形)を測定し、 膜厚演算方法の中のFFT(フ-リエ変換膜厚計)や、 カーブフィット膜厚計等によって 膜厚値の解析を行う非接触多ポイント膜厚測定が可能です。 膜厚測定の他にフィルム、硝子の厚さ、屈折率の測定も行うことができ、 オプションにより、多層膜・カーブフィット法・顕微鏡・マッピング測定・ 色測定・成分濃度解析も可能です。 オプションにて膜の厚みの差やムラ等の測定・解析を 効率的に行えるように、自動XYステージを使用して 自動マッピング測定が可能です。(マッピング膜測定) 【特長】 ■サンプルの反射率を測定し、FFT等によって膜厚値の解析を行う ■膜厚測定の他にフィルム、硝子の厚さ、屈折率の測定も行える ■測定データはファイル保存ができ、あとから再解析も可能 ■インライン膜厚測定としてもご使用頂ける ■カスタム仕様等の対応も可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • 光学測定器

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EPMAによる薄膜の膜厚分布測定

極小領域の膜厚測定が可能に!電子線照射時に発生する特性X線の強度から膜厚を算出

当社ではEPMAによる薄膜の膜厚分布測定を行っております。 薄膜の膜厚測定は主に蛍光X線法やX線反射率法で行われており、X線を入射源と しているためある程度の広い測定領域の平均的な膜厚しか測定できませんでした。 それに対して電子線を活用することにより、極小領域(約1μm2)の膜厚測定、 さらに膜厚分布(マッピング)が可能となりましたので、ご活用ください。 【特長】 ■測定原理:電子線照射時に発生する特性X線の強度から膜厚を算出 ■使用装置:EPMA ■面分解能:約1μm ■最大測定膜厚:約1μm ■最小マッピング領域:約80×80μm ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • 受託測定

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技術情報誌 202304-03 分離膜のナノ貫通孔径の選択的測定

水銀透過法の概要及び既存手法との比較事例を通じて、水銀透過法が機能層のナノ貫通孔径を選択的に評価可能な手法であることを紹介する。

技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品質管理等のお役に立つ分析技術の最新情報です。 【要旨】 サステナブルな社会の実現において、優れた透過性能を持つ膜による省エネで低コストな分離・精製技術の開発がエネルギー、半導体、医療など様々な分野で期待されている。膜の透過性能は細孔構造に支配されるため、高度化した細孔構造を評価するための技術が重要となる。ここでは、東レリサーチセンターが独自に開発した水銀透過法の概要、及び既存手法との比較事例を通じて、水銀透過法が機能層のナノ貫通孔径を選択的に評価可能な手法であることを紹介する。 【目次】 1. はじめに 2. 水銀透過法の概要 3. 水銀透過法を適用した事例 4. まとめ

  • 受託解析
  • 受託測定
  • 技術書・参考書

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【冊子プレゼント】現場塗装における検査測定ガイドブック

橋梁・建築・造船の塗装品質・規格管理に不可欠な塗膜および下地処理の検査測定方法を詳説

膜厚(鉄や非鉄金属、コンクリートや木材上の塗膜)・表面粗さ・付着性・結露・表面付着塩類・塗料粘度の測定検査方法を解説 月間『塗装技術』編集デスクの協力を得て、どなたでもご覧いただけるように連載を1つの冊子にまとめました。 機器の案内と合わせて、品質管理にお役立てください。

  • その他計測・記録・測定器

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液膜安定性測定

表面張力計を用いた新たな液体膜(泡膜)持続性評価方法 ~コーティングの塗膜品質評価への応用の可能性~

ラメラ長測定に代わる新たな液体膜の評価方法を考案! 〇表面張力計DyneMasterシリーズ用 オプションとして販売。 〇官能評価では明瞭な差異がある試料でも、表面張力やラメラ長測定で差異が見えづらく、定量的な評価ができない事象に対し、有効な手立てとなる評価方法です。 ●その他機能や詳細については、カタログをダウンロードもしくはお問い合わせ下さい。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • 製造受託
  • その他理化学機器
  • 受託測定

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膜厚測定

膜厚測定に関するアプリケーション情報を詳しく解説します

オーシャンオプティクスは、半導体、産業、医療および消費者市場の アプリケーション向けに光学的および非光学的膜厚特性を測定するための モジュラー式および完全統合型システムの両方を提供しています。 顧客は、シリコンウェーハの厚さを測定し、マスク用のフォトレジスト層を判断し、 コーティングの硬度および摩耗を試験するためのシステムを構成しています。 数量の多いOEMアプリケーション向けコンポーネントも利用できます。 これらのデバイスは、真空紫外から赤外までをカバーし、分光技術を 幅広いアプリケーションに役立てるレベルの精度と再現性を実現します。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • 分光分析装置
  • その他

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蓄電池・バッテリーの測定をサブミクロン分解能で高速高精度で測定

高温環境での平坦度測定や製造工程中の異物検査、ボタン電池のエッジ形状検査、セパレーター厚みやコーティング厚みの測定等の実績豊富!

当社は色収差共焦点・干渉を原理とした非接触タイプの測定器を取り扱っています。 膜厚測定、形状測定、粗さ測定、変位測定、外観検査に適用でき、加工中のインプロセス測定やインラインでの高速検査、オフライン測定が可能です。 各種インターフェースを用意しており、組み込み用途にも対応。 高分解能(最小XY分解能1μm~、最小Z分解能0.02μm~)で測定が行え、製品品質の向上、製造プロセスの時間・コスト削減に貢献します。 シングルポイントセンサでは、低価格向けの製品(CHRcodile C CHRocodile Mini)も2種類用意しています 【特長】 ■幅広いセンサラインナップ   各種センサプローブの中から検査要件、材質に応じて選択可能 ■測定範囲に応じたセンサ   シングルポイントセンサ、ラインセンサ型、エリアスキャン型をご用意 ■用途   PCBフレキの検査、ワイヤループ検査、ウエハバンプ検査などに活用可能 ※詳しくは資料をご覧ください。お問い合わせもお気軽にどうぞ。

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  • その他計測・記録・測定器

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非接触 インフレーションフィルム厚さ測定 ガスバリア層膜厚測定

赤外線式 非接触 厚み計 「簡易操作とメンテナンスフリー!」 多層膜内の特定層限定厚み計測

<小型軽量・カスタマイズ可能>  既存ラインの狭い設置場所などへ導入可能 <すぐに使える操作性>  基準片から検量線を自動作成します  すぐに計測開始可能です <メンテナンスフリー>  光源・線源等、短期交換部品はありません <操作・表示用パソコン付属>  付属パソコンのみでシステムが完了(データ出力可)

  • 膜厚計

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試験片の測定

寸法測定、表面粗さ測定、膜厚測定を行い検査・品質管理を行っております

株式会社スタンダードテストピースでは『試験片の測定』を承っております。 安定的で確実な検査を実現する「二次元非接触型の画像寸法測定」を はじめ「アルマイト、めっき、コーティングなどの被膜測定」や 「接触型表面粗さ測定」などを受託。 詳しくは、お問い合わせください。 【受託内容】 ■寸法測定 二次元非接触型の画像寸法測定 ■表面粗さ測定 接触型表面粗さ測定 ■膜厚測定 アルマイト、めっき、コーティングなどの被膜測定 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。

  • その他受託サービス

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化合物半導体系超格子サンプルにおける深さ分解能測定

化合物半導体サンプルを試料に、深さ分解能を測定した結果を紹介。

SIMS(二次イオン質量分析法)は数 kV の 1次イオンビーム(O2+ Cs+)を試料 表面に照射し、スパッタされた二次イオンを質量分析して試料中の微量 不純物を分析する事ができる装置です。 Q-pole SIMS(アルバックファイ:ADEPT-1010)によっては、Al0.28Ga0.72As/GaAs を 50nm ずつ分子線エピタキシー(MBE)で成膜した化合物半導体サンプルを 試料として用い、深さ分解能を求めました。 1次イオンビームを最適化したところ、Al0.28Ga0.72As 膜と GaAs 膜の界面での 27Al のプロファイルの傾きから深さ方向分解能を5nmまで高める事が出来ました。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他

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膜厚測定 総合カタログ

フィッシャーの製品ラインは、幅広い領域の測定・分析装置に及んでいます。

フィッシャーの製品ラインは、極めて様々なアプリケーションと様々な業界を対象とした、幅広い領域の測定・分析装置に及んでいます。最適の精度で正しい結果を得るために、それぞれにふさわしい測定方法を使用します。電磁式または渦電流式、ベータ線後方散乱式、電解式、微小硬さ法(インデンテーション)、あるいは蛍光X線式など、いずれの方式でもフィッシャーは適正な技術を持ちベストなソリューションをご提供いたします。

  • その他検査機器・装置

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暗室不要で超微弱光を自動測定!吸光度測定システム『DD8-N』

外光・ノイズをキャンセルでき、暗室不要なためインラインで測定可能。透過率だけでなく暗い反射率も測定。【無料デモ測定可能】

『DD8-N』は、吸光度(OD)、透過率を暗室不用で評価することができ、 リアルタイム表示も可能な吸光度測定システムです。 リファレンスに対するサンプルの透過率から光学濃度を計算します。 複数ポイント測定をはじめ、偏光プリズムとの偏光度測定や 反射率測定など、各種オプションやカスタム仕様に対応可能です。 【特長】 ■超微弱光の8OD-12ODまで暗室不要で測定 ■外光・ノイズをキャンセルできる ■リファレンスに対するサンプルの透過率から光学濃度を計算 ■任意間隔で連続測定が可能 ■各種オプションやカスタム仕様に対応 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • 分析機器・装置

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金属 コーティング向け インデンテーション・スクラッチ・摩擦測定

金属材料やコーティングのナノインデンテーションテスタ・スクラッチ試験機・摩擦摩耗試験機による表面機械特性試験による評価

金属は全ての元素の約3分の2を占めており、地球の質量の24%を占めています。 金属は強度、延性、高融点、熱伝導率と電気伝導率などの特性から広い分野で使用されています。 また、ものづくりには必須な硬質膜コーティングも金属から生成されます。 アントンパール社製の表面機械特性試験機、ナノインデンテーションテスタやスクラッチ試験機を用いることにより様々な金額・コーティングの評価が可能となります。 ナノインデンテーションテスタで取得できる物性値 -硬さ -弾性率 -粘弾性(E’、 E”、 tanδ) -降伏応力(クリープ率) -破壊靭性(粒子の破壊試験) スクラッチ試験機で取得できる物性値 -密着性 -傷のつきやすさ 摩擦摩耗試験機で取得できる物性値 -摩擦係数 -摩耗量 プラットフォームタイプに複数のモジュールを組み合わせることができ、ナノインデンテーションテスタとスクラッチ試験機を同一機体に搭載できる機種もございます。

  • その他金属材料

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高純度雰囲気下での前処理・測定

XPS:X線光電子分光法など

高純度不活性ガス雰囲気下で試料前処理、搬送、測定を行うことで表面酸化、水分吸着を抑えた評価が可能です。 ■適用例 ・半導体電極材料  剥離面の評価等には二次汚染、酸化の影響を抑えて評価ができます。 ・有機EL材料  開封から不活性ガス雰囲気下で作業を行うことで、材料の劣化を防ぎます。 ・Li等電池材料  Li等N2雰囲気不可の場合はAr雰囲気で処理を行う等の対応も可能です。

  • 受託解析

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原薬の溶出性評価に!Intrinsic 固有溶解度測定

USP<1087> Intrinsic Dissolution法による固有溶解度測定

Intrinsic法による溶出試験は一定のpHの試験液、温度、表面積から溶解速度を求めて原薬における重要な情報を提供します。生物薬剤学分類システム(BCS)は薬剤の溶解度と膜透過性の特性を分類しますが、Intrinsic法は溶解度を特徴づけることが可能です。

  • その他 理化学機器
  • 溶出試験機

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