更新日： 集計期間:2025年02月12日～2025年03月11日
※当サイトの各ページの閲覧回数を元に算出したランキングです。
更新日： 集計期間:2025年02月12日～2025年03月11日
※当サイトの各ページの閲覧回数を元に算出したランキングです。
更新日： 集計期間:2025年02月12日～2025年03月11日
※当サイトの各ページの閲覧回数を元に算出したランキングです。
16～22 件を表示 ／ 全 22 件
卓上でナノスケールを！1つのベンチトップに4つのイメージングモードを搭載しています
『LVEM 5』は、1つのベンチトップ機器に4つの異なるイメージング機能を シームレスに組み合わせている為、顕微鏡間で試料の移動が不要な 卓上低電圧電子顕微鏡です。 さらに、ボタンをクリックするだけでTEM SEMおよびSTEMモードで 試料の同じ関心領域を画像化できます。 【特長】 ■高コントラスト ナノスケールイメージング ■独自のベンチトップ設計 ■シンプルなワークフロー ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
透過型電子顕微鏡(TEM)でサンプルの微細構造がナノレベルで観察が可能に！
弊社では、高精度なTEM観察用薄片サンプル作製と高度なTEM観察技術から鮮明なサブナノオーダーの構造観察が可能です。
光学顕微鏡の隣に一台置けば、異物分析や品質管理を、よりスピーディーに、より詳細におこなうことができます。
日本電子株式会社 JCM-7000 NeoScope ネオスコープ 卓上走査電子顕微鏡は、「誰でもSEM/EDSを操作できる」がコンセプトの卓上走査電子顕微鏡です。 光学像を拡大すればSEM像が観察できる「Zeromag」、分析装置を立ち上げなくても観察中の視野の元素が分かる「Live Analysis」、SEM観察中に三次元観察が可能な「Live 3D」等の機能を搭載しました。 〇特長 ・卓上SEM JCM-7000 で無処理でスピーディーに観察＆分析！ ・「誰でもSEM/EDSが操作できる」ための機能 ※詳細はPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
新しい透過電子顕微鏡
日本電子株式会社 JEM-1400Flashは、高感度sCMOSカメラや超広視野モンタージュシステム、さらには光学顕微鏡画像と電子顕微鏡のリンク機能を拡張させた加速電圧は120kVの新しい透過電子顕微鏡です。スループット良く、ハイスピードでデータを取得できます。 〇特長 ・高感度sCMOSカメラ 瞬Flashカメラ ・新機能 超広視野モンタージュシステム Limitless Panorama（LLP） ・新機能 光学顕微鏡画像リンク機能 Picture Overlay ・新デザイン ピュアホワイトカラーとLEDランプのコラボレーション ※詳細はPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
短時間に、簡単操作で、高コントラスト・高分解能の画像を取得
日本電子株式会社 CRYO ARM300 II は、タンパク質に代表される電子線照射に弱い試料の観察に特化した、クライオ電子顕微鏡です。単粒子構造解析やトモグラフィー、電子線結晶構造解析などの各手法に対応しています。 〇特長 ・顕微鏡の安定性とスループットの更なる向上 ・操作性もよりシンプルに ・サンプルのスクリーニングから画像データ取得までを一体化 ・ユーザーに合わせた運用を可能にする高い自由度 ・簡単な操作で質の高い顕微鏡写真が取得 ※詳細はPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
デジタルマイクロスコープと電子顕微鏡の違いとは？適切な機器を選ぶことが大切です
電子顕微鏡とデジタルマイクロスコープはそれぞれに得意とする 観察分野が違います。それぞれの特長や使い勝手などを知らないで 選んでしまうと、意図に沿った観察ができないかもしれません。 当コラムでは、デジタルマイクロスコープと電子顕微鏡の特長や 違いについて紹介しています。 どちらを導入すべきか迷っている方は参考にしてください。 詳しくは、関連リンクをご覧ください。 【掲載内容】 ■デジタルマイクロスコープと電子顕微鏡の特長 ■デジタルマイクロスコープと電子顕微鏡の違い ■それぞれの用途にあったものを選ぼう ※コラム（ブログなど）の詳細内容は、関連リンクより閲覧いただけます。 詳しくは、お気軽にお問い合わせ下さい。
光学顕微鏡より遥かに高分解能！ミクロでの表面観察や表面凹凸の確認に適しています
「卓上走査型電子顕微鏡」は、真空中に細く絞った電子線で試料表面を 走査し、試料から出てくる情報を検出して拡大表示させる顕微鏡です。 光学顕微鏡より遥かに高分解能で、ミクロでの表面観察や表面凹凸の 確認に好適。 また、表面観察のほかに、X線検出器を用いたEDS元素分析により、 試料表面にどんな元素がどの程度含まれているかを確認することが可能です。 【特長】 ■加工が難しい試料やそのまま観察したい試料等に有効 ■最大W100mm×D100mm×H40mmまでの試料を試験台にセットできる ■ユーセントリックホルダを活用することで、試料の傾斜・回転が可能 ■ミクロでの表面観察や表面凹凸の確認に好適 ■線検出器を用いたEDS元素分析により、試料表面にどんな元素が どの程度含まれているかを確認することが可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
