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外観検査装置(異物) - メーカー・企業と製品の一覧

更新日: 集計期間:2025年07月09日~2025年08月05日
※当サイトの各ページの閲覧回数を元に算出したランキングです。

外観検査装置の製品一覧

46~60 件を表示 / 全 74 件

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AI外観検査装置『Separate Checker-AI』

2Dカメラ、3Dレーザ検査、AIで高精度検査を実現。プロジェクタによって良否判定結果をコンベア上で表示可能

AI外観検査装置『Separate Checker-AI』は、 自社開発のAIを搭載し、2Dカメラや3Dレーザによって 高精度の良否判定を実現する製品です。 カラーラインカメラで色差・異物・シワなどの表裏検査が可能。 3Dレーザで凹凸や厚みの検査にも対応でき、 AIによって迅速で正確な目視に近い判定を実現できます。 長年の設備技術をもとに、ご要望に合わせた検査装置の製作を承ります。 【特長】 ■プロジェクタで検査結果の色分け表示が可能 ■初心者でも簡単に検査ができ、見逃しを防止 ■既存のコンベアに設置可能。取り付けも容易 ■ワーク同士が接触していても検出可能 ■ワークサイズの変更にも対応して検出 ※詳しくは資料をご覧ください。お問い合わせもお気軽にどうぞ。

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両面式プリント配線板外観検査機 VISPER 7シリーズ

両面同時撮像タイプでタクトタイムを短縮!各種基板に対応可能!

「VISPER 7シリーズ」は、世界中で使われてきた信頼できるハードウェアと両面同時撮像の採用によりタクトタイムを短縮します。小型基板から大型基板まで、各種基板に対応できるラインアップをご用意しています。解析結果から不具合内容を集計する、品質管理向けソフトも充実しています。 【ラインアップ】 ○VISPER710SLZ/710SLWZ 両面同時撮像タイプ ○VISPER730STZ/STWZ 大型基板も検査できる、両面同時撮像タイプ ○VISPER740STWZ 特大基板対応(450mm×660mm)両面同時撮像タイプ その他詳細は、カタログをダウンロード、もしくはお問合せ下さい。

  • 外観検査装置
  • プリント基板
  • 基板検査装置

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ICパッケージ自動外観検査装置『LI700E』

省スペースで検査の自動化を実現!高精度2次元&3次元寸法計測が可能な検査装置

『LI700E』は、ICパッケージの端子曲がり等の寸法検査、及びキズ・異物等の欠 陥検査を実施する外観検査装置です。 省スペースで検査の自動化を実現。製品下面より、モールド面や端子面の検査を 実施し良否判定/選別をします。 【特長】 ■高精度2次元&3次元寸法計測 ■欠陥検査 ■小型・省スペース ■自動ヘルスチェック機能 ■トレーサビリティデータ管理への対応 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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ICパッケージ自動外観検査装置『LI700E』

省スペースでICパッケージの自動化を実現!高精度2次元&3次元寸法計測が可能な検査装置

『LI700E』は、ICパッケージの端子曲がり等の寸法検査、及びキズ・異物等の欠陥検査を実施する外観検査装置です。 省スペースで検査の自動化を実現。製品下面より、モールド面や端子面の検査を実施し良否判定/選別をします。 【特長】 ■高精度2次元&3次元寸法計測 ■欠陥検査 ■小型・省スペース ■自動ヘルスチェック機能 ■トレーサビリティデータ管理への対応 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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ウエハ外観検査装置(ダイシング前)

検査精度に合わせた画像分解能が選択可能!高速かつ高精度な検査を実現

『ウエハ外観検査装置(ダイシング前)』は、ウエハ工程で発生する 外観欠陥を高速かつ高精度で検査が可能な装置です。 検査精度に合わせた画像分解能が選択可能。(マクロ検査約10um分解能以上) また、ビューワーソフトは、検査結果マップ表示機能・NGチップ拡大表示機能・ 不良分類表示機能(不良項目/検査総数/OK/NG)がお使いいただけます。 【特長】 ■多機能画像検査ソフトHu-Dra ■ウエハ工程で発生する外観欠陥の検査が可能 ■オートフォーカス機能(オプション) ■全数のマーキングミスチェック機能(オプション) ■ID読込み及びマッピングデータ出力機能(オプション) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • 外観検査装置

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セラミックス基板自動外観検査装置『FV203CR』

表面及び裏面の両面検査に対応!高速照明切替と高速画像取込みで高速検査を実現

『FV203CR』は、パワーデバイス用個片セラミックス基板の表/裏面に 存在するバリや欠け、クラック、キズ、汚れ、変色、ろう材はみ出し、 異物、膨れ/凹み欠陥等の外観検査を行う装置です。 セラミックス基板が収納されたマガジンやトレイ等をセットする事で、 セラミックス基板表/裏面の外観検査を行い、検査結果に基づいて 良品/不良品に選別を行います。 【特長】 ■高密度3D検査により「膨れ」「凹み」欠陥を検出 ■マルチアングル照明を用いて最適な照明環境を実現 ■高速照明切替と高速画像取込みで高速検査を実現 ■表面及び裏面の両面検査に対応 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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  • 外観検査装置
  • 欠陥検査装置
  • その他検査機器・装置

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マスク外観検査装置

設置する製造ラインに合わせ好適な構成をご提案!さまざまな欠陥が検出できます

マスクの品質は大丈夫ですか?マスク外観検査装置では、 カメラで外観検査を自動化し様々な欠陥が検出できます。 ​ディープラーニングソフトを実装することで、検査が難しいプリーツ 折り目の強弱や耳ひもの溶着後のひも姿勢やマスクの反りによる 検査結果への影響を軽減し早期に安定した検査を実施。 設置する製造ラインに合わせ好適な構成をご提案いたします。 【マスク外観検査装置ができる事】 ■外形寸法を計測し、規定寸法に入っているかどうかを検査 ■プリーツが正確に生成されているかどうかを計測し異常を検知 ■ノーズフィットの挿入がされているか、挿入位置が正確かどうかを検査 ■耳ひもが溶着されずに無いもの、溶着した位置が著しくズレているもの、  溶着が不完全なものなどを検出 ■​不織布原反のつなぎテープの検出や原反上にある不良マーク検出が可能 ※詳しくは関連リンクページをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他検査機器・装置

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最終基板外観検査装置

人工知能による優れた欠陥識別能力をもった最終基板外観検査装置

従来の最終外観検査装置に用いられてきました学習方式では、学習枚数が増えると擬似欠陥が減少する変わりに、欠陥検出能力が極端に落ちていきます。特にパターン近傍の微小欠陥は、 ほとんど見えなくなります。 当社では、このような学習方式の欠点を克服した新技術の開発に成功しました。本技術は、欠陥検出用人工知能のパラメータの重みや結合状態を学習により変化させていく方式で従来の学習方式で欠点とされたパターン近傍の欠陥も精度よく検出でき、しかも擬似欠陥がほとんど生じません。 本技術の開発により、従来不可能とされてきた半田基板の半田キワレジスト剥がれ、半田過多等の欠陥も検出できるようになりました。

  • 画像解析ソフト
  • 外観検査装置

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太陽電池セル外観検査装置

出力線のズレ、セル間のピッチ、セルのカケ・クラックなどを高精度で検査

PV-Module外観検査システムは、PVモジュールを高画素のラインセンサカメラを使って撮像し、不良品を検出してNG信号を出し、「出力線のズレ」や「セル間のピッチ」、「セルのカケ・クラック」などを高精度で検査します。モジュール用ガラス検査や樹脂封止後の気泡検査等、モジュール製作工程のあらゆる外観検査工程のご相談を承ります。また、自社開発の検査ソフトウェアのため、納入後の追加や変更にも、迅速に対応いたします。さらに、画像処理ユニットを始め、搬送部分も自社工場にて製作しているので、御要求に柔軟な対応が可能です。 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。

  • 外観検査装置
  • 半導体検査/試験装置

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外観検査装置 Prestige V

8インチWafer専用に開発したPrestige IIのコストダウンモデル。Wafer上の欠陥とムラを同時に検査することが可能。

PRESTIGE Vは既存PRESTIGE IIの廉価版製品。装置のサイズを50%ダウンし、省スペース化しました。カメラアングルは評価段階で設定し、工場出荷時に固定し、ウェハサイズに制限はあるものの検査機能はPRESTIGE IIを継承した廉価版製品になります。

  • 外観検査装置
  • 半導体検査/試験装置
  • その他半導体製造装置

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生基板3次元外観検査機『ATHENA』

プリント基板サプライヤーの品質検査工程をサポートする検査設備!

『ATHENA』は、独自の3D検査技術と先端の照明技術を用いることで 従来の2D検査では不可能だったプリント基板(生基板)の表面外観検査・測定を 実現する生基板3次元外観検査機です。 見えない不良個所を2D・3Dで検査することで、プリント基板サプライヤーの 品質検査工程をサポート。 モアレ技術により、プリント基板の2D検査で発見できない 打痕・気泡・異物等を3D検出可能です。 【特長】 ■先端技術で表面外観検査測定:2D照明、3D照明、同軸照明 ■高速3D検査測定 ■表面検査(2D・3D・AI):基板の不良検査 ■FOVを更に詳細検査 ■基板情報(ガーバーデータ)をもとに検査 ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • 基板検査装置

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スティックtoテープ外観検査装置『TTI-7600』

シール後の外観検査機能を有し不良と判別した場合は、アラーム停止とします!

当社のスティックtoテープ外観検査装置『TTI-7600』をご紹介します。 アルミスティックに収納された製品を自動的に取り出し、外観検査機能を 有する画像処理装置を使用することにより、テープ装着前に、リード/ マーク/モールド表面/リード間異物を検査。 良否判別実施後、良品と判別した製品を各種キャリアテープに装着する 自動テーピング機で、不良品と判別した各不良品をアルミチューブに 分類し、自動排出する機能を有します。 【特長】 ■シール後の外観検査機能を有する ■不良と判別した場合はアラーム停止 ■オプションとして電気特性テスト機能及び逆テーピング機能を  有することが可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他実装機械

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トレイ外観検査装置

カラー・高画素モノクロカメラの並列仕様。微細なキズやシミも確実に検出! セラミックパッケージ、電子部品業界に多数実績有り。

トレイ外観検査装置は、XY軸ロボットでカメラを走査し、トレイに並べられたワーク1つ1つを高速で連続検査します。カラーカメラと高画素モノクロカメラの並列仕様で、微細なキズやシミも確実に検出します。すべてのワークを画像検査した後、不良品をトレイから排出し、良品詰め替え作業も自動で行います。最大100品種まで品種設定可能です。 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。

  • 外観検査装置
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内径外観検査装置

製品品質が格段に向上!高精度検査によるワーク内面の合理化・省力化を実現

『内径外観検査装置』は、ワーク内面の目視検査の合理化・省力化を 実現し、高精度検査による製品品質を格段に向上させました。 KIRIN製ジャイロスキャンを用い、高精度の内面検査を行います。 条件により、最小Φ0.1mm程度の検出が可能で、部位ごとに判定基準を 設定できます。 また、ワークに応じた装置(メカ・制御)を設計・製作が可能で、 外径外観検査装置と組合せれば、内外面の検査も可能となります。 【特長】 ■KIRIN製ジャイロスキャンを用い高精度の内面検査ができる ■条件により、最小Φ0.1mm程度の検出が可能 ■高い再現性で自動検査を行う ■部位ごとに判定基準を設定可能 ■ワークに応じた装置(メカ・制御)を設計・製作 ■外径外観検査装置と組合せ、内外面の検査が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • 外観検査装置

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麺帯外観検査装置

麺帯の表面異物を自動外検査!過去のNG画像や設定内容をさかのぼって閲覧する事が可能

当社が取り扱う『麺帯外観検査装置』のご紹介です。 麺帯の微妙な変化に照明の明るさを自動で変化させ、検査基準の コントラストに合わせる事が出来る為、誤検知を減らす事が可能。 また、カメラをBOX収納、照明もエアーブローが付いている為、 粉がカメラ・照明に付着しにくい粉塵対策が施されています。 【特長】 ■粉がカメラ・照明に付着しにくい ■NG箇所の発生場所が一目瞭然 ■検査中にNG箇所の画像のみを表示する事が可能 ■過去のNG画像や設定内容をさかのぼって閲覧する事が可能 ■検査基準のコントラストに合わせる事が出来る為、誤検知を減らす事が可能 ※詳しくは下記リンクよりカタログをダウンロードいただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他 外観・画像検査装置

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