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真空蒸着などのコーティング処理を必要としない低真空SEMの観察・評価分析のご紹介！
当社では、分析ソリューション事業を行っています。 低真空SENでは、試料の前処理として真空蒸着などの コーティング処理(前処理)を必要としません。 絶縁体や半導体、食品などの試料でもコーティング処理なく 低真空SEM観察後は、そのまま他の分析に供することが可能です。 【掲載内容】 ■概要 ■分析事例 ・接着界面の観察・評価 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
走査電子顕微鏡(SEM)による拡大観察及び元素マッピングを実施！断面観察事例をご紹介
車ドアハンドルカバーのめっき層がどうなっているのか調べるため断面を 作製し、走査電子顕微鏡(SEM)による拡大観察及び元素マッピングを 行った事例をご紹介いたします。 めっき部分についてイオンミリングにより断面を作製し、厚みを計測。 全めっき厚は11〜12μm程度、最表層の薄いめっき(クロム)は85nm程度、 その下2層目のめっきは850nm程度であることがわかりました。 また、元素マッピングを行った結果、下地が厚い銅めっきで、これの上に ニッケルめっき、その上にクロムめっきを施したものであると確認されました。 【事例概要】 ■調査試料：車ドアハンドルカバー ■断面観察：めっきの厚み計測 ■元素マッピング：元素分布を調査 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
金属の腐食による変色を観察、分析！変色原因調査事例をご紹介
当社にて、日常によくみられる金属の腐食による変色を、観察、分析した 事例をご紹介いたします。 走査電子顕微鏡(SEM)にて観察したところ、腐食の痕跡を確認。 本件の変色は、ニッケルめっき下の鉄材が腐食し、その生成物である錆が 表面に析出してきたために生じたものと推定されます。 【事例概要】 ■変色部観察：変色部を拡大 ■拡大観察と元素分析：更に拡大観察、変色部を元素分析 ■構造解析：ラマン分光による構造解析 ■変色原因：変色は主に鉄の腐食"赤錆" ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
1μm強の亜鉛めっきの上にクロメート層が確認！膜厚測定事例をご紹介
当社にて、クロメート処理膜の膜厚測定を行った事例をご紹介します。 有色クロメートの金属部品についてイオンミリングにより断面加工を施し、 断面を電界放出形走査電子顕微鏡(FE-SEM)で拡大観察、膜厚を計測。 FE-SEMで膜の断面を観察すると、1μm強の亜鉛めっきの上にクロメート層 が確認されます。更に拡大してクロメートの厚みを測定すると、 420nm程であることがわかりました。 【事例概要】 ■調査試料：クロメート ■断面膜厚計則：クロメート膜厚を計測 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
4万点に及ぶ部品の基本情報と関連情報をPIM/DAMで一元管理、 顧客サービスのフロントとなるアフターサービスシステムを刷新
顧客サービスのフロントとなるアフターサービスシステムを刷新。 ContentservのPIM（商品情報管理）／DAM（デジタルアセット管理）を 活用して新たなシステムを構築し、それらを既存のERPやECサイトなどと 連携させることで、従来の課題を一気に解決した日本電子の事例を紹介します。 【掲載内容】 ■顧客サービスのフロントとなるアフターサービスシステムを刷新 ■等身大でより手軽に使いこなせるPIM/DAMツールを求めた ■構築フェーズからプロジェクトに加わったエクサと共に技術課題を解決 ■画期的な業務効率化と顧客満足度の向上に貢献 ※調査レポートの詳細は「PDFダウンロード」からご覧ください。
当社の新しいコンセプトカラーであるピュアホワイトとJEOLシルバーを採用しより洗練されたフォルムデザインに仕上がりました。
日本電子株式会社 "NEOARM"は、当社独自の技術で開発された冷陰極電界放出形電子銃（Cold-FEG）と高次の収差まで補正可能な新型球面収差補正装置（ASCOR）を標準搭載し、200 kVの高加速電圧だけでなく30 kVの低加速電圧においても原子分解能での観察を実現しました。 また、当社独自の収差補正アルゴリズムを開発し高速かつ正確な収差補正を自動的に行うシステムを搭載しました。これにより、ハイスループットな原子分解能観察を提供します。 〇特長 ・球面収差補正装置ASCOR (Advanced STEM corrector) ・自動収差補正ソフトウェアJEOL COSMO (Corrector System Module) ・新ABF (Annular Bright Field) 検出器システム ・Perfect sight検出器 ※詳細はPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
省エネルギー化とCO2削減をコンセプトとして開発された電界放出形透過電子顕微鏡
日本電子株式会社 JEM-F200は、空間分解能と分析性能を向上させるとともに、多目的な使い方における操作性を考慮した新しい操作システムを搭載し、電子顕微鏡の初心者から熟練者まで思わず使いたくなるようなスマートな外観を備え、省エネルギー化とCO2削減をコンセプトとして開発された電界放出形透過電子顕微鏡です。 〇特長 ・スマートデザイン ・Quad-Lens condenser system ・Advanced Scan system ・Pico stage drive ・自動ホルダー挿入・取り出し装置 ・ECO モードを標準搭載 ※詳細はPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
生物系試料のさらなるコントラストの向上を実現
日本電子株式会社 電界放出形クライオ電子顕微鏡 CRYO ARM 200は冷陰極電界放出形電子銃とインカラム形エネルギーフィルター(オメガフィルター)、サイドエントリー液体窒素冷却ステージ、最大12個の試料を保管できる自動試料交換機構を装備したクライオ電子顕微鏡です。 新設計のオメガフィルターとホールフリー位相板を組み合わせて使用することにより、生物系試料のさらなるコントラストの向上を実現しました。 〇特長 ・自動試料交換機構 ・冷陰極電界放出形電子銃 ・インカラム形エネルギーフィルター(オメガフィルター) ・単粒子解析用自動画像取得ソフトウェア ・ホールフリー位相板 ・自動調整機能 ※詳細はPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
今まで得られなかった情報の取得やお困りの測定への改善が期待できます。
日本電子株式会社 JSM-IT800 電界放出形走査電子顕微鏡は、高分解能観察を実現するための "インレンズショットキーPlus電界放出形電子銃" と次世代型電子光学制御システム "Neo Engine"、高速度元素マッピングを実現するために追求したGUI "SEM Center" に自社製EDSを組込んだシステムを共通のプラットフォームとしています。 SEMの対物レンズをモジュールとして置き換えることで、様々なニーズに応じた装置を提供します。 〇特長 ・インレンズショットキーPlus 電界放出電子銃(FEG) ・JEOLの電子光学技術の粋を集めた次世代型電子光学制御システム搭載 ・SEM Center・EDSインテグレーション ・SMILE VIEW Lab ・スマイルナビ ※詳細はPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
SEMの観察作業をより効率よく、より楽に行えるようになりました。
日本電子株式会社 JSM-IT510 InTouchScope 走査電子顕微鏡 走査電子顕微鏡 (SEM) は研究だけでなく、品質保証や製造現場で欠かせないツールなっています。そのような現場では、同じ観察作業を繰り返し行う必要があり、工程の効率化が求められてきました。 JSM-IT510は新たに加わったSimple SEM機能では、SEMの観察作業をより効率よく、より楽に行えるようになりました。 〇特長 ・Simple SEM 撮影したい視野を選ぶだけ ・安全・簡単！ 試料交換ナビ ・Zeromag 光学像を拡大すれば、SEM像 ・Live Analysis / Live Map 観察中も常に元素分析 ・充実の機能 ※詳細はPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
試料作製、観察、分析の先端技術
日本電子株式会社 JIB-PS500iは、TEM試料作製をアシストする3つのソリューションを提供します。 試料作製からTEM観察まで、確実かつ高スループットなワークフローで作業することができます。 〇特長 ・二軸傾斜カートリッジとTEM ホルダーによりTEM ⇔ FIBのリンクを容易に ・カートリッジは専用のTEM 試料ホルダーにワンタッチで装着可能 ・正確かつ迅速にピックアップ作業可能 ・TEM 試料作製からシームレスにSTEM観察に移行 ・自動TEM試料作製システムSTEMPLING2により、TEM試料作製を自動化 ※詳細はPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
アズサイエンスおすすめの電子顕微鏡、光電子分光装置、内斜系実体顕微鏡のご紹介
アズサイエンスおすすめ商品の3製品をご紹介いたします。 ◆日本電子株式会社 JEM-1400Flash 電子顕微鏡 高感度sCMOSカメラや超広視野モンタージュシステム、さらには光学顕微鏡画像と電子顕微鏡のリンク機能を拡張させた透過電子顕微鏡です。バイオロジーからナノテクノロジー、ポリマー、最先端材料など幅広い分野で活用されています。 ◆日本電子株式会社 JPS-9030 光電子分光装置(XPS) カウフマン型エッチングイオンソースやツインアノードを標準装備の上、汎用XPSでありながら高温加熱システムやガスクラスターイオンソース等幅広い拡張性も備えています。大学から工場まで幅広く稼動し、材料の研究開発、また品質管理の現場において汎用性の高い分析手法として利用されています。 ◆株式会社ニコンソリューションズ 内斜系実体顕微鏡 SMZ445/460 ニコンの最先端実体ズーム顕微鏡シリーズと同様の優れた光学性能を備えています。樹脂成型品、金属加工部品などの検査‧観察に適した実体顕微鏡です。部品検査や品質管理などのニーズにお応えします。
コンパクトで無人運転が可能な新世代のSEMです。
日本電子株式会社 JSM-IT210 走査電子顕微鏡は、日本電子製の据え置き型としては、最もコンパクトな走査電子顕微鏡です。新開発のステージは、5軸移動がすべてモーター駆動となり、より安心でかつ迅速にご使用いただけます。 ○特長 ・試料を入れて、迷わず観察 "試料交換ナビ" ・光学像を拡大すれば、SEM像 "Zeromag" ・観察中も常に元素分析 "Live Analysis" ・多彩な自動測定 "Simple SEM" ・自動測定を強力に支える機能 ・分析をよりスピーディーに ・60 mm2 大口径EDSを標準搭載 ※詳細はPDFをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
見えるから、追求したい
日本電子株式会社 JSM-IT710HR 走査電子顕微鏡 ナノメートルオーダーでの分解能や分析性能はもちろんのこと、データを取得する際のスループットも重要視される今、新たに誕生したJSM-IT710HRは、"誰でも簡単に高分解能の画像が撮ることが出来るSEM" をテーマに掲げたJEOLのHRシリーズの4世代のモデルです。自動機能を拡充させた操作性と新しい検出器系を兼ね備えた観察性能の向上させました。 ○特長 ・光学像と連動してSEM像が見える ・高分解能電子銃により、よく見える ・自動測定機能: Simple SEM/EDS ・その場で3D像を構築: Live 3D ・新しい低真空二次電子検出器LHSED ・ショットキーFE電子銃の安定性を従来比 4倍以上に強化 ※詳細はPDFをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
化学結合状態分析、バイオロジーからナノテクノロジー・ポリマー・最先端材料分野、電機・電子・自動車・機械・化学・薬品分野の研究等
様々な分野で活躍できる、日本電子株式会社の商品を3つご紹介いたします。 ご興味のある方はお気軽にお問い合わせください。 〇JPS-9030 光電子分光装置(XPS) 「誰もが、簡単に、直ぐに使えること」を実現した汎用型XPSです。カウフマン型エッチングイオンソースやツインアノードを標準装備の上、汎用XPSでありながら高温加熱システムやガスクラスターイオンソース等幅広い拡張性も備えています。 〇JEM-1400Flash 電子顕微鏡 高感度sCMOSカメラを標準搭載し超広視野モンタージュシステムや光学顕微鏡画像リンク機能などの強力な新機能を組み込んだ透過電子顕微鏡です。 〇JCM-7000 NeoScope ネオスコープ 卓上走査電子顕微鏡 誰でも観察・分析ができることを目指した卓上走査電子顕微鏡です。前処理不要な低真空モード、視野探しのためのステージナビゲーションシステムを備え簡単に使えます。光学像からSEM像にそのまま移行できるZeromag、観察しながら元素分析できるLive Analysis、SEM観察中に三次元観察が可能なLive 3D等の機能を搭載しました。
