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エリプソメータ - 企業4社の製品一覧

製品一覧

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高速分光エリプソメータ UNECSシリーズ

薄膜の膜厚や屈折率を高速・高精度に測定する分光エリプソメータです。【アルバック/ULVAC】

UNECSシリーズは薄膜の膜厚や屈折率を高速・高精度に測定する分光エリプソメータです。 独特な測定方式を採用し、高速測定とコンパクト化を実現しています。 ユニークなポータブルタイプをはじめ、自動ステージタイプや真空環境に対応した装置ビルトインタイプまで、用途に応じ幅広いラインアップを用意しております。 【仕様】 ○高速測定 →独特なスナップショット方式の採用により、最速20msの高速測定を実現 ○可視分光対応 →波長範囲は標準タイプ(530nm〜750nm)および  可視分光タイプ(380nm〜760nm)から選択できる ○コンパクトなセンサユニット →投受光センサは回転機構を持たない光学素子のみで構成されており  非常に軽量・コンパクトで、定期的なメンテナンスも必要ない ○豊富なラインアップ →ユニークなポータブルタイプをはじめ、手動/自動ステージタイプや  大型基板タイプ、大気/真空環境に対応した装置ビルトインタイプ  など、多様な用途に対応したラインアップを用意している 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。

  • その他計測・記録・測定器

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分光エリプソメーター GES5E

薄膜光学特性を非破壊で測定! 手軽に高精度測定できる分光エリプソメトリー

日本セミラボの分光エリプソメーター『GES5E』は、従来の光学測定器では不可能だった薄膜光学特性の測定を非破壊で実現しました。 薄膜、多層膜の膜厚、各層の屈折率(N K値)波長分散を算出。研究開発からインライン生産品質管理ほかあらゆる分野で活躍しています。 【測定可能な物理特性】 ■厚さ光学屈折率 ■屈折率の勾配と材料組成 ■ドーパント濃度

  • 光学測定器
  • 分光分析装置
  • プローブ

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ロールツーロール分光エリプソメータ

ロールツーロール分光エリプソメータ

QCモニタリングにて非常に多くの実績があります。

  • 半導体検査/試験装置
  • 距離関連測定器
  • 分光分析装置

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半導体電気特性評価テラヘルツ分光装置・テラヘルツエリプソメーター

複素誘電率(複素屈折率)の周波数依存性を計測可能な唯一の装置です。

電場強度と共に位相情報も同時計測が可能。

  • 基板検査装置

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【初回測定無料キャンペーン】分光エリプソメーター Auto SE

Auto SEによる膜厚・光学定数測定 初回3サンプルまで無料で実施!!

■□■□■□■□■□■□■□■□■□■□■□■□■□■□■   11月中にお申込いただいたお客様限定!!   Auto SEによる分光エリプソメトリ測定(膜厚・光学定数測定)を   初回3サンプルまで無償で測定を実施いたします。 ■□■□■□■□■□■□■□■□■□■□■□■□■□■□■ 新規開発の光学モデルによりDLCの膜質評価を非破壊・非接触で行います。 各種製法により成膜された水素を含有するDLCから、水素フリーDLCまで瞬時に非破壊測定を行い、膜厚・光学定数(屈折率・消衰係数)の算出ができます。 簡単な操作で、1nm~15μmの膜厚範囲の単層膜から多層膜までのサンプル測定が可能です。 XYZ電動ステージによる面分析や、100μm以下の微小エリアの測定ができます。 イメージングシステムにより、サンプル表面状態や測定スポットの厳密な位置確認が可能です。 【詳しくはカタログダウンロード、またはお気軽にお問い合わせください】

  • 膜厚計
  • その他検査機器・装置

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