更新日： 集計期間:2025年03月26日～2025年04月22日
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非接触でXY方向の二次元測定が可能！高精度の公差がある複雑で精密な寸法測定に
当社では、工具顕微鏡を使用し、製品や部品の寸法を計測いたします。 200mm×150mmまでの大きさに対応。 非接触でXY方向の二次元の測定が可能です。 コネクタ製品やカメラ部品など、±0.02mmといった 高精度の公差がある複雑で精密な寸法測定を得意としています。 測定箇所を拡大して肉眼で確認できるため、バリ・ホコリ・形状異常を 認識しながら、測定物の評価が可能であり、図面と製品から判断し、 測定箇所に応じた切断やカットを行い、より良い方法で測定します。 【特長】 ■200mm×150mmまでの大きさに対応 ■非接触でXY方向の二次元の測定が可能 ■高精度の公差がある複雑で精密な寸法測定に適している ■測定箇所を拡大して肉眼で、バリ・ホコリ・形状異常などを確認可能 ■図面と製品から判断し、測定箇所に応じた切断やカットを行い、 より良い方法で測定する ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
ウエハ表面に可視でAFフォーカス！赤外顕微鏡でパターン寸法を画像測定
アローズエンジニアリングでは、アイティ・テック社製の 『自動赤外顕微鏡』を取扱っています。 当製品は、8”貼り合わせウエハの表面に可視でAFフォーカスして 赤外顕微鏡でSi内部パターンのパターン寸法を画像測定します。 2カセット、エッジグリップチャック、エッジアライナを搭載しています。 【特長】 ■対象ウエハ 8” ■2カセット ■位置決め精度±1μm ■軸ズレ測定±0.5μm ■線幅測定 0.2μm ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
表裏の位置ずれ／寸法測定顕微鏡をご紹介。高精度、低価格化を実現しました
『TOMOS-50』は、水晶振動子、MEMS、半導体等の電子部品の表裏を 同時に撮影、±0.2μm以下の精度で測定できるコンパクトタイプの 表裏位置ずれ計測システムです。 表裏光軸補正はマイクロステージ＋ソフトウェアで高精度に補正可能。 また、装置組込用両面顕微鏡モジュールとしての販売もしております。 お問い合わせください。 【特長】 ■コンパクトタイプ ■約300万画素 ■表裏両面を同時撮影、寸法計測、位置ずれ計測が可能 ■表裏光軸補正はマイクロステージ＋ソフトウェアで高精度に補正 ■±0.2μm以下の繰り返し精度で表裏の位置ずれを測定(条件により異なる) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
先端寸法5μm x 5μmのカンチレバーを有した走査型プローブ顕微鏡タイプの表面電位分布計測システムです。
今までの表面電位計では測定出来なかった 非常に細かい10μm程度の表面電位分布を測定する事が出来、数mm程度の非常に広いエリアの走査が可能です。 ±1000Vの電圧を0.5%の高精度で測定する事が出来ます。
C-AFMやKFM、sMIMなどの測定モードで最大100mm角のサンプルに対応
導電性AFM、ケルビンプローブフォース顕微鏡法（KFM）、走査型マイクロ波インピーダンス顕微鏡法（sMIM）などの機能に加え、4インチまでのサンプルに対応。 ■サンプルサイズ ：最大100 mm角 ■ステージ移動距離 ：100 mm ■XY走査範囲 ： 100 μm (製造寸法公差 +/- 10%) ■Z走査範囲 ： 9 μm (製造寸法公差 +/- 10%) ■XY走査分解能 : 24ビット制御 – 0.06 Angströms ■Z走査分解能 : 24ビット制御 – 0.006 Angströms ■ノイズレベル ：Typ : <0.01 mV RMS
鮮明な画像を提供。広いワーキングディスタンス。オートフォーカスで簡単操作！顕微鏡・拡大鏡『TAGARNO FHD TREND』
当製品は、TAGARNO社製のスタンドアローンタイプ外観検査用 デジタルマイクロスコープです。 モニターでの観察やドキュメント作成が簡単で、干渉や遅れも無く、 正確で歪みの無い画像を提供します。 本体装備の USB2.0 スロットを使用して画像を保存し、PCに保存が可能。 社内のネットワークを利用してドキュメントの共有も行えます。ルーラー表示も可能。 測定アプリケーションでは、ポイントからポイントまでの長さ、 円の半径・直径・外周長や角度、面積の測定、キャリブレーション、 レンズの補正、テキストや矢印、注釈の追加などが可能です。 オプションで、紫外線・赤外線ライト、偏光レンズ、偏光フィルター、分散レンズも追加できます。 オプションアプリケーション：画像比較（マッピング）、粒度分布、カラー分析、スペックカウンター等。 【特長】 ■首や腰に負担のかからない楽な姿勢で長時間作業が可能 ■高品質の画像記録（フルHD1080pの高画質、60fps、光学30倍） ■最大総合倍率330倍、画像を顕微鏡本体やPCに保存可能 ※デモ機をご希望の方は、お問い合わせよりご連絡ください。
被検物の表裏両面の像を顕微鏡の視野内で重ね合わせズレ量を比較観察し、メジャーリングシステムで測定できる顕微鏡。
被検物の表裏両面の像を顕微鏡の視野内で重ね合わせ、そのズレ量を比較観察し、 メジャーリングシステムで測定できる顕微鏡です。 対物レンズは観察倍率50倍から1000倍まで5種類で多種多様な試料に対応できます。 NIR可視/赤外透過タイプ。 カメラ位置合成装置もあります。 詳しくは、カタログをダウンロード、もしくはお問い合わせください。
光学画像からSEM観察までがシームレス！観察しながら同時に元素分析！
当社では、観察中に元素分析も同時測定できる 卓上型電子顕微鏡『JCM-7000 Neo Scope』を取り扱っております。 観測範囲は10倍から100 000倍でSEMのすべての機能が簡単に操作可能。 低倍率の光学画像からSEM画像まで自動拡大し、非導電性試料も そのまま観察できます。 【特長】 ■10倍から100 000倍の観測範囲 ■SEMのすべての機能が簡単操作 ■低倍率の光学画像からSEM画像まで自動拡大-Zeromag-（新機能） ■観察中に元素分析も同時測定-Live Analysis-（新機能）※オプション ■ミクロの寸法測定機能が標準 他 ※詳しくは、お気軽にお問い合わせください。
品質管理を簡単に！迅速かつ容易に新技術へアップデート可能な顕微鏡・拡大鏡『TAGARNO FHD PRESTIGE』
当製品は、TAGARNO社製のスタンドアローンタイプ外観検査用 デジタルマイクロスコープです。最高倍率津で、非常に幅広いワーキングディスタンスを実現しました。 被写界深度の深い非常にシャープな画像を表示し、拡大対象物の品質をドキュメント化します。 またレンズの選択に応じて、24インチモニターで1.7倍～660倍まで拡大することが可能。 さらに、USB2.0スロットを使用して、任意のUSBメモリースティックに直接画像を保存し、 後でパソコンに画像を転送することができる上、ドキュメントは迅速かつ簡単に 会社の取引先と共有できます。 【特長】 ■優れた高品質の画像ドキュメントを入手 ■高さの異なる対象物の高品質画像ドキュメントを作成 ■優れた安定性により高倍率レベルを実現 ■パソコン不要の計測実行 ■簡単に保存し、共有した画像とビデオを検証 ■簡単に正確に小さな対象物を測定 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
ナノ・マイクロ・ミリが一台で測れるトリプルスキャン方式のレーザ顕微鏡
『VK-X3000』は、レーザ共焦点・フォーカスバリエーション・白色干渉の 3つの異なるスキャン原理が一台で使用できるレーザ顕微鏡です。 サンプルワークの素材や形状や測定範囲に合わせて好適なスキャン方式を 選択することにより、高精度に測定が可能。 高さや寸法を計測するだけの従来型の測定ソフトではなく、さらに一歩 踏み込んだ解析を豊富な解析ツールによって思いのままに実現します。 【特長】 ■ナノ・マイクロ・ミリが一台で測れるトリプルスキャン方式 ■292種類の解析ツールにより、知りたいことはこの一台で完結 ■光学顕微鏡からSEMの領域を1台でカバー ■非接触で一瞬にして形状をスキャン ■知りたかった表面の“違い”がわかる ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
要求の厳しい研究開発および製造技術ラボ用の加熱顕微鏡システム
『HM 867』は、サンプルを分析し、それらの特性形状を識別することにより、 産業プロセスにおける一層優れた熱サイクルの最適化が可能になりました。 当製品の精密なマイクロステッパーモーターは、カメラとファーナスの 位置調整を含め、XYZ軸上において完全に自動化されたPC制御の操作が可能。 また、光学ベンチは、温度範囲全体で性能と安定性を保証するために、 動的サーモスタット制御システムを備え、熱的に超安定した材料で機械加工 されたHD CMOSベースビデオカメラを搭載しています。 【特長】 ■完全に自動化されたPC制御の操作が可能 ■HD CMOSベースビデオカメラを搭載 ■広範囲における形状とサイズのサンプルを分析できる ■同時に8個までのサンプルを測定
XY電動ステージとオートフォーカス機能を搭載！ソフトウェアなどのカスタマイズも対応
『TOMOS-60XY』は、ワークの複数箇所を自動測定できる6インチ電動 XYステージ 両面顕微鏡システムです。 あらかじめ指定したワークの測定箇所に自動で移動し、水晶振動子、 MEMS、半導体ウェハ、電子部品の表裏パターンやアライメントマークの ずれを自動測定することが可能。 また、XYステージとワークの装着位置のずれ補正アライメント機能を 搭載し、正確に移動制御し測定エラーを防ぎます。 【特長】 ■円、四角、十字等のアライメントマークのエッジを 自動検出し、中心座標同士のずれを測定 ■XYZステージ制御条件、測定条件、マップ作成、 レシピ登録し、ワークの複数個所を自動測定 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
