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技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品質管理等のお役に立つ分析技術の最新情報です。
【要旨】 走査透過型電子顕微鏡（STEM）の測定手法の一つである微分位相コントラスト（DPC）-STEMは、微小部の電場を測定することが可能である。我々は、本手法をポリマーアロイに適用することで、従来の電子顕微鏡では観察が困難な相分離構造のコントラストが出現することを見いだした。 【目次】 １．はじめに ２．元素分析によるソフトマテリアルの可視化 ３．DPC-STEM法の適用 ４．おわりに
樹脂包埋、切断、研摩などによる試料調整を行い、断面形状観察および元素分析が可能です
株式会社サンコー分析センターでは、走査型電子顕微鏡・エネルギー 分散型X線分光器を用いた分析を行っております。 走査型電子顕微鏡（SEM）では、試料に電子線を走査し、表面から発生 する二次電子や反射電子を像に変換することで試料の形状を観察。 （30倍～300,000倍） エネルギー分散型X線分光器（EDS）では、電子線を走査した際に試料から 放射される元素固有の特性X線を検出することにより元素定性分析を、 特性X線の強度を測定しファンダメンタルパラメータ法による元素の 判定量分析を行います。 また、ご指定の部位のSEM像を写真撮影してご報告。ご希望により 測長、3Dイメージ化が可能です。 ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
ソーラーパネルの断面構成を切削・研磨の前処理のみで解析した事例をご紹介！
当社では、分析ソリューション事業を行っています。 本資料では、有機無機複合物からなる絶縁体のソーラーパネルの断面構成を 切削・研磨の前処理のみで低真空SEMおよびFT-IRを用いて解析した事例を掲載。 低真空SENでは、試料の前処理として真空蒸着などの コーティング処理(前処理)を必要としません。 絶縁体や半導体、食品などの試料でもコーティング処理なく 低真空SEM観察後は、そのまま他の分析に供することが可能です。 【掲載内容】 ■概要 ■分析事例 ・ソーラーパネル(絶縁体)の解析 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
Na、Mg、Liなど。自動車・電子機器・機械部品分野における新素材・新製品の開発をサポート
当社では、『個々のニーズに応じた分析サービス』を提供。中でも、リチウム、ナトリウム、カリウム等、空気中の水分や酸素に触れると表面の状態が変化する物質を、活性な状態のままで分析を可能とする『空気非接触環境での分析サービス』でお役に立てます。 自動車・電子機器・化学・機械部品の研究・開発における 新素材・新製品の開発／隠れた性質の発見／基礎データの確認といったニーズにお応えしています。 ◎要望例 ・製造過程で溶け込んだ油分の熱分解の挙動が、水素、窒素など任意の雰囲気で違いが現れるかを知りたい ・合金等が、水素、窒素などの雰囲気ガスと反応するか、また、その反応する温度等を知りたい ・雰囲気を変えたらどうデータが変わるのかを知りたい ◎取扱品目 走査電子顕微鏡(SEM) 熱重量・示差熱・昇温脱離質量数分析(TG-DTA-MS) 粉末X線回折(XRD) 圧力－組成等温線(PCT)測定 高圧示差走査熱量分析(DSC) フーリエ変換赤外分光分析(FT-IR) ※空気非接触環境での分析サンプルはPDFダウンロードよりご覧いただけます。 お問合せ・分析のご依頼もお気軽にどうぞ。
光学顕微鏡の隣に一台置けば、異物分析や品質管理を、よりスピーディーに、より詳細におこなうことができます。
日本電子株式会社 JCM-7000 NeoScope ネオスコープ 卓上走査電子顕微鏡は、「誰でもSEM/EDSを操作できる」がコンセプトの卓上走査電子顕微鏡です。 光学像を拡大すればSEM像が観察できる「Zeromag」、分析装置を立ち上げなくても観察中の視野の元素が分かる「Live Analysis」、SEM観察中に三次元観察が可能な「Live 3D」等の機能を搭載しました。 〇特長 ・卓上SEM JCM-7000 で無処理でスピーディーに観察＆分析！ ・「誰でもSEM/EDSが操作できる」ための機能 ※詳細はPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
新しい透過電子顕微鏡
日本電子株式会社 JEM-1400Flashは、高感度sCMOSカメラや超広視野モンタージュシステム、さらには光学顕微鏡画像と電子顕微鏡のリンク機能を拡張させた加速電圧は120kVの新しい透過電子顕微鏡です。スループット良く、ハイスピードでデータを取得できます。 〇特長 ・高感度sCMOSカメラ 瞬Flashカメラ ・新機能 超広視野モンタージュシステム Limitless Panorama（LLP） ・新機能 光学顕微鏡画像リンク機能 Picture Overlay ・新デザイン ピュアホワイトカラーとLEDランプのコラボレーション ※詳細はPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
短時間に、簡単操作で、高コントラスト・高分解能の画像を取得
日本電子株式会社 CRYO ARM300 II は、タンパク質に代表される電子線照射に弱い試料の観察に特化した、クライオ電子顕微鏡です。単粒子構造解析やトモグラフィー、電子線結晶構造解析などの各手法に対応しています。 〇特長 ・顕微鏡の安定性とスループットの更なる向上 ・操作性もよりシンプルに ・サンプルのスクリーニングから画像データ取得までを一体化 ・ユーザーに合わせた運用を可能にする高い自由度 ・簡単な操作で質の高い顕微鏡写真が取得 ※詳細はPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
医学・生物学の分野や、金属、半導体、セラミックスなど様々な分野で活用できます。
ここでは、アズサイエンスおすすめ商品である日本電子株式会社の電子顕微鏡を3製品をご紹介いたします。 ■JSM-IT200 InTouchScope 走査電子顕微鏡 上位機種の機能をよりシンプルに、使いやすくしました。初心者に優しい試料交換ナビで、試料セットから視野探し、SEM画像の観察開始まで容易に行うことができます。分析業務のためのソフトが一つになっています。 ■JCM-7000 NeoScope ネオスコープ 卓上走査電子顕微鏡 「誰でもSEM/EDSを操作できる」がコンセプトで、作業効率の向上、操作の簡便性、分析や計測性能の強化のニーズに応えました。光学顕微鏡の隣に一台置けば、異物分析や品質管理を、よりスピーディーに、より詳細におこなうことができます。 ■JSM-IT510 InTouchScope 走査電子顕微鏡 品質保証や製造現場では同じ観察作業を繰り返し行う必要があり、工程の効率化が求められてきました。JSM-IT510は新たに加わったSimple SEM機能で、繰り返し作業を 「おまかせ」 出来ます。SEMの観察作業をより効率よく、より楽に行えるようになりました。
アズサイエンスおすすめの電子顕微鏡、偏光顕微鏡、質量分析計のご紹介
おすすめの3製品をご紹介いたします。 ◆日本電子株式会社 JEM-ARM200F NEOARM 原子分解能分析電子顕微鏡 冷陰極電界放出形電子銃（Cold-FEG）と高次の収差まで補正可能な新型球面収差補正装置（ASCOR）を標準搭載し、200 kVの高加速電圧だけでなく30 kVの低加速電圧においても原子分解能での観察を実現しました。軽元素を含む材料の明瞭なコントラスト観察が容易になります。 ◆株式会社ニコンソリューションズ 偏光/分散顕微鏡 ECLIPSE LV100ND POL/DS 屈折率、複屈折、遅延、消光角、多色性および伸びの徴候などのアスベストの特性を測定し、アスベストの同定を助けることができます。400倍の倍率で分散染色観察を可能にします。 ◆日本電子株式会社 JMS-T100LP AccuTOF LC-Express 大気圧イオン化 飛行時間質量分析計 マルチイオン化・堅牢性・容易なメンテナンスを特長とした高い生産性を目指したハイスループット質量分析計です。低極性から高極性まで、幅広い試料を分析することが可能です。
デジタルマイクロスコープと電子顕微鏡の違いとは？適切な機器を選ぶことが大切です
電子顕微鏡とデジタルマイクロスコープはそれぞれに得意とする 観察分野が違います。それぞれの特長や使い勝手などを知らないで 選んでしまうと、意図に沿った観察ができないかもしれません。 当コラムでは、デジタルマイクロスコープと電子顕微鏡の特長や 違いについて紹介しています。 どちらを導入すべきか迷っている方は参考にしてください。 詳しくは、関連リンクをご覧ください。 【掲載内容】 ■デジタルマイクロスコープと電子顕微鏡の特長 ■デジタルマイクロスコープと電子顕微鏡の違い ■それぞれの用途にあったものを選ぼう ※コラム（ブログなど）の詳細内容は、関連リンクより閲覧いただけます。 詳しくは、お気軽にお問い合わせ下さい。
TEM・STEMの分解能が向上！4本の検出器でEDS分析が可能になるなど性能が大幅に強化
当社では、透過型電子顕微鏡システム FEI製「Talos F200E」を導入します。 従来機と比べTEM・STEMの分解能が向上し、4本の検出器でEDS分析が可能に なるなど性能が大幅に強化されます。 また、ドリフト補正をしながら複数のフレームを積算する、ドリフト補正 フレーム積算(DCFI)なども搭載しております。 【仕様(抜粋)】 ■加速電圧：200kV、80kV ■TEMインフォメーションリミット：≦0.11nm ■STEM分解能：≦0.14nm ■ドリフト補正フレーム積算(DCFI) ・ドリフト補正をしながら複数のフレームを積算 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
イオン注入後のアニール条件の違いによる差異を確認
酸化ガリウムGa2O3は、SiCやGaNよりもバンドギャップが広く、優れた物性を有することから、高効率・低コストが期待できるパワーデバイス材料として注目を集めています。デバイスの開発には、特性を左右する不純物濃度や結晶性の制御が重要です。本資料では、イオン注入による結晶構造の乱れから生じるダメージ層及び表面粗さの変化を、アニール条件毎に観察した結果を示します。 測定法：TEM・AFM 製品分野：酸化物半導体・パワーデバイス 分析目的：形状評価・構造評価 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。
像シミュレーションを併用した結晶形の評価
高分解能HAADF-STEM像は、結晶の原子配列を反映した画像であることから、種々の結晶方位に対応 したSTEM像をシミュレーションすることにより、多結晶体中の結晶粒間の相対方位や観察像の正確な理解に役立ちます。 本資料では、多結晶体であるネオジム磁石中の結晶粒について、EBSD法で得た結晶方位の情報から STEM像をシミュレーションし、実際の高分解能HAADF-STEM像と比較した事例を紹介します。
PE中のCNFの観察や、PE発泡体のセル壁高次構造などを写真付きでご紹介！
当社ホームページでは、形態観察の「透過型電子顕微鏡(TEM)・走査型電子 顕微鏡(SEM)による樹脂材料観察事例」をご紹介しております。 透過型電子顕微鏡(TEM)観察事例では、PE中のCNFの観察をはじめ、 PE発泡体のセル壁高次構造や、HDPE表面近傍のラメラ構造観察などを掲載。 また、走査型電子顕微鏡(SEM)観察事例では、ABS樹脂の耐候性試験前後の 比較や、自動車バンパー材断面構造解析などについてもご紹介しております。 ぜひ、ご覧ください。 【掲載内容(一部)】 ■透過型電子顕微鏡(TEM)観察事例 ・PE中のCNFの観察 ・PE発泡体のセル壁高次構造 ・HDPE表面近傍のラメラ構造観察 ・HIPS/ABS系のモルフォロジー観察事例 ・PC/ABS系材料中のモルフォロジー観察 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
PE中のCNF(セルロースナノファイバー)分散状態観察事例をご紹介しております！
当社ホームページでは「透過型電子顕微鏡(TEM)によるCNF複合材料の 観察」についてご紹介しております。 高分子の結晶構造、ポリマーアロイのモルフォロジーの観察で培った、 染色を含めた超薄切片の作製技術、TEM観察技術を用いることで、樹脂に 複合されたCNF(セルロースナノファイバー)の観察が可能となりました。 PE中のCNF分散状態観察の写真や、拡大写真なども掲載しております。 ぜひ、ご覧ください。 【掲載写真】 ■PE中のCNF分散状態観察 ・PE/CNF分散状態観察 ・PE/CNF拡大写真 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
