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高機能材料などの解析シミュレーション はじめ、さまざまなタイプの材料に対応した材料開発シミュレーションソフトウェア
『Materials Studio』 量子力学(密度汎関数法)、古典力学(分子動力学計算)、 メソスケール(散逸粒子動力学計算など)、統計、分析/結晶化ツールを備えた 次世代材料開発向け分子モデリング/シミュレーションツール群。 【特長】 ■材料開発を効率化するシュミレーションソフト 業界・分野を問わず、研究、開発、設計、製造に従事される方にご利用いただけます ■さまざまなタイプの材料に対応 ■一つのGUI画面上で、結晶構造の作成、計算条件設定、計算結果表示の 全てを行うことが可能 【事例】 トライボケミカル(潤滑)反応 CFRP(炭素系素材)などの解析 結晶成長や薄膜形成、燃料電池、潤滑剤などの研究開発 触媒、ポリマーや混合物、金属や合金、電池や燃料電池など ※詳しくはお気軽にお問い合わせ下さい。
細く絞った電子線を試料に照射！結晶方位や結晶構造の解析もできる電子顕微鏡！
『FE-SEM（電界放射電子銃式走査型電子顕微鏡）』は、汎用SEMよりも更に細く 絞った電子線を試料に照射、走査することによって、より鮮明な拡大像などが 得られる装置です。 また、細く絞った強い電子ビームを利用して結晶方位解析法（Electron Back-Scatter Diffraction；略してEBSD）を用いると、結晶方位や結晶構造の解析を行うことも できます。 【適用対象】 ■金属材料全般 ■セラミックス ■繊維（蒸着処理必要） ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
樹脂に配合したフィラーの定量的な評価が可能！フィラーの体積ごとの分散状態が分かった事例をご紹介
自動車、航空機分野等では、強度や剛性があり軽量な有機/無機複合材料が 広く用いられています。 有機/無機複合材料に含まれる無機フィラーの大きさや分散状態は、 機械特性に大きく影響することから、無機フィラーの分布や配向などを 把握する必要があります。 当資料では、樹脂内のフィラーをFIB-SEMにより三次元的に評価した 事例をご紹介します。 【事例概要】 ■分析試料 ・無機フィラーを含む自動車用樹脂 ■分析結果 ・樹脂内には10Vol%程度のフィラーが含まれていることが分かった ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
マイクロスコープや電子顕微鏡などを所有！各種分析装置を用いて常に安定した品質のめっきをご提供
当社の技術開発室では、各種分析装置を用いて、 3工場のめっき液を分析・管理、めっき作業による薬品の消費量を把握し 補給量をコントロールすることで、常に安定した品質のめっきを ご提供できるよう努めています。 また、2015年に走査型電子顕微鏡を導入し、めっき被膜の表面分析や評価を行っております。 ミクロン単位での観察により肉眼では意識できない問題点を明確にするとともに、 お客様のニーズに合わせた表面状態のめっき条件を研究。 【所有設備（一部）】 ■マイクロスコープ ■電子顕微鏡 日本電子製：「SM-6010PLUS/LA」 ■研磨機 三啓Aqua製：自動研磨機「HA-FSA-83」 ■切断機 三啓Aqua製：切断機アルトカット「CK260-90」 ■SIMADZU製：分光光度計「UVmini-1240」 ■マツザワ製：ディジタル微小硬度計「SMT-3」 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
光学顕微鏡よりもはるかに細かい部分まで見ることができます！
電子顕微鏡は、光の代わりに電子を使って物を拡大して見ることが できる特別な顕微鏡です。 電子は光よりも波長が短いので、光学顕微鏡よりもはるかに細かい 部分まで見ることができます。 また主に2つの種類があり、一つは、透過型電子顕微鏡(TEM)で、 もう一つは走査型電子顕微鏡(SEM)です。 【特長】 ■透過型電子顕微鏡 ・試料に電子線を照射し、透過した電子線を検出することで試料の 内部構造を観察することができる ■走査型電子顕微鏡 ・試料に電子線を照射して生じる反射電子や二次電子を検出することで 試料表面の形態を観察することができる ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
ユニットクーラーから「黒い異物」が飛散！トラブルが無事解決した事例のご紹介
工場のユニットクーラーから「黒色の異物」が飛散しているので調べてほしいとの依頼をいただきました。 【事例】 ■課題 ・ユニットクーラーから「黒色の異物」が飛散しているので調べてほしい ■解決策 ・「走査型電子顕微鏡～エネルギー分散型X線（SEM-EDX）」で元素分析 ・「フーリエ変換赤外分光法」による有機物の分析、異物の表面と切断面を比較
導通不良を起こした接点表面を電子顕微鏡観察することで調査した事例をご紹介！
当社では、分析ソリューション事業を行っています。 本資料では、導通不良を起こした接点表面を非接触、 非破壊の状態で40～250倍の電子顕微鏡観察を行い、 接点表面の付着物の観察を行った事例を掲載しています。 付着物の蛍光X線分析による元素の定性、顕微赤外分光分析による 化合物の定性により接点付着物の特定を行うことで、特定した付着物から 接点への付着メカニズムが解明でき、導通不良原因を調査できます。 【掲載内容】 ■概要 ■特長 ■分析事例 ・電子顕微鏡観察 ・蛍光X線分析、顕微赤外分光分析 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
真空蒸着などのコーティング処理を必要としない低真空SEMの観察・評価分析のご紹介！
当社では、分析ソリューション事業を行っています。 低真空SENでは、試料の前処理として真空蒸着などの コーティング処理(前処理)を必要としません。 絶縁体や半導体、食品などの試料でもコーティング処理なく 低真空SEM観察後は、そのまま他の分析に供することが可能です。 【掲載内容】 ■概要 ■分析事例 ・接着界面の観察・評価 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
前処理・分析技術を駆使して課題解決！種々の材料解析と分析評価で開発を支えます
当社は、データ解析(AI/機械学習等)を活用し、製品の付加価値向上や 業務改善をサポートいたします。 目前にある課題やお困りごとを、材料開発、分析、データ解析の専門家が スピーディーに解決。 専門家集団がプロジェクトを組みワンストップでご要望にお応えします。 ご用命の際は、お気軽にお問い合わせください。 【当社の主な保有設備】 ■FE-TEMTEM(3D、プリセッション)、FE-SEM 、FE-EPMA ■FT-IR、ラマン、NMR、AFM、レーザー顕微鏡 ■X線CT、XPS、XRF、XRD ■TG/DTA(水蒸気ガス化)、DSC ■GC(MS)、LC(MS)、TOFMS、HPLC、IC、ICP、GPC、DART、AAS ■VMS等各種磁気測定装置 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
走査電子顕微鏡(SEM)による拡大観察及び元素マッピングを実施！断面観察事例をご紹介
車ドアハンドルカバーのめっき層がどうなっているのか調べるため断面を 作製し、走査電子顕微鏡(SEM)による拡大観察及び元素マッピングを 行った事例をご紹介いたします。 めっき部分についてイオンミリングにより断面を作製し、厚みを計測。 全めっき厚は11〜12μm程度、最表層の薄いめっき(クロム)は85nm程度、 その下2層目のめっきは850nm程度であることがわかりました。 また、元素マッピングを行った結果、下地が厚い銅めっきで、これの上に ニッケルめっき、その上にクロムめっきを施したものであると確認されました。 【事例概要】 ■調査試料：車ドアハンドルカバー ■断面観察：めっきの厚み計測 ■元素マッピング：元素分布を調査 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
金属の腐食による変色を観察、分析！変色原因調査事例をご紹介
当社にて、日常によくみられる金属の腐食による変色を、観察、分析した 事例をご紹介いたします。 走査電子顕微鏡(SEM)にて観察したところ、腐食の痕跡を確認。 本件の変色は、ニッケルめっき下の鉄材が腐食し、その生成物である錆が 表面に析出してきたために生じたものと推定されます。 【事例概要】 ■変色部観察：変色部を拡大 ■拡大観察と元素分析：更に拡大観察、変色部を元素分析 ■構造解析：ラマン分光による構造解析 ■変色原因：変色は主に鉄の腐食"赤錆" ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
1μm強の亜鉛めっきの上にクロメート層が確認！膜厚測定事例をご紹介
当社にて、クロメート処理膜の膜厚測定を行った事例をご紹介します。 有色クロメートの金属部品についてイオンミリングにより断面加工を施し、 断面を電界放出形走査電子顕微鏡(FE-SEM)で拡大観察、膜厚を計測。 FE-SEMで膜の断面を観察すると、1μm強の亜鉛めっきの上にクロメート層 が確認されます。更に拡大してクロメートの厚みを測定すると、 420nm程であることがわかりました。 【事例概要】 ■調査試料：クロメート ■断面膜厚計則：クロメート膜厚を計測 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
4万点に及ぶ部品の基本情報と関連情報をPIM/DAMで一元管理、 顧客サービスのフロントとなるアフターサービスシステムを刷新
顧客サービスのフロントとなるアフターサービスシステムを刷新。 ContentservのPIM（商品情報管理）／DAM（デジタルアセット管理）を 活用して新たなシステムを構築し、それらを既存のERPやECサイトなどと 連携させることで、従来の課題を一気に解決した日本電子の事例を紹介します。 【掲載内容】 ■顧客サービスのフロントとなるアフターサービスシステムを刷新 ■等身大でより手軽に使いこなせるPIM/DAMツールを求めた ■構築フェーズからプロジェクトに加わったエクサと共に技術課題を解決 ■画期的な業務効率化と顧客満足度の向上に貢献 ※調査レポートの詳細は「PDFダウンロード」からご覧ください。
当社の新しいコンセプトカラーであるピュアホワイトとJEOLシルバーを採用しより洗練されたフォルムデザインに仕上がりました。
日本電子株式会社 "NEOARM"は、当社独自の技術で開発された冷陰極電界放出形電子銃（Cold-FEG）と高次の収差まで補正可能な新型球面収差補正装置（ASCOR）を標準搭載し、200 kVの高加速電圧だけでなく30 kVの低加速電圧においても原子分解能での観察を実現しました。 また、当社独自の収差補正アルゴリズムを開発し高速かつ正確な収差補正を自動的に行うシステムを搭載しました。これにより、ハイスループットな原子分解能観察を提供します。 〇特長 ・球面収差補正装置ASCOR (Advanced STEM corrector) ・自動収差補正ソフトウェアJEOL COSMO (Corrector System Module) ・新ABF (Annular Bright Field) 検出器システム ・Perfect sight検出器 ※詳細はPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
省エネルギー化とCO2削減をコンセプトとして開発された電界放出形透過電子顕微鏡
日本電子株式会社 JEM-F200は、空間分解能と分析性能を向上させるとともに、多目的な使い方における操作性を考慮した新しい操作システムを搭載し、電子顕微鏡の初心者から熟練者まで思わず使いたくなるようなスマートな外観を備え、省エネルギー化とCO2削減をコンセプトとして開発された電界放出形透過電子顕微鏡です。 〇特長 ・スマートデザイン ・Quad-Lens condenser system ・Advanced Scan system ・Pico stage drive ・自動ホルダー挿入・取り出し装置 ・ECO モードを標準搭載 ※詳細はPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
