吸収電流による抵抗異常箇所特定
吸収電流像から配線の高抵抗・オープン箇所の特定ができます。
・高抵抗異常箇所の特定可能 ・配線を流れる電流が微弱(pA) ・表面保護膜が存在しても測定可能 ・多層構造の配線でも測定可能 ・SEM観察とほぼ同条件で測定可能
- 企業：一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
- 価格：応相談
電子顕微鏡 - メーカー・企業40社の製品一覧とランキング
更新日： 集計期間:2025年10月01日～2025年10月28日
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電子顕微鏡のメーカー・企業ランキング
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- 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST 東京都/試験・分析・測定
- 株式会社ロンビック 三重県/樹脂・プラスチック
- アズサイエンス株式会社 松本本社 長野県/商社・卸売り
- 株式会社アイテス 滋賀県/電子部品・半導体
- 5 ジャスコインタナショナル株式会社 第二事業部 東京都/その他
電子顕微鏡の製品ランキング
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- セルロースナノファイバー(CNF)観察 SEM、TEM観察事例 株式会社ロンビック
- 卓上走査型電子顕微鏡『Phenom Pharos』 ジャスコインタナショナル株式会社 第二事業部
- 高分子材料研究、医薬品や電子・化学分野の異物分析や品質管理等に！ アズサイエンス株式会社 松本本社
- TEM・SEMによるプラスチック、樹脂材料観察事例 株式会社ロンビック
- 5 【分析事例】SEMとSIMによるCu表面の二次電子像の比較 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
電子顕微鏡の製品一覧
46～60 件を表示 ／ 全 147 件
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【分析事例】STEM、EBSD像シミュレーション多結晶体構造解析
像シミュレーションを併用した結晶形の評価
高分解能HAADF-STEM像は、結晶の原子配列を反映した画像であることから、種々の結晶方位に対応 したSTEM像をシミュレーションすることにより、多結晶体中の結晶粒間の相対方位や観察像の正確な理解に役立ちます。 本資料では、多結晶体であるネオジム磁石中の結晶粒について、EBSD法で得た結晶方位の情報から STEM像をシミュレーションし、実際の高分解能HAADF-STEM像と比較した事例を紹介します。
- 企業：一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
- 価格：応相談
【分析事例】雰囲気制御＆冷却下でのTEM分析
大気非暴露のFIB付き高分解能SEM装置で観察！
弊団では雰囲気制御によって大気暴露を抑え、さらに冷却して加工・観察・ 分析を行うシステムを整備しております。 試料本来の構造を保ったままTEM薄片試料を作製し、観察・分析可能。 不安定な材料でも冷却して薄片化加工を行い、真空を維持したままで 加工⇔観察装置間の移動を行うことで、大気暴露と熱による変質を抑えた 断面TEM/SEM観察が可能です。 【測定法・加工法】 ■[(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法 ■雰囲気制御下での処理 ■クライオ加工 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
- 企業：一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
- 価格：応相談
【分析事例】ネガティブ染色による(S)TEM観察
リポソーム、CNF、微粒子、タンパク質などの形態を観察！
弊団では、ネガティブ染色による(S)TEM観察を承っております。 有機機能材料の微粒子や繊維状物質は、主にC(炭素)、H(水素)、O(酸素)、N(窒素)などの 軽元素から構成されるため、(S)TEMでは形態観察に必要なコントラストが得られません。 そこで、これらの材料には染色を行うことで コントラストを増大させ観察を行うことができるようになります。 本事例では、リンタングステン酸(H3[P(W3O10)4]・nH2O(略称PTA))を用いた ネガティブ染色観察を紹介します。 【測定法・加工法】 ■[(S)TEM](走査)透過電子顕微鏡法 ■その他 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
- 企業：一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
- 価格：応相談
【TEM/SEM/EBSD】断面観察及び構造解析に関する事例集1
金属組織観察や相解析などTEM、FE-SEM、EBSD等による断面観察および構造解析に関する事例を多数ご紹介します！
当事例集では『断面観察及び構造解析』にかかる事例についてご紹介します。 「線材（ばね材）の金属組織観察」、「2相ステンレスの相解析」、「STEM-EDSによる半導体絶縁膜評価」の目的や手法、結果などを含めた分析事例を多数掲載。 他にも、観察や相解析、絶縁膜分析や測定などご紹介しています。 ぜひ、ご一読ください。 【掲載内容】 ■線材（ばね材）の金属組織観察 ■2相ステンレスの相解析 ■STEM-EDSによる半導体絶縁膜評価 ■サマリウムコバルト磁石のEBSD測定 ■STEMによるコネクタ端子接点不良解析 ■生体試料（モルフォ蝶鱗粉）の断面観察 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：セイコーフューチャークリエーション株式会社
- 価格：応相談
『FE-SEM（EDS/EBSD付）観察』
細く絞った電子線を試料に照射！結晶方位や結晶構造の解析もできる電子顕微鏡！
『FE-SEM（電界放射電子銃式走査型電子顕微鏡）』は、汎用SEMよりも更に細く 絞った電子線を試料に照射、走査することによって、より鮮明な拡大像などが 得られる装置です。 また、細く絞った強い電子ビームを利用して結晶方位解析法（Electron Back-Scatter Diffraction；略してEBSD）を用いると、結晶方位や結晶構造の解析を行うことも できます。 【適用対象】 ■金属材料全般 ■セラミックス ■繊維（蒸着処理必要） ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：コベルコ溶接テクノ株式会社
- 価格：応相談
TEM・SEMによるプラスチック、樹脂材料観察事例
PE中のCNFの観察や、PE発泡体のセル壁高次構造などを写真付きでご紹介！
当社ホームページでは、形態観察の「透過型電子顕微鏡(TEM)・走査型電子 顕微鏡(SEM)による樹脂材料観察事例」をご紹介しております。 透過型電子顕微鏡(TEM)観察事例では、PE中のCNFの観察をはじめ、 PE発泡体のセル壁高次構造や、HDPE表面近傍のラメラ構造観察などを掲載。 また、走査型電子顕微鏡(SEM)観察事例では、ABS樹脂の耐候性試験前後の 比較や、自動車バンパー材断面構造解析などについてもご紹介しております。 ぜひ、ご覧ください。 【掲載内容(一部)】 ■透過型電子顕微鏡(TEM)観察事例 ・PE中のCNFの観察 ・PE発泡体のセル壁高次構造 ・HDPE表面近傍のラメラ構造観察 ・HIPS/ABS系のモルフォロジー観察事例 ・PC/ABS系材料中のモルフォロジー観察 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：株式会社ロンビック
- 価格：応相談
TEMによるPE/CNF(セルロースナノファイバー)の観察
PE中のCNF(セルロースナノファイバー)分散状態観察事例をご紹介しております！
当社ホームページでは「透過型電子顕微鏡(TEM)によるCNF複合材料の 観察」についてご紹介しております。 高分子の結晶構造、ポリマーアロイのモルフォロジーの観察で培った、 染色を含めた超薄切片の作製技術、TEM観察技術を用いることで、樹脂に 複合されたCNF(セルロースナノファイバー)の観察が可能となりました。 PE中のCNF分散状態観察の写真や、拡大写真なども掲載しております。 ぜひ、ご覧ください。 【掲載写真】 ■PE中のCNF分散状態観察 ・PE/CNF分散状態観察 ・PE/CNF拡大写真 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：株式会社ロンビック
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TEMによる発泡樹脂材料の形態観察
発泡体のセル壁内の結晶構造が観察できます！
当社では、形態観察として「透過型電子顕微鏡(TEM)による発泡体の観察」 を行っております。 高分子の結晶構造観察やポリマーアロイのモルフォロジー観察で培った 超薄切片作製の技術を応用かつ向上することにより、発泡体のセル壁内の 結晶構造を観察することが可能。 また、PE以外の樹脂、複合材料でも観察実績があり、染色技術を組み合わせる ことでポリマーアロイのセル壁の分散状態を観察することができます。 【特長】 ■PE以外の樹脂、複合材料でも観察実績あり ■染色技術を組み合わせることでポリマーアロイのセル壁の分散状態を観察可能 ■軟質素材の発泡体でも観察可能 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：株式会社ロンビック
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透過型電子顕微鏡によるスチレン系エラストマーの微細構造観察
SEBS中の微細構造(ミクロ相分離構造)が観察可能!!
弊社では、透過型電子顕微鏡(TEM)によるスチレン系エラストマーの 微細構造観察を行っております。 スチレン-エチレン/ブテン-スチレンブロック共重合体(SEBS)等のスチレン系 熱可塑性エラストマー中の微細構造(ミクロ相分離構造)をTEMで観察。 その結果、スチレン系エラストマー２種類で微細構造に違いがあることが示され、 これらのエラストマーは樹脂改質材として広く添加使用されており、複合材料中での スチレン系エラストマーの分散状態についても、弊社の電子染色技術によりTEM観察が可能。 その他、ブロック共重合体やグラフト共重合体の微細構造のTEM観察にご興味ある方も ご相談下さい。 【特長】 ■複合材料中でのスチレン系エラストマーの分散状態についても、 電子染色技術によりTEM観察が可能 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
- 企業：株式会社ロンビック
- 価格：応相談
透過型電子顕微鏡によるスチレン系樹脂中の微小分散ゴムの観察
微小分散ゴムドメイン(ブタジエンゴム)のサラミ構造を観察！構造の違いが明確に分かります
弊社では、透過型電子顕微鏡(TEM)によるスチレン系樹脂(HIPS、ABS)中の 微小分散ゴムの観察を行っております。 耐衝撃性ポリスチレン(HIPS)とアクリロニトリロ・ブタジエン・スチレン (ABS)樹脂中の微小分散ゴムドメイン(ブタジエンゴム)のサラミ構造を観察。 両者のサラミ構造の違いが明確に分かります。 ご用命の際は、お気軽に弊社までお問い合わせください。 【概要】 ■微小分散ゴムドメイン(ブタジエンゴム)のサラミ構造を観察 ■サラミ構造の違いが明確に分かる ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
- 企業：株式会社ロンビック
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【分析事例】自動車用樹脂中のフィラーの分散状態観察
樹脂に配合したフィラーの定量的な評価が可能！フィラーの体積ごとの分散状態が分かった事例をご紹介
自動車、航空機分野等では、強度や剛性があり軽量な有機/無機複合材料が 広く用いられています。 有機/無機複合材料に含まれる無機フィラーの大きさや分散状態は、 機械特性に大きく影響することから、無機フィラーの分布や配向などを 把握する必要があります。 当資料では、樹脂内のフィラーをFIB-SEMにより三次元的に評価した 事例をご紹介します。 【事例概要】 ■分析試料 ・無機フィラーを含む自動車用樹脂 ■分析結果 ・樹脂内には10Vol%程度のフィラーが含まれていることが分かった ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
技術開発室の設備紹介
マイクロスコープや電子顕微鏡などを所有！各種分析装置を用いて常に安定した品質のめっきをご提供
当社の技術開発室では、各種分析装置を用いて、 3工場のめっき液を分析・管理、めっき作業による薬品の消費量を把握し 補給量をコントロールすることで、常に安定した品質のめっきを ご提供できるよう努めています。 また、2015年に走査型電子顕微鏡を導入し、めっき被膜の表面分析や評価を行っております。 ミクロン単位での観察により肉眼では意識できない問題点を明確にするとともに、 お客様のニーズに合わせた表面状態のめっき条件を研究。 【所有設備（一部）】 ■マイクロスコープ ■電子顕微鏡 日本電子製：「SM-6010PLUS/LA」 ■研磨機 三啓Aqua製：自動研磨機「HA-FSA-83」 ■切断機 三啓Aqua製：切断機アルトカット「CK260-90」 ■SIMADZU製：分光光度計「UVmini-1240」 ■マツザワ製：ディジタル微小硬度計「SMT-3」 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：大森クローム工業株式会社
- 価格：応相談
【課題解決事例】ユニットクーラーから「黒い異物」が飛散した事例
ユニットクーラーから「黒い異物」が飛散！トラブルが無事解決した事例のご紹介
工場のユニットクーラーから「黒色の異物」が飛散しているので調べてほしいとの依頼をいただきました。 【事例】 ■課題 ・ユニットクーラーから「黒色の異物」が飛散しているので調べてほしい ■解決策 ・「走査型電子顕微鏡～エネルギー分散型X線（SEM-EDX）」で元素分析 ・「フーリエ変換赤外分光法」による有機物の分析、異物の表面と切断面を比較
- 企業：日本水処理工業株式会社 本社
- 価格：応相談
【技術資料】電極付着物(接点)
導通不良を起こした接点表面を電子顕微鏡観察することで調査した事例をご紹介！
当社では、分析ソリューション事業を行っています。 本資料では、導通不良を起こした接点表面を非接触、 非破壊の状態で40～250倍の電子顕微鏡観察を行い、 接点表面の付着物の観察を行った事例を掲載しています。 付着物の蛍光X線分析による元素の定性、顕微赤外分光分析による 化合物の定性により接点付着物の特定を行うことで、特定した付着物から 接点への付着メカニズムが解明でき、導通不良原因を調査できます。 【掲載内容】 ■概要 ■特長 ■分析事例 ・電子顕微鏡観察 ・蛍光X線分析、顕微赤外分光分析 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：日鉄環境株式会社 分析ソリューション事業部・営業部
- 価格：応相談
