更新日： 集計期間:2026年08月19日～2026年09月15日
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解析事例のサンプル動画（アニメーション）をご紹介します。解析結果のアウトプットイメージの一つとして、ご参考になればと思います。
弊社では多種多様な業界の解析問題に取り組んでおります。 具体的な解析サンプルをご覧頂き、皆様の抱える問題解決のヒントにでもなれば光栄です。 このサンプル以外にも多数の実績がありますので、”こんな解析はできないか？”、”こんな問題が発生して困っている”などお気軽にご相談頂ければご回答をさせて頂きます。
技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品質管理等のお役に立つ分析技術の最新情報です。
【要旨】 酸化ガリウム（Ga2O3）は次世代パワー半導体材料として注目を集めており、近年研究が盛んになってきている。半導体デバイスの信頼性、特性改善にはプロセス技術の最適化が必要であり、その評価方法が重要となる。本稿ではエピタキシャル膜の品質評価に必要な結晶構造解析と、デバイス特性への影響が大きいイオン注入プロセスにおける不純物、欠陥、キャリア濃度解析を行った事例を紹介する。 【目次】 １．はじめに ２．断面TEM、平面STEMによる結晶構造解析 ３ イオン注入プロセス評価 ４．まとめ
技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品質管理等のお役に立つ分析技術の最新情報です。
【要旨】 金属チップ先端などに局在化する近接場光を利用した分光分析技術はナノメートル領域の化学構造の解析を可能にする手法として強く期待されている。チップ増強ラマン分光法や近接場ラマン分光法はその代表的な手法であり、原理解明や応用に関する様々な研究が行われてきた。本稿ではそれらの材料分析への適用例を示し、材料解析に対する実用性について言及する。 【目次】 １．はじめに ２．TERSによるCNTの結晶構造解析 ３．SNOM-RamanによるSiO2/SiC界面応力解析 ４．まとめ
合成・単結晶化の必要なし！シンプルな工程で微量成分の構造決定が可能です
当資料は、「結晶スポンジ法の産業応用と事業化」について まとめた解説資料です。 従来の解析法との比較をはじめ、様々な応用分野や 企業での活動成果例などについて詳しく解説しています。 新規結晶スポンジライブラリーによる構造決定例も 掲載しておりますので、ぜひご一読ください。 【掲載内容(一部)】 ■結晶スポンジ法の概要と導入背景 ■従来の解析法との比較 ■結晶スポンジ法の応用分野 ■結晶スポンジ法の社会実装の取り組み(社会連携講座II期) ■企業での活動成果例 ■結晶スポンジ法の課題 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
線形解析結果を用いた照査などのRC壁構造解析業務を請け負っております。
センチュリテクノでは、コンクリート・鉄筋それぞれの材料非線形性を 考慮した解析や、線形解析結果の断面力を用いた許容応力度法や 限界状態設計法による照査などの業務を請け負っております。 コンクリートを積層シェル要素とし、その中に鉄筋層（埋込鉄筋）を 追加することによりRC構造を表現します。 積層シェル要素では、コンクリートのひび割れと圧縮破壊を模擬し、 埋込鉄筋要素では鉄筋の降伏を評価します。 【特長】 ■コンクリート・鉄筋それぞれの材料非線形性を考慮した解析 ■線形解析結果の断面力を用いた許容応力度法 ■限界状態設計法による照査 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
GaN Systems製GaNパワートランジスタ「GS61008T-E01-MR」の構造解析・プロセス解析！
当社では、『GaN Systems製100VGaNトランジスタ(GS61008T-E01-MR) 構造解析、プロセス解析レポート』をご提供しております。 構造解析レポートではGaN Systems製GaNパワートランジスタ 「GS61008T-E01-MR」の詳細を明らかにし、プロセスフロー解析 レポートでは構造解析の結果に基づいてチップ製造プロセスの 推定を行っています。 【レポート内容】 ■構造解析レポート ・パッケージ外観、X線観察、チップ平面解析(配線接続、レイアウト確認)、 チップ断面解析(GaNトランジスタ、チップ端部)、GaN-Epi層TEM-EDX分析 ・電気特性測定(Id-Vd、BVdss、容量特性) ■プロセス解析レポート ・製造プロセスフロー抽出・推定、マスク枚数、プロセス・シーケンス断面図 ・電気特性と素子構造の関連解析 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
設計、プラスチック材料、CAEの三位一体の知見と技術で設計品質の向上と開発効率化を図ります
当社では、お客様が設計された部品等の構造解析を実施し、理論的に 形状の評価を行うとともに、その結果に基づいた改良提案を行います。 構造解析は計算することそのものを目的化しがちですが、当社は量産設計の 経験に基づき、あくまでも課題解決の一手段としてこの構造解析を位置づけ、 本質課題解決に努めます。 材料研究の経験に基づき、適切な材料物性値を用いた解析を行うことが可能です。 ご要望の際はお気軽にご相談ください。 ※詳しくは、お気軽にお問い合わせください。
多数の実績を誇る専門の解析技術者が要因特定～改善提案までトータルサポート。CAEで解決したいこと、まずはご相談ください
弊社は設立から約40年にわたり、UBEグループ・大阪ガスグループの一員として 化学プラントや産業機械など、様々な設備の設計やトラブル対応を 解析技術で支援してまいりました。 実績ある弊社構造解析技術で、貴社の設計業務をご支援いたします。 例えば・・・ ・新たに設計する機器の応力評価 ・装置破損に対する早急な原因究明および対策効果の裏付け ・公的機関や顧客の承認を得るための規格評価 ・CAE担当者不足を解消するためのビジネスパートナー検討 など、お気軽にご相談ください。
傾斜モデルを用いたITOの構造解析
液晶ディスプレイなどに用いられる透明電極材料であるITO（Indium-tin-oxide）は、製膜後のアニール処理（熱処理）によって導電性や色味が向上します。その際、酸素状態や結晶性も変化しますが、この変化は膜の厚みに対して段階的に傾斜変化することがあり、光学的に組成が均一な単層膜として見なすことができません。 このようなITOに対し、傾斜モデルを用いて、上部界面と下部界面のnkから、傾斜の度合いを測定した事例を紹介します。
製品現場でのデーター収集、分析環境の構築を！IoTによる遠隔・リアルタイム監視を可能に！
当社では、データーロガー/解析装置によるデータ収集システムの特注提供を行っております。市販のデータロガー装置、弊社作成装置（顧客対応）ロガーを用いてのデータ収集システム、通信・クラウド環境の構築、解析ソフトの提案、顧客対応HW/メカのソリューションが可能です。 【こんな場面で使われています】 DCモーターの使用環境と経時変化測定分析 ＋回転速度の経時変化Logデータ収集、分析 【こんな用途にピッタリ】 ・製品開発時のデーター収集、解析 ・要素部品（モーター等）の不良解析 ・駆動装置の寿命経緯測定 ・製造現場での工程検査 ・駆動系の負荷測定 ・工程管理.....etc ※詳細は、カタログをダウンロードしてご覧ください。
パナソニックReRAM搭載MN101LR05D 8bitマイクロコントローラ
MN101LR05Dはポータブルヘルスケア、セキュリティ装置、センサー処理用と向けに開発された低消費電力の8bitシングルチップマイクロコントローラです。MN101LR05DはCPUコアが10MHz 8bitのAM13Lで６４KBのReRAM容量と４KBのSRAM容量を特徴としています。 MR101LR05Dは世界初の量産化されたReRAM(Resistive RAM:抵抗変化型メモリー）の実用例であり、既存の不揮発性メモリーの後継技術として多く活用されるとみられています。 MN101LR05Dは180nm CMOSプロセスに４層のAIメタライゼーションを使用して製造されています。この金属酸化物のReRAMセルはメタル3から４に接続するスタックWビアの間に形成されます。 レポートの結果は走査型電子顕微鏡（SEM)、透過型電子顕微鏡（TEM)、エネルギー分散型X線分析（TEM-EDS）、電子エネルギー損失分光法（TEM-EEKS）、および拡がり抵抗測定（SRP)のデータによるものです。
お客様のご要望にマッチした業務スタイルを提案！ これにより、効率的な業務支援を実現！
幅広い業務経験と柔軟な対応力により、お客様のフェーズに応じた業務支援スタイルでお手伝いさせて頂いた事例のご紹介です。 お客様からの評価も記載されておりますので、是非、ご覧頂き貴社でのケースをイメージしてみて下さい。 少しでもご興味がございましたら、お気軽にご連絡を下さい。 まずは、ざっくばらんに双方でお話が出来ればと思います。
材料をマクロレベルから分子レベルに至るまで精密に解析！
当社では、無機化合物の『組成分析・構造解析サービス』を提供しております。 電子材料や半導体、金属、セラミックス、セメント、触媒など 無機材料の元素分析と化合物組成の解析、結晶構造・組織の解析、 熱的性質の解析など広範囲に実施。 無機化合物に対する深い知識と試料の高度な前処理技術をベースに、 材料をマクロレベルから分子レベルに至るまで精密に解析し、 新素材開発に貢献します。 【分析例】 ■精密格子定数の決定 ■温度上昇に伴う相変化の追跡 ■結晶性、配向性、結晶子径の測定 ■反射率解析による多層薄膜構造評価 ■リートベルト法による結晶構造解析 など ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
