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真空蒸着などのコーティング処理を必要としない低真空SEMの観察・評価分析のご紹介！
当社では、分析ソリューション事業を行っています。 低真空SENでは、試料の前処理として真空蒸着などの コーティング処理(前処理)を必要としません。 絶縁体や半導体、食品などの試料でもコーティング処理なく 低真空SEM観察後は、そのまま他の分析に供することが可能です。 【掲載内容】 ■概要 ■分析事例 ・接着界面の観察・評価 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
前処理・分析技術を駆使して課題解決！種々の材料解析と分析評価で開発を支えます
当社は、データ解析(AI/機械学習等)を活用し、製品の付加価値向上や 業務改善をサポートいたします。 目前にある課題やお困りごとを、材料開発、分析、データ解析の専門家が スピーディーに解決。 専門家集団がプロジェクトを組みワンストップでご要望にお応えします。 ご用命の際は、お気軽にお問い合わせください。 【当社の主な保有設備】 ■FE-TEMTEM(3D、プリセッション)、FE-SEM 、FE-EPMA ■FT-IR、ラマン、NMR、AFM、レーザー顕微鏡 ■X線CT、XPS、XRF、XRD ■TG/DTA(水蒸気ガス化)、DSC ■GC(MS)、LC(MS)、TOFMS、HPLC、IC、ICP、GPC、DART、AAS ■VMS等各種磁気測定装置 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
走査電子顕微鏡(SEM)による拡大観察及び元素マッピングを実施！断面観察事例をご紹介
車ドアハンドルカバーのめっき層がどうなっているのか調べるため断面を 作製し、走査電子顕微鏡(SEM)による拡大観察及び元素マッピングを 行った事例をご紹介いたします。 めっき部分についてイオンミリングにより断面を作製し、厚みを計測。 全めっき厚は11〜12μm程度、最表層の薄いめっき(クロム)は85nm程度、 その下2層目のめっきは850nm程度であることがわかりました。 また、元素マッピングを行った結果、下地が厚い銅めっきで、これの上に ニッケルめっき、その上にクロムめっきを施したものであると確認されました。 【事例概要】 ■調査試料：車ドアハンドルカバー ■断面観察：めっきの厚み計測 ■元素マッピング：元素分布を調査 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
金属の腐食による変色を観察、分析！変色原因調査事例をご紹介
当社にて、日常によくみられる金属の腐食による変色を、観察、分析した 事例をご紹介いたします。 走査電子顕微鏡(SEM)にて観察したところ、腐食の痕跡を確認。 本件の変色は、ニッケルめっき下の鉄材が腐食し、その生成物である錆が 表面に析出してきたために生じたものと推定されます。 【事例概要】 ■変色部観察：変色部を拡大 ■拡大観察と元素分析：更に拡大観察、変色部を元素分析 ■構造解析：ラマン分光による構造解析 ■変色原因：変色は主に鉄の腐食"赤錆" ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
1μm強の亜鉛めっきの上にクロメート層が確認！膜厚測定事例をご紹介
当社にて、クロメート処理膜の膜厚測定を行った事例をご紹介します。 有色クロメートの金属部品についてイオンミリングにより断面加工を施し、 断面を電界放出形走査電子顕微鏡(FE-SEM)で拡大観察、膜厚を計測。 FE-SEMで膜の断面を観察すると、1μm強の亜鉛めっきの上にクロメート層 が確認されます。更に拡大してクロメートの厚みを測定すると、 420nm程であることがわかりました。 【事例概要】 ■調査試料：クロメート ■断面膜厚計則：クロメート膜厚を計測 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
光学像からＳＥＭ観察、元素分析まで 高機能ながらもユーザーフレンドリーな高い操作性
「Zeromag」 ：光学像を拡大すればそのままSEM像が観察できる機能を搭載。サンプルの光学像を取得し、その画像にステージの座標位置を連動させ光学像からSEM像へとシームレスに切り替えます。目で⾒たままの光学像で容易に視野探しが可能です。 「Live Analysis」 ：観察しながら分析も同時に⾏える、観察画面上の元素分布を表示できる「LiveMap」 「インスタント機能」：任意の場所を分析できるの３つのスクリーニング機能 「Live 3D」 ：SEM観察中に三次元観察が可能。 高真空、低真空モード標準搭載 ＜高真空モード＞⾼い倍率で鮮明なSEM観察。電⼦線の散乱を少なくし精度の⾼いEDS分析が可能。観察も分析も質の⾼いデータが出せます。 ＜低真空モード＞ガラスやプラスチックなどの絶縁物試料をコーティングなしで観察、分析できます。
お客様へ丸文通商が操作性抜群の卓上電子顕微鏡をお持ち込みし、覧いただきます
「Zeromag」 ：光学像を拡大すればそのままSEM像が観察できる機能を搭載。サンプルの光学像を取得し、その画像にステージの座標位置を連動させ光学像からSEM像へとシームレスに切り替えます。目で⾒たままの光学像で容易に視野探しが可能です。 「Live Analysis」 ：観察しながら分析も同時に⾏える、観察画面上の元素分布を表示できる「LiveMap」 「インスタント機能」：任意の場所を分析できるの３つのスクリーニング機能 「Live 3D」 ：SEM観察中に三次元観察が可能。 高真空、低真空モード標準搭載 ＜高真空モード＞⾼い倍率で鮮明なSEM観察。電⼦線の散乱を少なくし精度の⾼いEDS分析が可能。観察も分析も質の⾼いデータが出せます。 ＜低真空モード＞ガラスやプラスチックなどの絶縁物試料をコーティングなしで観察、分析できます。 ＪＣＭ７０００を直接ご覧いただける デモンストレーションサービス デモ対象エリア：北陸(富山県 石川県 福井県）甲信(長野県 山梨県)関東(埼玉 群馬 静岡 神奈川)中部関西(岐阜県 滋賀県) のお客様お問い合わせください
4万点に及ぶ部品の基本情報と関連情報をPIM/DAMで一元管理、 顧客サービスのフロントとなるアフターサービスシステムを刷新
顧客サービスのフロントとなるアフターサービスシステムを刷新。 ContentservのPIM（商品情報管理）／DAM（デジタルアセット管理）を 活用して新たなシステムを構築し、それらを既存のERPやECサイトなどと 連携させることで、従来の課題を一気に解決した日本電子の事例を紹介します。 【掲載内容】 ■顧客サービスのフロントとなるアフターサービスシステムを刷新 ■等身大でより手軽に使いこなせるPIM/DAMツールを求めた ■構築フェーズからプロジェクトに加わったエクサと共に技術課題を解決 ■画期的な業務効率化と顧客満足度の向上に貢献 ※調査レポートの詳細は「PDFダウンロード」からご覧ください。
当社の新しいコンセプトカラーであるピュアホワイトとJEOLシルバーを採用しより洗練されたフォルムデザインに仕上がりました。
日本電子株式会社 "NEOARM"は、当社独自の技術で開発された冷陰極電界放出形電子銃（Cold-FEG）と高次の収差まで補正可能な新型球面収差補正装置（ASCOR）を標準搭載し、200 kVの高加速電圧だけでなく30 kVの低加速電圧においても原子分解能での観察を実現しました。 また、当社独自の収差補正アルゴリズムを開発し高速かつ正確な収差補正を自動的に行うシステムを搭載しました。これにより、ハイスループットな原子分解能観察を提供します。 〇特長 ・球面収差補正装置ASCOR (Advanced STEM corrector) ・自動収差補正ソフトウェアJEOL COSMO (Corrector System Module) ・新ABF (Annular Bright Field) 検出器システム ・Perfect sight検出器 ※詳細はPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
省エネルギー化とCO2削減をコンセプトとして開発された電界放出形透過電子顕微鏡
日本電子株式会社 JEM-F200は、空間分解能と分析性能を向上させるとともに、多目的な使い方における操作性を考慮した新しい操作システムを搭載し、電子顕微鏡の初心者から熟練者まで思わず使いたくなるようなスマートな外観を備え、省エネルギー化とCO2削減をコンセプトとして開発された電界放出形透過電子顕微鏡です。 〇特長 ・スマートデザイン ・Quad-Lens condenser system ・Advanced Scan system ・Pico stage drive ・自動ホルダー挿入・取り出し装置 ・ECO モードを標準搭載 ※詳細はPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
生物系試料のさらなるコントラストの向上を実現
日本電子株式会社 電界放出形クライオ電子顕微鏡 CRYO ARM 200は冷陰極電界放出形電子銃とインカラム形エネルギーフィルター(オメガフィルター)、サイドエントリー液体窒素冷却ステージ、最大12個の試料を保管できる自動試料交換機構を装備したクライオ電子顕微鏡です。 新設計のオメガフィルターとホールフリー位相板を組み合わせて使用することにより、生物系試料のさらなるコントラストの向上を実現しました。 〇特長 ・自動試料交換機構 ・冷陰極電界放出形電子銃 ・インカラム形エネルギーフィルター(オメガフィルター) ・単粒子解析用自動画像取得ソフトウェア ・ホールフリー位相板 ・自動調整機能 ※詳細はPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
今まで得られなかった情報の取得やお困りの測定への改善が期待できます。
日本電子株式会社 JSM-IT800 電界放出形走査電子顕微鏡は、高分解能観察を実現するための "インレンズショットキーPlus電界放出形電子銃" と次世代型電子光学制御システム "Neo Engine"、高速度元素マッピングを実現するために追求したGUI "SEM Center" に自社製EDSを組込んだシステムを共通のプラットフォームとしています。 SEMの対物レンズをモジュールとして置き換えることで、様々なニーズに応じた装置を提供します。 〇特長 ・インレンズショットキーPlus 電界放出電子銃(FEG) ・JEOLの電子光学技術の粋を集めた次世代型電子光学制御システム搭載 ・SEM Center・EDSインテグレーション ・SMILE VIEW Lab ・スマイルナビ ※詳細はPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
SEMの観察作業をより効率よく、より楽に行えるようになりました。
日本電子株式会社 JSM-IT510 InTouchScope 走査電子顕微鏡 走査電子顕微鏡 (SEM) は研究だけでなく、品質保証や製造現場で欠かせないツールなっています。そのような現場では、同じ観察作業を繰り返し行う必要があり、工程の効率化が求められてきました。 JSM-IT510は新たに加わったSimple SEM機能では、SEMの観察作業をより効率よく、より楽に行えるようになりました。 〇特長 ・Simple SEM 撮影したい視野を選ぶだけ ・安全・簡単！ 試料交換ナビ ・Zeromag 光学像を拡大すれば、SEM像 ・Live Analysis / Live Map 観察中も常に元素分析 ・充実の機能 ※詳細はPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
試料作製、観察、分析の先端技術
日本電子株式会社 JIB-PS500iは、TEM試料作製をアシストする3つのソリューションを提供します。 試料作製からTEM観察まで、確実かつ高スループットなワークフローで作業することができます。 〇特長 ・二軸傾斜カートリッジとTEM ホルダーによりTEM ⇔ FIBのリンクを容易に ・カートリッジは専用のTEM 試料ホルダーにワンタッチで装着可能 ・正確かつ迅速にピックアップ作業可能 ・TEM 試料作製からシームレスにSTEM観察に移行 ・自動TEM試料作製システムSTEMPLING2により、TEM試料作製を自動化 ※詳細はPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
アズサイエンスおすすめの電子顕微鏡、光電子分光装置、内斜系実体顕微鏡のご紹介
アズサイエンスおすすめ商品の3製品をご紹介いたします。 ◆日本電子株式会社 JEM-1400Flash 電子顕微鏡 高感度sCMOSカメラや超広視野モンタージュシステム、さらには光学顕微鏡画像と電子顕微鏡のリンク機能を拡張させた透過電子顕微鏡です。バイオロジーからナノテクノロジー、ポリマー、最先端材料など幅広い分野で活用されています。 ◆日本電子株式会社 JPS-9030 光電子分光装置(XPS) カウフマン型エッチングイオンソースやツインアノードを標準装備の上、汎用XPSでありながら高温加熱システムやガスクラスターイオンソース等幅広い拡張性も備えています。大学から工場まで幅広く稼動し、材料の研究開発、また品質管理の現場において汎用性の高い分析手法として利用されています。 ◆株式会社ニコンソリューションズ 内斜系実体顕微鏡 SMZ445/460 ニコンの最先端実体ズーム顕微鏡シリーズと同様の優れた光学性能を備えています。樹脂成型品、金属加工部品などの検査‧観察に適した実体顕微鏡です。部品検査や品質管理などのニーズにお応えします。
コンパクトで無人運転が可能な新世代のSEMです。
日本電子株式会社 JSM-IT210 走査電子顕微鏡は、日本電子製の据え置き型としては、最もコンパクトな走査電子顕微鏡です。新開発のステージは、5軸移動がすべてモーター駆動となり、より安心でかつ迅速にご使用いただけます。 ○特長 ・試料を入れて、迷わず観察 "試料交換ナビ" ・光学像を拡大すれば、SEM像 "Zeromag" ・観察中も常に元素分析 "Live Analysis" ・多彩な自動測定 "Simple SEM" ・自動測定を強力に支える機能 ・分析をよりスピーディーに ・60 mm2 大口径EDSを標準搭載 ※詳細はPDFをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
見えるから、追求したい
日本電子株式会社 JSM-IT710HR 走査電子顕微鏡 ナノメートルオーダーでの分解能や分析性能はもちろんのこと、データを取得する際のスループットも重要視される今、新たに誕生したJSM-IT710HRは、"誰でも簡単に高分解能の画像が撮ることが出来るSEM" をテーマに掲げたJEOLのHRシリーズの4世代のモデルです。自動機能を拡充させた操作性と新しい検出器系を兼ね備えた観察性能の向上させました。 ○特長 ・光学像と連動してSEM像が見える ・高分解能電子銃により、よく見える ・自動測定機能: Simple SEM/EDS ・その場で3D像を構築: Live 3D ・新しい低真空二次電子検出器LHSED ・ショットキーFE電子銃の安定性を従来比 4倍以上に強化 ※詳細はPDFをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
化学結合状態分析、バイオロジーからナノテクノロジー・ポリマー・最先端材料分野、電機・電子・自動車・機械・化学・薬品分野の研究等
様々な分野で活躍できる、日本電子株式会社の商品を3つご紹介いたします。 ご興味のある方はお気軽にお問い合わせください。 〇JPS-9030 光電子分光装置(XPS) 「誰もが、簡単に、直ぐに使えること」を実現した汎用型XPSです。カウフマン型エッチングイオンソースやツインアノードを標準装備の上、汎用XPSでありながら高温加熱システムやガスクラスターイオンソース等幅広い拡張性も備えています。 〇JEM-1400Flash 電子顕微鏡 高感度sCMOSカメラを標準搭載し超広視野モンタージュシステムや光学顕微鏡画像リンク機能などの強力な新機能を組み込んだ透過電子顕微鏡です。 〇JCM-7000 NeoScope ネオスコープ 卓上走査電子顕微鏡 誰でも観察・分析ができることを目指した卓上走査電子顕微鏡です。前処理不要な低真空モード、視野探しのためのステージナビゲーションシステムを備え簡単に使えます。光学像からSEM像にそのまま移行できるZeromag、観察しながら元素分析できるLive Analysis、SEM観察中に三次元観察が可能なLive 3D等の機能を搭載しました。
操作性に優れオペレーターのスキルに依存せずに常に高いパフォーマンスを発揮します！
当社では、レンズ制御システムと自動機能技術を統合させた 次世代型電子光学制御システム「Neo Engine」を搭載した ショットキー電界放出形走査電子顕微鏡『JSM-7900F』を取り扱っております。 電子光学条件を変更しても、光軸のズレがほとんどなく、 操作性や観察の精度が大きく向上し、どなたでも容易に装置本来の性能を 引き出すことができます。 【特長】 ■オート機能の向上 ・数秒でフォーカスを合わせることが可能 ■倍率精度の向上 ・高精度の測長も可能 ■エネルギーフィルタの使い勝手向上 ・設定値を大きく変えても、視野やフォーカスのズレがほとんどない ※詳細はお問い合わせください。
光学画像からSEM観察までがシームレス！観察しながら同時に元素分析！
当社では、観察中に元素分析も同時測定できる 卓上型電子顕微鏡『JCM-7000 Neo Scope』を取り扱っております。 観測範囲は10倍から100,000倍でSEMのすべての機能が簡単に操作可能。 低倍率の光学画像からSEM画像まで自動拡大し、非導電性試料も そのまま観察できます。 【特長】 ■10倍から100,000倍の観測範囲 ■SEMのすべての機能が簡単操作 ■低倍率の光学画像からSEM画像まで自動拡大-Zeromag-（新機能） ■観察中に元素分析も同時測定-Live Analysis-（新機能）※オプション ■ミクロの寸法測定機能が標準 他 ※詳しくは、お気軽にお問い合わせください。
試料領域での点分析、線分析、マッピングなどの分析もでき、多機能な成分分析も可能です
一般財団法人東海技術センターは『電子顕微鏡による形態観察・成分分析』を 承っております。 手間と時間のかかる前処理なしで観察ができるため、観察までの時間短縮と 観察後の成分分析の評価がしやすくなりました。 また、形態観察と同時に異なる組成の分布状態がわかる組成観察も可能。 試料中の測定したい2点間の距離計測もできます。 【特長】 ■手間と時間のかかる前処理なしで観察ができる ■形態観察と同時に異なる組成の分布状態がわかる組成観察もできる ■試料中の測定したい2点間の距離計測も可能 ■試料領域での点分析、線分析、マッピングなどの分析も可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
受託分析/試験に特化！電子顕微鏡観察/成分分析と溶液分析(ICP-MC)の事例をご紹介！受託分析/試験の比較検討お任せください！
当社にて、外注委託評価・分析メーカーのご提案を行った事例を ご紹介いたします。 電池関連の電子顕微鏡観察/成分分析においては、当社でご提案を 行った結果、既存メーカーと比べ40％の外注費低減になりました。 また、材料関連の溶液分析(ICP-MC)においては、当社にて ご提案を行った結果、既存メーカーと比べ50％の外注費低減と なっております。 【事例概要】 ■電池関連 電子顕微鏡観察/成分分析：40％の外注費低減 ■材料関連 溶液分析(ICP-MC)：50％の外注費低減 上記以外にも幅広い分析/試験への対応が可能です。 詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
総合アセンブリー・コーディネート企業として、電気ユニット・装置の一貫生産
◆ 主要製品 電子顕微鏡・半導体関連装置・高周波発振機、医療機器・各種分析機器 木村電子工業はモノづくりのプロとして、多様化する技術の先取りに努め 積極的に設備投資し、お客様の期待に高品質で応えます ※製品の詳細は、企業PRレポートをダウンロード頂くかお問い合わせください。
圧倒的な美しさを大画面で！試料ホルダはスライド式で簡単に装置にセット可能
当社が取り扱う、卓上走査型電子顕微鏡『Phenom ProX』を ご紹介いたします。 高輝度・長寿命のCeB6電子銃を搭載。試料導入から僅か30秒で SEM像表示し、そのままバリアフリーで分析できます。 また、振動に強く、どこでも分解能6nmです。 ご要望の際は、お気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■高輝度・長寿命のCeB6電子銃搭載 ■圧倒的な美しさを大画面で ■振動に強くどこでも分解能6nm ■革新的なユーザーインターフェース ■30秒でSEM像表示、3分で分析終了 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
30nmから5μmの切片作製が可能！材料系解析事例を複数ご紹介した資料です！
当資料は、株式会社花市電子顕微鏡技術研究所が行った材料系解析を まとめた事例集です。 「ウルトラミクロトーム」では、生物組織、金属メッキ層や無機蒸着 層を含む複合材料、ナノ粒子など幅広い分野における高品質な超薄切片 および断面作製に適応可能です。 当社では、受託分析を始めました。協力機関とタイアップして材料分析を 実施致します。 【掲載事例】 ■リポソームの構造解析 ■HIPSの構造解析 ■レンズ断面の構造解析 ■菓子袋の断面観察 ■分散法による金属粒子の形態観察（金属微粒子/金属担持カーボン） ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
×7.000 挿入写真 細胞膜（×100,000）で解析！細胞膜は幅約7nmの2重構造であることが判ります
当社が行った『肝細胞（ブタの肝臓）』の解析事例をご紹介します。 肝臓は脂質、蛋白の合成、薬剤などの代謝と除去、エネルギーの貯蔵など 多くの機能を有しており、これを構成しているのがほとんど肝細胞です。 その他毛細胆管（BC）や血管（HS）があり血管の中には血液細胞（EC,Kf）が みられます。 挿入写真は隣り合った細胞の細胞膜の拡大で、それぞれの細胞膜は 幅約7nmの2重構造であることが判ります。 また、肝細胞は一般的な細胞の構造と機能を解説する時に常に引き合いに 出されるくらい、典型的な細胞小器官を持っています。 【解析概要】 ■解析対象：肝細胞（ブタの肝臓） ■それぞれの細胞膜は幅約7nmの2重構造であることが判る ■肝細胞は一般的な細胞の構造と機能を解説する時に常に引き合いに 出されるくらい、典型的な細胞小器官を持っている ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
走査型電子顕微鏡（ＦＥ-ＳＥＭ）による表面観察を受託いたします：分解能（感度等）：～２０万倍
■試料をお送り頂きますと、試料台作成～画像撮影～画像ファイル（jpeg）変換を行い、お送り致します。 ■格安料金を設定しておりますので、ぜひご利用下さい。
圧倒的なシェアを誇るCDSEM、日立S8000＆S9000シリーズ。装置は常時在庫保有、デモ体制完備しております。
【装置改造】 ■ 中古装置リファービッシュ販売 ■ 小口径・化合物ウェハ対応改造 ■ SMIF→オープンカセット改造 ■ 複数ウェハタイプ（トレイ使レイ使用）改造 【定期メンテナンス】 ■ チップ交換 【移設業務】 ■ 構内移設 ■ 工場移設 【トラブル対応】
ナノ粒子の観察、スクリーニング用TEMとして世界中で使用されています
『LVEM25』は、従来の方法で用意された試料から、高コントラストな画像を 提供する低電圧電子顕微鏡です。 コンパクトな1台の機器で3つのパワフルなイメージングモードが使用可能。 モードの切り替えはソフトウェアを介して簡単に操作ができ、 同じ関心領域をTEM, STEM, EDモードで迅速に画像化できます。 【主な技術的特長】 ■コンパクトデザイン ■特別な施設不要：さまざまな場所に設置可能 ■永久磁石レンズ：冷却不要 ■電解放出電子銃：高コントラスト ■制御装置とソフトウェア：完全な撮像制御 など ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
卓上でナノスケールを！1つのベンチトップに4つのイメージングモードを搭載しています
『LVEM 5』は、1つのベンチトップ機器に4つの異なるイメージング機能を シームレスに組み合わせている為、顕微鏡間で試料の移動が不要な 卓上低電圧電子顕微鏡です。 さらに、ボタンをクリックするだけでTEM, SEMおよびSTEMモードで 試料の同じ関心領域を画像化できます。 【特長】 ■高コントラスト ナノスケールイメージング ■独自のベンチトップ設計 ■シンプルなワークフロー ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
